三维表面形貌仪产品信息

第一篇：三维表面形貌仪产品信息

JR25三维表面形貌仪

产品简介：

JR25型三维表面形貌仪是一款便携式表面形貌测量仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器的测量探头可以任意旋转，适合精密测量 不可移动样品表面形貌，同时适合进行野外测试。产品特性: 1，采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率 2，测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高

3，测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；

4，尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面 5，不受样品反射率的影响 6，不受环境光的影响

7，测量简单，样品无需特殊处理 8，Z方向,测量范围大：为27mm 主要技术参数：

1，扫描范围：25×25（mm）2，扫描步长：0.1μm 3，扫描速度：20mm/s 4，Z方向测量范围：27mm 4，Z方向测量分辨率：3nm 产品应用：

MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发

联系人：刘蕊

010-53203403

*** 网站：www.xiexiebang.com

PS50型三维表面形貌仪

产品简介：

PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器性价比高，可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。产品特性: 1，采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率 2，测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高

3，测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；

4，尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面 5，不受样品反射率的影响 6，不受环境光的影响

7，测量简单，样品无需特殊处理 8，Z方向,测量范围大：为27mm 主要技术参数：

1，扫描范围：50×50（mm）2，扫描步长：0.1μm 3，扫描速度：20mm/s 4，Z方向测量范围：27mm 4，Z方向测量分辨率：2nm 产品应用：

MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发

联系人：刘蕊

010-53203403

*** 网站：www.xiexiebang.com

ST400型三维表面形貌仪

产品简介：

ST400型三维表面形貌仪是一款多功能的三维形貌仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品，并具有多种选项，包含360°旋转工作台，原子力显微镜模块，光学显微镜，特征区域定位等多种功能模块。产品特性: 1，采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率 2，测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高

3，测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；

4，尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面 5，不受样品反射率的影响 6，不受环境光的影响

7，测量简单，样品无需特殊处理 8，Z方向,测量范围大：为27mm 主要技术参数：

1，扫描范围：150mm×150mm(最大可选600mm*600mm)2，扫描步长：0.1μm 3，扫描速度：20mm/s 4，Z方向测量范围：27mm 4，Z方向测量分辨率：2nm 产品应用：

MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发

联系人：刘蕊

010-53203403

*** 网站：www.xiexiebang.com

HS1000型三维表面形貌仪

产品简介：

HS1000型三维表面形貌仪是一款高速的三维形貌仪，最高扫描速度可达1m/s,采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品或质检现场使用。产品特性: 1，采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率 2，测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高

3，测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；

4，尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面 5，不受样品反射率的影响 6，不受环境光的影响

7，测量简单，样品无需特殊处理 8，Z方向,测量范围大：为27mm 主要技术参数：

1，扫描范围：400mm×600mm(最大可选600mm*600mm)2，扫描步长：5nm 3，扫描速度：1m/s 4，Z方向测量范围：27mm 4，Z方向测量分辨率：2nm 产品应用：

MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发

联系人：刘蕊

010-53203403

*** 网站：www.xiexiebang.com

粗糙度测量仪P3

产品简介：

P3型全自动粗糙度测量仪是一款非接触式粗糙度测量仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，符合国际标准ISO25178，用于取代传统的接触式探针型粗糙度测量仪。测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等任意样品，不收材料形状及颜色的限制。产品特性: 1.测量具有非破坏性：采用白光共聚焦技术，可获得纳米级分辨率 2.测量范围大：15mm×15mm，无需进行图像拼接 3.可测样品的最大坡度：87oC 4.测量范围广：可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗糙样品

5.不受环境光的影响

6.不受样品反射率与形状的影响

7.操作简单：样品无需特殊处理优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪 主要技术参数：

1，扫描范围：1×1，2×2，3×3，4×4，5×5，10×10，15×15（mm）2，扫描步长：1×1，2×2，5×5（μm）3，Z方向测量范围：300μm 4，Z方向测量分辨率：8nm 5，Z方向测量精度：60nm 6，横向光学分辨率：2.6μm 产品应用：

MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发

联系人：刘蕊

010-53203403 网站：www.xiexiebang.com

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