第一篇：特种设备无损检测RTⅢ级人员专业理论考核试卷
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密 封 线 特种设备无损检测RTⅢ级人员专业理论考核试卷(开 卷)（参考答案）成绩： 题号 题 型 分值 扣分 阅卷人签章 一 是非题 30 二 单项选择题 20 三 多项选择题 15 四 工艺题 20 五 综合题 15 总 计 100 2006年6月16日 北京 全国特种设备无损检测人员资格考核委员会 一、是非题（在括号内，正确的画○，错误的画×，每题1.5分，共30分）1．JB/T 4730.1－2005标准规定：缺陷评定区是在质量分级评定时，为评价缺陷的性质、数量和密集程度而设置的一定尺寸的区域。
（×）2．JB/T 4730.2－2005标准规定：对外径DO≥100 mm的环向对接焊接接头进行100％检测，所需要的最少透照次数与透照方式和透照厚度比有关。
（×）3．JB/T 4730.2－2005标准规定：现场进行γ射线检测时，应按GB 18465的规定划定控制区和监督区、设置警告标志，检测作业时，应围绕监督区边界测定辐射水平。
（×）4．JB/T 4730.2－2005标准规定：筒体纵缝的一次透照长度应按透照厚度比K值进行控制，A级、AB级为K≤1.03，此规定的目的是为了增大透照厚度宽容度。
（×）5．对规格为Φ133×5 mm且焊缝余高为1.5 mm的管子环向对接焊接接头，采用AB级检测技术双壁单影透照方式进行100％射线照相，按JB/T 4730.2－2005标准规定，底片上至少应识别的丝号是14（丝径0.160 mm）。
（○）6．按JB/T 4730.2－2005标准规定，由透照次数曲线图确定透照次数时，如交点在两区域的分界线上，则所需的最少透照次数应取较大数值。
（○）7．JB/T 4730.2－2005标准规定：对小径管进行双壁双影透照椭圆成像时，应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大间距）在1倍焊缝宽度左右，其主要目的是提高横向裂纹的检出率。
（×）8．对规格为Φ76×7 mm且焊缝宽度为20 mm的管子环向对接焊接接头100％射线照相时，按JB/T 4730.2－2005标准规定，应采用双壁双影倾斜透照相隔90°透照2次。
（×）9．承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制，检测条件不能满足AB级射线检测技术的要求时，经技术负责人批准，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片的像质计灵敏度达到了AB级射线检测技术的规定，则可认为按AB级射线技术进行了检测。
（〇）10．按JB/T 4730.2－2005规定，用大于12MeV高能X射线照相时，可不使用后屏。其原因是在高能射线照相中，后屏对增感并不重要，有时不使用后屏清晰度反而有所提高。
（〇）11．某管道规格为Φ600×48mm，对环向对接焊接接头采用源在外单壁透照，焦距F为700mm，按JB/T 4730.2－2005规定，AB级检测技术，至少要透照11次。
（×）12．按JB/T 4730.2－2005标准规定，双壁单影透照像质计置于源侧时，最小透照厚度范围与检测技术等级有关。
（×）13．按JB/T 4730.2－2005标准规定，对于外径DO＞100mm的容器根部内凹和根部咬边深度也可采用附录H（规范性附录）规定的一般对比试块（Ⅱ）进行测定。
（○）14．按JB/T 4730.2－2005标准规定，当采用高能X射线照相时，透照厚度范围的确定与检测技术等级无关。
（×）15．JB/T 4730.2－2005标准规定：当底片评定范围内的黑度 D≤2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m2；
当底片评定范围内的黑度 D＞2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m2，这一规定与检测技术等级有关。
（×）16．JB/T 4730.1－2005标准规定：采用同种检测方法按不同检测工艺进行检测时，如果检测结果不一致，应对该工艺重新进行鉴定。
（×）17．按JB/T 4730.2－2005标准规定，B级检测技术，当采用Co-60γ射线照相时，不能使用铅增感屏。
（○）18．JB/T 4730.1－2005标准规定：当应用高能X射线照相时，可以采用T3类胶片。
（×）19．对单个条形缺陷最大长度的下限值和一组条形缺陷累计最大长度的下限值，JB/T 4730.2－2005标准均作出了明确的规定。
（○）20．JB/T 4730.2－2005标准规定：当Ⅲ级对接焊接接头允许的缺陷点数连续存在，并超过评定区尺寸的3倍时，对接焊接接头的质量应评定为Ⅳ级。
（○）二、单项选择题（将唯一正确答案的序号填在括号内，每题2分，共20分）1．JB/T 4730.2－2005标准规定：采用多胶片方法时，AB级、B级检测技术不允许双片叠加观察，这一规定的主要理由是（C）A、双片叠加观察时，底片黑度达不到标准的有关要求。
B、双片叠加观察时，底片灵敏度达不到标准的有关要求。
C、双片叠加观察时，由于单片的黑度较低，底片对比度小，易造成缺陷的漏检。
D、双片叠加观察时，由于底片的黑度较大，缺陷不容易观察。
2．按JB/T 4730.2－2005标准，下面哪些规定不涉及检测的技术等级？（C）A、采用源在内中心透照方式，允许γ射线最小透照厚度的规定。
B、对100mm＜DO≤400mm的环向对接焊接接头允许采用K值的规定。
C、采用源在内中心透照方式，允许f值可以减少的规定。
D、采用X射线透照小径管或其他截面变化大的工件时，允许降低底片黑度值的规定。
3．下面是关于射线照相时选择胶片的叙述，不符合JB/T 4730.2－2005标准规定的是（D）A、A级和AB级射线检测技术应采用T3类或更高类别的胶片。
B、B级射线检测技术应采用T2类或更高类别的胶片。
C、使用γ射线对裂纹敏感性大的材料进行检测时，应采用T2类或更高类别的胶片。
D、对于Rm≥540MPa的高强度材料对接焊接接头射线检测时，应采用T3类或更高类别的胶片。
4．JB/T 4730.2－2005标准中规定采用γ射线源透照时，总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的10倍，这一规定的主要目的是（B）A、尽可能提高底片的黑度。
B、尽可能提高底片对比度和减小照相不清晰度。
C、尽可能降低底片的颗粒度。
D、以上均是。
5．在下列叙述中，与JB/T 4730.2－2005标准规定不符合的是（B）A、如底片黑度均匀部位（一般是邻近焊缝的母材金属区）能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时，则认为该丝是可识别的。
B、单壁透照时允许像质计放置在胶片侧，但必须进行对比试验。
C、当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，F标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。
D、小径管可选用通用线型像质计或附录F（规范性附录）规定的专用（等径金属丝）像质计，金属丝应横跨焊缝放置。
6．下面是对JB/T 4730.2－2005标准选用增感屏规定的理解，错误的是（B）A、500kV以下X射线照相，选择增感屏的厚度仅与X射线的能量有关。
B、γ射线照相，选择增感屏的厚度与检测技术等级有关，与源的种类无关。
C、采用高能X射线（＞12MeV）照相，选择增感屏的厚度与检测技术等级无关。
D、100KV以下X射线照相如使用增感屏，则增感屏的厚度应≤0.03mm。
7．按JB/T 4730.2－2005标准规定，当观察的底片黑度为2.2时，观片灯的亮度至少应不低于（C）A、220 cd/m2 B、2200 cd/m2 C、4800 cd/m2 D、6600 cd/m2 8．下面是对JB/T 4730.2－2005标准中关于射线能量规定的理解，不正确的是（C）A、在一般射线照相中所采用的透照电压应低于标准中图1的规定值。
B、当透照区截面厚度变化较大时，标准允许采用超过图1中规定的限值。
C、应按公称厚度来确定允许的最高透照管电压。
D、标准中图1规定的主要不足是允许的最高透照管电压未与所使用的胶片类别相关联。
9．下面是对JB/T 4730.2－2005标准关于标记规定的叙述，错误的是（C）A、透照部位的标记由识别标记和定位标记组成。
B、标记一般应放置在距焊缝边缘至少5mm以外的部位。
C、所有标记的影像不应重叠，且不应干扰缺陷评定区内的影像。
D、搭接标记也是连续检测时的透照分段标记。
10．下面是对JB/T 4730.2－2005标准第5.1条所规定内容的理解，不正确的是（C）A、质量分级中给出的缺陷类型与缺陷性质不一定完全相同。
B、缺陷评定区应选在缺陷最严重部位。
C、在进行质量分级评定中，各类缺陷都应在缺陷评定区中评定。
D、圆形缺陷按点数在缺陷评定区的评定，实际是对缺陷允许的尺寸、数量、密集程度等进行的评定。
三、多项选择题（将所有认为正确答案的序号填在括号内，每题3分，共15分。注意：多填或少填均不得分）1．下面是对JB/T 4730.2－2005标准中关于小径管环向对接接头100％透照次数规定的理解，正确的是（A C D）A、按壁厚与直径之比规定透照次数，其目的是控制透照厚度比。
B、按壁厚与直径之比规定透照次数，其目的是增大透照厚度宽容度。
C、理论上相隔120°比相隔60°透照3次更有利于不同部位缺陷的检出。
D、在特殊条件下允许透照一次，尽管采取有效措施扩大缺陷检的可检出范围，但不能保证实现焊缝全长的100％检测。
2．下面是对JB/T 4730.2－2005标准中关于像质计灵敏度规定的理解，正确的是（A B）A、只要透照厚度≤7 mm，双壁单影或双壁双影对像质计灵敏度的要求是相同的，与像质计摆放的位置无关。
B、采用B级检测技术的射线底片灵敏度都高于采用AB级检测技术的底片灵敏度。
C、在相同的检测技术条件下，如射线源的种类不同，对底片像质计灵敏度的要求也有所不同。
D、在规定的透照范围内，无论采用何种透照方式，像质计摆放在何种位置，像质计灵敏度均可由表5、表6和表7中直接查出。
3.按JB/T 4730.2－2005标准规定，与底片像质计灵敏度有关的因素是（A C B D）A、透照方式 B、像质计摆放的位置 C、材料的公称厚度 D、透照厚度 4．按JB/T 4730.2－2005标准的规定：当被检工件的材料为低合金钢时，不可以使用由（A D）材料制做的像质计。
A．铜 B．低碳钢 C．奥氏体不锈钢 D．镍 5．JB/T 4730.2－2005标准对原JB 4730-1994标准进行修订的内容包括：
（A B C）A、对不同透照厚度，不同透照方式射线底片的像质计灵敏度要求进行了修订。
B、对钢、铜及铜合金、铝及铝合金、钛及钛合金不同厚度允许的最高管电压曲线图进行了修订。
C、对小径管环向对接焊接接头的透照布置和透照次数进行了修订。
D、对检查背散射防护的方法进行了修订。
四、工艺题（本题20分）某化工装置工艺管道规格为Φ76×7.5mm，材质为0Cr18Ni9，焊接接头采用氩弧焊焊接，预制管段的结构见图1-1。设计规定该管道对接焊接接头100%射线检测，执行JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测》，验收等级为Ⅱ级。
可提供的检测设备和材料有：RF200EG-S2型定向X射线机（焦点2×2mm）、Ir-192γ射线探伤机（焦点3×Φ3mm，现有活度20Ci）；
天津Ⅲ型、Ⅴ型胶片（胶片规格为360×80mm、120×80mm）。曝光曲线见图1-2、图1-3。
图1-1 预制管段结构示意图 请将射线检测工艺参数填写在提供的工艺卡中（见表1-1），并将射源放置、散射线屏蔽和像质计使用、标记摆放等技术要求填写在工艺卡说明栏中。
图1-2 RF200EG-S2型X射线机曝光曲线图 图1-3 Ir-192曝光曲线图 注：以上曝光曲线图仅供解试题用表1-1 对接焊缝B1射线照相工艺卡 产品编号 V06-06-01 产品名称 工艺管道 产品规格 Φ76×7.5 产品材质 0Cr18Ni9 焊接方法 氩弧焊 执行标准 JB/T 4730.2-2005 照相技术级别 AB 验收等级 Ⅱ级 探伤机型号 RF200EG-S2 焦点尺寸(mm)2×2 检测时机 焊后外观检查 合格后 胶片牌号 天津Ⅲ型 胶片规格(mm)120×80 增感屏(mm)0.03mm（前/后）像质计型号 FeⅢ 像质计 灵敏度值 12源侧/ 13胶片侧 底片黑度 2.0≤D≤4.0 显影液配方 天津Ⅲ型配方 显影时间 5～10min.显影温度 20±2℃ 焊缝 编号 焊缝 长度（mm）检测 比例（%）透照 厚度 W（mm）透照方式 焦距 F（mm）一次透照长度（mm）透照次数 N 管电压kV 或 源活度Ci 曝光 时间（min）B1 239 100 15 双壁双影 垂直透照 700-3 140 kV 3 透照布置示意图：
技术要求 及 说明 1．使射线束垂直于焊缝，沿圆周相隔120°或60°透照3次。
2．像质计摆放在源侧（或胶片侧）工件表面，金属丝横跨焊缝。
3．标记摆放：⑴中心标记；
⑵识别标记，至少包括产品编号、焊接接头编号和片位号、透照日期；
⑶当像质计置于胶片侧工件表面时应在像质计适当位置放置“F”标记，“F”标记应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。
4、暗盒背面衬铅板屏蔽侧面及背散射。
编制（资格）：XXX（Ⅱ）年 月 日 审核（资格）：XXX（Ⅲ）年 月 日五、综合题（本题15分）某压力容器厂制造的焊接气瓶，材质为16MnR。瓶体结构如图2-1所示，其中环缝为锁底接头对接焊缝，采用埋弧自动焊焊接，焊缝余高2mm。壳体制造的主要工序是：筒体下料及卷制→A1缝焊接、检验→B1缝焊接、检验→B2缝焊接、检验→接管、底座焊接、检验→整体热处理→压力试验。设计规定按JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测》对钢瓶的对接焊接接头进行100%射线检测。
图2-1 焊接气瓶结构示意图 可提供的检测设备有：RF200EG-M型定向X射线机（射线窗与机头轴线距离118mm）、RF200EG-B1-C周向X射线机（机头直径195mm）、Se-75γ射线探伤机（焦点2×Φ2.5mm，现有活度10Ci），天津Ⅲ型、Ⅴ型胶片。
请回答下列问题：
1.应用现有的设备器材条件，确定瓶体B1、B2焊接接头透照的最适宜的工艺并说明依据或理由。
1）从透照布置方面考虑：
焊缝号 K值 依据及理由说明 B1、B2 ≤1.1 因DO=407＞400mm，按JB/T 4730.2-2005第4.1.3条表3环向焊接接头的AB级射线检测技术之规定，K≤1.1。
焊缝号 透照方式 依据及理由说明 B1 源在内中心周向透照 因为源在内中心周向透照方式是最佳透照方式，单壁透照比双壁透照灵敏度高得多。可以采用Se-75方便地实现。
B2 源在外双壁单影透照 B2缝为最后焊接的环缝，因容器结构限制，射线源难以置于容器内部准确定位并进行100%检测，故选用源在外双壁单影透照方式。
焊缝号 透照次数 依据及理由说明 B1 1 因采用中心透照方式，故透照次数为1，一次透照整条环缝的长度。
B2 5 ∵K≤1.1、T/Do=0.007，Do/F=0.8，查JB/T 4730.2-2005附录D图D.4，得最少透照次数N=5 2）从设备和器材的选择方面考虑：
焊缝号 射线机 依据及理由说明 B1 Se-75 采用源在内中心透照方式时，透照厚度W=7mm，能满足JB/T4730.2-2005对Se-75透照厚度范围的规定。且按Se-75现有活度及焦距计算的曝光时间能满足＞10倍输送源往返时间的要求。
又因瓶体直径较小，源在内透照方式使用X射线机操作不方便。
B2 X射线机 因B2选用源在外双壁单影透照方式，焦距为420mm，射线穿透厚度达16mm，此时若选用Se-75，因其现有活度仅10Ci，每次透照的曝光时间过长，工作效率较低。
焊缝号 胶片 依据及理由说明 B1 天津Ⅴ型 由射线源决定，保证灵敏度 B2 天津Ⅲ型 由射线源决定，保证灵敏度 3）要求达的像质计灵敏度值 焊缝号 像质计 灵敏度值 依据及理由说明 B1 16（源测）源在内中心透照方式W＝T＝3.5，像质计置于源侧工件表面时像质计灵敏度值等于16（AB级），因像质计难以置于源侧，置于胶片侧工件表面应做对比试验，确定应显示的像质计灵敏度值 B2 14 源在外双壁单影透照方式W＝2×3.5＝7，像质计置于源侧工件表面像质计灵敏度值等于14（AB级）2.与X射线照相相比，Se-75射线照相有何优点和局限性？可采取哪些措施改善这些局限性？ 答：1）与X射线照相相比，Se-75射线照相有如下优点：
⑴ Se-75射线仪体积小，重量轻、不用电，操作比较方便灵活，适应于高空或狭窄部位、野外等场所的检测要求；
可连续运行，不受温度、电源等外界条件的影响。
⑵ 较X射线其有较大的厚度宽容度，特别适于小径管；
⑶ 对于对接环缝可实现周向曝光，提高检测效率。
2）与X射线照相相比，Se-75射线照相有如下局限性：
⑴ 射线能量固定，无法根据工件厚度进行调节，当穿透厚度与能量不适配时，灵敏度下降较多；
⑵ 固有不清晰度比X射线机大；
⑶ 射线源活度随时间衰减，无法进行调节，当源活度较小时，射线剂量率较低，其透照上限和焦距选择受到限制，因曝光时间较长而降低工作效率；
⑷ 有一定的半衰期，需更换源；
⑸ 对安全防护要求高，管理要求更严格。
3）可采取的改善措施有：
⑴ 严格执行标准关于最小透照厚度的规定。当管子壁厚在透照厚度下限放宽的范围时，经合同各方同意，并采取保证像质计灵敏度的有效补偿措施。
⑵ 严格执行标准关于焦距的规定，控制几何不清晰度。
⑶ 选用T2或更高类别的胶片，延缓曝光时间，提高照相灵敏度。
⑷ 保证足够长的曝光时间。以3～5分钟为宜，曝光时间不少于输送源往返所需时间的10倍，避免用大活度源透照薄壁管。
⑸ 采取有效的散射线屏蔽措施。
⑹ 适当提高底片黑度，提高底片的对比度。
草 稿 纸
第二篇：高级无损检测技术资格人员RT题库
高级无损检测技术资格人员-射线检测考题汇编（填空题及答案1-50）
1.普朗克常数h=(6.626×10-34J•s),长度单位1 =(10-10m),电子质量me=(9.108×10-30kg),电子电量e=(-1.602×10-19C)2.当单色射线能量约（9MeV）时，对钢的穿透力最大，此时相应的Χ射线输出约为（20MeV）3.直接电离辐射通常是指阴极射线,(β)射线,(α)射线和(质子)射线,间接电离辐射是指(Χ)射线,(γ)射线和(中子)射线
4.60Co放出的γ射线平均能为(1.25MeV),相当于(2000～3000KVp)X射线穿透力,192Ir放出的γ射线平均能为(0.35MeV),相当于(150～800kVp)X射线穿透力
5.60Co和192Ir的射线输出分别为(1.3)R/m•h•ci和(0.5)R/m•h•ci；60Co和192Irγ射线的能谱线分别为(2)根和至少(24)根
6.可用于2～10mm薄壁管透照的一种γ射线新源是（169Yb），其半衰期为（31）天，射线输出为（125）mR/h•ci
7.检查轻合金的薄试件也可利用β放射同位素所产生的韧致辐射，常用的源如：（90Sr）和（169Yb）等
8.中子射线有以下特点：在重元素中衰减(小),在轻元素中衰减(大),在空气中电离能力(弱),不能直接使胶片感光
9.常用的中子源有以下三种：①（同位素中子源）；②（加速器中子源）；③（原子反应堆）10.不同剂量的照射对人体的损伤：D≤（0.25Gy）的一次照射时，无明显病理变化；D≈（0.5Gy）时，出现一时性血象变化；D≥（1Gy）时，会引起急性放射病
11.电离辐射引起的生物效应分为两类：①发生率取决于剂量的（随机）效应，如遗传效应和躯体致癌效应；②严重程度随剂量而变化的（非随机）效应，如对眼、皮肤和血液引起的效应。射线防护的目的在于防止有害的（非随机）效应，并限制（随机）效应的发生率，使之达到可以接受的水平
12.发生光电效应几率的实验近似公式为：τ=kρz4λ3，其中K为常数；ρ为（物质密度）；Z为（物质的原子序数）；λ为（射线的波长）
13.波长为0.1 的光子,其能量E=(124000),eV=(2×10-7)尔格,管电压250kV时,产生射线的最短波长为(0.0496)14.射线穿透物质时产生的吸收程度，取决于材料的（原子系数）、（密度）、（厚度）以及射线本身的（波长）
15.射线的线质越硬，其光子能量越（大），波长越（短），穿透力越（强），衰减系数越（小）,半价层厚度越（大）
16.X射线穿透钢材料时,两种主要效应的发生几率与光子能量的关系：J=σc时,E≈(100)keV；σc=max时,E=(1000)keV 17.连续Χ射线总强度可用下式表示：I=（ηoiZV2），连续Χ射线的转换效率公式为η=（ηoZV）
18.单色窄束射线的半价层厚度约为1/10价层厚度的（0.3）倍；若已知线衰减系数μ，则1/10价层厚度为（2.3/μ）
19.γ射线放射性活度与照射量的关系式为X=A•t/KrR2。式中X-（照射量[伦]）；A-（放射性活度[Ci]）；Kr-（照射率常数[mR/h•ci]）；R-（到点源距离[m]）；t-（受照时间[h]）20.常用的γ源Kr常数,对于60Co为Kr=（1.32）；对于192Ir为Kr=（0.472）21.照射量的国际单位是(库仑/千克,C/Kg),专用单位是(伦琴,R),两者的换算关系是(1库仑/千克≈3.877*103伦琴,1伦琴=2.58*10-4库仑/千克)22.吸收剂量的国际单位是(戈瑞,Gy),专用单位是(拉德,rad),两者的换算关系是(1戈瑞=1焦耳/千克=100拉德,1拉德=10-2戈瑞)23.剂量当量的国际单位是(希沃特,Sv),专用单位是(雷姆,rem),两者的换算关系是(1希沃特=1焦耳/千克=100雷姆, 1雷姆=10-2希沃特)24.剂量当量H是吸收剂量D与(品质因数Q)与(其他修正因数N)的乘积,数学表达式为H=(DQN),对Χ射线和γ射线防护而言,由于(有关修正因数为1),可以认为吸收剂量与剂量当量(等值)25.放射性同位素60Co中的60叫做(质量数),其原子核中含有(27)个质子和(33)个中子,60Co裂变时发生(β)射线和(γ)射线,60Co因(半衰期)较长而适用于无损检测.26.当单色窄束X射线通过厚度为d的物质后，表示射线强度衰减规律的公式为：（I=I0e-μd）27.射线与物质作用时，最主要的效应是(光电)效应、(散射)效应、(电子对生成)效应 28.10居里钴60射源衰减到1.25居里时大约需要(15.9)年
29.X射线的能量取决于（X射线管电压），而γ射线的能量取决于（γ源的种类）30.高能射线是能量在（1）兆电子伏特以上的X射线，采用直线加速器产生的高能X射线与一般X射线相比，它具有（穿透能力强）、（焦点小）、（转换效率高）等特点 31.X射线是利用（高速运动的电子撞击金属靶）的方法产生的，它具有（连续X）线谱和（特征X）线谱，γ射线是利用（放射性同位素物质衰变）的方法产生的，它只具有X射线中的后一种线谱
32.钴60γ射线源发出的两种γ射线能量分别为1.17和1.33MeV，因此它们的波长分别为(0.0106)和(0.00932)33.活度为1居里的铱192，距离它1米处在无遮挡、无吸收的条件下，其一次射线的照射量率为（0.55）伦琴/小时
34.衰变常数为0.021/年的γ射线源，其半衰期为（33年），此射线源为（铯）源 35.X射线的能量取决于X光机的（管电压），γ射线的强度取决于（源的种类）36.原子核内的（质子）数相同，而（中子）数不同的元素叫做同位素
37.单色、窄束、强度为I0的X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I=I0e-µd），而对于强度为I0的单色、宽束X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I=(1+n)I0e-µd）38.X射线、γ射线与物质作用时，可产生（光电）效应、（康普顿(或散射)）效应和（电子对生成）效应，其中（电子对生成）效应只有在光子能量大于（1.02MeV）才会出现 39.射线的衰减系数与（射线能量）及照射物质的（原子序数）和（密度）有关
40.吸收剂量当量的单位是（雷姆(Rem)），对于X射线、γ射线，因为修正系数等于（1），故吸收剂量当量值与吸收剂量值是（相同）的
41.直线加速器的优点是（体积小）和（输出射线强度大），回旋加速器的优点是（焦点尺寸小）
42.经Χ射线曝光过的胶片包含两种不同类型的粒度：（胶片）粒度和（量子噪声）引起的粒度
43.产生给定胶片密度所需要的伦琴数随射线能量的增加而（增加）；射线能量高到一定数值，上述伦琴数（基本不变），这就是所谓射线胶片的光谱灵敏度
44.用盐屏摄得的底片不清晰与两个因素有关，一是（结构）斑点；二是（量子）斑点 45.底片颗粒度的表示为：G=σd/α,式中符号意义：σd（密度均方差）；α（扫描点面积）46.Χ射线能量低于150kV时，由于（吸收系数）变化很快，管电压的选择比较严格；能量在200～400kV时，电压变化约为（30～40）kV才使灵敏度有明显变化；当为2～31MeVΧ射线时，探伤灵敏度（几乎相同）
47.(电离室)型监测仪可用来测量直射线、操作区内的散射线等相当高的照射率；（闪烁计数器）可用来探测曝光室之外的泄漏射线；（胶片剂量计）是最典型的个人照射剂量计，可记录在相当长时间内累积的剂量
48.对电子加速器产生的Χ射线束，不宜用（铅）或重过滤材料，因在（2～3）MeV时，其质量衰减系数有一最低值
49.目前常用的中子源有以下三种：①(同位素中子源)；②(加速器中子源)；③(反应堆中子源)50.192Ir中有（77）个质子，（115）个中子，其半衰期为75天，则其衰变常数为（0.00924/d），51.放射性同位素的制取有在核反应堆中通过中子照射激活的，如（192Ir）和（60Co）,也有是核裂变的产物，如（137Cs）
52.X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(管电压),(管电流),(曝光时间),(焦距)等 53.用棒阳极射线管透照有剩磁的钢管环焊缝时，（聚焦电子）漂移会造成曝光量不稳定 54.胶片特性曲线上，某一区域的黑度差没D与（相对曝光量对数的差值）的比值称为该区域的反差系数r 55.我国天津感光胶片厂生产的工业用II、III、V型胶片，其感光度大致相当于国外（Agfa）牌号的（D10）、（D7）、（D4）型胶片，或国外（富士）牌号的（400）、（200）、（100或80）型胶片
56.亚硫酸钠在显影液中起（保护）作用；在定影液中起（保护）作用
57.工业用X光机高压的调节通常是通过（自耦变压器）的调节，改变高压发生器中的（初级电压）来实现的，而管电流的调节是通过（电阻）的调节，改变（灯丝变压器）的（初级电压）来实现的
58.为使像质计灵敏度达到最佳值，透照余高磨平的焊缝宜选择黑度约为（2.5）的摄片条件；透照有余高的焊缝时，宜选择母材黑度约（3.0～3.5），焊缝黑度约（1.5～2.0）的摄片条件
59.按照信息论，空间频率f即每毫米黑白线对是指（不清晰度），而影像噪声是指（颗粒度）
60.若底片上阶梯孔型像质计灵敏度为2%，则实际圆形气孔的检出灵敏度约为（3）%；为检出1mm气孔，像质计上应显示的阶梯孔径为（2/3）mm 61.金属增感屏的增感系数随着材料原子序数的增大而（增大），在试验范围内（金）最大，在管电压较低时（锡）最大
62.金属增感屏的增感系数随着Χ射线管电压的降低而（减小），大约在（120）kV以下时，增感系数(小)于1 63.在某一密度D时的胶片衬度用下式表示：G0=（dD/dlgE）；在两特定密度之间，胶片的平均衬度可表示为G=（△D/△lgE）
64.射线照相灵敏度是射线照相（清晰度）和（对比度）两大因素的综合结果
65.X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(管电压),(管电流),(曝光时间),(焦距)等 66.射线辐射防护的三种基本方式是(距离防护),(屏蔽防护),(时间防护)67.按JIS Z3104,3105标准规定，用内胶片法，对管子环缝进行照像时，为保证横向裂纹的检出率，当焦距最远时，按普通级要求，最少应照（13）张片子
68.为了提高射线照像的对比度，可以采取射线胶片与工件保持适当距离的特殊照像方法，此时（1/[1+n]）值随该距离的增大而增大，（σ）值该距离的增大而减小，因此必须取（σ/[1+n]）值的最大时的最佳距离
69.对于厚度差比较大的工件进行一次曝光透照时，可以采用（双胶片）、（分散曝光）、（补偿）等方法，使底片黑度都处于有效黑度范围内
70.为了保证焊缝中裂纹的检出率，日本JIS Z3104标准规定：射线穿透方向与缺陷方向之间的相对角度，对于普通级应小于（14）度，对于特殊级应小于（9）度
71.用100居里的铱192γ射线源透照某工件，焦距1米，曝光时间5分钟，能得到合适的底片黑度。225天后，用该源透照相同工件，焦距变为2米，为得到相同黑度，曝光时间应为（160）分钟 72.底片对比度与（工件）对比度和（胶片反差）系数有关
73.射线照相的灵敏度由两个指标来确定，即射线底片的（对比）度和（清晰）度 74.鉴定底片的水洗效果，可采用1%的（AgNO3）加醋酸（28%）做试验液，如果底片上出现（棕黄色）现象，即可说明底片水洗不佳
75.铱192的半衰期为75天，用该新源透照工件最佳的曝光时间为10分钟，225天后重照同样的工件（设其他条件不变），则需曝光（80）分钟
76.为了提高射线照像的对比度没D，可以在照相布置时把胶片与工件的距离调整到使（σ/[1+n]）的比值达到最大值
77.底片黑度取决于辐射强度和曝光时间的乘积，若曝光量一定时，辐射强度与曝光时间成反比，但采用（荧光增感）方法时，则该反比定律失效
78.射线照相对比度的公式是（△D=-0.434γµσ△d/(1+n)），其中（µ△d/(1+n)）称为主因对比度
79.一铸件厚度为1.25英寸，射线底片上显示出ASTM 20#像质计的2T孔，则该底片的当量灵敏度为（1.6%）
80.铸件射线底片上出现清晰的黑线或长度与宽度不等，轮廓光滑分明的带状显示，则大多数是（冷隔）缺陷
81.铅箔增感屏前屏起（增感）、（吸收软射线）作用，后屏主要起（吸收散射线）作用 82.在半波自整流电路里加装逆电压降低器的目的是(降低X射线管的逆电压)，在倍压整流电路里起倍压作用的元件是(电容器)83.由于Χ射线照射场内阳极侧和阴极侧（焦点尺寸）和（射线强度分布）不同，因此不能利用整个照射场来透照工件
84.射线底片表观对比度与底片对比度的关系式为：△Da=（△D/(1+n')）
85.体积状缺陷的可检出性主要取决于射线照相（对比度）细小缺陷的可检出性还取决于胶片的（清晰度）
86.裂纹类面状缺陷的可检出性不仅取决于射线照相影像质量的三参数，还取决于缺陷本身的三参数即（深度L）、（宽度W）和（与射线束的角度θ）
87.给定γ射线源可透检厚度范围的上限取决于其（能量和强度）下限取决于（灵敏度下降值）
88.在Χ射线管窗口加滤板有两大作用（增大厚度宽容度）、（消除边蚀散射）
89.温度对显影的影响表现为：温度越高时，显影速度越（快），反差越（高），灰雾越（大），颗粒越（大）,温度越低，反差越（低），一般将显影温度控制在（20℃）左右 90.不同透照电压的厚度宽容度不同,这直接反映在其曝光曲线的(斜率)不同 91.细颗粒胶片感光速度(慢),清晰度(高),大颗粒胶片感光速度(快),清晰度(差)92.按增感性能胶片可分为(增感型)和(非增感型)两类胶片
93.在酸性坚膜定影液中会有相互分解的成分，大苏打要靠（亚硫酸钠），钾明钒要靠（醋酸）和（硼酸）才能共存
94.透照厚工件时要选用较高（管电压）的原因是它的波长（短），穿透能力（强）95.试件厚度越大，散射比越（大）
96.射线能量越高，μ值越（小）；试件厚度越大，μ值越（小）97.在X光机窗口加一层薄的过滤器，其目的主要是（提高平均能量）98.散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的（清晰度）和（对比度）
99.评价一个同位素源时，要看（穿透力）、（半衰期）、（活性）和（源的尺寸）四个方面
100.底片对比度与（工件对比度）和（胶片对比度）有关 ,
第三篇：特种设备无损检测人员考核与监督管理规则
法律法规文件查询网 2007-3-21 22:38:23
一、总 则
第一条 为了提高特种设备无损检测工作质量，确保特种设备安全运行，根据《特种设备安全监察条例》的有关规定，制定本规则。
第二条 本规则适用的无损检测方法包括：射线（RT）、超声波（UT）、磁粉（MT）、渗透（PT）、电磁（ET）、声发射（AE）、热像/红外（TIR）。
第三条 特种设备无损检测人员（以下简称无损检测人员）的级别分为：Ⅰ级（初级）、Ⅱ级（中级）、Ⅲ级（高级）。
第四条 从事特种设备无损检测工作的人员应当按本规则进行考核，取得国家质量监督检验检疫总局（以下称国家质检总局）统一颁发的证件，方可从事相应方法的特种设备无损检测工作。
第五条 无损检测人员的检测工作质量应当接受各级质量技术监督部门的监督检查。
二、考核机构
第六条 特种设备无损检测人员的考核工作分别由国家质检总局和省级质量技术监督部门负责，并由国家质检总局特种设备安全监察机构和省级质量技术监督部门特种设备安全监察机构具体实施。考核的具体工作由相应的无损检测人员考核委员会（以下简称考委会）组织进行。
考委会分为全国考委会和省级考委会。考委会为国家质检总局和省级质量技术监督部门组织进行无损检测人员考核工作的具体办事机构。
第七条 全国考委会受国家质检总局领导，由有关部门及大企业集团公司的代表和无损检测专业技术人员组成。主要职责是：
（一）负责Ⅲ级无损检测人员的考核及管理工作；
（二）负责港、澳、台地区及境外人员申报各级别无损检测人员的考核工作；
（三）制订无损检测人员考核大纲，组织编写培训教材，建立试题库；
（四）制订无损检测人员考核专用试件、底片及无损检测设备、器材的技术条件或标准；
（五）主持、协调和参与特种设备无损检测相关技术标准的编制、修订及评审工作；
（六）开展与国内外无损检测人员考核机构的交流与合作；
（七）组织开展无损检测人员培训与考核相关课题的研究及技术交流活动；
（八）协助质量技术监督部门进行无损检测人员证的制作、寄发工作；
（九）承办质量技术监督部门授权或委托的其他工作。
第八条 省级考委会受省级质量技术监督部门的领导，聘请所辖行政区域内的无损检测专业技术人员组成。主要职责是：
（一）负责Ⅰ、Ⅱ级无损检测人员的考核与管理工作；
（二）组织开展无损检测人员培训与考核相关课题的研究和技术及学术交流活动；
（三）承办质量技术监督部门授权或委托的其他工作。
第九条 考委会建设应当符合有关规定的要求，具备相应的考核条件，制订并严格执行考核程序和管理制度，经国家质检总局验收合格后，方可在批准范围内开展考核工作。
第十条 各级考委会中担任考评工作的无损检测专业技术人员，年龄一般应当在65周岁以下，且不得受聘于从事无损检测设备器材制造或销售等经营性活动的单位。省级考委会如有人员调整或者重大变更，应当将有关材料报国家质检总局备案。
三、申请
第十一条 无损检测人员报考申请分为取证考核（初试）申请和换证考核（复试）申请。第十二条 初试申请的人员应当同时满足以下条件：
（一）年龄在18周岁以上，60周岁以下，身体健康；
（二）（二）双眼矫正视力和颜色分辨能力满足所申请无损检测工作的要求；
（三）（三）报考Ⅰ级应当具有初中（含）以上学历；报考Ⅱ级应当具有高中（含）以上学历，持无损检测专业大专（含）以上或理工科本科（含）以上学历可直接报考Ⅱ级。报考Ⅲ级，应当至少持有2个Ⅱ级项（除TIR外，报考RT或UT项，Ⅱ级证中应当含有MT或PT项；报考MT、PT、ET、AE项，Ⅱ级证中应当含有RT或UT项）。申报不同级别的学历和持低一级别证的时间，应当满足下表要求。
（四）学历及持低一级别证工作的最短时间
（五）低一级 学历
（六）别持证
（七）时间
（八）报考级别
（九）无损检测专业大专（含）以上 理工科本科（含）以上 其他大专（含）以上 中专、高中、职高（机电类）
（十）Ⅱ / / 6个月 1年
（十一）Ⅲ 3年 4年 6年 8年
第十三条 初试申请的人员应当填写《特种设备无损检测人员考核初试申请表》（附件1），向承担相应级别考核的考委会提交申请。报考Ⅰ、Ⅱ级申请，经省级考委会初审，并报省级质量技术监督部门核准后，报考人员方可参加考核；报考Ⅲ级申请，需由聘用单位所在地的省级质量技术监督部门签署意见，经全国考委会初审，并报国家质检总局核准后，报考人员方可参加考核。未通过核准的，全国考委会将及时以书面的形式通知报考人员。
第十四条 报考Ⅰ、Ⅱ级的人员，应当参加其聘用单位所在地组织的考核。特殊情况，由报考人员申请，经其所在地的省级质量技术监督部门同意后，方可参加其他地区省级组织的考核。合格者，由负责组织考核的省级质量技术监督部门批准，报国家质检总局核准。
第十五条 持证人员证件到期后，如继续从事持证项目的无损检测工作，应当在有效期满当年的2月底前，按要求向相应的考委会提出复试申请（附件4）（年龄满65周岁以上者的申请，不再予以受理），经初审和核准后，方可参加复试。未通过核准的，考委会将及时以书面的形式通知报考人员。
特殊情况无法按时参加复试的人员，应当在证件有效期满当年2月底前，向实施考核的考委会提交延期复试申请（附件5），经发证机关核准同意后，办理证件有效期延期手续，但延期时间最多可批准1年（实际延长时间将在下个有效期内扣除）。逾期未参加复试或未获准延期复试人员，其证件在有效期满后自动失效。
四、考核发证
第十六条 各级考委会应当于每年的2月底前，将本的考核计划（初试和复试）予以公告，并报同级质量技术监督部门备案。省级考核计划还需抄送全国考委会。
第十七条 报考Ⅰ、Ⅱ级的人员，应当参加笔试和实际操作考核，报考Ⅲ级的人员，应当参加笔试、口试和实际操作考核，合格标准为70分（百分制）。
第十八条 无损检测人员各种检测方法的具体考核内容，按照相应方法的考核大纲的规定执行。考核大纲由全国考委会提出，国家质检总局批准执行。
第十九条 考委会应当在每次考核结束后的30个工作日内，将考核结果上报同级质量技术监督部门，经审核同意后报发证机关核准。考委会按照公布的合格人员名单，将考核结果以书面的形式通知报考人员，并协助制作和寄发人员证。第二十条 无损检测初试、复试考核合格人员，将获得《特种设备检验检测人员证》（附件2），证件由国家质检总局统一制发。证件有效期4年，实行全国统一编号（附件3）。
第二十一条 申请复试的Ⅰ级人员，在参加指定内容的培训后，可直接换发人员证件；Ⅱ级（含）以上人员应当参加复试考核，特种设备无损检测人员考核与监督管理规则 一次复试未合格者，可再次参加复试考核，此期间，可从事所复试项目低一级别的无损检测工作；第二次复试仍不合格的人员，将不再被允许继续从事所复试级别项目的无损检测工作。但可通过省级质量技术监督部门向发证机关提出申请，直接取得所复试项目低一级别的人员证件。
第二十二条 报考人员对考试结果有异议时，应当以书面形式向发证机关提出申诉，发证机关按有关规定进行复议。
五、监督管理
第二十三条 考委会应当加强管理，完善考核条件，严格按照公平、公正、公开的原则及有关程序和规定组织考核，确保考核质量。考委会发生下列情况时，质量技术监督部门应当责令其整改，问题严重的可立即停止其考核工作。
（一）考委会人员或考核条件变化，不能满足规定的要求；
（二）工作管理混乱或严重违规，考核质量低劣；
（三）弄虚作假，出具虚假的证明。
第二十四条 从事考核工作的组织人员及考评人员，应当坚持原则，不徇私枉法。发现下列情况时，质量技术监督部门应当立即停止违规人员的考核工作，情节严重的，可建议发证机关吊销考评人员所持有的检验检测人员证。涉嫌犯罪的，移交司法机关，依法追究法律责任。
（一）泄露考试内容，严重影响考核公正的；
（二）徇私舞弊，为报考人员作弊提供方便的；
（三）玩忽职守，导致考场纪律混乱，考核结果失实的；
（四）其他严重影响考核公正性的活动。
第二十五条 特种设备无损检测持证人员不得同时在2个以上单位中执业，且只能从事与其证书所注明的方法与级别相适应的无损检测工作，其中：
Ⅰ级人员可在Ⅱ、Ⅲ级人员指导下进行无损检测操作，记录检测数据，整理检测资料。
Ⅱ级人员可编制一般的无损检测程序，按照无损检测工艺规程或在Ⅲ级人员指导下编写工艺卡，并按无损检测工艺独立进行检测操作，评定检测结果，签发检测报告。
Ⅲ级人员可根据标准编制无损检测工艺，审核或签发检测报告，协调Ⅱ级人员对检测结论的技术争议。
第二十六条 检测人员应当遵循诚信和方便企业的原则从事检测服务；有义务保守被检单位商业秘密；客观、公正、及时地出具检测结果、鉴定结论，并对检测结果、鉴定结论负责。第二十七条 检测报告的编制人、审核人的持证项目不符合要求或签发单位与签发人、审核人所持证件中注明的聘用单位不一致时，该检测报告无效。
第二十八条 各级质量技术监督部门应当对无损检测人员的检测工作进行监督检查，发现下列情况时，按《特种设备安全监察条例》及相关法规予以处罚，情节严重的，建议发证机关吊销检验检测人员证件。涉嫌犯罪的，移交司法机关，依法追究法律责任。
（一）伪造检验检测人员证或超项目检测；
（二）弄虚作假，伪造检测数据，出具虚假检测结果或鉴定结论；
（三）违反检测程序、工艺，造成检测结果或鉴定结论严重失实；
（四）玩忽职守，因检测失误造成重大责任事故；
（五）从事特种设备生产、销售、监制、监销等违规活动；
（六）同时在2个以上单位执业。
第二十九条 检验检测人员证被吊销的人员，发证机构3年内不再受理其报考申请。
第三十条 持证人员变更受聘单位时，应当向发证机关申请换发证件。换发Ⅰ、Ⅱ级证的人员应当向新的聘用单位所在地的省级质量技术监督部门提出书面申请（附件6），并提交受聘于新单位的有关劳动合同或受聘证明文件（跨省变更的还须有原省级质量技术监督部门签章），以及现所持有的证件（正、副本），由省级质量技术监督部门进行审核，报国家质检总局核准后，换发证件（正、副本）。换发Ⅲ级证的人员，应当向全国考委会提出书面申请（附件6，需有原聘用单位及现受聘单位所在地省级质量技术监督部门的签章），并提交受聘于新单位的有关劳动合同或受聘证明文件，以及现所持有的Ⅲ级证件（正、副本），由全国考委会报国家质检总局核准，换发证件（正、副本）。
第三十一条 证件遗失，由本人提出补证书面申请（应当有原证件注明的聘用单位的确认签章），经发证机关核准后，补发证件。
六、附 则
第三十二条 港、澳、台地区及境外人员申报特种设备无损检测人员考核，参照本规则执行。第三十三条 本规则由国家质检总局负责解释。
第三十四条 本规则自发布之日起施行，原劳动部发布的《锅炉压力容器无损检测人员资格考核规则》（劳部发[1993]441号）同时废止。
附件：1.特种设备无损检测人员初试申请表 2.特种设备检验检测人员证式样 3.证件编号规定
4.特种设备无损检测人员复试申请表 5.特种设备无损检测人员复试延期申请 6.特种设备无损检测人员证件变更申请表
关于2007年特种设备无损检测（RT、UT、PT、MT）Ⅰ、Ⅱ级人员初试考核工作的通知
各有关单位及有关人员：
为提高全省特种设备无损检测工作质量，确保特种设备安全运行，根据国务院《特种设备安全监察条例》和国家质检总局《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》规定，按照考核、培训、发证三分离原则，省质量技术监督局特设处将组织开展无损检测射线、超声波、磁粉、渗透四种方法Ⅰ、Ⅱ级取证人员初试考核工作，现就有关事项通知如下：
一、初试（新取证）（下同）人员
无损检测四种方法Ⅰ、Ⅱ级初试人员和2006年初试需要理论和实际操作补考人员。
二、复试人员
无损检测四种方法Ⅰ、Ⅱ级复试人员和2006年复试需要理论和实际操作补考人员将于10月进行，届时再另行通知。
三、初试考核时间
批次 考试项目 考试报名时间 实际操作和理论时间
一 MT－Ⅰ/ PT－Ⅰ 5月29日上午 5月29日下午至5月31日下午
二 UT－Ⅰ 5月31日下午 6月1日上午至6月2日下午
三 RT－Ⅰ 6月2日下午 6月3日上午至6月4日下午
四 MT－Ⅱ/PT－Ⅱ 6月4日下午 6月5日上午至6月6日下午
五 UT－Ⅱ 6月6日下午 6月7日上午至6月8日下午
六 RT－Ⅱ 6月8日下午 6月9日上午至6月10日下午
四、考试及报名地点
1.湖北省电力试验研究院（武汉市武昌区徐东大街361号）； 2.乘车路线：
汉阳钟家村方向：乘537路公汽到和盛世家站下车，马路对面即是。武昌火车站方向：乘8路电车到和盛世家站下车，马路对面即是。
关山方向：乘702路公汽到岳家咀站下车，向梨园方向直行500米即是。汉口航空路方向：乘712路公汽到和盛世家站下车，马路对面即是。
五、考核依据和内容
1.《特种设备安全监察条例》、《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》；
2.全国特种设备无损检测人员资格鉴定考核委员会2004年编制的《特种设备无损检测人员资格考核实施细则（草案）》； 3.行业标准JB/T4730-2005《承压设备无损检测》、《压力容器安全技术监察规程》、《蒸汽锅炉安全监察技术规程》等；
4.全国无损检测考委会统一编制的四种方法探伤教材。
六、组织方式
此次考试工作由湖北省质量技术监督局特设处组织，具体工作由湖北省特种设备无损检测人员考委会实施。
七、有关要求
1．初试和补考人员需提交《特种设备无损检测人员初试申请表》，（补考人员应在申请表上注明补考项目），报考Ⅰ级人员需提交本人学历证明，医院出具的视力证明（原件）；报考Ⅱ人员还需提交原Ⅰ级资格证（复印件），申请表提交时间截止2007年4月25日，过期不予接收。申请表经资格审查后，合格人员于5月8日前在湖北省质量技术监督局网站（公告栏中）（www.xiexiebang.com）公示，未合格者不准参加考试。
2、考生报名时，每人每项需交2张1寸免冠照片。3.考生报名需交考核费，每人每项300元，（含租用理论考试教室，实际操作场地、试卷印制、老师出卷、监考、判卷、用于实际操作的各种耗材、到国家质检总局办理相关证件等）。4.理论和实际操作考试期间统一安排食宿，费用自理。
5.考生自带用于考试的计算器、钢板尺、评片尺（报考超声专业Ⅰ级的考生自带摸拟式超声波探伤仪、以及超声专业Ⅱ级的考生自带摸拟或数字机超声波探伤仪、直探头和斜探头）。
6.考生凭身份证和准考证（报名时领取）进场参加理论和实际操作考试。联系人及电话：
罗金利
027-87812016
*** 曹南鹤
027-62437710
高亮027-88566015
***
湖北省质监局特设处 二○○七年四月十日
第四篇：特种设备无损检测人员考核与监督管理规则
发文单位：国家质量技术监督检疫总局 文
号：国质检锅[2003]248号 发布日期：2003-8-8 执行日期：2003-8-8 各省、自治区、直辖市质量技术监督局，各有关单位：
为了提高特种设备无损检测工作质量，确保特种设备安全运行，根据《特种设备安全监察条例》的有关规定，总局制定了《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》。现印发你们，请认真贯彻执行。执行中如发现问题，请及时报总局锅炉压力容器安全监察局。
二00三年八月八日
特种设备无损检测人员考核与监督管理规则
一、总则
第一条 为了提高特种设备无损检测工作质量，确保特种设备安全运行，根据《特种设备安全监察条例》的有关规定，制定本规则。
第二条 本规则适用的无损检测方法包括：射线（RT）、超声波（UT）、磁粉（MT）、渗透（PT）、电磁（ET）、声发射（AE）、热像/红外（TIR）。
第三条 特种设备无损检测人员（以下简称无损检测人员）的级别分为：Ⅰ级（初级）、Ⅱ级（中级）、Ⅲ级（高级）。
第四条 从事特种设备无损检测工作的人员应当按本规则进行考核，取得国家质量监督检验检疫总局（以下称国家质检总局）统一颁发的证件，方可从事相应方法的特种设备无损检测工作。
第五条 无损检测人员的检测工作质量应当接受各级质量技术监督部门的监督检查。
二、考核机构
第六条 特种设备无损检测人员的考核工作分别由国家质检总局和省级质量技术监督部门负责，并由国家质检总局特种设备安全监察机构和省级质量技术监督部门特种设备安全监察机构具体实施。考核的具体工作由相应的无损检测人员考核委员会（以下简称考委会）组织进行。
考委会分为全国考委会和省级考委会。考委会为国家质检总局和省级质量技术监督部门组织进行无损检测人员考核工作的具体办事机构。
第七条 全国考委会受国家质检总局领导，由有关部门及大企业集团公司的代表和无损检测专业技术人员组成。主要职责是：
（一）负责Ⅲ级无损检测人员的考核及管理工作；
（二）负责港、澳、台地区及境外人员申报各级别无损检测人员的考核工作；
（三）制订无损检测人员考核大纲，组织编写培训教材，建立试题库；
（四）制订无损检测人员考核专用试件、底片及无损检测设备、器材的技术条件或标准；
（五）主持、协调和参与特种设备无损检测相关技术标准的编制、修订及评审工作；
（六）开展与国内外无损检测人员考核机构的交流与合作；
（七）组织开展无损检测人员培训与考核相关课题的研究及技术交流活动；
（八）协助质量技术监督部门进行无损检测人员证的制作、寄发工作；
（九）承办质量技术监督部门授权或委托的其他工作。
第八条 省级考委会受省级质量技术监督部门的领导，聘请所辖行政区域内的无损检测专业技术人员组成。主要职责是：
（一）负责Ⅰ、Ⅱ级无损检测人员的考核与管理工作；
（二）组织开展无损检测人员培训与考核相关课题的研究和技术及学术交流活动；
（三）承办质量技术监督部门授权或委托的其他工作。
第九条 考委会建设应当符合有关规定的要求，具备相应的考核条件，制订并严格执行考核程序和管理制度，经国家质检总局验收合格后，方可在批准范围内开展考核工作。
第十条 各级考委会中担任考评工作的无损检测专业技术人员，年龄一般应当在65周岁以下，且不得受聘于从事无损检测设备器材制造或销售等经营性活动的单位。省级考委会如有人员调整或者重大变更，应当将有关材料报国家质检总局备案。
三、申请
第十一条 无损检测人员报考申请分为取证考核（初试）申请和换证考核（复试）申请。
第十二条 初试申请的人员应当同时满足以下条件：
（一）年龄在18周岁以上，60周岁以下，身体健康；
（二）双眼矫正视力和颜色分辨能力满足所申请无损检测工作的要求；
（三）报考Ⅰ级应当具有初中（含）以上学历；报考Ⅱ级应当具有高中（含）以上学历，持无损检测专业大专（含）以上或理工科本科（含）以上学历可直接报考Ⅱ级。报考Ⅲ级，应当至少持有2个Ⅱ级项（除TIR外，报考RT或UT项，Ⅱ级证中应当含有MT或PT项；报考MT、PT、ET、AE项，Ⅱ级证中应当含有RT或UT项）。申报不同级别的学历和持低一级别证的时间，应当满足下表要求。
学历及持低一级别证工作的最短时间
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┃低一级
学历│无损检测
│理工科本科│其他大专（含）│中专、高中、职高┃
┃ 别持证
│专业大专
│（含）以上│以上
│（机电类）
┃
┃
时间
│（含）以上 │
│
│
┃
┃
│
│
│
│
┃
┃报考级别
│
│
│
│
┃
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┃
Ⅱ
│/
│/
│6个月
│1年
┃ ┠───────┼──────┼─────┼───────┼────────┨
┃
Ⅲ
│3年
│4年
│6年
│8年
┃
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第十三条 初试申请的人员应当填写《特种设备无损检测人员考核初试申请表》（附件1），向承担相应级别考核的考委会提交申请。报考Ⅰ、Ⅱ级申请，经省级考委会初审，并报省级质量技术监督部门核准后，报考人员方可参加考核；报考Ⅲ级申请，需由聘用单位所在地的省级质量技术监督部门签署意见，经全国考委会初审，并报国家质检总局核准后，报考人员方可参加考核。未通过核准的，全国考委会将及时以书面的形式通知报考人员。
第十四条 报考Ⅰ、Ⅱ级的人员，应当参加其聘用单位所在地组织的考核。特殊情况，由报考人员申请，经其所在地的省级质量技术监督部门同意后，方可参加其他地区省级组织的考核。合格者，由负责组织考核的省级质量技术监督部门批准，报国家质检总局核准。
第十五条 持证人员证件到期后，如继续从事持证项目的无损检测工作，应当在有效期满当年的2月底前，按要求向相应的考委会提出复试申请（附件4）（年龄满65周岁以上者的申请，不再予以受理），经初审和核准后，方可参加复试。未通过核准的，考委会将及时以书面的形式通知报考人员。
特殊情况无法按时参加复试的人员，应当在证件有效期满当年2月底前，向实施考核的考委会提交延期复试申请（附件5），经发证机关核准同意后，办理证件有效期延期手续，但延期时间最多可批准1年（实际延长时间将在下个有效期内扣除）。逾期未参加复试或未获准延期复试人员，其证件在有效期满后自动失效。
四、考核发证
第十六条 各级考委会应当于每年的2月底前，将本的考核计划（初试和复试）予以公告，并报同级质量技术监督部门备案。省级考核计划还需抄送全国考委会。
第十七条 报考Ⅰ、Ⅱ级的人员，应当参加笔试和实际操作考核，报考Ⅲ级的人员，应当参加笔试、口试和实际操作考核，合格标准为70分（百分制）。
第十八条 无损检测人员各种检测方法的具体考核内容，按照相应方法的考核大纲的规定执行。考核大纲由全国考委会提出，国家质检总局批准执行。
第十九条 考委会应当在每次考核结束后的30个工作日内，将考核结果上报同级质量技术监督部门，经审核同意后报发证机关核准。考委会按照公布的合格人员名单，将考核结果以书面的形式通知报考人员，并协助制作和寄发人员证。
第二十条 无损检测初试、复试考核合格人员，将获得《特种设备检验检测人员证》（附件2），证件由国家质检总局统一制发。证件有效期4年，实行全国统一编号（附件3）。
第二十一条 申请复试的Ⅰ级人员，在参加指定内容的培训后，可直接换发人员证件；Ⅱ级（含）以上人员应当参加复试考核，一次复试未合格者，可再次参加复试考核，此期间，可从事所复试项目低一级别的无损检测工作；第二次复试仍不合格的人员，将不再被允许继续从事所复试级别项目的无损检测工作。但可通过省级质量技术监督部门向发证机关提出申请，直接取得所复试项目低一级别的人员证件。
第二十二条 报考人员对考试结果有异议时，应当以书面形式向发证机关提出申诉，发证机关按有关规定进行复议。
五、监督管理
第二十三条 考委会应当加强管理，完善考核条件，严格按照公平、公正、公开的原则及有关程序和规定组织考核，确保考核质量。考委会发生下列情况时，质量技术监督部门应当责令其整改，问题严重的可立即停止其考核工作。
（一）考委会人员或考核条件变化，不能满足规定的要求；
（二）工作管理混乱或严重违规，考核质量低劣；
（三）弄虚作假，出具虚假的证明。
第二十四条 从事考核工作的组织人员及考评人员，应当坚持原则，不徇私枉法。发现下列情况时，质量技术监督部门应当立即停止违规人员的考核工作，情节严重的，可建议发证机关吊销考评人员所持有的检验检测人员证。涉嫌犯罪的，移交司法机关，依法追究法律责任。
（一）泄露考试内容，严重影响考核公正的；
（二）徇私舞弊，为报考人员作弊提供方便的；
（三）玩忽职守，导致考场纪律混乱，考核结果失实的；
（四）其他严重影响考核公正性的活动。
第二十五条 特种设备无损检测持证人员不得同时在2个以上单位中执业，且只能从事与其证书所注明的方法与级别相适应的无损检测工作，其中：
Ⅰ级人员可在Ⅱ、Ⅲ级人员指导下进行无损检测操作，记录检测数据，整理检测资料。
Ⅱ级人员可编制一般的无损检测程序，按照无损检测工艺规程或在Ⅲ级人员指导下编写工艺卡，并按无损检测工艺独立进行检测操作，评定检测结果，签发检测报告。
Ⅲ级人员可根据标准编制无损检测工艺，审核或签发检测报告，协调Ⅱ级人员对检测结论的技术争议。
第二十六条 检测人员应当遵循诚信和方便企业的原则从事检测服务；有义务保守被检单位商业秘密；客观、公正、及时地出具检测结果、鉴定结论，并对检测结果、鉴定结论负责。
第二十七条 检测报告的编制人、审核人的持证项目不符合要求或签发单位与签发人、审核人所持证件中注明的聘用单位不一致时，该检测报告无效。
第二十八条 各级质量技术监督部门应当对无损检测人员的检测工作进行监督检查，发现下列情况时，按《特种设备安全监察条例》及相关法规予以处罚，情节严重的，建议发证机关吊销检验检测人员证件。涉嫌犯罪的，移交司法机关，依法追究法律责任。
（一）伪造检验检测人员证或超项目检测；
（二）弄虚作假，伪造检测数据，出具虚假检测结果或鉴定结论；
（三）违反检测程序、工艺，造成检测结果或鉴定结论严重失实；
（四）玩忽职守，因检测失误造成重大责任事故；
（五）从事特种设备生产、销售、监制、监销等违规活动；
（六）同时在2个以上单位执业。
第二十九条 检验检测人员证被吊销的人员，发证机构3年内不再受理其报考申请。
第三十条 持证人员变更受聘单位时，应当向发证机关申请换发证件。换发Ⅰ、Ⅱ级证的人员应当向新的聘用单位所在地的省级质量技术监督部门提出书面申请（附件6），并提交受聘于新单位的有关劳动合同或受聘证明文件（跨省变更的还须有原省级质量技术监督部门签章），以及现所持有的证件（正、副本），由省级质量技术监督部门进行审核，报国家质检总局核准后，换发证件（正、副本）。换发Ⅲ级证的人员，应当向全国考委会提出书面申请（附件6，需有原聘用单位及现受聘单位所在地省级质量技术监督部门的签章），并提交受聘于新单位的有关劳动合同或受聘证明文件，以及现所持有的Ⅲ级证件（正、副本），由全国考委会报国家质检总局核准，换发证件（正、副本）。
第三十一条 证件遗失，由本人提出补证书面申请（应当有原证件注明的聘用单位的确认签章），经发证机关核准后，补发证件。
六、附则
第三十二条 港、澳、台地区及境外人员申报特种设备无损检测人员考核，参照本规则执行。
第三十三条 本规则由国家质检总局负责解释。
第三十四条 本规则自发布之日起施行，原劳动部发布的《锅炉压力容器无损检测人员资格考核规则》（劳部发[1993]441号）同时废止。
第五篇：特种设备无损检测人员报名须知
特种设备无损检测人员报名须知
一、报名方法
报考人员（初、复试及补考人员）应在报名截止日期前将申报材料报沈阳考核站。由本站统一上报，不接受电话、传真及电子邮件等方式的报名，凡上报资料不全者不接受考核申请，逾期不再受理。
二、报考条件
1、年龄在18周岁以上，60周岁以下，身体健康；
2、报考Ⅰ级人员应具有初中（含）以上学历，双眼矫正视力和颜色分辨能力满足申请无损检测项目工作要求。
3、报考Ⅱ级的人员应具备条件：①须持有Ⅰ级资格证书（大专半年以上，高中、中专1年以上）；②本科理工类或大专无损检测专业人员可以直接报考Ⅱ级；③双眼矫正视力和颜色分辨能力满足申请无损检测项目工作要求。
注：持Ⅰ级证项目的工作单位与所报Ⅱ级证项目的工作单位名称必须一致。
三、报名须提交材料
1、初试人员提交材料： ①《特种设备无损检测人员初试申请表》2份（本单位盖章的原件方有效）；
② 学历证明和身份证的复印件各1份；（报到时需携带原件核对）
③ 视力证明（报考PT须提交颜色分辨能力证明）1份；
④ 持有I级证报考Ⅱ级学员应提供I级证复印件1份；
⑤ 每个报考项目需交一寸免冠彩色照片1张；
2、复试人员提交材料： ①《特种设备无损检测人员复试申请表》2份（本单位盖章的原件方有效）；
② 到期证件复印件1份；
③ 身份证复印件1份；
④ 每个报考项目需交一寸免冠彩色照片1张；
3、初、复试补考人员只须提交《特种设备无损检测人员初、复试申请表》2份（本单位盖章的原件方有效）。补考人员在填写申请表内“申请报考级别”一栏中，应注明补考项目和级别。(例如：补RTⅡ理论、补UTⅠ实际、补MTⅡ基础等)
注：
1、申请单位和申请人对报名材料的真实性负责，如发现弄虚作假者将取消申请资格。
2、报名人员的资料经审查合格者，将名单公布。
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