铁路部门无损检测人员技术资格鉴定考核规则

第一篇：铁路部门无损检测人员技术资格鉴定考核规则

铁路部门无损检测人员技术资格鉴定考核规

则

铁道部

铁路部门无损检测人员技术资格鉴定考核规则

1987年6月10日，铁道部

第一章 总 则

第1条 凡采用本规则所规定的无损检测方法，对在铁道部所属线路上运行的铁路机车、车辆及所使用的钢轨、桥梁及其有关铁道机件的质量检查、设备安全运行的监督检查的无损检测人员，必须按本规则进行技术资格鉴定考核。

第2条 从事无损检测技术的科研、教学和其他人员，通过资格鉴定考核，也可获得技术等级资格。

第3条 经技术资格鉴定考核合格的人员，由铁道部门无损检测人员技术资格鉴定考核委员会（以下简称部鉴定考核委员会）统一发给资格证。从事与所持证书规定的无损检测方法、技术等级、专业相适应的无损检测工作。第4条 本规则用于从事超声检测（ＵＴ），射线检测（ＲＴ），磁粉检测（ＭＴ），渗透检测（ＰＴ），涡流检测（ＥＴ）人员。

第二章 无损检测技术等级

第5条 每种检测方法的无损检测人员分Ⅰ级（初级），Ⅱ级（中级）、Ⅲ级（高级）三个技术等级。

第三章 各级无损检测人员的职责 第6条 Ⅰ级人员的职责：

（1）正确调整和使用检测仪器。（2）执行规定的检测工作。（3）记录和初步评定检测结果。（4）了解和执行有关安全防护规则。第7条 Ⅱ级人员的职责：

（1）熟练调整和校准检测仪器。（2）圆满完成所规定的检测工作。

（3）记录检测结果并根据标准、规范等写出评定检测结果的报告。（4）熟悉检测方法的应用范围和限度。（5）制订简单的检测工艺规程。

（6）指导和监督低于Ⅱ级的人员，培训Ⅰ级人员。（7）执行安全防护规则。第8条 Ⅲ级人员的职责：

（1）监督、指导检测工作的进行。（2）保证法规、标准和规范的贯彻执行。

（3）选择适当的检测方法和工艺：在没有其他标准可供引用时，协助制订验收标准。

（4）根据法规、标准和规范，解释、评判检测结果。（5）培训、指导和监督低于Ⅱ级的人员。（6）监督执行安全防护规则。

第四章 资格鉴定考核组织

第9条 部鉴定考核委员会对无损检测人员Ⅱ、Ⅲ级技术资格进行鉴定考核。第10条 部鉴定考核委员会可下设各系统考核委员会。各系统无损检测人员技术资格考核委员会的组成前，应报部鉴定考核委员会核批。

第11条 各系统考委会由部鉴定考核委员会成员和本系统无损检测管理和专业人员代表组成，设主任委员一名，副主任委员二名，委员若干名。

第12条 各系统考委会成员中，专业人员的比例不得少于2／3，主任委员应由部鉴定考核委员会成员兼任。第13条 各系统考委会的职责：

（1）审查各级技术等级资格鉴定申请者的资格。

（2）按规定确定Ⅰ级人员的考试内容，组织考试、评定成绩，并将考核人员的清册、考试成绩、考题、实物操作考试内容报部鉴定考核委员会核备认可。（3）组织Ⅱ级人员的培训。

第五章 各级技术资格鉴定的申请

第14条 申请技术资格鉴定的无损检测人员必须具备下列资格条件之一的文化程度和工作经验（见表1）。表1-------------------------| 级别 | 报 考 资 格 | |--------|-----------| | |1．理工科大学毕业，并具有连续四年以上本 | | Ⅲ |专业方法无损检测工作经验者（无损检测专 | | |业毕业的可二年）。| | |2．中等专业学校毕业，并具有连续六年以上 | | 级 |本专业方法无损检测工作经验者（无损检测 | | |专业的可三年）。| | |3．取得Ⅱ级技术资格后五年以上者。| |--------|-----------| | |1．理工科大学毕业，具有一年以上本专业方 | | |法无损检测工作经验者（无损检测专业毕业 | | |可不受工作年限限制）。| | Ⅱ |2．中等专业学校毕业，并具有连续二年以上 | | |本专业方法无损检测工作经验者（无损检测 | | |专业毕业可不受工作年限限制）。| | |3．高中毕业，并具有连续四年以上本专业方 | | |法无损检测工作经验者。| | 级 |4．取得本专业方法Ⅰ级资格二年以上者。| | |5．具有六年以上本专业方法无损检测工作 | | |经验者。| |--------|-----------| | |1．高中或技工学校毕业，并具有连续一年以 | | |上射线、超声、涡流方法无损检测工作经验 | | Ⅰ |者或具有半年以上磁粉、渗透方法无损检测 | | |工作经验者。| | |2．初中文化程度，并具有连续一射线、超声、| | 级 |涡流方法无损检测工作经验者或具有连续 | | |一年以上磁粉、渗透方法无损检测工作经验 | | |者。|-------------------------第15条 申请者应填写申请表，通过体格检查，并由申请者单位盖公章。

第六章 考 试

第16条 申请技术资料鉴定的无损检测人员必须通过考试。考试包括无损检测理论笔试和操作技术两部分。各级人员考试内容（见表2）。各级人员考试内容 表2-------------------------| 级别 | 考 试 内 容 | |--------|-----------| | | 本规则所列的五种无损检测技术知识。| | Ⅲ |所考核方法的基本原理，该方法所应用的仪 | | |器设备和校正方法、缺陷信号、图象的解释、| | |判断、有关技术标准和规范、安全卫生、防护 | | 级 |规则、冶金和工艺知识。| |--------|-----------| | Ⅱ | 无损检测概论。所考核方法的基本原 | | |理。该方法所用仪器设备的校正方法、有关 | | |技术标准和规范、安全卫生、防护规则。常见 | | 级 |材料缺陷特性及有关的冶金、工艺知识。| |--------|-----------| | Ⅰ |检验设备的操作和检测方法等。| | 级 | |-------------------------第17条 资格鉴定应考人员的无损检测理论和操作技术两部分考试成绩均不应低于80分（百分制）。

第18条 参加经部鉴定考核委员会认可的Ⅱ级、Ⅲ级无损检测培训班的学员，结业考试成绩优良（百分制80分以上）者，在有效期内，技术资格鉴定时，可申请免试理论部分，直接参加操作技能考试。

第19条 参加经各系统考委会认可的Ⅰ级无损检测人员培训班的学员，结业考试成绩优良（百分制80分以上）者，在有效期内，技术资格鉴定时，可申请免试理论部分，直接参加操作技术考试。

第七章 技术资格证书的申请

第20条 资格鉴定考核合格者，统一由相应考委会向部鉴定考核委员会申请资格证书。

第八章 技术资格证书及其有效期

第21条 无损检测Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ级技术资格证书由部鉴定考核委员会统一颁发，盖部鉴定考核委员会和本系统公章。

第22条 技术资格证书有效期三年，可申请延长一次，有效期最长不得超过六年。继续从事无损检测的人员，在技术资格证到期前三个月，必须申请延长或更新考试。

第23条 注销或暂停下列人员的技术资格：（1）持过期技术资格证者；（2）检测工作中有重大失误者；（3）脱离无损检测工作一年以上者；（4）身体状况不适合者。

第九章 无损检测人员的培训

第24条 实验和实际操作训练的课时，须占培训总课时的1／3～1／2。第25条 培训教材：

（1）基础教材统一由部鉴定考核委员会推荐。（2）专业教材由各系统考委会确定。

（3）对从事锅炉（固定）及压力容器无损检测人员的培训教材与劳动人事部门商定。

第二篇：高级无损检测技术资格人员RT题库

高级无损检测技术资格人员-射线检测考题汇编（填空题及答案1-50）

1.普朗克常数h=(6.626×10-34J•s),长度单位1 =(10-10m),电子质量me=(9.108×10-30kg),电子电量e=(-1.602×10-19C)2.当单色射线能量约（9MeV）时，对钢的穿透力最大，此时相应的Χ射线输出约为（20MeV）3.直接电离辐射通常是指阴极射线,(β)射线,(α)射线和(质子)射线,间接电离辐射是指(Χ)射线,(γ)射线和(中子)射线

4.60Co放出的γ射线平均能为(1.25MeV),相当于(2000～3000KVp)X射线穿透力,192Ir放出的γ射线平均能为(0.35MeV),相当于(150～800kVp)X射线穿透力

5.60Co和192Ir的射线输出分别为(1.3)R/m•h•ci和(0.5)R/m•h•ci；60Co和192Irγ射线的能谱线分别为(2)根和至少(24)根

6.可用于2～10mm薄壁管透照的一种γ射线新源是（169Yb），其半衰期为（31）天，射线输出为（125）mR/h•ci

7.检查轻合金的薄试件也可利用β放射同位素所产生的韧致辐射，常用的源如：（90Sr）和（169Yb）等

8.中子射线有以下特点：在重元素中衰减(小),在轻元素中衰减(大),在空气中电离能力(弱),不能直接使胶片感光

9.常用的中子源有以下三种：①（同位素中子源）；②（加速器中子源）；③（原子反应堆）10.不同剂量的照射对人体的损伤：D≤（0.25Gy）的一次照射时，无明显病理变化；D≈（0.5Gy）时，出现一时性血象变化；D≥（1Gy）时，会引起急性放射病

11.电离辐射引起的生物效应分为两类：①发生率取决于剂量的（随机）效应，如遗传效应和躯体致癌效应；②严重程度随剂量而变化的（非随机）效应，如对眼、皮肤和血液引起的效应。射线防护的目的在于防止有害的（非随机）效应，并限制（随机）效应的发生率，使之达到可以接受的水平

12.发生光电效应几率的实验近似公式为：τ=kρz4λ3，其中K为常数；ρ为（物质密度）；Z为（物质的原子序数）；λ为（射线的波长）

13.波长为0.1 的光子,其能量E=(124000),eV=(2×10-7)尔格,管电压250kV时,产生射线的最短波长为(0.0496)14.射线穿透物质时产生的吸收程度，取决于材料的（原子系数）、（密度）、（厚度）以及射线本身的（波长）

15.射线的线质越硬，其光子能量越（大），波长越（短），穿透力越（强），衰减系数越（小）,半价层厚度越（大）

16.X射线穿透钢材料时,两种主要效应的发生几率与光子能量的关系：J=σc时,E≈(100)keV；σc=max时,E=(1000)keV 17.连续Χ射线总强度可用下式表示：I=（ηoiZV2），连续Χ射线的转换效率公式为η=（ηoZV）

18.单色窄束射线的半价层厚度约为1/10价层厚度的（0.3）倍；若已知线衰减系数μ，则1/10价层厚度为（2.3/μ）

19.γ射线放射性活度与照射量的关系式为X=A•t/KrR2。式中X-（照射量[伦]）；A-（放射性活度[Ci]）；Kr-（照射率常数[mR/h•ci]）；R-（到点源距离[m]）；t-（受照时间[h]）20.常用的γ源Kr常数,对于60Co为Kr=（1.32）；对于192Ir为Kr=（0.472）21.照射量的国际单位是(库仑/千克,C/Kg),专用单位是(伦琴,R),两者的换算关系是(1库仑/千克≈3.877*103伦琴,1伦琴=2.58*10-4库仑/千克)22.吸收剂量的国际单位是(戈瑞,Gy),专用单位是(拉德,rad),两者的换算关系是(1戈瑞=1焦耳/千克=100拉德,1拉德=10-2戈瑞)23.剂量当量的国际单位是(希沃特,Sv),专用单位是(雷姆,rem),两者的换算关系是(1希沃特=1焦耳/千克=100雷姆, 1雷姆=10-2希沃特)24.剂量当量H是吸收剂量D与(品质因数Q)与(其他修正因数N)的乘积,数学表达式为H=(DQN),对Χ射线和γ射线防护而言,由于(有关修正因数为1),可以认为吸收剂量与剂量当量(等值)25.放射性同位素60Co中的60叫做(质量数),其原子核中含有(27)个质子和(33)个中子,60Co裂变时发生(β)射线和(γ)射线,60Co因(半衰期)较长而适用于无损检测.26.当单色窄束X射线通过厚度为d的物质后，表示射线强度衰减规律的公式为：（I=I0e-μd）27.射线与物质作用时，最主要的效应是(光电)效应、(散射)效应、(电子对生成)效应 28.10居里钴60射源衰减到1.25居里时大约需要(15.9)年

29.X射线的能量取决于（X射线管电压），而γ射线的能量取决于（γ源的种类）30.高能射线是能量在（1）兆电子伏特以上的X射线，采用直线加速器产生的高能X射线与一般X射线相比，它具有（穿透能力强）、（焦点小）、（转换效率高）等特点 31.X射线是利用（高速运动的电子撞击金属靶）的方法产生的，它具有（连续X）线谱和（特征X）线谱，γ射线是利用（放射性同位素物质衰变）的方法产生的，它只具有X射线中的后一种线谱

32.钴60γ射线源发出的两种γ射线能量分别为1.17和1.33MeV，因此它们的波长分别为(0.0106)和(0.00932)33.活度为1居里的铱192，距离它1米处在无遮挡、无吸收的条件下，其一次射线的照射量率为（0.55）伦琴/小时

34.衰变常数为0.021/年的γ射线源，其半衰期为（33年），此射线源为（铯）源 35.X射线的能量取决于X光机的（管电压），γ射线的强度取决于（源的种类）36.原子核内的（质子）数相同，而（中子）数不同的元素叫做同位素

37.单色、窄束、强度为I0的X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I=I0e-µd），而对于强度为I0的单色、宽束X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I=(1+n)I0e-µd）38.X射线、γ射线与物质作用时，可产生（光电）效应、（康普顿(或散射)）效应和（电子对生成）效应，其中（电子对生成）效应只有在光子能量大于（1.02MeV）才会出现 39.射线的衰减系数与（射线能量）及照射物质的（原子序数）和（密度）有关

40.吸收剂量当量的单位是（雷姆(Rem)），对于X射线、γ射线，因为修正系数等于（1），故吸收剂量当量值与吸收剂量值是（相同）的

41.直线加速器的优点是（体积小）和（输出射线强度大），回旋加速器的优点是（焦点尺寸小）

42.经Χ射线曝光过的胶片包含两种不同类型的粒度：（胶片）粒度和（量子噪声）引起的粒度

43.产生给定胶片密度所需要的伦琴数随射线能量的增加而（增加）；射线能量高到一定数值，上述伦琴数（基本不变），这就是所谓射线胶片的光谱灵敏度

44.用盐屏摄得的底片不清晰与两个因素有关，一是（结构）斑点；二是（量子）斑点 45.底片颗粒度的表示为：G=σd/α,式中符号意义：σd（密度均方差）；α（扫描点面积）46.Χ射线能量低于150kV时，由于（吸收系数）变化很快，管电压的选择比较严格；能量在200～400kV时，电压变化约为（30～40）kV才使灵敏度有明显变化；当为2～31MeVΧ射线时，探伤灵敏度（几乎相同）

47.(电离室)型监测仪可用来测量直射线、操作区内的散射线等相当高的照射率；（闪烁计数器）可用来探测曝光室之外的泄漏射线；（胶片剂量计）是最典型的个人照射剂量计，可记录在相当长时间内累积的剂量

48.对电子加速器产生的Χ射线束，不宜用（铅）或重过滤材料，因在（2～3）MeV时，其质量衰减系数有一最低值

49.目前常用的中子源有以下三种：①(同位素中子源)；②(加速器中子源)；③(反应堆中子源)50.192Ir中有（77）个质子，（115）个中子，其半衰期为75天，则其衰变常数为（0.00924/d），51.放射性同位素的制取有在核反应堆中通过中子照射激活的，如（192Ir）和（60Co）,也有是核裂变的产物，如（137Cs）

52.X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(管电压),(管电流),(曝光时间),(焦距)等 53.用棒阳极射线管透照有剩磁的钢管环焊缝时，（聚焦电子）漂移会造成曝光量不稳定 54.胶片特性曲线上，某一区域的黑度差没D与（相对曝光量对数的差值）的比值称为该区域的反差系数r 55.我国天津感光胶片厂生产的工业用II、III、V型胶片，其感光度大致相当于国外（Agfa）牌号的（D10）、（D7）、（D4）型胶片，或国外（富士）牌号的（400）、（200）、（100或80）型胶片

56.亚硫酸钠在显影液中起（保护）作用；在定影液中起（保护）作用

57.工业用X光机高压的调节通常是通过（自耦变压器）的调节，改变高压发生器中的（初级电压）来实现的，而管电流的调节是通过（电阻）的调节，改变（灯丝变压器）的（初级电压）来实现的

58.为使像质计灵敏度达到最佳值，透照余高磨平的焊缝宜选择黑度约为（2.5）的摄片条件；透照有余高的焊缝时，宜选择母材黑度约（3.0～3.5），焊缝黑度约（1.5～2.0）的摄片条件

59.按照信息论，空间频率f即每毫米黑白线对是指（不清晰度），而影像噪声是指（颗粒度）

60.若底片上阶梯孔型像质计灵敏度为2%，则实际圆形气孔的检出灵敏度约为（3）%；为检出1mm气孔，像质计上应显示的阶梯孔径为（2/3）mm 61.金属增感屏的增感系数随着材料原子序数的增大而（增大），在试验范围内（金）最大，在管电压较低时（锡）最大

62.金属增感屏的增感系数随着Χ射线管电压的降低而（减小），大约在（120）kV以下时，增感系数(小)于1 63.在某一密度D时的胶片衬度用下式表示：G0=（dD/dlgE）；在两特定密度之间，胶片的平均衬度可表示为G=（△D/△lgE）

64.射线照相灵敏度是射线照相（清晰度）和（对比度）两大因素的综合结果

65.X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(管电压),(管电流),(曝光时间),(焦距)等 66.射线辐射防护的三种基本方式是(距离防护),(屏蔽防护),(时间防护)67.按JIS Z3104,3105标准规定，用内胶片法，对管子环缝进行照像时，为保证横向裂纹的检出率，当焦距最远时，按普通级要求，最少应照（13）张片子

68.为了提高射线照像的对比度，可以采取射线胶片与工件保持适当距离的特殊照像方法，此时（1/[1+n]）值随该距离的增大而增大，（σ）值该距离的增大而减小，因此必须取（σ/[1+n]）值的最大时的最佳距离

69.对于厚度差比较大的工件进行一次曝光透照时，可以采用（双胶片）、（分散曝光）、（补偿）等方法，使底片黑度都处于有效黑度范围内

70.为了保证焊缝中裂纹的检出率，日本JIS Z3104标准规定：射线穿透方向与缺陷方向之间的相对角度，对于普通级应小于（14）度，对于特殊级应小于（9）度

71.用100居里的铱192γ射线源透照某工件，焦距1米，曝光时间5分钟，能得到合适的底片黑度。225天后，用该源透照相同工件，焦距变为2米，为得到相同黑度，曝光时间应为（160）分钟 72.底片对比度与（工件）对比度和（胶片反差）系数有关

73.射线照相的灵敏度由两个指标来确定，即射线底片的（对比）度和（清晰）度 74.鉴定底片的水洗效果，可采用1%的（AgNO3）加醋酸（28%）做试验液，如果底片上出现（棕黄色）现象，即可说明底片水洗不佳

75.铱192的半衰期为75天，用该新源透照工件最佳的曝光时间为10分钟，225天后重照同样的工件（设其他条件不变），则需曝光（80）分钟

76.为了提高射线照像的对比度没D，可以在照相布置时把胶片与工件的距离调整到使（σ/[1+n]）的比值达到最大值

77.底片黑度取决于辐射强度和曝光时间的乘积，若曝光量一定时，辐射强度与曝光时间成反比，但采用（荧光增感）方法时，则该反比定律失效

78.射线照相对比度的公式是（△D=-0.434γµσ△d/(1+n)），其中（µ△d/(1+n)）称为主因对比度

79.一铸件厚度为1.25英寸，射线底片上显示出ASTM 20#像质计的2T孔，则该底片的当量灵敏度为（1.6%）

80.铸件射线底片上出现清晰的黑线或长度与宽度不等，轮廓光滑分明的带状显示，则大多数是（冷隔）缺陷

81.铅箔增感屏前屏起（增感）、（吸收软射线）作用，后屏主要起（吸收散射线）作用 82.在半波自整流电路里加装逆电压降低器的目的是(降低X射线管的逆电压)，在倍压整流电路里起倍压作用的元件是(电容器)83.由于Χ射线照射场内阳极侧和阴极侧（焦点尺寸）和（射线强度分布）不同，因此不能利用整个照射场来透照工件

84.射线底片表观对比度与底片对比度的关系式为：△Da=（△D/(1+n')）

85.体积状缺陷的可检出性主要取决于射线照相（对比度）细小缺陷的可检出性还取决于胶片的（清晰度）

86.裂纹类面状缺陷的可检出性不仅取决于射线照相影像质量的三参数，还取决于缺陷本身的三参数即（深度L）、（宽度W）和（与射线束的角度θ）

87.给定γ射线源可透检厚度范围的上限取决于其（能量和强度）下限取决于（灵敏度下降值）

88.在Χ射线管窗口加滤板有两大作用（增大厚度宽容度）、（消除边蚀散射）

89.温度对显影的影响表现为：温度越高时，显影速度越（快），反差越（高），灰雾越（大），颗粒越（大）,温度越低，反差越（低），一般将显影温度控制在（20℃）左右 90.不同透照电压的厚度宽容度不同,这直接反映在其曝光曲线的(斜率)不同 91.细颗粒胶片感光速度(慢),清晰度(高),大颗粒胶片感光速度(快),清晰度(差)92.按增感性能胶片可分为(增感型)和(非增感型)两类胶片

93.在酸性坚膜定影液中会有相互分解的成分，大苏打要靠（亚硫酸钠），钾明钒要靠（醋酸）和（硼酸）才能共存

94.透照厚工件时要选用较高（管电压）的原因是它的波长（短），穿透能力（强）95.试件厚度越大，散射比越（大）

96.射线能量越高，μ值越（小）；试件厚度越大，μ值越（小）97.在X光机窗口加一层薄的过滤器，其目的主要是（提高平均能量）98.散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的（清晰度）和（对比度）

99.评价一个同位素源时，要看（穿透力）、（半衰期）、（活性）和（源的尺寸）四个方面

100.底片对比度与（工件对比度）和（胶片对比度）有关 ,

第三篇：高级无损检测技术资格人员-射线检测考题

高级无损检测技术资格人员-射线检测考题汇编 填空题

1.普朗克常数h=(6.626×10-34J·s),长度单位1=(10-10m),电子质量me=(9.108×10-30kg),电子电量e=(-1.602×10-19C)2.当单色射线能量约（9MeV）时，对钢的穿透力最大，此时相应的Χ射线输出约为（20MeV）

3.直接电离辐射通常是指阴极射线,(β)射线,(α)射线和(质子)射线,间接电离辐射是指(Χ)射线,(γ)射线和(中子)射线

4.60Co放出的γ射线平均能为(1.25MeV),相当于(2000～3000KVp)X射线穿透力,192Ir放出的γ射线平均能为(0.35MeV),相当于(150～800kVp)X射线穿透力 5.60Co和192Ir的射线输出分别为(1.3)R/m·h·ci和(0.5)R/m·h·ci；60Co和192Irγ射线的能谱线分别为(2)根和至少(24)根

6.可用于2～10mm薄壁管透照的一种γ射线新源是（169Yb），其半衰期为（31）天，射线输出为（125）mR/h·ci

7.检查轻合金的薄试件也可利用β放射同位素所产生的韧致辐射，常用的源如：（90Sr）和（169Yb）等 8.中子射线有以下特点：在重元素中衰减(小),在轻元素中衰减(大),在空气中电离能力(弱),不能直接使胶片感光

9.常用的中子源有以下三种：①（同位素中子源）；②（加速器中子源）；③（原子反应堆）

10.不同剂量的照射对人体的损伤：D≤（0.25Gy）的一次照射时，无明显病理变化；D≈（0.5Gy）时，出现一时性血象变化；D≥（1Gy）时，会引起急性放射病

11.电离辐射引起的生物效应分为两类：①发生率取决于剂量的（随机）效应，如遗传效应和躯体致癌效应；②严重程度随剂量而变化的（非随机）效应，如对眼、皮肤和血液引起的效应。射线防护的目的在于防止有害的（非随机）效应，并限制（随机）效应的发生率，使之达到可以接受的水平

12.发生光电效应几率的实验近似公式为：τ=kρz4λ3，其中K为常数；ρ为（物质密度）；Z为（物质的原子序数）；λ为（射线的波长）

13.波长为0.1的光子,其能量E=(124000),eV=(2×10-7)尔格,管电压250kV时,产生射线的最短波长为(0.0496)14.射线穿透物质时产生的吸收程度，取决于材料的（原子系数）、（密度）、（厚度）以及射线本身的（波长）

15.射线的线质越硬，其光子能量越（大），波长越（短），穿透力越（强），衰减系数越（小）,半价层厚度越（大）

16.X射线穿透钢材料时,两种主要效应的发生几率与光子能量的关系：J=σc时,E≈(100)keV；σc=max时,E=(1000)keV 17.连续Χ射线总强度可用下式表示：I=（ηoiZV2），连续Χ射线的转换效率公式为η=（ηoZV）

18.单色窄束射线的半价层厚度约为1/10价层厚度的（0.3）倍；若已知线衰减系数μ，则1/10价层厚度为（2.3/μ）

19.γ射线放射性活度与照射量的关系式为X=A·t/KrR2。式中X-（照射量[伦]）；A-（放射性活度[Ci]）；Kr-（照射率常数[mR/h·ci]）；R-（到点源距离[m]）；t-（受照时间[h]）

20.常用的γ源Kr常数,对于60Co为Kr=（1.32）；对于192Ir为Kr=（0.472）21.照射量的国际单位是(库仑/千克,C/Kg),专用单位是(伦琴,R),两者的换算关系是(1库仑/千克≈3.877*103伦琴,1伦琴=2.58*10-4库仑/千克)22.吸收剂量的国际单位是(戈瑞,Gy),专用单位是(拉德,rad),两者的换算关系是(1戈瑞=1焦耳/千克=100拉德,1拉德=10-2戈瑞)23.剂量当量的国际单位是(希沃特,Sv),专用单位是(雷姆,rem),两者的换算关系是(1希沃特=1焦耳/千克=100雷姆, 1雷姆=10-2希沃特)24.剂量当量H是吸收剂量D与(品质因数Q)与(其他修正因数N)的乘积,数学表达式为H=(DQN),对Χ射线和γ射线防护而言,由于(有关修正因数为1),可以认为吸收剂量与剂量当量(等值)25.放射性同位素60Co中的60叫做(质量数),其原子核中含有(27)个质子和(33)个中子,60Co裂变时发生(β)射线和(γ)射线,60Co因(半衰期)较长而适用于无损检测.26.当单色窄束X射线通过厚度为d的物质后，表示射线强度衰减规律的公式为：（I=I0e-μd）

27.射线与物质作用时，最主要的效应是(光电)效应、(散射)效应、(电子对生成)效应

28.10居里钴60射源衰减到1.25居里时大约需要(15.9)年

29.X射线的能量取决于（X射线管电压），而γ射线的能量取决于（γ源的种类）30.高能射线是能量在（1）兆电子伏特以上的X射线，采用直线加速器产生的高能X射线与一般X射线相比，它具有（穿透能力强）、（焦点小）、（转换效率高）等特点

31.X射线是利用（高速运动的电子撞击金属靶）的方法产生的，它具有（连续X）线谱和（特征X）线谱，γ射线是利用（放射性同位素物质衰变）的方法产生的，它只具有X射线中的后一种线谱

32.钴60γ射线源发出的两种γ射线能量分别为1.17和1.33MeV，因此它们的波长分别为(0.0106)和(0.00932)33.活度为1居里的铱192，距离它1米处在无遮挡、无吸收的条件下，其一次射线的照射量率为（0.55）伦琴/小时

34.衰变常数为0.021/年的γ射线源，其半衰期为（33年），此射线源为（铯）源 35.X射线的能量取决于X光机的（管电压），γ射线的强度取决于（源的种类）36.原子核内的（质子）数相同，而（中子）数不同的元素叫做同位素

37.单色、窄束、强度为I0的X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I=I0e-µd），而对于强度为I0的单色、宽束X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I=(1+n)I0e-µd）

38.X射线、γ射线与物质作用时，可产生（光电）效应、（康普顿(或散射)）效应和（电子对生成）效应，其中（电子对生成）效应只有在光子能量大于（1.02MeV）才会出现

39.射线的衰减系数与（射线能量）及照射物质的（原子序数）和（密度）有关 40.吸收剂量当量的单位是（雷姆(Rem)），对于X射线、γ射线，因为修正系数等于（1），故吸收剂量当量值与吸收剂量值是（相同）的

41.直线加速器的优点是（体积小）和（输出射线强度大），回旋加速器的优点是（焦点尺寸小）

42.经Χ射线曝光过的胶片包含两种不同类型的粒度：（胶片）粒度和（量子噪声）引起的粒度 43.产生给定胶片密度所需要的伦琴数随射线能量的增加而（增加）；射线能量高到一定数值，上述伦琴数（基本不变），这就是所谓射线胶片的光谱灵敏度

44.用盐屏摄得的底片不清晰与两个因素有关，一是（结构）斑点；二是（量子）斑点

45.底片颗粒度的表示为：G=σd/α,式中符号意义：σd（密度均方差）；α（扫描点面积）

46.Χ射线能量低于150kV时，由于（吸收系数）变化很快，管电压的选择比较严格；能量在200～400kV时，电压变化约为（30～40）kV才使灵敏度有明显变化；当为2～31MeVΧ射线时，探伤灵敏度（几乎相同）47.(电离室)型监测仪可用来测量直射线、操作区内的散射线等相当高的照射率；（闪烁计数器）可用来探测曝光室之外的泄漏射线；（胶片剂量计）是最典型的个人照射剂量计，可记录在相当长时间内累积的剂量

48.对电子加速器产生的Χ射线束，不宜用（铅）或重过滤材料，因在（2～3）MeV时，其质量衰减系数有一最低值

49.目前常用的中子源有以下三种：①(同位素中子源)；②(加速器中子源)；③(反应堆中子源)50.192Ir中有（77）个质子，（115）个中子，其半衰期为75天，则其衰变常数为（0.00924/d）

51.放射性同位素的制取有在核反应堆中通过中子照射激活的，如（192Ir）和（60Co）,也有是核裂变的产物，如（137Cs）

52.X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(管电压),(管电流),(曝光时间),(焦距)等

53.用棒阳极射线管透照有剩磁的钢管环焊缝时，（聚焦电子）漂移会造成曝光量不稳定

54.胶片特性曲线上，某一区域的黑度差没D与（相对曝光量对数的差值）的比值称为该区域的反差系数r 55.我国天津感光胶片厂生产的工业用II、III、V型胶片，其感光度大致相当于国外（Agfa）牌号的（D10）、（D7）、（D4）型胶片，或国外（富士）牌号的（400）、（200）、（100或80）型胶片

56.亚硫酸钠在显影液中起（保护）作用；在定影液中起（保护）作用

57.工业用X光机高压的调节通常是通过（自耦变压器）的调节，改变高压发生器中的（初级电压）来实现的，而管电流的调节是通过（电阻）的调节，改变（灯丝变压器）的（初级电压）来实现的

58.为使像质计灵敏度达到最佳值，透照余高磨平的焊缝宜选择黑度约为（2.5）的摄片条件；透照有余高的焊缝时，宜选择母材黑度约（3.0～3.5），焊缝黑度约（1.5～2.0）的摄片条件

59.按照信息论，空间频率f即每毫米黑白线对是指（不清晰度），而影像噪声是指（颗粒度）

60.若底片上阶梯孔型像质计灵敏度为2%，则实际圆形气孔的检出灵敏度约为（3）%；为检出1mm气孔，像质计上应显示的阶梯孔径为（2/3）mm 61.金属增感屏的增感系数随着材料原子序数的增大而（增大），在试验范围内（金）最大，在管电压较低时（锡）最大

62.金属增感屏的增感系数随着Χ射线管电压的降低而（减小），大约在（120）kV以下时，增感系数(小)于1 63.在某一密度D时的胶片衬度用下式表示：G0=（dD/dlgE）；在两特定密度之间，胶片的平均衬度可表示为G=（△D/△lgE）

64.射线照相灵敏度是射线照相（清晰度）和（对比度）两大因素的综合结果

65.X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(管电压),(管电流),(曝光时间),(焦距)等

66.射线辐射防护的三种基本方式是(距离防护),(屏蔽防护),(时间防护)67.按JIS Z3104,3105标准规定，用内胶片法，对管子环缝进行照像时，为保证横向裂纹的检出率，当焦距最远时，按普通级要求，最少应照（13）张片子

68.为了提高射线照像的对比度，可以采取射线胶片与工件保持适当距离的特殊照像方法，此时（1/[1+n]）值随该距离的增大而增大，（σ）值该距离的增大而减小，因此必须取（σ/[1+n]）值的最大时的最佳距离

69.对于厚度差比较大的工件进行一次曝光透照时，可以采用（双胶片）、（分散曝光）、（补偿）等方法，使底片黑度都处于有效黑度范围内

70.为了保证焊缝中裂纹的检出率，日本JIS Z3104标准规定：射线穿透方向与缺陷方向之间的相对角度，对于普通级应小于（14）度，对于特殊级应小于（9）度 71.用100居里的铱192γ射线源透照某工件，焦距1米，曝光时间5分钟，能得到合适的底片黑度。225天后，用该源透照相同工件，焦距变为2米，为得到相同黑度，曝光时间应为（160）分钟

72.底片对比度与（工件）对比度和（胶片反差）系数有关

73.射线照相的灵敏度由两个指标来确定，即射线底片的（对比）度和（清晰）度 74.鉴定底片的水洗效果，可采用1%的（AgNO3）加醋酸（28%）做试验液，如果底片上出现（棕黄色）现象，即可说明底片水洗不佳

75.铱192的半衰期为75天，用该新源透照工件最佳的曝光时间为10分钟，225天后重照同样的工件（设其他条件不变），则需曝光（80）分钟

76.为了提高射线照像的对比度没D，可以在照相布置时把胶片与工件的距离调整到使（σ/[1+n]）的比值达到最大值

77.底片黑度取决于辐射强度和曝光时间的乘积，若曝光量一定时，辐射强度与曝光时间成反比，但采用（荧光增感）方法时，则该反比定律失效

78.射线照相对比度的公式是（△D=-0.434γµσ△d/(1+n)），其中（µ△d/(1+n)）称为主因对比度

79.一铸件厚度为1.25英寸，射线底片上显示出ASTM 20#像质计的2T孔，则该底片的当量灵敏度为（1.6%）

80.铸件射线底片上出现清晰的黑线或长度与宽度不等，轮廓光滑分明的带状显示，则大多数是（冷隔）缺陷

81.铅箔增感屏前屏起（增感）、（吸收软射线）作用，后屏主要起（吸收散射线）作用

82.在半波自整流电路里加装逆电压降低器的目的是(降低X射线管的逆电压)，在倍压整流电路里起倍压作用的元件是(电容器)83.由于Χ射线照射场内阳极侧和阴极侧（焦点尺寸）和（射线强度分布）不同，因此不能利用整个照射场来透照工件

84.射线底片表观对比度与底片对比度的关系式为：△Da=（△D/(1+n')）

85.体积状缺陷的可检出性主要取决于射线照相（对比度）细小缺陷的可检出性还取决于胶片的（清晰度）86.裂纹类面状缺陷的可检出性不仅取决于射线照相影像质量的三参数，还取决于缺陷本身的三参数即（深度L）、（宽度W）和（与射线束的角度θ）

87.给定γ射线源可透检厚度范围的上限取决于其（能量和强度）下限取决于（灵敏度下降值）

88.在Χ射线管窗口加滤板有两大作用（增大厚度宽容度）、（消除边蚀散射）89.温度对显影的影响表现为：温度越高时，显影速度越（快），反差越（高），灰雾越（大），颗粒越（大）,温度越低，反差越（低），一般将显影温度控制在（20℃）左右

90.不同透照电压的厚度宽容度不同,这直接反映在其曝光曲线的(斜率)不同 91.细颗粒胶片感光速度(慢),清晰度(高),大颗粒胶片感光速度(快),清晰度(差)92.按增感性能胶片可分为(增感型)和(非增感型)两类胶片

93.在酸性坚膜定影液中会有相互分解的成分，大苏打要靠（亚硫酸钠），钾明钒要靠（醋酸）和（硼酸）才能共存

94.透照厚工件时要选用较高（管电压）的原因是它的波长（短），穿透能力（强）95.试件厚度越大，散射比越（大）

96.射线能量越高，μ值越（小）；试件厚度越大，μ值越（小）97.在X光机窗口加一层薄的过滤器，其目的主要是（提高平均能量）

98.散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的（清晰度）和（对比度）99.评价一个同位素源时，要看（穿透力）、（半衰期）、（活性）和（源的尺寸）四个方面

100.底片对比度与（工件对比度）和（胶片对比度）有关

101.同位素源辐射出的伽玛射线能量用（所有辐射能量的平均值）来度量，X射线机辐射出X射线的能量用（电压峰值）来度量 102.金属增感屏靠（二次射线和电子）增感，常用的金属材料是（铅），它的粒度（细），增感系数（小），所得底片清晰度（高）

103.入射光强与透过光强之比为10，则底片黑度为（1），若透射光强与入射光强之比为1:1000，则底片黑度为（3）

104.影响显影的主要因素为（配方）、（显影温度）、（显影时间）、（显影观察-暗室安全灯）、（显影液老化程度）与（搅动-显影均匀程度）105.显影液是（碱）性的，定影液是（酸）性的

106.透照某工件，已知曝光量达到胶片特性曲线的过渡曝光区，为使底片达到一定黑度，采用缩短显影时间的方法来调整，这将影响底片的（对比度）和（清晰度），并降低底片的（灵敏度）

107.大晶粒金属零件进行射线照相时，利用（提高管电压和使用铅增感屏）可以减少或消除衍射斑的影响

108.从实际应用来说，可以认为X射线胶片特性曲线的形状与（X射线或γ射线的线质）无关

109.对于一定的射线质量，如果因试样厚度范围太大并且被摄物对比度过大，应采用的修正方法是（提高管电压、在X射线管上放置滤波器，并延长曝光时间）

110.X射线在大晶粒材料中衍射而引起的一种特殊形式的散射线会使底片上出现（斑点）状影像

111.辐射防护监测仪器多半是利用射线能使气体物质（电离）的原理制造的 112.个人剂量笔给出的是（射线剂量累计照射率）值 113.X射线管按不同的用途可分为五大类，第一类是（医学诊断用X射线管），第二类是（医学治疗用X射线管），第三类是（材料分析用X射线管），第四类是（材料检验用X射线管），第五类是（特殊用途X射线管），无损检测应用的是第（4）类X射线管

114.有的X射线管的阴极头有两组灯丝，可产生（两个大小不同的）焦点，以适应不同的用途

115.在其他工作条件保持恒定的情况下，管电流变化会使X射线管发射的辐射强度发生变化，强度近似地与管电流成比例，造成强度与管电流不能精确地成比例的主要因素是（X射线机变压器的电压和波型随负荷变化）

116.金属陶瓷X射线管与玻璃壳X射线管相比有下面六个优点：（抗震性强，不易破碎）、（金属壳不存在电击穿和表面放电问题）、（管内真空度高，各项电性能好）、（体积小，重量轻，寿命长）、（容易装焊铍或钼窗口以放射软X射线）、（制造工艺简单）

117.特殊用途的X光管包括（周向辐射X射线管）、（软X射线管）、（微焦点X射线管）、（棒状阳极X射线管）

118.X射线管的管电压是指它的（最大额定工作电压峰值），但在电工测量中，表头指示的是（有效）值

119.辐射监测主要是（场所辐射）监测和（个人剂量）监测 120.辐射剂量仪可分为（探测器）和（测量装置）两部分

121.影响辐射损伤的因素是（辐射性质）、（剂量）、（剂量率）、（照射方式）、（照射部位）、（照射面积）

122.在X射线检测中，以保证穿透为前提，一般为了提高灵敏度，应尽量选择（低）的管电压，（高）的管电流，（长）焦距，（小）焦点

123.用相同条件透照同一容器的环焊缝，采用外照法（射线源在容器外侧）比内照法（射线源在容器内侧）对横向裂纹的检出率要（低），而对单面焊根部裂纹和未焊透（熔入不足）的检出率要（高）

124.用铱192透照某工件，曝光10分钟可获得理想的底片，150天后，以相同条件用该源透照同一工件时，要获得相同质量的底片需曝光（40）分钟

125.焊缝照像底片评定时发现焊缝中央沿纵向有一较宽直长的黑线，黑线边缘很整齐，则该瑕疵可能是（未焊透）

126.在分别含有气孔,钨粒和夹渣的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较亮的是(钨粒)127.在分别含有气孔,钨粒和夹渣的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较黑的是(气孔和夹渣)128.底片上评定区域出现黑点，大致有以下几种可能（气孔或点状夹渣）、（弧坑）、（显影液飞溅）、（压痕）、（水迹）、（银粒子流动）、（霉点）129.底片上评定区域出现黑线，大致有以下几种可能（裂纹）、（未熔合）、（错口）、（咬边）、（胶片划伤）、（增感屏划伤）、（线状气孔）130.在射线底片上呈现较大面积的树枝形影像是(静电感光)131.在焊缝的射线底片上,较周围部位显得非常明亮的缺陷是(重金属夹渣,或称高密度夹渣,如夹铜,夹钨等)132.对于未曝光胶片的储存应考虑（温度）、（湿度）、（有效期限）、（防止受压）和（远离放射线）133.GB3323标准的最早颁布年份是（1982）年，在87年的版本中，把射线照相质量划分成（A）、（AB）、（B）三个等级，适用厚度在（2-200mm）范围内的（钢熔化对接焊缝）X射线和γ射线照相方法以及质量分级

是非判断题（在每题后面括号内打“X”号表示“错误”，画“○”表示正确）1.不稳定的同位素在衰变期间，始终要辐射出γ射线。()2.一放射性同位素放出的γ射线穿透力等同于多少千伏或兆伏Χ射线机的穿透力，这种关系称作该同位素的当量能。()3.放射性同位素的当量能上限总是高于其平均能。（）

4.射线通过材料后，其强度的9/10被吸收，该厚度即称作1/10价层。（）

5.60Co和192Ir射线源是稳定的同位素在核反应堆中俘获中子而得到的，当射线源经过几个半衰期后，将其放在核反应堆中激活，可重复使用。（）6.俄歇电子是指被荧光Χ射线逐出原子轨道的电子。（）7.光电子又称为反冲电子。（）

8.暗室内的工作人员在冲洗胶片的过程中，会受到胶片上感生的射线照射，因而白血球也会降低。（）

9.一能量为300千电子伏的光子进入原子中,使一轨道电子脱离50千电子伏的结合能后,又给这个电子50千电子伏的能量使其飞出轨道,则新的光子能量是200千电子伏()10.中子射线照相检测方法的英文缩写是NRT()11.射线照相检验方法的局限性是不易评定缺陷的形状,大小和分布()12.射线照相检验法的优点是效率高,成本低()

13.当射线中心束方向与裂纹开裂面成45°角时,最容易发现该裂纹()14.当射线中心束方向与裂纹开裂面成90°角时,最容易发现该裂纹()15.X射线检测法不适用于混凝土结构件()17.X或γ射线的计算机辅助层析扫描技术简称为工业CT()18.“韧致辐射”是高速运行的电子与阳极靶相撞后能量被转换的一种电磁辐射，即X射线()19.连续、宽束X射线透过厚度d的物体后，射线强度的衰减规律可用下列公式表示：I=I0e-μd()20.X射线的光子与物质相互作用时，当射线能量达到MeV以上时，会产生电子、正电子对，而光子的能量全部消失，这就是“电子对的生成”效应（）21.对于某一种放射源，若其活度越高，则所发出的射线能量也越强()22.最小可见对比度△Dmin随线状图像的宽度增大而增大，当线状图像的宽度达到一定数值时，△Dmin成为常数()23.射线照相的几何不清晰度Ug与焦点的大小成正比，与射线源到工件表面的距离成反比（）

24.射线照相的几何不清晰度Ug与焦点的大小成反比，与射线源到工件表面的距离成正比()

25.由焦点尺寸和照像几何条件决定的像质计金属丝几何因素修正系数σ在d'/d的比值大于1时，其数值随d'/d的增大而减小（）

26.通常把胶片本身引起的不清晰度称为胶片不清晰度或固有不清晰度（）27.散射线不影响射线照像底片的对比度而是影响底片的清晰度（）28.底片的黑度取决于射线强度与曝光时间的乘积，即曝光量，但当采用荧光或金属荧光增感屏时，射线强度与曝光时间不成反比关系（）

29.铅箔增感屏之所以有增感作用，是因为X与γ射线能从铅中激发出电子来，从而使胶片感光，达到增感的目的（）

30.通常对于管电压大于120KVP的X射线才能使铅箔有增感作用（）

31.对于2MeV的电子直线加速器，靶材料为钨，比例系数为1.2x10-6时，其连续X射线的转换效率约为1.8%()32.X或γ射线在标准状态下，对一立方厘米的空气照射时，使空气中产生一个静电单位电荷的离子对，这时的射线照射量为一居里（）33.用于射线照相法检验的X和γ射线，它们之间的差别仅在于X射线是高速电子韧致的辐射产物，γ射线是放射性物质原子核裂变的辐射产物（）

34.高能X射线一般指的是其能量在千电子伏特（KeV）级以上的X射线()

35.中子射线照相的原理，主要是由于含氢物质中的氢具有俘获中子的能力，从而使透过含氢物质后的中子射线的强度发生变化（）

36.X射线、γ射线与可见光一样，它们在真空中的传播速度都是3x108cm/s()37.在国际单位制中，放射性活度用符号X表示，它的单位是库仑/千克（C/Kg）()38.在国际单位制中，吸收剂量用符号D表示，它的单位是戈瑞（Gy）（）

39.射线胶片中的溴化银微粒银的负离子失去电子，使曝光的胶片中形成所谓“潜影”（）

40.波长相同的X射线和γ射线具有相同的性质（）

41.不同种类的放射性同位素，其中活度（居里数）高的辐射出的γ射线剂量不一定比活度低的大（）

42.高速运动的电子在与靶金属的原子核外电场作用时，发射出连续X射线（）43.连续X射线的总强度与管电压的平方成正比，与管电流和靶原子序数成正比（）44.当射线的能量达到1.02MeV以上时，射线的光量子同原子作用的结果，使得光量子消失，产生一对离子，这就是电子对生成效应()45.当X射线通过三个半价层后，其强度仅剩初始的1/8（）

46.半衰期是指放射性同位素其能量减少到一半所需要的时间（）

47.管电压越高，X光管中飞向靶金属的电子速度就越大，射线的辐射能量就越高（）48.连续、宽束射线透过厚度为d的物体后，射线强度的衰减规律可用下式表示：I=Ie-µd（）

49.散射比n是表示散射线强度Is和辐射源到工件的入射线的强度I0之比，即：n=Is/I0（）

50.射线通过胶片时，能在胶片上激发出自由电子，这种散乱的自由电子也能使胶片感光，形成不清晰度，这种不清晰度称为“固有不清晰度”（）

51.通常对于管电压大于150KVP的X射线，铅箔才能起增感作用，而对于管电压低于150KVP的X射线，铅箔对于射线的减弱作用大于射线的增强作用，所以没有增感作用（）

52.射线透过工件后的两个不同厚度区域的强度比值称为工件对比度（）

53.X或γ射线在标准状态下，对一立方厘米的空气照射时，空气中离子产生一个静电单位电荷的照射剂量为一居里()54.“吸收剂量当量”-拉德（Rad）等于被照射生物机体的吸收剂量-雷姆（Rem）与该射线相应的修正系数（RBE）的乘积（对X和γ射线来说修正系数等于1）()

55.直线加速器的输出强度要比同样能量的电子感应加速器的输出强度要大许多倍。（）

56.192Ir射线源产生的射线主要成分是能量几乎呈连续分布的“白色Χ射线”。（）57.在显影过程中，KBr中的Br离子被吸附在AgBr表面形成负电层，因而能排斥显影剂负离子对未曝光的AgBr的还原作用，防止灰雾生成。（）58.胶片剂量计和袖珍剂量笔的工作原理均基于电离效应。（）

59.对电子加速器产生的Χ射线束，不宜用铅作过滤材料，原因是铅在高能量射线照射下会被激活。（）

60.在射线剂量笔中,两个石英纤维丝带有正电荷,当射线通过时就失去它们的电荷,并且其中一个石英纤维丝向另一个靠拢()61.在X射线管窗口处加滤光板可以滤掉软射线，从而获得线质更加均匀的X射线（）62.像质计是判别射线照像质量和测定照像灵敏度的器件（）

63.闪烁计数器型的辐射仪，是由铊活化的碘化钠单晶、光电倍增管和电子电路构成（）

64.X射线能量取决于X射线管的灯丝电流（）

65.胶片感光的部分越多，显影时耗费的显影液就越多（）

66.射线胶片产生一定黑度所需要的照射量（即伦琴数）与射线线质无关。（）67.当缺陷尺寸小于几何不清晰度尺寸时，影像会被放大，而对比度则降低。（）68.如果信噪比不够，即使增大胶片衬度，也不可能识别更小的细节影像。（）69.在MeV级高能射线照相中，能量越高，则照射场尺寸越大。（）

70.就设备性能而言，在高能射线照相中照射场尺寸显得十分重要，而焦点尺寸显得较不重要。（）

71.密封铅罐中的水位可用中子照相法测定。（）

72.在某一黑度条件下的胶片，其曝光量倒数的104，定义为胶片的感光速度（）73.根据美国核管理委员会（USNRC）规定，对于职业射线工作者来说，人体不同部位的照射剂量不得超过下列指标：全身-头部、躯干、器官、眼睛、生殖腺等为5雷姆/年；手和前臂、脚和关节等为30雷姆/年；全身皮肤为75雷姆/年()74.美国ASTM E94的标准名称是“射线照相检验的推荐操作方法”（）

75.日本JIS Z3104的标准名称是“焊缝射线照相检验技术的标准评定方法”()76.射线照相的灵敏度由射线底片的对比度和清晰度两个指标来确定（）77.｜△D｜≥｜△Dmin｜时，才能发现缺陷（）

73.对某一曝光曲线，应使用同一类型的胶片，但可更换不同的X射线机（）76.X射线的能量取决于射线管中电子飞向阳极的速度()77.伽玛射线的强度取决于射源的比活度（）

78.硬X射线比软X射线的波长短、传播速度快，所以硬X射线具有更高的能量（）79.像质计是用来鉴定照相技术和胶片处理质量的器件()80.当固有不清晰度不大于几何模糊度时，只要改善几何模糊度，仍可得到高清晰度的底片（）

81.射线透过工件的两个不同厚度区域的强度比值称为工件对比度()82.连续X射线透过工件后，虽然强度减弱了，但线质不变（）83.高能X射线比低能X射线更易于使胶片感光（）84.散射线影响底片的对比度和清晰度，从而降低灵敏度()85.37x1011Bq的铱192源经过五个半衰期后，仅剩115.625x109Bq，由于能量太低，不能继续使用（）

86.个人剂量笔的读数是射线照射量的累积值()87.伽玛射线透过物质的两个半值层后，其强度仅为透过前的四分之一()88.在X射线管中，高速运动的电子与靶相撞，能够产生连续X射线，在特定的情况下也能产生特征X射线()89.含氢元素的物质对中子射线有较强的衰减作用()94.如果X射线和伽玛射线的波长相同，那么它们具有相同的性质()95.所谓对比度，就是指一张射线底片上两个相邻区域之间的黑度差()96.不同感光速度的工业X光胶片的基本区别在于溴化银的颗粒大小()97.对于管电压低于150KV的X射线，铅箔增感屏不能起到增感作用()100.在射线检测中应用的X射线、伽玛射线、中子射线，从本质上来说都属于电磁波（）

101.康普顿效应中，散射光子的波长大于入射光子的波长()102.透过物体后的射线，其能量减弱到入射能量一半时的物体厚度称为半值层（）103.射线强度的衰减公式：I=I0e-Ex，适用于单色、宽束X射线或伽玛射线（）104.新的或长期停止使用的X光机，使用前要对X光管进行“训练”，其目的是为了提高X光管的真空度()105.在无损检测中应用的伽玛射源除了最常用的钴60和铱192、铯137以外，还有75Se、169Yb、170Tm和153Gd()106.钴60的半衰期是5.3年()107.精确地说，铱192的半衰期是74.4天()108.75Se（硒75）的半衰期是118天()109.169Yb（镱169）的半衰期是31天()110.170Tm（铥170）的半衰期是129天()111.153Gd（钆153）的半衰期是242天()112.铯137的半衰期是33年()113.照射量单位“库仑/千克”只适用于Χ射线或γ射线。不能用于其它射线。（）114.当X或γ射线源移去以后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残留极低的辐射。（）

115.被照体离焦点越近，Ug值越小（）

116.管电压一定，曝光量=管电流×曝光时间（）

117.X射线穿透相同厚度的物体时,衰减系数μ愈大,穿透率I/I0愈大,X射线的波长愈长μ愈小,穿透物质的原子序数愈大μ愈小,穿透物质的密度愈高μ愈小()118.对于相同物体,易于透过的X射线其线质软,硬X射线比软X射线的波长长,衰减系数大,半值层薄()193.对不同种类的放射性同位素，高活度的同位素总是比低活度的同位素具有更高的辐射水平。（）

194.放射性同位素的原子核数目减少到原来一半所需要的时间称作半衰期。（）195.在某种材料中，入射射线强度减少到原来一半所需要经过的距离称作该射线对该材料的半值层。（）

196.高速电子与靶原子的轨道电子相撞发出X射线，这一过程称作韧致辐射。（）197.一能量为300KeV的光子与原子相互作用,使一轨道电子脱离轨道,且具有50KeV动能飞出,则新光子的能量是250KeV()198.含氢元素的物质对中子射线具有较强的衰减作用。（）

199.照射量只反映X或γ射线对空气中的电离本领，而吸收剂量可反映不同性质的物质吸收辐射能量的程度。（）

200.从X射线或γ射线防护角度上讲，可认为在数值上1伦琴相当于1拉德,相当于1雷姆。（）

201.X射线机采用高频电路的优点能将几乎所有的电源瞬变和干扰消除，KV，mA读数精度较高。（）

202.实验表明，胶片颗粒性对平板孔型像质计中小孔影象显示的影响，要比对线型像质计中金属丝影像的显示影响小得多（）

203.新购置或放置较久的X光机使用前要进行“训练”的主要原因是为了吸收射线管中的残留气体（）

204.X射线照相时应尽量采用金属增感屏，因为它与荧光增感屏相比，具有更高的增感系数（）

205.在X射线机窗口前装滤光片的目的是吸收软X射线、增大宽容度和减少散射线对底片的影响（）

206.安装阳极靶时，通常要倾斜一定角度，使该实际焦点小，而有效焦点大（）207.新购置或搁置较长时间不用的X光机使用前要进行开机“训练”，这是为了排除机头绝缘油中的气泡（）

208.像质计是用来鉴定照相技术和胶片处理质量的器件（）209.新购置或长期停用的X光机使用前要进行“训练”，这是为了排除冷却油中的气泡，提高冷却油的绝缘性能（）

210.在X射线实时成像中，射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关，而与曝光时间无关。（）

211.对不同型式的像质计来说，只要采用相同的透照技术，像质计灵敏度的数值一般都相同。（）

212.在实际使用的焦距范围（100～1000mm）内，焦距的变化对散射比的数值几乎没有影响。（）

213.只要底片达到特定的黑度值(如最佳黑度值)，而不管μp/1+n如何，底片上可识别的象质计金属丝直径必然最小。()214.采用荧光增感时，由于“互易定律失效”，不能根据曝光因子公式修正透照参数。（）

215.滤板厚度改变时所绘制的Χ射线胶片特性曲线形状和位置均会改变。（）216.透照有加强高的焊缝时，所选择的“最佳黑度”就是指能保证焊缝部位和母材部位得到相同透度计灵敏显示的黑度值（）

217.用2，5，8，18和31MeV这些高能Χ射线透照大厚度工件时，可以达到的探伤灵敏度几乎相同。（）

218.使用γ射线或高能Χ射线透照厚工件时，胶片类型和胶片黑度的选择十分重要。（）

219.采用不同的透照方法能获得相同的金属丝像质计灵敏度，但不一定能给出相同的裂纹检出灵敏度。（）220.采用换算的方法，可将某种材料制作的像质计用于不同吸收系数的材料透照时的像质评价。（）221.使用衬度较低的射线胶片，必要时采用单面乳剂胶片，可增大透照厚度宽容度。（）

222.实验证明，焊缝余高和母材区的散射比是不一致的，一般来说，余高中心部位的散射比大于母材区的散射比（）223.荧光增感屏或金属荧光增感屏，由于荧光亮度产生的感光作用与接受的射线照相量率的大小是不成正比的，因此照射量率低的时候，曝光时间比通常计算所得的要高，这种现象称之谓“反比定律失效”（）

224.高能Χ射线发生器能产生能量值很高的射线,因此能检测大厚度的工件,但它的缺点是焦点较大,能量转换效率较低()225.用强光观察高黑度的底片时，由于界限识别对比度△Dmin增大，从而扩大了可识别的黑度范围（）

226.为了提高射线照相的对比度，在照相胶片选定以后，选用的射线能量越低越好()227.缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比()228.透照某工件，采用金属荧光增感，管电流5mA，透照时间4分钟，获得底片黑度为1.8，若其他条件不变，把管电流改为10mA，透照时间改为2分钟，底片黑度仍不变()229.当选用100KV-200KV的管电压进行透照时，对铅增感屏的增感系数是不变的()230.透照同一工件，铅箔增感比荧光增感获得的底片清晰度高而对比度低()231.要在一张射线探伤底片上同时显示出材料厚度不等的影像，必须采用低电压和荧光增感()232.手工冲洗胶片时，如果没有停影液可供使用，则可以将胶片直接放入定影液（）233.手工冲洗胶片时，如果没有停影液可供使用，则可以将胶片显影时间缩短一分钟后直接放入定影液（）

234.手工冲洗胶片时，如果没有停影液可供使用，则可以将胶片先在活水中至少冲洗2分钟，然后放入定影液（）

235.防止底片产生水斑的方法是将湿底片快速干燥（）

236.防止底片产生水斑的方法是先将湿底片在润湿液中浸

一、两分钟（）237.防止底片产生水斑的方法是使用新鲜的定影液（）238.防止底片产生水斑的方法是延长水洗时间（）239.未焊透和未熔合的主要区别是产生原因不同，因此缺陷的形状和产生部位也不同（）

240.在底片上观察透度计金属丝时，应从粗丝开始向细丝方向（）241.铅增感屏的剥落部位，在底片上的黑度大（）

242.射线照像质量等级是根据射线源(能量),胶片和增感屏的不同组合来划分的()243.对于γ射线探伤机，根据不同需要，放射源传输装置的长度应尽可能减短，每次照相后，放射源必须能立即返回源容器并进入关闭状态（）244.进行γ射线探伤作业时，必须考虑γ射线探伤机和被检物体的距离、照射方向、时间和屏蔽条件，以保证作业人员的受照剂量低于年剂量限值，并应达到可以合理做到的尽可能低的水平（）

245.常见的金属增感屏按金属箔材料的不同分为如下几类：铅屏；钢屏；铜屏；钽屏；钨屏()246.金属增感屏是由金属箔与衬纸紧密胶粘制成的()247.金属增感屏的金属箔是由铅、钢、铜、钽或钨等金属分别轧制而成的()248.金属增感屏衬纸的材料可以是纸质的、塑料的或其他适宜的非金属材料()249.金属增感屏（金属箔或衬纸）的表面应光滑清洁和平整()250.金属箔的表面不应有肉眼可辨的孔洞、划痕、擦伤、皱纹、油污、氧化等()251.金属增感屏的表面质量可用肉眼在白光下进行检查()252.晶粒较粗大的材料，在一定的射线透照条件下，射线底片上可能产生衍射斑纹()253.用偏心内透照法100%检验容器的环焊缝，当焦距大于容器外半径时，为了防止漏检，应将搭接标记放在胶片侧()254.环焊缝中横向缺陷的检出率，在焦距相同的情况下，内照法优于外照法()255.一般来说，曝光量只有选择在胶片特性曲线的直线部分才易于发现缺陷()256.透照容器环焊缝时选择焦距的原则是：采用内透照法应优先考虑厚度比K和失真角θ；采用外透照法应优先考虑几何不清晰度Ug（）

257.要在一张底片上显示出母材不等厚的焊缝影像，必须采用低电压和荧光增感（）258.为了获得高衬度和高清晰度的射线图像，在选择X射线机时，焦点的有效面积应尽可能大（）

259.当设计低压X射线管时，为了考虑到滤波、效率、散热等因素，X射线管的窗口一般采用铜合金制成（）

260.采用中子照相法时，其曝光需要先经过转换屏转换，然后再使用X射线胶片曝光()261.采用中子照相法时，其曝光方法是利用荧光增感屏+X射线胶片曝光（）

262.一般采用钴60照射钢材时，适用的检查厚度范围在270毫米以内或其当量厚度（）

263.钴60的半衰期为5.3年，如该放射源已存放三年，则透照时的曝光时间应增加约70%（）

264.铱192的半衰期为75天，若目前检验工件的最佳曝光时间为20分钟，则经过150天后，在相同的摄影条件下要达到同样的黑度，曝光时间需要120分钟（）265.假定管电压和曝光时间一定，在焦距500毫米和管电流5毫安的情况下可得到曝光适宜的底片，若把焦距增加到1000毫米，则应采用10毫安的管电流才能得到相同的曝光量（）

266.已知铱192源的放射性强度为10居里，在焦距400毫米时可得到正确的曝光量，若其他条件不变，把焦距增加到800毫米，则要求更换放射性强度为60居里的新源（）

267.对于管电压和管电流都不变的某一曝光量，当焦距从1200毫米减少到800毫米时，其曝光时间将从原来的10分钟缩短到4.4分钟()268.已知铱192源在距离1米时的曝光时间为60分钟，如果把曝光时间缩短为15分钟，则需要将距离缩短到0.25米（）

269.在胶片特性曲线上连接给定两点密度的直线的斜率称为曝光范围（）270.根据胶片特性曲线上的斜率可以判别胶片的密度（）271.通过增大焦距，可以起到降低底片衬度的作用（）272.利用仪表测量法可以测定X射线管的焦点（）

273.用铅箔做增感屏时，若X射线管电压太高，会产生磷光现象（）274.若仅从高清晰度的需要出发，焦距应尽可能长()275.在X射线管窗口处加装滤光板可以使X射线强度均匀化（）

276.铅的密度是11.4，钢的密度是7.8，铅的密度约是钢的1.5倍，用220KV的X射线进行照相时，2.5mm厚的铅吸收相当于30mm厚钢的吸收，因此铅的吸收是钢的24倍（）277.使用铅或铅化锑高原子序数增感屏的目的是为了降低摄片的条件和降低对底片的要求（）

278.关于底片清晰度，它与焦点大小和物体至胶片的距离成反比（）279.粒度大的X射线胶片其照相的清晰度比粒度小的胶片差()280.强度一定的两种同位素源，若其放射性比活度值不同，则对放射性比活度值较高的源来说，其半衰期比放射性比活度值低的源长（）

281.提高荧光屏观察法（即时射线成像）灵敏度的主要困难是成本高和速度慢（）282.表达式：（毫安x时间）/距离平方，称之为照相的对比度（）283.表达式：（毫安x时间）/距离平方，称之为互易定律（）

284.在X射线管和胶片距离一半处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板，这是用来测量软化X射线的能量（）

285.在试样周围放置铅板的目的是产生较短波长的X射线辐射（）286.X射线照相时使用的电压值高或低，其衬度不变（）

287.胶片的增感因子在40-400KV之间的变化情况是随着电压增大，增感因子增大（）288.胶片的增感因子在40-400KV之间的变化情况是随着电压增大，增感因子变小（）289.如果荧光增感屏的种类一定，则感光速度主要取决于荧光物质的颗粒度，颗粒越大，感光速度越慢（）

290.根据黑度D的定义，其数学表达式为：D=lg(L/L0)式中：L0-透过底片前的光强度；L-透过底片后的光强度（）

291.在胶片背面放一个“B”铅字，曝光后冲洗出来的底片上出现该铅字的影像，说明对背散射的防护适当（）

292.工件内部如有一面积型缺陷，当该缺陷面与射线投照方向成90°夹角时，在底片上的影像最清晰（）

293.220KV的X射线对钢和铜进行射线照相，两者的厚度当量系数为1:1.4，若以12mm的铜板进行射线照相时的曝光条件对钢进行射线照相，则该钢板的厚度应为25mm（）294.当用观片灯观察底片时，为了获得更直观的效果，在曝光时采用不同方向摄取两张底片的特殊照相方法，称之为立体射线照相法()295.在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为深度定位视差法()296.在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为立体射线照相法（）

297.在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为空间投影法（）

298.定影液使用一段时间后，由于定影液中可溶解的银盐浓度增加，导致定影效果下降()299.定影液使用一段时间后，由于定影液成分被挥发，导致定影效果下降（）300.荧光增感屏经常受到强光照射或紫外线照射后，会导致颜色改变和丧失一些光泽()301.荧光增感屏因为经常受到强光照射或紫外线照射导致颜色改变和丧失一些光泽时，可以用弱射线照射使其恢复原有的状态（）302.在制作胶片特性曲线时，如果增加显影时间，会使胶片特性曲线变得更陡，并且向左移动()303.在制作胶片特性曲线时，如果增加显影时间，会使胶片特性曲线变得更陡，并且向右移动（）

304.采用高KV值X射线照相法的特点是能获得较高的对比度（）

305.采用高KV值X射线照相法的特点是适用于厚试样或吸收系数大的试样的照相()306.当采用高KV值X射线照相法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏()307.当采用荧光屏观察法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏（）308.一般用于荧光屏观察法的观察窗口是用硼硅酸玻璃制成的（）309.一般用于荧光屏观察法的观察窗口是用光学玻璃制成的（）

310.当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但是其强度的变化只是大致与管电流的变化成比例，而不能完全按比例变化，这是因为波长的变化不完全成比例（）

311.当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但是其强度的变化只是大致与管电流的变化成比例，而不能完全按比例变化，这是因为管电压和X射线设备的电压波形会随着负载发生变化()312.当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但是其强度的变化只是大致与管电流的变化成比例，而不能完全按比例变化，这是因为电流在线性比率上才能改变（）

313.当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但是其强度的变化只是大致与管电流的变化成比例，而不能完全按比例变化，这是因为散射线不能按比率变化()314.观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为底片高度曝光的原因造成的()315.观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为X射线强度太高的原因造成的()316.观察底片时，要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为背散射的原因造成的()317.由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应，因此散射的特殊表现形式是底片的衬度差()318.由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应，因此散射的特殊表现形式是底片上出现斑点()319.拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用荧光增感屏法()320.拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒内同时装两张相同的胶片重叠曝光()321.拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒内同时装两张具有不同感光速度的胶片重叠曝光()322.如果放射源的尺寸较大，为了获得质量较高的底片，可以考虑增大射源至胶片的距离()323.如果放射源的尺寸较大，为了获得质量较高的底片，可以考虑采用感光速度快的胶片()324.射线照相时，底片边缘未经直接曝光而出现黑度较高的区域，这是由于试件几何形状不规则引起的()325.射线照相时，底片边缘未经直接曝光而出现黑度较高的区域，这是由于铅屏蔽引起的()326.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是胶片本身质量有问题()327.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是受到宇宙射线曝光()328.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是暗盒边缘处漏光()329.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是受到散射线照射()330.底片上产生树枝状影像的原因是显影液搅拌不均匀()331.底片上产生树枝状影像的原因是装拆胶片时摩擦产生静电火花放电()332.使用透度计的目的是要知道X射线和γ射线的穿透特性的好坏()333.使用透度计的目的是要知道所透照的底片质量好坏()334.线状透度计和孔型透度计相比较，线状透度计难以看得清()335.线状透度计和孔型透度计相比较，孔型透度计容易看得清()336.工业射线检测使用的胶片与一般胶片之间最大的差别是双面涂乳剂()337.工业射线检测使用的胶片与一般胶片之间最大的差别是单面涂乳剂()338.胶片经曝光后产生的潜影能够被肉眼观察到()339.胶片经曝光后产生的潜影在红灯下能够被肉眼观察到()340.确定胶片密度和胶片速度的方法是利用特性曲线进行比较()341.确定胶片密度和胶片速度的方法是通过与一张已知速度的胶片进行比较()342.未经射线曝光的胶片经暗室处理后，发现底片上存在模糊的淡黑色，这称之为胶片的本底化学灰雾度()343.钢板厚度15毫米，双面焊冠之和为5毫米的焊接件，在底片上能发现最小直径为0.4毫米的钢丝透度计，此时所达到的灵敏度即是约为2.7%()344.在进行焊缝射线照相时，线型透度计一般是放置在钢板上面()345.在进行焊缝射线照相时，线型透度计一般是放置在焊缝上面()346.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以提高管电压并使用荧光增感屏()347.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以降低管电压并使用铅箔增感屏()348.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以提高管电压并使用铅箔增感屏()349.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以降低管电压并使用荧光增感屏()350.对显影液添加补充液时，一般在添加的补充液量达到原来显影液量的4倍时，该显影液应该报废，而不应无限制地添加补充液()351.对显影液添加补充液时，一般在添加的补充液量达到原来显影液量的7倍时，该显影液应该报废，而不应无限制地添加补充液()352.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是裂纹()353.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是未焊透（熔入不足）()354.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是夹杂()355.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是疏松()高级无损检测技术资格人员-射线检测考题汇编 问答题

1.射线可分为哪几类，对于工业探伤的射线有哪几种？ 答：射线可分为以下几类：

(1)Χ射线和γ射线。它们都是波长很短的电磁波，按波粒二相性观点，也可以看作是能量很高的光子流。Χ射线是高速运动的电子撞击金属产生的；γ射线是放射性同位素在γ衰变过程中从原子核内发出的。

(2)电子射线和β射线。它们都是高速电子流。电子射线是通过加速器加速电子得到的；β射线是放射性同位素在β衰变过程中从原子核内发出的。

(3)质子射线、氘核射线和α射线。它们都是带正电的粒子流，质子是普通氢原子核1H1；氘核是氢同位素氘2H1的原子核，由1个质子与1个中子构成；α粒子是氢原子核4He2，由2个质子与2个中子构成。质子射线与氘核射线可利用回旋加速器或静电加速器得到，α射线是放射性同位素在α衰变过程中从原子核内发出的。(4)中子射线。它是高速中子流，可从原子反应堆中获得，也可通过加速器获得，或从放射性同位素-252中获得。

目前用于探伤的主要是Χ射线、γ射线和中子射线。其中Χ射线和γ射线广泛用于工业探伤，中子射线用于特种检验。

2.什么叫连续Χ射线的有效能量？为什么连续Χ射线穿透物质后有效能量会增大？答：如果某一单能射线的吸收系数与连续Χ射线在特定厚度范围内平均吸收系数相等，便可用此单能射线的能量来表示连续Χ射线的平均能量，称作有效能量。连续Χ射线包含有能量不同的光子，在穿透物质过程中，能量较低的光子较容易被物质吸收，因此，在射线透过物质后，不同能量射线所占的强度比率发生变化，低能量射线所占比率减少，从而使透过射线的平均能量或有效能量增大。3.放射性同位素衰变过程中的辐射有哪几种形式？答：放射性同位素的衰变幅射主要有以下几种形式：(1)仅幅射α粒子,(2)仅幅射β粒子,(3)既幅射α粒子又幅射γ射线,(4)既幅射β粒子又幅射γ射线

4.射线防护有哪几种基本方法？每种防护方法的基本原理是什么？

[提示]：射线防护方法有三种，即距离防护、时间防护、屏蔽防护，距离防护--射线剂量率与离射线源的距离平方成反比，因此尽量在距离射线源远的地方从事射线探伤工作；时间防护--人体接收射线剂量与时间成正比，尽量缩短接收时间以减少对人体的危害；屏蔽防护--射线穿过屏蔽材料时，其能量会衰减，尽量在有安全屏蔽的条件下进行工作

5.影响照相质量的散射线是如何产生的？答：射线穿过物质时，与物质发生各种相互作用，其结果是除了一部分直接前进的透射线外，还有向各个方向射出的散乱射线以及光电子，反跳电子等。光电子和反跳电子穿透力极弱，大多数被物体自身吸收，即使射到物体外，也很容易被空气吸收，对探伤质量不产生影响。散乱射线中的一部分是由光电效应引发的荧光X射线，这部分射线能量远小于透射线。例如铁的Kβ1荧光X射线能量约7keV，很容易被物体和增感屏吸收，对探伤质量也不产生什么影响。因此影响探伤质量的散射线主要是由康普顿效应和汤姆逊效应产生的，在射线能量很低（小于50keV）范围内，散射线主要由于汤姆逊效应产生，在射线能量较高范围内，散射线主要由康普顿效应产生。

6.简述Χ射线管的结构和各部分作用 答：Χ射线管 阴极 灯丝：发射电子 阴极头：灯丝支座，聚焦电子

阳极 靶：遏制电子，发出X射线 阳极体：支承靶，传递靶热量

阳极罩：吸收二次电子，减少管壁电荷，提高工作稳定性 管壳 连接两极，保持真空度

7.绘出能工作的X射线机的最基本电路图,并标明各部分名称 答:如右图所示。

8.用于X射线检测用的X射线管有哪些类型和种类？答：就焦点大小区分，可分为大焦点、小焦点和微焦点；就结构形式区分有玻璃壳管、金属陶瓷管和波纹陶瓷管；就辐射形式区分有定向曝光和周向曝光（有平靶和锥靶两种），软X射线管，棒阳极等 9.试比较射线检测与超音波检测两种方法的适用范围和局限性

[提示]：应从两种方法的灵敏度高低、检测厚度范围、易发现的缺陷形状以及安全防护和经济性等方面进行比较

10.何谓互易定律失效？它对射线照相有何影响？答：互易定律是光化学反应的一条定律，该定律指出，决定光化学反应产物质量的条件，只与总曝光量相关，即取决于照度和时间的乘积，而与这两个因素的单独作用无关，由于它指出了时间和照度的互易关系，所以称为互易定律，如果与这一定律结论有偏离，则称为互易定律失效。如果不考虑光解银对感光乳剂显影的引发作用的差异，互易定律可引伸为显影黑度只与总曝光量有关，而与照度和时间分别无关。在射线照相中，当采用铅箔增感和无增感时，遵守互易定律。设产生一定显影黑度的曝光量E=I·t，当射线强度I和时间t相应变化时，只要两者乘积E值不变，底片黑度不变。当采用荧光增感时，互易定律将会失效。I与t发生变化时，尽管I与t的乘积不变，底片黑度仍会改变。用公式描述保证底片黑度不变的前提下，曝光量E与射线强度I，时间t的关系，其形式为E=I·tp（p≠1）。互易定律是利用曝光因子公式和平方反比定律修正透照参数的基础，如果互易定律失效，则不能利用曝光因子和平方反比定律修正透照参数，这将使透照参数的选择复杂化。

11.何谓几何不清晰度？其主要影响因素有哪些？答：由于射线源都具有一定尺寸，所以照相时工件轮廓或缺陷边缘都会在底片上产生半影。这个半影宽度便是几何不清晰度Ug,缺陷的几何不清晰度Ug值计算公式为：Ug=db/(F-b),式中：d--射源尺寸；F--焦距；b--缺陷至胶片距离。技术标准中规定的几何不清晰度，通常是指透照中心部位的最大几何不清晰度，计算公式为：Ugmax=dL2/L1 ,式中：L1--射线至工件表面距离；L2--工件表面至胶片距离；d--射源公称有效焦点尺寸。由以上公式可知，Ug值与射源尺寸和工件厚度或工件表面至胶片距离成正比，与射源至工件表面距离或焦距成反比。

12.△D=(-0.434μγσ△x)/(1+n)是计算什么的公式？从这个公式中可以说明什么问题？答：这是计算缺陷（或金属丝透度计的金属丝直径）对比度的完整公式。从这个公式中可以看出影响射线检验灵敏度的主要因素，如：吸收系数μ越大，△D就越大，为此应选用尽量低的管电压；胶片衬度γ越大，△D也越大，为此应选用衬度（对比度）高的胶片和相应的暗室处理条件；几何修正系数σ越大，△D也越大，为此应选用焦点小的射线机和合适的焦距，并尽量使胶片与零件紧贴；△x越大（即缺陷沿射线方向尺寸越大），△D也越大；散射比n越大，则△D就越小，因此应设法降低散射线的影响，以将n降低到最低限度。13.射线辐射防护检测的目的和种类有哪些？ 答：辐射检测的目的是为了控制和判定电离辐射对人体的照射剂量，从而估计照射对人体的影响，以便采取更完善的辐射防护措施，防患于未然，确保放射性工作人员及周围群众的健康和安全，它包括场所辐射监测和个人剂量监测。

14.无损检测中常用的能量范围内的伽玛射线衰减是通过哪种方式产生的？答：光电效应和康普顿散射

15.产生X射线的必备条件是什么？

答：要有一定数量的电子；这些电子沿一定方向作高速运动；在电子前进的路径上，有阻止电子运动的障碍物

16.X、γ射线具有哪些主要特征？答：直线传播的电磁波，速度为光速；不受电磁场的影响；能使胶片感光；能使物质电离；能透过可见光不能透过的物质；具有反射、折射、衍射、干涉等波的性质；有生物效应

17.叙述射线穿过物质发生的三个效应与入射线能量之间的关系。答：低能射线以光电效应为主；中等能量射线以康普顿效应为优势，以光电效应结束；能量大于1.022MeV者，以电子对生成效应为主 18.何谓中子射线？

答：中子射线即中子流，中子是原子核的基本粒子之一，在放射性物质裂变时，有时会放射出中子而形成中子射线

19.对于实用的X射线，为了要用半值层公式，应以什么波长为计算半值层厚度的基准？

答：在管电压一定时，X射线强度最大所对应的波长为计算基准 20.写出窄束射线穿过物质的衰减定律公式，并注明各符号的含义。

答：I=I0e-μd 式中：I0--没有穿透物质某点的射线强度（又称为初始射线强度）；I--穿过厚度为d的试件某点后的射线强度；d--射线穿透试件的厚度；μ--线性减弱系数或称衰减系数

21.何谓放射性同位素？答：在元素周期表上占据相同位置，具有不稳定性的元素，它能自发蜕变成另一种原子核

22.X射线的能量取决于什么？答：X射线的能量大小取决于管电压 23.γ射线的能量取决于什么？答：γ射线的能量大小取决于射线源放射性同位素的种类

24.X光管阳极靶材料由钨换成钼会产生什么结果？答：提高发射X射线的效率；耐热性好

25.绘图说明胶片特性曲线由哪五部分组成？底片黑度应控制在胶片特性曲线的哪个区域？为什么要控制在这个区域？答：AB-迟钝区；BC-感光不足区；CD-正常（适量）感光区；DE-过感区；EF-负感区。底片黑度应限制在正常感光区内，因为在这个区域内底片的对比度大（曝光量有小的差异就能产生较大的黑度差），灵敏度高。26.试述高能X射线的特殊性质。答：穿透力极强，可达500mm；射线焦点小；能量转换高；散射线少，清晰度高；透照幅度宽。27.X射线管中为什么选用钨靶？

答：高速运动的电子撞击阳极靶时，约有1-2%的动能转换为X射线，绝大部分均转化为热能，使靶面温度升高，同时X射线的强度与阳极靶的原子序数有关，所以一般工业用X射线管的阳极靶选用原子序数大、耐高温的钨来制造

28.散乱射线是怎样产生的？它对底片有何影响？透照时如何遮挡？答：散乱射线是由射线与物质作用而产生的，如果来自工件内部，处于胶片前方，称为前方散射线，射线透过工件和胶片后打到地板、墙壁上等，均会产生散乱射线，由于它来自胶片背面，故称背面散乱射线（包括侧壁散乱射线）；散乱射线使底片产生附加黑度，严重时全部变黑，影响底片的对比度和清晰度，降低底片的灵敏度；遮挡的方法有：采用限光器（准直器）或采用铅板在射线源侧遮挡胶片附近不需透照的部位，从而减少散乱射线对底片的影响；采用金属增感屏，前屏吸收一部分前方散乱射线，后屏减少背面散乱射线的影响；透照较厚工件时，暗盒后面用薄铅板（铅垫板）遮挡背面散乱射线；被透照工件周围尽可能保障有一定的空间，避免存放与透照无关的杂物以避免侧壁散乱射线影响。

29.高能X射线设备的主要原理是什么？答：利用超高压、强磁场、微波等技术对射线管的电子进行加速，从而获得能量强大的电子束，轰击靶面而获得高能X射线 30.X射线管焦点的尺寸大小与什么有关？

答：主要取决于X射线管阴极灯丝的形状和大小，使用的管电压和管电流对焦点大小也有一定影响。

31.周向辐射X射线管有哪两种阳极靶？答：平面阳极和锥体阳极两种形式 32.用于狭窄部位摄片的X射线管阳极是什么样的？答：棒状阳极

33.X射线荧光屏法的优缺点是什么？答：优点是：检验速度快，检验结果可即时性观察；操作简单，检测成本低；无胶片处理过程；可改变照射角度来全面观察工件内部质量。缺点是：检验结果较难做全面的永久性记录；工作人员容易疲劳；检验灵敏度较低；受穿透力限制，一般只适用于较薄的工件。

34.辐射场限制区是如何测量的？答：X射线机的辐射场尺寸是指从X射线管焦点上发出的X射线在规定距离d处，垂直于输出窗轴线的平面上，X射线辐射场的大小可用曝光拍片法测量，胶片取得足够大，可将辐射场的限制区拍摄下来，以底片最大黑度降低20%构成的边界为辐射场的尺寸

35.伽玛射线探伤装置主要由哪四部分构成？答：射源、保护罐（用铅或贫化铀制成）、操作机构和支撑装置

36.中子探伤设备包括哪几部分？答：中子源、慢化剂、准直器和像探测器

37.射线防护的基本原则是什么？答：采取一些措施，把射线工作人员以及周围其他工作人员所受的射线剂量降低到最高允许剂量（也叫安全剂量）以下，确保人身安全。38.工业电视应配什么样的X射线机？包括哪些主要部件？答：应配备小焦点、恒电位的X射线机，包括的部件有图像增强器、摄像管及电视显示器，最新的工业电视则采用了CCD(电荷耦合器件)或CMOS来接受X射线并转换成电信号送入电脑进行信号处理及重构图像，在电脑屏幕上显示射线透视的结果

39.什么是软射线技术？答：使用软X射线管，产生的X射线束直接从铍窗口射出，避免了普通X射线管的固有滤波，能基本保持原有波长且能量较低的X射线，称为软X射线，利用其进行透照的技术，即是软射线技术，多用于人体软组织、轻金属和非金属的射线检测

40.选购X光机时，应考虑哪些条件？答：应考虑以下条件：①首先要选择穿透能力能满足工作厚度的要求；②能量相同时，尽量选小焦点的；③要考虑工作量的大小，连续生产还是断续生产；④要考虑工件的材质和形状，即是有色金属还是重金属，轴类、板材还是筒类等去选择相应的X射线探伤机种。

41.X射线机的常见故障有哪些？答：常见故障有：①X 射线管松动；②保险丝溶断；③电流表没指示或指示数很小；④电缆断线；⑤自耦变压器老化、高压指数达不到额定值；⑥发生器保护罩漏油，高压跳火；⑦X射线管失效；⑧阳极过热，毫安表针摆动较严重；⑨马达不转，发生器局部发热；⑩X射线管灯丝预热时间不够，而使灯丝老化损坏。42.绝缘油绝缘强度低劣时有何现象？

答：绝缘油绝缘强度低时，送高压后，电流值不规则的波动，一般不至达到跳闸程度。43.什么是绝缘油的绝缘强度？答：油样在油杯内2.5mm间隙时的击穿电压的多次平均值，就是该油的绝缘强度。

44.X射线机要求什么样的绝缘油，有哪些具体要求？

答：X射线机多用45#变压器油、绝缘强度要在50kv以上，还要求有燃点高、凝固点低、挥发性低、粘度适中等。

45.经常熔断电源保险丝的故障原因可能有哪些?答:X射线管真空度不良,绝缘油里有气泡或绝缘强度降低,高压电路元件损坏,造成对地放电或短路,调压器等低压电路元件绝缘降低,造成对地短路,电源接错等

46.高压可接通,但无管电流的故障原因可能有哪些?答:X射线管或高压整流管灯丝断或接触不良,高压变压器断线或接触不良,高压电缆与插座接触不良,毫安表损坏无指示,毫安调节器断路等

47.试述底片影象颗粒度及影响因素答：底片影像是由许多形状大小不一的颗粒组成的，人们观察影像时在感觉上产生的不均一或不均匀的印象称为颗粒性，用仪器测定由于影像不均匀引起的透射光强变化，其测定结果称为颗粒度。由于颗粒大小的分布是随机的，所以颗粒度一般是采用均方根离差σ来度量。目前较通用的方法是用直径24μm的扫描孔测定颗粒度。肉眼所观察到的颗粒团实际上是许多颗粒交互重迭生成的影像。影像颗粒与胶片卤化银颗粒是不同的概念，影像颗粒大小取决于以下因素：①胶片卤化银粒度；②曝光光子能量；③显影条件。48.试推导射线照相主因对比度（物件对比度）的表达式

答：已知宽束射线透过厚度为T的试件,其透过射线强度Ip=(1+n)Ioe-μT--(1),当试件中某一局部区域厚度有变化,射线穿过的厚度差为△T,该区域透过射线的强度也会发生变化,其强度增量为△I,则有：

△I=Ioe-μ(T-△T)-Ioe-μT = Ioe-μT(eμ△T-1)--(2),(2)÷(1)得： △I/Ip= [Ioe-μT(eμ△T-1)]/[(1+n)Ioe-μT]=(eμ△T-1)/(1+n)--(3),而eμ△T可展为级数

eμ△T=1+μ△T+(μ△T)2/2！„„+(μ△T)n/n！„„--(4),近似取级数前两项代入(3),得：

△I/Ip=[(1+μ△T)-1]/(1+n)=μ△T/(1+n)--(5)49.写出透照厚度差为△T的平板底片对比度公式和象质计金属丝底片对比度公式，说明公式中各符号的含义，并指出两个公式的差异 答：厚度差为△T的平板底片对比度公式：△D=-0.434μpγ△T/(1+n)--(1)象质计金属丝底片对比度公式：△D=-0.434μpγσ·d/(1+n)--(2),式中：μp--考虑胶片速度系数的射线吸收系数；γ--胶片反差系数；σ--几何修正系数；△T--平板透照厚度差；d--象质计金属丝直径；n--散射比。

两个公式的差别在于几何修正系数σ，由于透度计金属丝直径d远小于焦点尺寸，在一定透照几何条件下，焦点尺寸会影响金属丝影像对比度，所以公式(2)引入σ对底片对比度进行修正。当缺陷尺寸大于焦点尺寸时，焦点尺寸对底片对比度的影响可忽略不计，所以公式(1)中，没有几何修正系数σ

50.什么是几何修正系数，写出其计算式并说明其实用意义

答：几何修正系数σ是考虑射源焦点尺寸在一定的透照几何条件下,会对小缺陷影像对比度产生影响而提出的,其公式是按透度计金属丝的情况推导的。对金属丝透度计按左图中表示的情况进行透照,到达胶片上P点的射线将通过金属丝截面的abcd部分,近似认为射线通过的是a1b1c1d1部分,并认为在焦点尺寸f范围内射线强度无变化。

设金属丝直径为d,金属丝截面圆为O,在距圆心x的一点上,射线穿过金属丝b2d2两点，设其穿透厚度为d“,则有 d”=(d2-4x2)1/2 连接胶片上P点与焦点两端,设两直线与以O为原点的直线的横轴分别交于x1和x2,则x1和x2之间的距离d'可用下式表示：d'=f·l/L,式中：l--金属丝中心至胶片距离；L--焦点至胶片距离。

底片上P点所产生的黑度差△D是由于焦点上各点发出的射线穿过a1b1c1d1金属丝截面,强度减小而产生的,而焦点上各点发出的射线穿过金属丝的厚度不一样,所以穿透厚度d“是一个变量,设dm为d”的平均值,则有：

当d'＜d时,积分上下限为X1=-d'/2，X2= d'/2代入,得：d“m＝{[1-(d'/d)2]1/2 +(d'/d)-1sin-1(d'/d)}·(d/2)

当d'≥d时,积分上下限为X1=-d/2，X2= d/2代入,得：d”m=(πd/4)(d'/d)-1,修正系数σ= d"m/d，所以有：

d'＜d：σ=(1/2){[1-(d'/d)2]1/2 +(d'/d)-1sin-1(d'/d)} d'≥d：σ=(π/4)(d'/d)-1 σ值随d'/d变化情况见图b,由图可见：当d'/d接近1时,σ值会急剧下降,也意味着小缺陷的对比度会随之减小,在实际透照中,为保证小缺陷的对比度,应考虑采用d'/d≤0.5,σ≈1的几何布置,此时焦距L的计算公式推导如下：

已知：d'/d≤0.5,则d'≤0.5d,又d'=f·l/L,∴f·l/L≤0.5d,则L≥2fl/d,式中：L-焦距；f-焦点尺寸；l-透度计至胶片距离；d-要求能够识别的金属丝直径

51.固有不清晰度大小与哪些因素有关？答：固有不清晰度Ui值受以下因素影响：(1)射线的质。透照射线的光子能量越高，激发的电子在乳剂层中的行程就越长，固有不清晰度也就越大。

(2)增感屏。据文献报道：在中低能量射线照相中，使用铅增感屏的底片的固有不清晰度大于不使用铅增感屏的底片；增感屏厚度增加也会引起固有不清晰度增大；在γ射线和高能量Χ射线照相中，使用铜屏、钽屏、钨屏、钢屏的固有不清晰度均小于铅屏。

(3)屏与胶片贴紧程度。透照时，如暗盒内增感屏和胶片贴合不紧，会使固有不清晰度增大。为改善屏与胶片贴合情况，提出使用一种真空暗盒。固有不清晰度与胶片的类型和粒度无关，与暗室处理条件无关。52.实际照相中，底片上各点的Ug值是否变化？有何规律？

答：实际照相中，底片上不同部位影像的Ug值是不同的，但为了简化计算，便于应用，有关技术标准仅以透照中心部位的最大Ug值作为控制指标。对不同部位Ug值的变化忽略不计。底片上不同部位的Ug值变化规律如下：

(1)焦点尺寸变化引起Ug值变化，由于Χ射线管的结构原因，沿射线管轴向不同位置焦点投影尺寸是变化的。阳极侧焦点小，阴极侧焦点大。因此底片上偏向阳极一侧的部位Ug值小，偏向阴极一侧的部位Ug值大。

(2)L2/L1变化引起Ug值变化，透照纵缝时，被检区域各点的L2/L1值是定值，Ug值不发生变化。但在透照环缝时，各点的L2/L1值是变化的，因此Ug值也发生变化。例如，环缝外透法和F≠R的环缝内透法，端部的L2/L1值都比中心部位要大，因此端部的Ug值也会增大。53.试述Ug与Ui的关系以及对照相质量的影响 答：可简要归纳为以下几点：(1)射线照相中，通常主要考虑的是几何不清晰度Ug和固有不清晰度Ui，两者共同作用形成总的不清晰度U，比较广泛应用的，表达U，Ug，Ui的关系式是：U2=Ug2+Ui2(2)由于U是Ug和Ui的综合结果，所以在Ug值已小于Ui值的情况下，再进一步减小Ug值，以期望减小U，其效果是不显着的，从而是没有意义的。(3)在Χ射线照相中，Ui值很小，影响照相清晰度的决定因素是Ug。

(4)在60Co，137Cs及192Irγ射线照相中，Ui值较大，对照相清晰度有显着影响，为提高清晰度，宜尽量减小Ug，使之不超过Ui值。54.透照有焊冠的焊缝应注意哪些事项？

答：（1）由于焊缝焊冠的存在，底片上焊缝部位黑度D1总是小于母材部位黑度D2，照相时应注意保证D1、D2均在标准允许的黑度范围内。（2）由于底片对比度△D随黑度D的增加而增大，而识别界限对比度△Dmin也随黑度D的增加而增大，因此透照有焊冠焊缝时，通过控制适当的焊缝部位黑度D1和母材部位黑度D2，可使母材部位和焊缝部位能识别的透度计线径相等，此黑度称为有焊冠焊缝透照的最佳黑度。（3）底片对比度随射线有效能量的降低而增大，但另一方面，射线有效能量的降低会使焊缝部位的透射线I1与母材部位的透射线I2的比值大大减小，从而使母材部位的散射线对焊缝部位的影响更严重，其结果是降低了对比度，因此，透照有焊冠焊缝时，焊缝部位的对比度不是单纯地随射线能量的降低而增大，而是在某一线质时，焊缝部位的底片对比度达到最大值。此线质称为有焊冠焊缝透照的最佳线质。

55.指出小口径管对接焊缝射线照相缺陷检出的不利因素，并提出改进措施。答：小口径管焊缝射线照相采用双壁双影法透照，对缺陷检出的不利因素和改进措施有以下几点：(1)双壁双影法透照时，由于射源侧焊缝比胶片侧焊缝离开胶片的距离相差一个管子直径，故射线源尺寸的几何影响较大，使几何模糊度增加，小缺陷对比度降低，为减小射源尺寸对几何模糊度和对比度的影响，可选择焦点尺寸小的射线源，适当增大焦距。(2)透照小口径管时射线的穿透厚度自中心向两端变化很大，易导致底片上中心部位黑度过大，边缘部位黑度过小，为减少被检区域不同部位的黑度差，宜适当提高射线能量，采用“高电压，短时间”的透照工艺。(3)由于管子直径较小，散射线引起“边蚀”效应比较严重。相应的措施是在射线机窗口处加滤板，或采用铅罩屏蔽焊缝以外部分，以减少“边蚀”。(4)双壁双影透照时，焊缝被倾斜投影到胶片上，缺陷影像会发生畸变。为减少畸变，应控制透照角度和椭圆开口间距，间距一般为3～10mm，最大不超过15mm。

56.试述编写射线检测程序书所应包含的内容？答：(1)工艺适用范围(试件种类、焊接方法和类型、厚度等)。(2)工艺编制依据(有关规程、规范、标准、设计规定等)。(3)对探伤人员要求(资格、工作经历、学历、视力等)。(4)设备器材选择(射线机、胶片、增感屏、透度计、暗盒、铅字等)。(5)对工件要求(工序、探伤时机、工件表面状况)。(6)探伤技术要求（质量等级、比例、部位、合格级别)。(7)透照方法(源-胶片相对位置、焦距、划线长度、编号方法、透度计、铅字摆放、散射线屏蔽等)。(8)曝光参数(管电压、管电流、曝光时间等)。(9)暗室处理(配方、程序、条件、要求等)。(10)底片评定(像质鉴定、级别评定、返修规定等)。(11)记录报告(种类、内容、签证、存档及发送规定等)。(12)安全管理规定。

57.散乱射线是怎样产生的？它对底片有何影响？透照时如何遮挡？

答：散乱射线是由射线与物质作用而产生的，如果来自工件内部，处于胶片前方，称为前方散射线，射线透过工件和胶片后打到地板、墙壁上等，均会产生散乱射线，由于它来自胶片背面，故称背面散乱射线（包括侧壁散乱射线）；散乱射线使底片产生附加黑度，严重时全部变黑，影响底片的对比度和清晰度，降低底片的灵敏度；遮挡的方法有：采用限光器（准直器）或采用铅板在射线源侧遮挡胶片附近不需透照的部位，从而减少散乱射线对底片的影响；采用金属增感屏，前屏吸收一部分前方散乱射线，后屏减少背面散乱射线的影响；透照较厚工件时，暗盒后面用薄铅板（铅垫板）遮挡背面散乱射线；被透照工件周围尽可能保障有一定的空间，避免存放与透照无关的杂物以避免侧壁散乱射线影响。

58.射线源和胶片处于工件两面，透照时的像质计应如何放置？为什么？

答：应放置在射线源侧工件的表面上，置于有效受检部分的一端，钢丝横跨且垂直于焊缝，细丝向片子的端部；这样放置时的几何模糊度最大、灵敏度最低，若此灵敏度符合规范标准的要求，则其它部位也能符合要求。

59.在一些压力容器安全监察规程中规定对于厚度较大的焊缝在进行射线照相后还要求进行超声波检测复验，这是为什么？

答：各种非破坏检测方法都有其局限性，射线照像随着板厚的增加，发现小缺陷的能力就越来越差，特别是对于线状缺陷，例如轻微的未焊透（熔入不足）及小裂纹等难以发现，而超音波检测对于线状缺陷是敏感的，为提高检测可靠性，保证产品质量，特别是质量要求高的产品，超音波检测可以弥补射线照像检测的不足。

60.简述判片的一般程序步骤。[提示]应按相应的规范标准要求进行，通常主要包括：检查底片上的各标记符号是否齐全及摆放位置是否合乎要求；测定判片区域的黑度与灵敏度要符合标准要求；评定缺陷的位置、性质、大小、分布状况，按评级标准评出底片级别并作记录；发出报告。

61.曝光条件主要包括哪些内容？答：对一定机器产生的X射线而言，曝光条件包括管电压、管电流、曝光时间和焦距；对射源一定的伽玛射线而言，曝光条件包括曝光时间和焦距。

62.对于水循环冷却油绝缘的X射线机，当高压切断后（已经没有X射线产生），是否能马上关闭机器的油泵？为什么？

答：不能马上关闭油泵，因为X射线产生的过程中有大量电子轰击阳极钨靶而产生很高的热量，所以必须将冷却油泵继续运转10-15分钟，使X射线管的阳极充分冷却后才能关闭总电源、关闭水源。

63.右图所示线路属于何种高压回路？多用于哪些射线机上？ 答：这是半波自整流线路，多用于便携式X射线机上

64.目前工业射线检测中已经应用的伽马射源有哪些？它们各自的半衰期及可检钢厚度范围是多少？答：60Co(5.3年，60-150 mm)；192Ir(74.4天，20-90 mm)；75Se(118天，5-40mm)；169Yb(31天，2-12mm)；170Tm(129天，≤5mm)；153Gd(242天，≤5mm)

65.射线检测的“三个基本要素”是什么？答：射线源、受检物和记录或显示介质。66.选择透照方式时必须确定的事项、几何参数和必须考虑的相关因素是什么？答：选择透照方式时必须确定的事项是：射线源和胶片的位置、射线束照射的方向、透度计和标记的放置、散射线的屏蔽和监测等；必须确定的几何参数是：焦距、一次透照长度、环焊缝100%透照时最少曝光数；必须考虑的相关因素是：几何模糊度、透照厚度比、横裂检出角、纵裂检出角、有效评定长度以及100%透照时相邻两片的搭接长度。

67.射线探伤的组织管理工作主要包括哪几个方面？[提示]①配备足够完成本单位探伤任务的人员，这些人员需经考试合格并取得资格证书；②配备足够完成本单位探伤任务的设备及器材，加强设备维护，保证设备完好；③制定必要的各项规章制度，如：检测程序书、设备维护、人员培训、检测报告、审核及存档制度等；④储备足够数量的探伤用消耗器材（胶片、增感屏、药品等），并认真验收保管好；⑤监督本单位全体人员各负其责，把好质量关。

68.最新的第二代75Seγ射线源有些什么特点？答：是在反应堆中激活的具有热稳定性的金属硒化物，焦点呈准球形，和其他射源相比，在相同活度下其焦点尺寸更小，更适用于小焦距曝光、管道爬行器和接触式射线照相，影像几何不清晰度小，是γ射线透照中等厚度（5-40mm钢），获取较高影像质量的一种新型同位素射源，较铱192和钇169源的半衰期长(118天)，与铱192相比，其发射能谱较软，γ射线照射率常数较小，设定辐射防护禁区较小，对操作者安全等

69.评片时对底片的质量一般有哪些要求？答：底片上应无伪像、划伤、迹痕和其他可能引起评片结论出现差错的影像；底片上应有识别工件的编号、拍片部位编号、定位记号等标志并与工件相对应；底片上应有透度计的影像，透度计规格适当，底片灵敏度符合标准要求；底片黑度应在规定范围内，反差适当。70.画出曝光曲线的示意图，说明制作条件并简述其用途。

答：曝光曲线是给定X射线机在选定工艺条件下（包括胶片类型、增感方式、显影条件、焦距、底片黑度等）制作的，只有在给定的X射线机和相同的工艺条件下才能使用该曝光曲线。有了实际射线探伤工艺条件下的曝光曲线，在射线探伤时，对于不同厚度的工件就可以根据曝光曲线上的穿透厚度直接求得相应的管电压、管电流和曝光时间，这是非常经济、省时和方便的。

71.在评片前首先要检查底片是否合格，其合格要求有哪几项？

答：底片黑度合格、像质指数或像质计灵敏度合格、影像识别要求合格，即定位及识别标记齐全；没有妨碍底片评定的伪像，包括底片的损伤、污迹等。72.以玻壳X射线管为例说明其结构各部分名称及主要作用。

答：玻壳X射线管的内部构造主要包括七个部分，即：铅玻璃罩-保持X射线管内的真空度，吸收软射线；阳极罩-吸收二次电子和软射线；阳极体-支撑阳极靶和散热；阴极头-聚焦电子；灯丝-产生热电子；阳极靶-发射X射线；铍窗-吸收软射线 73.X射线管的种类中，有一种旋转式阳极，它是怎样的？

答：它的阳极是装在一个小的感应电动机轴上，在X射线照射时旋转，这样阳极时刻以“新的靶面”接受电子束的轰击，因此电子束的能量不至于像固定式阳极那样集中于一点，它可把热量散布在阳极的相当大的面积上。由于阳极转动的非常平稳，焦点可以保持形状和位置的稳定。用旋转阳极制成的X射线管不但可以得到很小的焦点，而且可以制成较大的功率，其阳极为一直径约76毫米具有斜边缘的钨盘构成，旋转速度可达到每分钟数千转。

74.什么是X射线管的有效焦点？其焦点形状和尺寸于哪些因素有关？

答：在X射线管中，电子束轰击阳极靶上的实际面积为X射线管的实际焦点，实际焦点在所激发的射线束中心方向（即垂直于X射线管轴线方向）的投影面积称为X射线管的有效焦点，有效焦点的平面可认为在X射线管的轴线上，它是直接影响X射线检验质量的因素，因此X射线机说明书或检测规程上所说的焦点（或称作射源尺寸）都是指有效焦点。X射线管焦点的形状和尺寸，决定于灯丝的形状、尺寸、安装位置以及阳极靶面的倾斜角度。

75.什么是X射线管的容量？答：X射线管允许的最大负荷量就称为X射线管的容量，它等于X射线管在使用时额定最高管电压和额定管电流的乘积（计算管电压时取有效值：U有效=0.707U峰值），即容量P=U有效(千伏)I(毫安)/1000(千瓦)，该容量是指在使用中按规定的冷却方式工作，并且连续工作时间不能超过规定的连续工作时间的情况下。

76.影响X射线管容量的因素有哪些？答：X射线管的负荷容量直接决定于X射线管实际焦点处的工作温度，影响焦点处温度的因素有：实际焦点大小；使用管电压的高低；管电流的大小；X射线管的连续使用时间；在实际焦点上电子束截面的电子密度分布情况；阳极的构造及冷却方式。

77.X射线管为什么要经过训练（老练硬化）处理？答：X射线管的质量优劣及使用寿命都与管内的真空度密切相关，尽管制造时已经达到要求的真空度（一般可达10-7mmHg）,但是管内的结构材料在第一次使用或者长期搁置，或者受到电子轰击或受热时，都有可能从这些物体中逸出气体（“放气”）而降低真空度，导致X射线管不能稳定工作甚至损坏。X射线管的训练实质上是通过从低端开始逐步升高管电压和管电流，使管内的气体分子电离并因被电离出来的质量较大的正离子高速冲向阴极，使得阴极金属发生溅散，这些溅散的金属此时会吸收管内的气体，即“排气”，从而提高管内真空度，保障X射线管稳定工作。因此对于新的或停止工作较长时间的X射线管在正式使用前都必须进行训练处理。

78.为什么在射线检测规范标准中对底片黑度的要求有越来越高的趋势，而且采用的观片灯的亮度液越来越大？ 答：随着底片黑度的提高，其对比度也相应增加，这一关系直到黑度值为3-3.5左右，底片对比度提高后。透照灵敏度也增加了，因此有倾向于要求较高的底片黑度，而为了能够观察高黑度的底片，要求观片灯的亮度也要随之相应加大了。79.X射线硬度对灵敏度有什么影响？

答：X射线的硬度决定于波长，波长越短，硬度越高。X射线检验的灵敏度主要取决于底片的对比度和清晰度，对比度越高，越容易发现缺陷，然而当其他条件固定时，缺陷在底片上的对比度完全取决于主因对比度：IA/IC=eμx（式中IA-透过缺陷处的射线强度；IC-透过缺陷附近材料的射线强度；e-自然对数的底，常数；μ-吸收系数；x-缺陷深度）当缺陷深度一定时，提高主因对比度的唯一途径是增大物质的吸收系数μ，由于μm=CZmλn（式中μm-质量吸收系数；C-常数；Z-物质的原子序数；λ-X射线波长，m和n一般取3），即质量吸收系数与被透物质原子序数的立方和入射X射线波长的立方成正比。当被透物质固定时，吸收系数仅决定于X射线波长。采用较低的管电压时可以得到波长较长的X射线，从而提高了主因对比度，亦即提高了灵敏度，因此在可能的条件下尽量采用较低的管电压，也就是较软的X射线，对提高灵敏度是有益的。

80.焦距对射线检验的灵敏度有何影响？答：主要表现在四个方面：①焦距的大小会引起缺陷投影的畸变，焦距越小，缺陷投影畸变越大，因此从减小缺陷畸变考虑，选用较大焦距为好；②焦距的大小会引起零件沿射线方向厚度的变化，这是由于射线束成圆锥形扩散，引起零件边缘沿射线方向厚度增加，导致零件在底片上的黑度不均匀，用K表示边缘部位与中间部位沿射线方向的厚度比，即K值越大，零件中间部位与边缘部位沿射线方向的厚度差值越大，使底片黑度越不均匀，对射线检验灵敏度影响越大，选用较大的焦距可有效地减小K值（一般要求K值越小越好，最好不超过1.1），对灵敏度有利；③焦距大小队几何模糊度的影响，几何模糊度Ug的存在使缺陷边缘轮廓模糊，降低了底片的清晰度和缺陷对比度，因此焦距越大则Ug越小，检验灵敏度越高；④焦距大小对散射线的影响，焦距增大必然导致曝光量要增加，在管电流一定的情况下只能增加曝光时间，除了降低工作效率外，也会使得散射线作用时间增长而影响底片清晰度，降低了检验灵敏度。因此，从前三项而言，增大焦距对提高检验灵敏度有利，但从散射线影响的因素来说，提高焦距对灵敏度是不利的，故在确定焦距参数时应予以全面综合考虑，选择适宜的焦距。81.什么是增感和增感系数？

答：增感即是增加胶片的感光量，从而可以相对地缩短对胶片的曝光时间。增感系数用于说明增感屏的作用程度，也称增感因素，它是在所有条件不变的情况下，使底片得到相同黑度时，不使用增感屏所需曝光时间t1与使用增感屏所需曝光时间t2之比：K=t1/t2,但是此增感系数K并不是一个固定不变的值，它随使用的X射线波长和所取底片黑度的不同而变化的。

82.影响射线检测透照灵敏度的诸因素有哪些？

答：使用的X射线机性能；使用的X射线胶片性能质量与暗室处理条件；增感屏的选用；散射线的防护措施；零件的材料、尺寸和形状，缺陷的性质、尺寸、形状和方向；管电压、管电流、曝光时间与焦距的选用。83.常见的曝光曲线有哪些形式？

答：常见的曝光曲线形式有：曝光量和管电压随材料厚度变化的曲线；管电压对材料厚度变化的曝光曲线。

84.工业X射线电视的优缺点如何？

答：优点：可以直观地观察物体动态或静态情况下的内部结构与缺陷；使用经济、简便、效率高；可用于流水作业，便于实现X射线检验自动化。缺点：其检测灵敏度一般较X射线照相法低；对形状复杂的零件检查有困难；初始投入较高。85.工业CT的全称是什么？答：工业用计算机控制层析X射线照相装置

86.用黑度计测定的底片黑度是一个综合的表观值，它包含了什么因素在内？答：包含了工件对比度和胶片对比度

87.某钢板厚度30mm的对接焊缝射线照相，在射线底片上发现如右图显示的圆形瑕疵分布，按（）标准，该焊缝应判定为几级？（按出题人确定的标准作答）

88.某钢板厚度30mm的对接焊缝射线照相，在射线底片上发现如右图显示的圆形瑕疵和线形瑕疵，按（）标准，该焊缝应判定为几级？（按出题人确定的标准作答）

89.右图为某合金钢板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：气体保护焊-钨极氩弧焊，判断影像中缺陷的性质。答：横裂纹

90.右图为某钛合金板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：钨极氩弧焊，判断影像中缺陷的性质。答：夹钨

91.右图为某钢板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：手工电弧焊，判断影像中缺陷的性质。

答：密集气孔

92.右图为某钢板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：手工电弧焊，判断影像中缺陷的性质。

答：局部夹渣

93.右图为某钢板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：手工电弧焊，判断影像中缺陷的性质。

答：未焊透（熔入不足）94.右图为某钢板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：手工电弧焊，判断影像中缺陷的性质。

答：线状夹渣

95.右图为某厚度14mm低合金钢板对接焊缝，X型坡口，焊接方式：自动焊，判断影像中缺陷的性质。答：纵向裂缝

96.右图为某钢板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：手工电弧焊，判断影像中缺陷的性质。

答：树枝状伪缺陷

97.右图为某钢板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：手工电弧焊，判断影像中缺陷的性质。

答：蜘蛛状伪缺陷

98.什么是伪缺陷？简述底片上伪缺陷的来源。

[提示]：由于胶片本身质量、胶片保管、剪切、装取、暗室操作处理不当，以及操作者其他操作不慎等原因，在底片上留下可辨别的影像，但并非是被检验工件缺陷在底片上留下的影像，称之为伪缺陷。伪缺陷的来源包括机械损伤或表面附着物形成（如指纹、折痕、划伤、水印等），或者是由化学作用形成（如漏光、感光、药物玷污等），大致上可以分为来源于胶片本身的制造质量与储运、保管，来源于增感屏制造质量及损伤导致的增感不均匀或受过可见光线照射过的荧光增感屏的受激荧光影响等，来源于胶片裁切、包装、照相及冲洗过程中的漏光、手印、静电、划伤或局部折伤等；来源于暗室处理中的玷污、处理不均匀、水迹、指纹、气泡、药水老化失效、操作程序不当等等

99.什么是“照相灰雾（Photo graphic fog）”和“曝光灰雾（exposure fog）”？ [提示]：照相灰雾是由于乳剂和冲洗条件造成的灰雾，即是胶片固有灰雾与显影时的化学灰雾的总和；曝光灰雾则是由于胶片受到不需要的电离辐射或可见光波的曝光而造成的灰雾

100.什么是影响射线照相影象质量的三要素？答：影响射线照相影像质量的三个要素是：对比度、清晰度、颗粒度。射线照相对比度定义为底片影像中相邻区域的黑度差。射线照相清晰度定义为底片影像中不同黑度区域间分界线的宽度。用来定量描述清晰度的量是“不清晰度”。射线照相颗粒度定义为对视觉产生影响的底片影像黑度的不均匀程度。

101.什么叫主因对比度？什么叫胶片对比度？它们与射线照相对比度的关系如何？ 答：由于不同区域射线强度存在差异所产生的对比度称为主因对比度，其数学表达式为：△I/Ip=(μ△T)/(1+n),式中：Ip--透过试件到达胶片的射线强度；△I--局部区域射线强度增量；μ--射线的吸收系数；△T--局部区域的透射厚度差；n--散射比。由上式可以看出，主因对比度取决于透照厚度差、射线的质以及散射比。胶片对比度就是胶片梯度，用胶片平均反差系数定量表示，数学式为：γ'=△D/△lgE,式中γ'--胶片平均反差系数；△D--底片对比度；△lgE--曝光量对数值的增量。影响胶片对比度的因素有：胶片类型，底片黑度，显影条件和增感方式。射线照相底片对比度是主因对比度和胶片对比度的综合结果，主因对比度是构成底片对比度的根本因素，胶片对比度可以看作是主因对比度的放大系数。

102.就象质计金属丝底片对比度公式讨论提高对比度的主要途径，并说明通过这些途径提高底片对比度可能会带来什么缺点？答：象质计金属丝底片对比度公式△D=-0.434μpγσ·d/(1+n),提高对比度主要途径及由此带来的缺点：(1)增大μp值。在保证穿透力的前提下，尽量采用能量较低的射线，得这样会使曝光时间增加。(2)增大γ值。可选用γ值更高的微粒胶片；由于非增感型片胶片γ值和黑度成正比，也可通过提高底片黑度增大γ值。但高γ值的微粒胶片感光速度往往较慢，需要增大曝光时间，提高黑度也需要增加曝光时间，此外，黑度的提高会增大最小可见对比度△Dmin，对灵敏度产生不利影响。(3)提高σ值，可选择焦点尺寸小的射源，或增大焦距，这样做也会使曝光时间延长。(4)减少n值。要减小散射线，就要使用铅窗口和铅屏蔽，这些也将降低工作效率，使曝光时间延长。

103.以钢铁材料为例简述吸收系数μ的三个主分量τ、σ、χ在不同射线能量（从0-100MeV）时的分布规律，并用图示说明（答案从略）

104.简述射线照相时，最小可见对比度△Dmin的含义以及它与底片黑度的关系，对于金属线图像来说，在什么黑度范围内是可以识别的，并用图示加以说明（答案从略）105.简述射线检验中除照相法外的任意三种其他方法的原理及适用范围（答案从略）106.简述焊缝射线照相时，影响底片图像对比度的各种因素，为提高照相对比度，可采用哪些工艺措施？（答案从略）107.简述暗室处理时，影响底片质量的主要因素以及因暗室处理不当造成底片质量问题的各种主要表现形式（答案从略）

108.试用射线的衰减规律解释射线照相法的基本原理，并简要分析提高射线照相质量的各种因素（答案从略）

109.简述X射线工业电视检测法的原理及优缺点（答案从略）

110.何谓射线照相中的“宽容度”？在什么情况下需要提高照相的宽容度？这样会给它的照相质量参数带来什么影响？（答案从略）

111.试述焊缝射线照相时，降低散射、直射线强度比n的几种方法（答案从略）112.请对GB3323-82和JB1152-81这两个标准任选一个谈谈对其优缺点及改进意见的看法（答案从略）

113.按GB3323-82标准规定，射线照相探伤底片上标志的主要要求有哪些？（答案从略）

114.对应于平的对接焊缝，在透照时应怎样选择胶片类型、KV值和底片黑度？（答案从略）

115.散射线是怎样产生的？它对射线照相有何影响？透照时应采取什么措施加以防止？（答案从略）

116.对焊缝而言，采用射线照相法与超声波检验法各有什么优缺点？（答案从略）117.底片黑度是影响射线照相质量的参数之一，试述黑度D与对比度△D和最小可见对比度△Dmin之间的关系，根据这一关系，应如何选定底片的黑度范围？并作图加以说明（答案从略）

118.γ射线探伤中最常用的几种放射源的名称、半衰期、γ射线能量、比活度范围、化学状态以及对钢铁工件的适用厚度范围是什么？（答案从略）

119.为什么散射线会降低射线照相的灵敏度？在焊缝射线照相中，加强高（余高）和母材区的散射比n的数值分布规律大致是怎样的？并以简图加以说明。在焊缝射线照相中可以用什么方法来减少散射比以提高图像质量？（答案从略）

120.射线探伤用的胶片一般是根据什么来进行分类的？各类胶片主要参数之间（如颗粒度、对比度、感光速度、清晰度）的相互关系是什么？（答案从略）

121.为什么适当提高观片灯亮度就可以扩大金属丝影像在底片上的可见黑度范围？并请作图加以说明（答案从略）122.简述X射线照相法之外的任意四种射线检测缺陷方法的名称和应用范围（答案从略）

第四篇：中国民航无损检测人员技术资格鉴定委员会

中国民航无损检测人员资格鉴定与认证委员会

※※※※※※※※※※※※※※编号：NDT200503 ※※

※NDT资格鉴定文件※颁发日期：2005年4月6日 ※※

※※※※※※※※※※※※※※

标题:征文通知

国际、南方、东方集团航空公司机务工程部，北京、广州飞机维修工程有限公司，海南航空集团公司，民航飞行学院机务处，厦门、山东太古飞机工程有限公司，深圳、厦门、四川、上海、山东、飞龙航空公司，各有关单位：

随着民用航空器维修事业的快速发展，无损检测技术越来越广泛地应用到维修的各个方面。2005年正值民航无损检测技术应用30周年，为了提高无损检测人员技术水平，促进民航无损检测技术进步，提高航空器维修质量，保证飞行安全。拟在今年适当时间举办民航无损检测技术交流会，希望各单位从事航空器无损检测的技术人员、操作人员和管理人员踊跃投稿，具体要求如下：

1.稿件内容：无损检测技术在航空器维修中的应用研究，航空器及其零部件无损检测经验，国内外新标准、新技术、新设备在航空器检测中的应用，航空器无损检测中的疑难问题探讨，无损检测质量控制和管理等。

2.稿件用A4纸打印，宋体，小四号字体。

3.稿件文本和软盘于9月30日前寄到民航NDT委员会秘书处，或者发电子邮件。

秘书处地址：成都双流机场国航工程技术分公司成都维修基地无损检测中心

联系电话：（028）85721322、（028）85721328

传真：（028）85721321e-mail:caacndt@163.net

联系人：熊德琼

民航无损检测人员资格鉴定与认证委员会

注：请各集团航空公司将本通知转告所属各分公司。

报：总局飞标司抄送：各管理局适航处

第五篇：锅炉压力容器无损检测人员资格鉴定考核规则

第一章 总则

第一条为了提高锅炉压力容器无损检测工作质量，保证锅炉压力容器安全运行，根据《锅炉压力容器安全监察暂行条例》及有关规定，制定本规则。

第二条本规则适用的无损检测方法包括射线（ＲＴ）、超声波（ＵＴ）、磁粉（ＭＴ）、渗透（ＰＴ）、涡流（ＥＴ）、声发射（ＡＥ）。无损检测人员的级别分为：Ⅰ级（初级）、Ⅱ级（中级）、Ⅲ级（高级）。第三条从事锅炉压力容器无损检测的人员，必须按本规则经资格考核，取得劳动行政主管部门锅炉压力容器安全监察机构（以下简称监察机构）颁发的相应的资格证书。

第二章考核组织

第四条锅炉压力容器无损检测人员（以下简称无损检测人员）的资格考核工作由锅炉压力容器无损检测人员资格考核委员会（以下简称考委会）负责进行。

考委会分为全国考委会（对境外称：中国锅炉压力容器无损检测人员考核委员会）、省考委会（指省、自治区、直辖市考委会，下同）、地市和企业考委会。

第五条全国考委会受劳动部锅炉压力容器安全监察机构领导，并由该监察机构商请有关部、委的代表及部分无损检测专业技术人员组成。委员中无损检测专业技术人员比例不低于８０％，其中，承担考核的每一种无损检测方法的Ⅲ级持证人员不应少于四个。全国考委会的职责：

１．负责Ⅲ级（必要时可负责Ⅱ级）无损检测人员的资格考核工作； ２．对境外无损检测人员进行资格考核；

３．组织编写无损检测人员的考核大纲和培训教材，建立试题库； ４．组织考核工作经验交流和咨询；

５．承办劳动部锅炉压力容器安全监察机构委托的有关业务； ６．指导省以下（含省）考委会的考核工作； ７．与国外无损检测考核机构交流考核工作经验。

第六条省考委会受省级监察机构领导，并由该监察机构商请该省有关部门的代表及部分无损检测专业技术人员组成。委员中无损检测专业技术人员比例不低于８０％，其中，承担考核的每一种无损检测方法的Ⅲ级持证人员不应少于三个。省考委会的职责：

１．负责Ⅱ级（必要时可负责Ⅰ级）无损检测人员资格考核工作； ２．指导地市和企业考委会的考核工作； ３．承办省级监察机构委托的有关业务；

４．组织Ⅰ级考委会的考核工作经验交流和咨询。

第七条地市考委会须经所在地的省级监察机构批准，受所在地的地市级监察机构领导，并由该监察机构商请该地市有关部门的代表及部分无损检测专业技术人员组成。

企业考委会须经所在地的地市级监察机构同意后报所在地的省级监察机构批准。企业考委会受本企业领导并由该企业的技术负责人、质量管理负责人、教育部门的代表及部分无损检测专业技术人员组成。

地市和企业考委会中无损检测专业技术人员比例不低于８０％，其中，承担考核的每一种无损检测方法的Ⅲ级持证人员不应少于二个，Ⅱ级持证人员不应少于三个。地市和企业考委会的职责：

负责Ⅰ级无损检测人员的资格考核工作及地市级监察机构委托的有关业务。

第八条各考委会应制订与考核有关的管理制度，同时应具备考核所需的设备、试件、试块、器材及场地。

第九条省以下（含省）考委会成立后，应由相应的监察机构报上一级监察机构备案。

第十条各考委会应将考核工作总结和下一的考核计划报送监察机构，并抄报上一级监察机构。

第十一条监察机构对所管辖的考委会的考核工作应进行检查。

第三章报考条件

第十二条无损检测报考人员（以下简称报考人员）须同时满足下列基本条件：

１．从事无损检测工作的经历应满足表１的要求。

２．双眼矫正视力应在１．０以上，并具有报考的无损检测方法所要求的颜色分辨能力。

第四章考核程序

第十三条报考人员应向表２所列的所在地的初审机构提交《锅炉压力容器无损检测人员资格考核申请表》（附件一）及有关材料，初审机构审查后送复审机构审查。

第十四条遇到下列情况之一时，报考人员可到外地接受考核，复审机构应将符合报考条件的申请表及时转至外地相应的监察机构。１．目前尚未成立考委会的地区；

２．考委会尚无条件对报考的无损检测方法进行考核； ３．考核计划无法满足报考人员的需要。

第十五条考委会应将考核时间、地点通知符合条件的报考人员，报考人员应按规定缴纳考核费。

第十六条考委会对符合报考条件的人员进行考核。每次考核，每种无损检测方法的主考人员不应少于三人，并应指定一人负责。

第十七条考委会评定报考人员的考试成绩后，报相应的监察机构审核。经审核合格的人员，由监察机构签发资格证书（附件二），对其中参加Ⅰ或Ⅱ级考核的外地报考人员的成绩，应分别转至报考人员所在地的地市级或省级监察机构，并由其对考核合格人员签发资格证书。报考人员对考核结果有异议时，可向考委会所在地的监察机构或上一级监察机构申诉，监察机构可根据情况对考试成绩进行复审。

第五章考核方法、内容及评定

第十八条无损检测人员的资格考核方法分笔试、实际操作考试，其中对报考Ⅲ级的人员还必须进行口试。第十九条Ⅰ级无损检测人员的考核：

一、笔试按表３的要求命题；

二、实际操作考试包括： １．检测仪器的调试；

２．典型检测对象的检测操作； ３．识别缺陷的信号、指示及影像； ４．记录检测数据，整理检测资料。第二十条Ⅱ级无损检测人员的考核：

一、笔试按表４的要求命题；

二、实际操作考试包括： １．检测仪器的调试； ２．检测规范的选择；

３．典型检测对象的检测操作；

４．识别缺陷的信号、指示和影像，根据标准评定检测结果； ５．填写检测报告。

第二十一条Ⅲ级无损检测人员的考核：

一、笔试分基础知识考试和无损检测知识考试两种，按表５的要求命题；

二、实际操作考试包括： １．检测仪器的调试； ２．检测规范的选择；

３．典型检测对象的检测操作；

４．判别并解释缺陷的影像、信号和指示，依据标准评定、分析检测结果；

５．填写检测报告；

６．提出改进产品质量和检测工作质量的措施。

注：凡已持有某种方法的Ⅲ级资格证书的人员在报考另一种方法Ⅲ级证时，可免试基础知识。

三、口试。主考人员根据报考人员所从事无损检测工作的简历、技术总结和编制典型产品的无损检测工艺进行提问，综合考察报考人员处理实际问题的能力。口试的成绩按优、良、中、差四级评定。第二十二条报考人员各科考试成绩同时满足表６相应级别要求时为合格。报考Ⅰ、Ⅱ级的人员，若笔试和实际操作考试中有一科成绩不合格，可在一年内补考不合格科目，报考Ⅲ级的人员，若实际操作考试和口试中有一科成绩不合格，可在一年内补考不合格科目。第六章监督管理

第二十三条锅炉压力容器无损检测持证人员只能从事与其证书级别相应的无损检测工作，其中：

Ⅰ级人员可在Ⅱ、Ⅲ级人员的指导下进行无损检测操作，记录检测数据，整理检测资料。

Ⅱ级人员可编制一般的无损检测程序，并按Ⅲ级无损检测人员编制的无损检测工艺独立进行检测操作，评定检测结果，签发检测报告。Ⅲ级人员可根据标准编制无损检测工艺，审核或签发检测报告，解释检测结果，仲裁Ⅱ级人员对检测结论的技术争议。

无损检测的实习人员只能在持证人员的指导下，从事无损检测的辅助工作。

第二十四条持证人员所在单位应对无损检测持证人员加强管理，并建立无损检测人员技术档案，内容包括： １．检测质量方面的奖惩情况； ２．中断无损检测工作的起止时间； ３．接受技术培训的情况。

当持证人员出现本规则第二十六条所述情况时，持证人员所在单位应及时向所在地的地市级监察机构报告。

第二十五条如果持证人员不再从事锅炉压力容器无损检测工作，或工作单位发生变动时，持证人员所在单位应书面向地市级监察机构备案，并报发证机构。

第二十六条监察机构应对本地持证人员的无损检测工作实行监督检查，发现下列情况之一时，视情节轻重，分别予以通报批评、吊销资格证书等处分。

１．转让无损检测资格证书；

２．因弄虚作假、玩忽职守，造成严重责任事故的； ３．因严重漏检、误检，不能保证检测质量的； ４．私自外出从事锅炉压力容器无损检测工作的；

５．从事与资格证书不符的锅炉压力容器无损检测工作的； 无损检测资格证书被吊销者，两年内不准参加资格考核。

第二十七条持证人员的资格证书有效期为五年。有效期期满前九个月内，持证人员须按本规则第十三条规定的程序向相应的监察机构提交复试申请表（附件三）。

第二十八条下列人员不得参加复试：

１．连续中断无损检测的时间超过１８个月的；

２．本内出现本规则第二十六条所述情况受到通报批评处分的。第二十九条复试工作应由相应的考委会进行，但经所在地的监察机构（Ⅱ级人员指省级监察机构，Ⅰ级人员指地市级监察机构）同意，持证人员也可参加外地考委会组织的复试。第三十条复试科目分为笔试和实际操作考试。

笔试的内容侧重于考察报考人员对有关的无损检测新技术、新标准的熟知程度；实际操作考试是考察其操作技能是否达到相应级别的要求，可选取本规则第十九条、第二十条、第二十一条中部分实际操作考核项目进行考核。

第三十一条各科目复试成绩同时符合表７要求时，复试为合格，由相应的监察机构按本规则第十七条的规定签发资格证书。第七章附则

第三十二条锅炉压力容器无损检测人员资格证书由劳动部锅炉压力容器安全监察机构统一印制。

第三十三条本规则由劳动部负责解释。

第三十四条本规则自一九九四年十月一日起施行。