第一篇：高级无损检测技术资格人员-射线检测考题
高级无损检测技术资格人员-射线检测考题汇编 填空题
1.普朗克常数h=(6.626×10-34J·s),长度单位1=(10-10m),电子质量me=(9.108×10-30kg),电子电量e=(-1.602×10-19C)2.当单色射线能量约（9MeV）时，对钢的穿透力最大，此时相应的Χ射线输出约为（20MeV）
3.直接电离辐射通常是指阴极射线,(β)射线,(α)射线和(质子)射线,间接电离辐射是指(Χ)射线,(γ)射线和(中子)射线
4.60Co放出的γ射线平均能为(1.25MeV),相当于(2000～3000KVp)X射线穿透力,192Ir放出的γ射线平均能为(0.35MeV),相当于(150～800kVp)X射线穿透力 5.60Co和192Ir的射线输出分别为(1.3)R/m·h·ci和(0.5)R/m·h·ci；60Co和192Irγ射线的能谱线分别为(2)根和至少(24)根
6.可用于2～10mm薄壁管透照的一种γ射线新源是（169Yb），其半衰期为（31）天，射线输出为（125）mR/h·ci
7.检查轻合金的薄试件也可利用β放射同位素所产生的韧致辐射，常用的源如：（90Sr）和（169Yb）等 8.中子射线有以下特点：在重元素中衰减(小),在轻元素中衰减(大),在空气中电离能力(弱),不能直接使胶片感光
9.常用的中子源有以下三种：①（同位素中子源）；②（加速器中子源）；③（原子反应堆）
10.不同剂量的照射对人体的损伤：D≤（0.25Gy）的一次照射时，无明显病理变化；D≈（0.5Gy）时，出现一时性血象变化；D≥（1Gy）时，会引起急性放射病
11.电离辐射引起的生物效应分为两类：①发生率取决于剂量的（随机）效应，如遗传效应和躯体致癌效应；②严重程度随剂量而变化的（非随机）效应，如对眼、皮肤和血液引起的效应。射线防护的目的在于防止有害的（非随机）效应，并限制（随机）效应的发生率，使之达到可以接受的水平
12.发生光电效应几率的实验近似公式为：τ=kρz4λ3，其中K为常数；ρ为（物质密度）；Z为（物质的原子序数）；λ为（射线的波长）
13.波长为0.1的光子,其能量E=(124000),eV=(2×10-7)尔格,管电压250kV时,产生射线的最短波长为(0.0496)14.射线穿透物质时产生的吸收程度，取决于材料的（原子系数）、（密度）、（厚度）以及射线本身的（波长）
15.射线的线质越硬，其光子能量越（大），波长越（短），穿透力越（强），衰减系数越（小）,半价层厚度越（大）
16.X射线穿透钢材料时,两种主要效应的发生几率与光子能量的关系：J=σc时,E≈(100)keV；σc=max时,E=(1000)keV 17.连续Χ射线总强度可用下式表示：I=（ηoiZV2），连续Χ射线的转换效率公式为η=（ηoZV）
18.单色窄束射线的半价层厚度约为1/10价层厚度的（0.3）倍；若已知线衰减系数μ，则1/10价层厚度为（2.3/μ）
19.γ射线放射性活度与照射量的关系式为X=A·t/KrR2。式中X-（照射量[伦]）；A-（放射性活度[Ci]）；Kr-（照射率常数[mR/h·ci]）；R-（到点源距离[m]）；t-（受照时间[h]）
20.常用的γ源Kr常数,对于60Co为Kr=（1.32）；对于192Ir为Kr=（0.472）21.照射量的国际单位是(库仑/千克,C/Kg),专用单位是(伦琴,R),两者的换算关系是(1库仑/千克≈3.877*103伦琴,1伦琴=2.58*10-4库仑/千克)22.吸收剂量的国际单位是(戈瑞,Gy),专用单位是(拉德,rad),两者的换算关系是(1戈瑞=1焦耳/千克=100拉德,1拉德=10-2戈瑞)23.剂量当量的国际单位是(希沃特,Sv),专用单位是(雷姆,rem),两者的换算关系是(1希沃特=1焦耳/千克=100雷姆, 1雷姆=10-2希沃特)24.剂量当量H是吸收剂量D与(品质因数Q)与(其他修正因数N)的乘积,数学表达式为H=(DQN),对Χ射线和γ射线防护而言,由于(有关修正因数为1),可以认为吸收剂量与剂量当量(等值)25.放射性同位素60Co中的60叫做(质量数),其原子核中含有(27)个质子和(33)个中子,60Co裂变时发生(β)射线和(γ)射线,60Co因(半衰期)较长而适用于无损检测.26.当单色窄束X射线通过厚度为d的物质后，表示射线强度衰减规律的公式为：（I=I0e-μd）
27.射线与物质作用时，最主要的效应是(光电)效应、(散射)效应、(电子对生成)效应
28.10居里钴60射源衰减到1.25居里时大约需要(15.9)年
29.X射线的能量取决于（X射线管电压），而γ射线的能量取决于（γ源的种类）30.高能射线是能量在（1）兆电子伏特以上的X射线，采用直线加速器产生的高能X射线与一般X射线相比，它具有（穿透能力强）、（焦点小）、（转换效率高）等特点
31.X射线是利用（高速运动的电子撞击金属靶）的方法产生的，它具有（连续X）线谱和（特征X）线谱，γ射线是利用（放射性同位素物质衰变）的方法产生的，它只具有X射线中的后一种线谱
32.钴60γ射线源发出的两种γ射线能量分别为1.17和1.33MeV，因此它们的波长分别为(0.0106)和(0.00932)33.活度为1居里的铱192，距离它1米处在无遮挡、无吸收的条件下，其一次射线的照射量率为（0.55）伦琴/小时
34.衰变常数为0.021/年的γ射线源，其半衰期为（33年），此射线源为（铯）源 35.X射线的能量取决于X光机的（管电压），γ射线的强度取决于（源的种类）36.原子核内的（质子）数相同，而（中子）数不同的元素叫做同位素
37.单色、窄束、强度为I0的X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I=I0e-µd），而对于强度为I0的单色、宽束X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I=(1+n)I0e-µd）
38.X射线、γ射线与物质作用时，可产生（光电）效应、（康普顿(或散射)）效应和（电子对生成）效应，其中（电子对生成）效应只有在光子能量大于（1.02MeV）才会出现
39.射线的衰减系数与（射线能量）及照射物质的（原子序数）和（密度）有关 40.吸收剂量当量的单位是（雷姆(Rem)），对于X射线、γ射线，因为修正系数等于（1），故吸收剂量当量值与吸收剂量值是（相同）的
41.直线加速器的优点是（体积小）和（输出射线强度大），回旋加速器的优点是（焦点尺寸小）
42.经Χ射线曝光过的胶片包含两种不同类型的粒度：（胶片）粒度和（量子噪声）引起的粒度 43.产生给定胶片密度所需要的伦琴数随射线能量的增加而（增加）；射线能量高到一定数值，上述伦琴数（基本不变），这就是所谓射线胶片的光谱灵敏度
44.用盐屏摄得的底片不清晰与两个因素有关，一是（结构）斑点；二是（量子）斑点
45.底片颗粒度的表示为：G=σd/α,式中符号意义：σd（密度均方差）；α（扫描点面积）
46.Χ射线能量低于150kV时，由于（吸收系数）变化很快，管电压的选择比较严格；能量在200～400kV时，电压变化约为（30～40）kV才使灵敏度有明显变化；当为2～31MeVΧ射线时，探伤灵敏度（几乎相同）47.(电离室)型监测仪可用来测量直射线、操作区内的散射线等相当高的照射率；（闪烁计数器）可用来探测曝光室之外的泄漏射线；（胶片剂量计）是最典型的个人照射剂量计，可记录在相当长时间内累积的剂量
48.对电子加速器产生的Χ射线束，不宜用（铅）或重过滤材料，因在（2～3）MeV时，其质量衰减系数有一最低值
49.目前常用的中子源有以下三种：①(同位素中子源)；②(加速器中子源)；③(反应堆中子源)50.192Ir中有（77）个质子，（115）个中子，其半衰期为75天，则其衰变常数为（0.00924/d）
51.放射性同位素的制取有在核反应堆中通过中子照射激活的，如（192Ir）和（60Co）,也有是核裂变的产物，如（137Cs）
52.X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(管电压),(管电流),(曝光时间),(焦距)等
53.用棒阳极射线管透照有剩磁的钢管环焊缝时，（聚焦电子）漂移会造成曝光量不稳定
54.胶片特性曲线上，某一区域的黑度差没D与（相对曝光量对数的差值）的比值称为该区域的反差系数r 55.我国天津感光胶片厂生产的工业用II、III、V型胶片，其感光度大致相当于国外（Agfa）牌号的（D10）、（D7）、（D4）型胶片，或国外（富士）牌号的（400）、（200）、（100或80）型胶片
56.亚硫酸钠在显影液中起（保护）作用；在定影液中起（保护）作用
57.工业用X光机高压的调节通常是通过（自耦变压器）的调节，改变高压发生器中的（初级电压）来实现的，而管电流的调节是通过（电阻）的调节，改变（灯丝变压器）的（初级电压）来实现的
58.为使像质计灵敏度达到最佳值，透照余高磨平的焊缝宜选择黑度约为（2.5）的摄片条件；透照有余高的焊缝时，宜选择母材黑度约（3.0～3.5），焊缝黑度约（1.5～2.0）的摄片条件
59.按照信息论，空间频率f即每毫米黑白线对是指（不清晰度），而影像噪声是指（颗粒度）
60.若底片上阶梯孔型像质计灵敏度为2%，则实际圆形气孔的检出灵敏度约为（3）%；为检出1mm气孔，像质计上应显示的阶梯孔径为（2/3）mm 61.金属增感屏的增感系数随着材料原子序数的增大而（增大），在试验范围内（金）最大，在管电压较低时（锡）最大
62.金属增感屏的增感系数随着Χ射线管电压的降低而（减小），大约在（120）kV以下时，增感系数(小)于1 63.在某一密度D时的胶片衬度用下式表示：G0=（dD/dlgE）；在两特定密度之间，胶片的平均衬度可表示为G=（△D/△lgE）
64.射线照相灵敏度是射线照相（清晰度）和（对比度）两大因素的综合结果
65.X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(管电压),(管电流),(曝光时间),(焦距)等
66.射线辐射防护的三种基本方式是(距离防护),(屏蔽防护),(时间防护)67.按JIS Z3104,3105标准规定，用内胶片法，对管子环缝进行照像时，为保证横向裂纹的检出率，当焦距最远时，按普通级要求，最少应照（13）张片子
68.为了提高射线照像的对比度，可以采取射线胶片与工件保持适当距离的特殊照像方法，此时（1/[1+n]）值随该距离的增大而增大，（σ）值该距离的增大而减小，因此必须取（σ/[1+n]）值的最大时的最佳距离
69.对于厚度差比较大的工件进行一次曝光透照时，可以采用（双胶片）、（分散曝光）、（补偿）等方法，使底片黑度都处于有效黑度范围内
70.为了保证焊缝中裂纹的检出率，日本JIS Z3104标准规定：射线穿透方向与缺陷方向之间的相对角度，对于普通级应小于（14）度，对于特殊级应小于（9）度 71.用100居里的铱192γ射线源透照某工件，焦距1米，曝光时间5分钟，能得到合适的底片黑度。225天后，用该源透照相同工件，焦距变为2米，为得到相同黑度，曝光时间应为（160）分钟
72.底片对比度与（工件）对比度和（胶片反差）系数有关
73.射线照相的灵敏度由两个指标来确定，即射线底片的（对比）度和（清晰）度 74.鉴定底片的水洗效果，可采用1%的（AgNO3）加醋酸（28%）做试验液，如果底片上出现（棕黄色）现象，即可说明底片水洗不佳
75.铱192的半衰期为75天，用该新源透照工件最佳的曝光时间为10分钟，225天后重照同样的工件（设其他条件不变），则需曝光（80）分钟
76.为了提高射线照像的对比度没D，可以在照相布置时把胶片与工件的距离调整到使（σ/[1+n]）的比值达到最大值
77.底片黑度取决于辐射强度和曝光时间的乘积，若曝光量一定时，辐射强度与曝光时间成反比，但采用（荧光增感）方法时，则该反比定律失效
78.射线照相对比度的公式是（△D=-0.434γµσ△d/(1+n)），其中（µ△d/(1+n)）称为主因对比度
79.一铸件厚度为1.25英寸，射线底片上显示出ASTM 20#像质计的2T孔，则该底片的当量灵敏度为（1.6%）
80.铸件射线底片上出现清晰的黑线或长度与宽度不等，轮廓光滑分明的带状显示，则大多数是（冷隔）缺陷
81.铅箔增感屏前屏起（增感）、（吸收软射线）作用，后屏主要起（吸收散射线）作用
82.在半波自整流电路里加装逆电压降低器的目的是(降低X射线管的逆电压)，在倍压整流电路里起倍压作用的元件是(电容器)83.由于Χ射线照射场内阳极侧和阴极侧（焦点尺寸）和（射线强度分布）不同，因此不能利用整个照射场来透照工件
84.射线底片表观对比度与底片对比度的关系式为：△Da=（△D/(1+n')）
85.体积状缺陷的可检出性主要取决于射线照相（对比度）细小缺陷的可检出性还取决于胶片的（清晰度）86.裂纹类面状缺陷的可检出性不仅取决于射线照相影像质量的三参数，还取决于缺陷本身的三参数即（深度L）、（宽度W）和（与射线束的角度θ）
87.给定γ射线源可透检厚度范围的上限取决于其（能量和强度）下限取决于（灵敏度下降值）
88.在Χ射线管窗口加滤板有两大作用（增大厚度宽容度）、（消除边蚀散射）89.温度对显影的影响表现为：温度越高时，显影速度越（快），反差越（高），灰雾越（大），颗粒越（大）,温度越低，反差越（低），一般将显影温度控制在（20℃）左右
90.不同透照电压的厚度宽容度不同,这直接反映在其曝光曲线的(斜率)不同 91.细颗粒胶片感光速度(慢),清晰度(高),大颗粒胶片感光速度(快),清晰度(差)92.按增感性能胶片可分为(增感型)和(非增感型)两类胶片
93.在酸性坚膜定影液中会有相互分解的成分，大苏打要靠（亚硫酸钠），钾明钒要靠（醋酸）和（硼酸）才能共存
94.透照厚工件时要选用较高（管电压）的原因是它的波长（短），穿透能力（强）95.试件厚度越大，散射比越（大）
96.射线能量越高，μ值越（小）；试件厚度越大，μ值越（小）97.在X光机窗口加一层薄的过滤器，其目的主要是（提高平均能量）
98.散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的（清晰度）和（对比度）99.评价一个同位素源时，要看（穿透力）、（半衰期）、（活性）和（源的尺寸）四个方面
100.底片对比度与（工件对比度）和（胶片对比度）有关
101.同位素源辐射出的伽玛射线能量用（所有辐射能量的平均值）来度量，X射线机辐射出X射线的能量用（电压峰值）来度量 102.金属增感屏靠（二次射线和电子）增感，常用的金属材料是（铅），它的粒度（细），增感系数（小），所得底片清晰度（高）
103.入射光强与透过光强之比为10，则底片黑度为（1），若透射光强与入射光强之比为1:1000，则底片黑度为（3）
104.影响显影的主要因素为（配方）、（显影温度）、（显影时间）、（显影观察-暗室安全灯）、（显影液老化程度）与（搅动-显影均匀程度）105.显影液是（碱）性的，定影液是（酸）性的
106.透照某工件，已知曝光量达到胶片特性曲线的过渡曝光区，为使底片达到一定黑度，采用缩短显影时间的方法来调整，这将影响底片的（对比度）和（清晰度），并降低底片的（灵敏度）
107.大晶粒金属零件进行射线照相时，利用（提高管电压和使用铅增感屏）可以减少或消除衍射斑的影响
108.从实际应用来说，可以认为X射线胶片特性曲线的形状与（X射线或γ射线的线质）无关
109.对于一定的射线质量，如果因试样厚度范围太大并且被摄物对比度过大，应采用的修正方法是（提高管电压、在X射线管上放置滤波器，并延长曝光时间）
110.X射线在大晶粒材料中衍射而引起的一种特殊形式的散射线会使底片上出现（斑点）状影像
111.辐射防护监测仪器多半是利用射线能使气体物质（电离）的原理制造的 112.个人剂量笔给出的是（射线剂量累计照射率）值 113.X射线管按不同的用途可分为五大类，第一类是（医学诊断用X射线管），第二类是（医学治疗用X射线管），第三类是（材料分析用X射线管），第四类是（材料检验用X射线管），第五类是（特殊用途X射线管），无损检测应用的是第（4）类X射线管
114.有的X射线管的阴极头有两组灯丝，可产生（两个大小不同的）焦点，以适应不同的用途
115.在其他工作条件保持恒定的情况下，管电流变化会使X射线管发射的辐射强度发生变化，强度近似地与管电流成比例，造成强度与管电流不能精确地成比例的主要因素是（X射线机变压器的电压和波型随负荷变化）
116.金属陶瓷X射线管与玻璃壳X射线管相比有下面六个优点：（抗震性强，不易破碎）、（金属壳不存在电击穿和表面放电问题）、（管内真空度高，各项电性能好）、（体积小，重量轻，寿命长）、（容易装焊铍或钼窗口以放射软X射线）、（制造工艺简单）
117.特殊用途的X光管包括（周向辐射X射线管）、（软X射线管）、（微焦点X射线管）、（棒状阳极X射线管）
118.X射线管的管电压是指它的（最大额定工作电压峰值），但在电工测量中，表头指示的是（有效）值
119.辐射监测主要是（场所辐射）监测和（个人剂量）监测 120.辐射剂量仪可分为（探测器）和（测量装置）两部分
121.影响辐射损伤的因素是（辐射性质）、（剂量）、（剂量率）、（照射方式）、（照射部位）、（照射面积）
122.在X射线检测中，以保证穿透为前提，一般为了提高灵敏度，应尽量选择（低）的管电压，（高）的管电流，（长）焦距，（小）焦点
123.用相同条件透照同一容器的环焊缝，采用外照法（射线源在容器外侧）比内照法（射线源在容器内侧）对横向裂纹的检出率要（低），而对单面焊根部裂纹和未焊透（熔入不足）的检出率要（高）
124.用铱192透照某工件，曝光10分钟可获得理想的底片，150天后，以相同条件用该源透照同一工件时，要获得相同质量的底片需曝光（40）分钟
125.焊缝照像底片评定时发现焊缝中央沿纵向有一较宽直长的黑线，黑线边缘很整齐，则该瑕疵可能是（未焊透）
126.在分别含有气孔,钨粒和夹渣的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较亮的是(钨粒)127.在分别含有气孔,钨粒和夹渣的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较黑的是(气孔和夹渣)128.底片上评定区域出现黑点，大致有以下几种可能（气孔或点状夹渣）、（弧坑）、（显影液飞溅）、（压痕）、（水迹）、（银粒子流动）、（霉点）129.底片上评定区域出现黑线，大致有以下几种可能（裂纹）、（未熔合）、（错口）、（咬边）、（胶片划伤）、（增感屏划伤）、（线状气孔）130.在射线底片上呈现较大面积的树枝形影像是(静电感光)131.在焊缝的射线底片上,较周围部位显得非常明亮的缺陷是(重金属夹渣,或称高密度夹渣,如夹铜,夹钨等)132.对于未曝光胶片的储存应考虑（温度）、（湿度）、（有效期限）、（防止受压）和（远离放射线）133.GB3323标准的最早颁布年份是（1982）年，在87年的版本中，把射线照相质量划分成（A）、（AB）、（B）三个等级，适用厚度在（2-200mm）范围内的（钢熔化对接焊缝）X射线和γ射线照相方法以及质量分级
是非判断题（在每题后面括号内打“X”号表示“错误”，画“○”表示正确）1.不稳定的同位素在衰变期间，始终要辐射出γ射线。()2.一放射性同位素放出的γ射线穿透力等同于多少千伏或兆伏Χ射线机的穿透力，这种关系称作该同位素的当量能。()3.放射性同位素的当量能上限总是高于其平均能。（）
4.射线通过材料后，其强度的9/10被吸收，该厚度即称作1/10价层。（）
5.60Co和192Ir射线源是稳定的同位素在核反应堆中俘获中子而得到的，当射线源经过几个半衰期后，将其放在核反应堆中激活，可重复使用。（）6.俄歇电子是指被荧光Χ射线逐出原子轨道的电子。（）7.光电子又称为反冲电子。（）
8.暗室内的工作人员在冲洗胶片的过程中，会受到胶片上感生的射线照射，因而白血球也会降低。（）
9.一能量为300千电子伏的光子进入原子中,使一轨道电子脱离50千电子伏的结合能后,又给这个电子50千电子伏的能量使其飞出轨道,则新的光子能量是200千电子伏()10.中子射线照相检测方法的英文缩写是NRT()11.射线照相检验方法的局限性是不易评定缺陷的形状,大小和分布()12.射线照相检验法的优点是效率高,成本低()
13.当射线中心束方向与裂纹开裂面成45°角时,最容易发现该裂纹()14.当射线中心束方向与裂纹开裂面成90°角时,最容易发现该裂纹()15.X射线检测法不适用于混凝土结构件()17.X或γ射线的计算机辅助层析扫描技术简称为工业CT()18.“韧致辐射”是高速运行的电子与阳极靶相撞后能量被转换的一种电磁辐射，即X射线()19.连续、宽束X射线透过厚度d的物体后，射线强度的衰减规律可用下列公式表示：I=I0e-μd()20.X射线的光子与物质相互作用时，当射线能量达到MeV以上时，会产生电子、正电子对，而光子的能量全部消失，这就是“电子对的生成”效应（）21.对于某一种放射源，若其活度越高，则所发出的射线能量也越强()22.最小可见对比度△Dmin随线状图像的宽度增大而增大，当线状图像的宽度达到一定数值时，△Dmin成为常数()23.射线照相的几何不清晰度Ug与焦点的大小成正比，与射线源到工件表面的距离成反比（）
24.射线照相的几何不清晰度Ug与焦点的大小成反比，与射线源到工件表面的距离成正比()
25.由焦点尺寸和照像几何条件决定的像质计金属丝几何因素修正系数σ在d'/d的比值大于1时，其数值随d'/d的增大而减小（）
26.通常把胶片本身引起的不清晰度称为胶片不清晰度或固有不清晰度（）27.散射线不影响射线照像底片的对比度而是影响底片的清晰度（）28.底片的黑度取决于射线强度与曝光时间的乘积，即曝光量，但当采用荧光或金属荧光增感屏时，射线强度与曝光时间不成反比关系（）
29.铅箔增感屏之所以有增感作用，是因为X与γ射线能从铅中激发出电子来，从而使胶片感光，达到增感的目的（）
30.通常对于管电压大于120KVP的X射线才能使铅箔有增感作用（）
31.对于2MeV的电子直线加速器，靶材料为钨，比例系数为1.2x10-6时，其连续X射线的转换效率约为1.8%()32.X或γ射线在标准状态下，对一立方厘米的空气照射时，使空气中产生一个静电单位电荷的离子对，这时的射线照射量为一居里（）33.用于射线照相法检验的X和γ射线，它们之间的差别仅在于X射线是高速电子韧致的辐射产物，γ射线是放射性物质原子核裂变的辐射产物（）
34.高能X射线一般指的是其能量在千电子伏特（KeV）级以上的X射线()
35.中子射线照相的原理，主要是由于含氢物质中的氢具有俘获中子的能力，从而使透过含氢物质后的中子射线的强度发生变化（）
36.X射线、γ射线与可见光一样，它们在真空中的传播速度都是3x108cm/s()37.在国际单位制中，放射性活度用符号X表示，它的单位是库仑/千克（C/Kg）()38.在国际单位制中，吸收剂量用符号D表示，它的单位是戈瑞（Gy）（）
39.射线胶片中的溴化银微粒银的负离子失去电子，使曝光的胶片中形成所谓“潜影”（）
40.波长相同的X射线和γ射线具有相同的性质（）
41.不同种类的放射性同位素，其中活度（居里数）高的辐射出的γ射线剂量不一定比活度低的大（）
42.高速运动的电子在与靶金属的原子核外电场作用时，发射出连续X射线（）43.连续X射线的总强度与管电压的平方成正比，与管电流和靶原子序数成正比（）44.当射线的能量达到1.02MeV以上时，射线的光量子同原子作用的结果，使得光量子消失，产生一对离子，这就是电子对生成效应()45.当X射线通过三个半价层后，其强度仅剩初始的1/8（）
46.半衰期是指放射性同位素其能量减少到一半所需要的时间（）
47.管电压越高，X光管中飞向靶金属的电子速度就越大，射线的辐射能量就越高（）48.连续、宽束射线透过厚度为d的物体后，射线强度的衰减规律可用下式表示：I=Ie-µd（）
49.散射比n是表示散射线强度Is和辐射源到工件的入射线的强度I0之比，即：n=Is/I0（）
50.射线通过胶片时，能在胶片上激发出自由电子，这种散乱的自由电子也能使胶片感光，形成不清晰度，这种不清晰度称为“固有不清晰度”（）
51.通常对于管电压大于150KVP的X射线，铅箔才能起增感作用，而对于管电压低于150KVP的X射线，铅箔对于射线的减弱作用大于射线的增强作用，所以没有增感作用（）
52.射线透过工件后的两个不同厚度区域的强度比值称为工件对比度（）
53.X或γ射线在标准状态下，对一立方厘米的空气照射时，空气中离子产生一个静电单位电荷的照射剂量为一居里()54.“吸收剂量当量”-拉德（Rad）等于被照射生物机体的吸收剂量-雷姆（Rem）与该射线相应的修正系数（RBE）的乘积（对X和γ射线来说修正系数等于1）()
55.直线加速器的输出强度要比同样能量的电子感应加速器的输出强度要大许多倍。（）
56.192Ir射线源产生的射线主要成分是能量几乎呈连续分布的“白色Χ射线”。（）57.在显影过程中，KBr中的Br离子被吸附在AgBr表面形成负电层，因而能排斥显影剂负离子对未曝光的AgBr的还原作用，防止灰雾生成。（）58.胶片剂量计和袖珍剂量笔的工作原理均基于电离效应。（）
59.对电子加速器产生的Χ射线束，不宜用铅作过滤材料，原因是铅在高能量射线照射下会被激活。（）
60.在射线剂量笔中,两个石英纤维丝带有正电荷,当射线通过时就失去它们的电荷,并且其中一个石英纤维丝向另一个靠拢()61.在X射线管窗口处加滤光板可以滤掉软射线，从而获得线质更加均匀的X射线（）62.像质计是判别射线照像质量和测定照像灵敏度的器件（）
63.闪烁计数器型的辐射仪，是由铊活化的碘化钠单晶、光电倍增管和电子电路构成（）
64.X射线能量取决于X射线管的灯丝电流（）
65.胶片感光的部分越多，显影时耗费的显影液就越多（）
66.射线胶片产生一定黑度所需要的照射量（即伦琴数）与射线线质无关。（）67.当缺陷尺寸小于几何不清晰度尺寸时，影像会被放大，而对比度则降低。（）68.如果信噪比不够，即使增大胶片衬度，也不可能识别更小的细节影像。（）69.在MeV级高能射线照相中，能量越高，则照射场尺寸越大。（）
70.就设备性能而言，在高能射线照相中照射场尺寸显得十分重要，而焦点尺寸显得较不重要。（）
71.密封铅罐中的水位可用中子照相法测定。（）
72.在某一黑度条件下的胶片，其曝光量倒数的104，定义为胶片的感光速度（）73.根据美国核管理委员会（USNRC）规定，对于职业射线工作者来说，人体不同部位的照射剂量不得超过下列指标：全身-头部、躯干、器官、眼睛、生殖腺等为5雷姆/年；手和前臂、脚和关节等为30雷姆/年；全身皮肤为75雷姆/年()74.美国ASTM E94的标准名称是“射线照相检验的推荐操作方法”（）
75.日本JIS Z3104的标准名称是“焊缝射线照相检验技术的标准评定方法”()76.射线照相的灵敏度由射线底片的对比度和清晰度两个指标来确定（）77.｜△D｜≥｜△Dmin｜时，才能发现缺陷（）
73.对某一曝光曲线，应使用同一类型的胶片，但可更换不同的X射线机（）76.X射线的能量取决于射线管中电子飞向阳极的速度()77.伽玛射线的强度取决于射源的比活度（）
78.硬X射线比软X射线的波长短、传播速度快，所以硬X射线具有更高的能量（）79.像质计是用来鉴定照相技术和胶片处理质量的器件()80.当固有不清晰度不大于几何模糊度时，只要改善几何模糊度，仍可得到高清晰度的底片（）
81.射线透过工件的两个不同厚度区域的强度比值称为工件对比度()82.连续X射线透过工件后，虽然强度减弱了，但线质不变（）83.高能X射线比低能X射线更易于使胶片感光（）84.散射线影响底片的对比度和清晰度，从而降低灵敏度()85.37x1011Bq的铱192源经过五个半衰期后，仅剩115.625x109Bq，由于能量太低，不能继续使用（）
86.个人剂量笔的读数是射线照射量的累积值()87.伽玛射线透过物质的两个半值层后，其强度仅为透过前的四分之一()88.在X射线管中，高速运动的电子与靶相撞，能够产生连续X射线，在特定的情况下也能产生特征X射线()89.含氢元素的物质对中子射线有较强的衰减作用()94.如果X射线和伽玛射线的波长相同，那么它们具有相同的性质()95.所谓对比度，就是指一张射线底片上两个相邻区域之间的黑度差()96.不同感光速度的工业X光胶片的基本区别在于溴化银的颗粒大小()97.对于管电压低于150KV的X射线，铅箔增感屏不能起到增感作用()100.在射线检测中应用的X射线、伽玛射线、中子射线，从本质上来说都属于电磁波（）
101.康普顿效应中，散射光子的波长大于入射光子的波长()102.透过物体后的射线，其能量减弱到入射能量一半时的物体厚度称为半值层（）103.射线强度的衰减公式：I=I0e-Ex，适用于单色、宽束X射线或伽玛射线（）104.新的或长期停止使用的X光机，使用前要对X光管进行“训练”，其目的是为了提高X光管的真空度()105.在无损检测中应用的伽玛射源除了最常用的钴60和铱192、铯137以外，还有75Se、169Yb、170Tm和153Gd()106.钴60的半衰期是5.3年()107.精确地说，铱192的半衰期是74.4天()108.75Se（硒75）的半衰期是118天()109.169Yb（镱169）的半衰期是31天()110.170Tm（铥170）的半衰期是129天()111.153Gd（钆153）的半衰期是242天()112.铯137的半衰期是33年()113.照射量单位“库仑/千克”只适用于Χ射线或γ射线。不能用于其它射线。（）114.当X或γ射线源移去以后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残留极低的辐射。（）
115.被照体离焦点越近，Ug值越小（）
116.管电压一定，曝光量=管电流×曝光时间（）
117.X射线穿透相同厚度的物体时,衰减系数μ愈大,穿透率I/I0愈大,X射线的波长愈长μ愈小,穿透物质的原子序数愈大μ愈小,穿透物质的密度愈高μ愈小()118.对于相同物体,易于透过的X射线其线质软,硬X射线比软X射线的波长长,衰减系数大,半值层薄()193.对不同种类的放射性同位素，高活度的同位素总是比低活度的同位素具有更高的辐射水平。（）
194.放射性同位素的原子核数目减少到原来一半所需要的时间称作半衰期。（）195.在某种材料中，入射射线强度减少到原来一半所需要经过的距离称作该射线对该材料的半值层。（）
196.高速电子与靶原子的轨道电子相撞发出X射线，这一过程称作韧致辐射。（）197.一能量为300KeV的光子与原子相互作用,使一轨道电子脱离轨道,且具有50KeV动能飞出,则新光子的能量是250KeV()198.含氢元素的物质对中子射线具有较强的衰减作用。（）
199.照射量只反映X或γ射线对空气中的电离本领，而吸收剂量可反映不同性质的物质吸收辐射能量的程度。（）
200.从X射线或γ射线防护角度上讲，可认为在数值上1伦琴相当于1拉德,相当于1雷姆。（）
201.X射线机采用高频电路的优点能将几乎所有的电源瞬变和干扰消除，KV，mA读数精度较高。（）
202.实验表明，胶片颗粒性对平板孔型像质计中小孔影象显示的影响，要比对线型像质计中金属丝影像的显示影响小得多（）
203.新购置或放置较久的X光机使用前要进行“训练”的主要原因是为了吸收射线管中的残留气体（）
204.X射线照相时应尽量采用金属增感屏，因为它与荧光增感屏相比，具有更高的增感系数（）
205.在X射线机窗口前装滤光片的目的是吸收软X射线、增大宽容度和减少散射线对底片的影响（）
206.安装阳极靶时，通常要倾斜一定角度，使该实际焦点小，而有效焦点大（）207.新购置或搁置较长时间不用的X光机使用前要进行开机“训练”，这是为了排除机头绝缘油中的气泡（）
208.像质计是用来鉴定照相技术和胶片处理质量的器件（）209.新购置或长期停用的X光机使用前要进行“训练”，这是为了排除冷却油中的气泡，提高冷却油的绝缘性能（）
210.在X射线实时成像中，射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关，而与曝光时间无关。（）
211.对不同型式的像质计来说，只要采用相同的透照技术，像质计灵敏度的数值一般都相同。（）
212.在实际使用的焦距范围（100～1000mm）内，焦距的变化对散射比的数值几乎没有影响。（）
213.只要底片达到特定的黑度值(如最佳黑度值)，而不管μp/1+n如何，底片上可识别的象质计金属丝直径必然最小。()214.采用荧光增感时，由于“互易定律失效”，不能根据曝光因子公式修正透照参数。（）
215.滤板厚度改变时所绘制的Χ射线胶片特性曲线形状和位置均会改变。（）216.透照有加强高的焊缝时，所选择的“最佳黑度”就是指能保证焊缝部位和母材部位得到相同透度计灵敏显示的黑度值（）
217.用2，5，8，18和31MeV这些高能Χ射线透照大厚度工件时，可以达到的探伤灵敏度几乎相同。（）
218.使用γ射线或高能Χ射线透照厚工件时，胶片类型和胶片黑度的选择十分重要。（）
219.采用不同的透照方法能获得相同的金属丝像质计灵敏度，但不一定能给出相同的裂纹检出灵敏度。（）220.采用换算的方法，可将某种材料制作的像质计用于不同吸收系数的材料透照时的像质评价。（）221.使用衬度较低的射线胶片，必要时采用单面乳剂胶片，可增大透照厚度宽容度。（）
222.实验证明，焊缝余高和母材区的散射比是不一致的，一般来说，余高中心部位的散射比大于母材区的散射比（）223.荧光增感屏或金属荧光增感屏，由于荧光亮度产生的感光作用与接受的射线照相量率的大小是不成正比的，因此照射量率低的时候，曝光时间比通常计算所得的要高，这种现象称之谓“反比定律失效”（）
224.高能Χ射线发生器能产生能量值很高的射线,因此能检测大厚度的工件,但它的缺点是焦点较大,能量转换效率较低()225.用强光观察高黑度的底片时，由于界限识别对比度△Dmin增大，从而扩大了可识别的黑度范围（）
226.为了提高射线照相的对比度，在照相胶片选定以后，选用的射线能量越低越好()227.缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比()228.透照某工件，采用金属荧光增感，管电流5mA，透照时间4分钟，获得底片黑度为1.8，若其他条件不变，把管电流改为10mA，透照时间改为2分钟，底片黑度仍不变()229.当选用100KV-200KV的管电压进行透照时，对铅增感屏的增感系数是不变的()230.透照同一工件，铅箔增感比荧光增感获得的底片清晰度高而对比度低()231.要在一张射线探伤底片上同时显示出材料厚度不等的影像，必须采用低电压和荧光增感()232.手工冲洗胶片时，如果没有停影液可供使用，则可以将胶片直接放入定影液（）233.手工冲洗胶片时，如果没有停影液可供使用，则可以将胶片显影时间缩短一分钟后直接放入定影液（）
234.手工冲洗胶片时，如果没有停影液可供使用，则可以将胶片先在活水中至少冲洗2分钟，然后放入定影液（）
235.防止底片产生水斑的方法是将湿底片快速干燥（）
236.防止底片产生水斑的方法是先将湿底片在润湿液中浸
一、两分钟（）237.防止底片产生水斑的方法是使用新鲜的定影液（）238.防止底片产生水斑的方法是延长水洗时间（）239.未焊透和未熔合的主要区别是产生原因不同，因此缺陷的形状和产生部位也不同（）
240.在底片上观察透度计金属丝时，应从粗丝开始向细丝方向（）241.铅增感屏的剥落部位，在底片上的黑度大（）
242.射线照像质量等级是根据射线源(能量),胶片和增感屏的不同组合来划分的()243.对于γ射线探伤机，根据不同需要，放射源传输装置的长度应尽可能减短，每次照相后，放射源必须能立即返回源容器并进入关闭状态（）244.进行γ射线探伤作业时，必须考虑γ射线探伤机和被检物体的距离、照射方向、时间和屏蔽条件，以保证作业人员的受照剂量低于年剂量限值，并应达到可以合理做到的尽可能低的水平（）
245.常见的金属增感屏按金属箔材料的不同分为如下几类：铅屏；钢屏；铜屏；钽屏；钨屏()246.金属增感屏是由金属箔与衬纸紧密胶粘制成的()247.金属增感屏的金属箔是由铅、钢、铜、钽或钨等金属分别轧制而成的()248.金属增感屏衬纸的材料可以是纸质的、塑料的或其他适宜的非金属材料()249.金属增感屏（金属箔或衬纸）的表面应光滑清洁和平整()250.金属箔的表面不应有肉眼可辨的孔洞、划痕、擦伤、皱纹、油污、氧化等()251.金属增感屏的表面质量可用肉眼在白光下进行检查()252.晶粒较粗大的材料，在一定的射线透照条件下，射线底片上可能产生衍射斑纹()253.用偏心内透照法100%检验容器的环焊缝，当焦距大于容器外半径时，为了防止漏检，应将搭接标记放在胶片侧()254.环焊缝中横向缺陷的检出率，在焦距相同的情况下，内照法优于外照法()255.一般来说，曝光量只有选择在胶片特性曲线的直线部分才易于发现缺陷()256.透照容器环焊缝时选择焦距的原则是：采用内透照法应优先考虑厚度比K和失真角θ；采用外透照法应优先考虑几何不清晰度Ug（）
257.要在一张底片上显示出母材不等厚的焊缝影像，必须采用低电压和荧光增感（）258.为了获得高衬度和高清晰度的射线图像，在选择X射线机时，焦点的有效面积应尽可能大（）
259.当设计低压X射线管时，为了考虑到滤波、效率、散热等因素，X射线管的窗口一般采用铜合金制成（）
260.采用中子照相法时，其曝光需要先经过转换屏转换，然后再使用X射线胶片曝光()261.采用中子照相法时，其曝光方法是利用荧光增感屏+X射线胶片曝光（）
262.一般采用钴60照射钢材时，适用的检查厚度范围在270毫米以内或其当量厚度（）
263.钴60的半衰期为5.3年，如该放射源已存放三年，则透照时的曝光时间应增加约70%（）
264.铱192的半衰期为75天，若目前检验工件的最佳曝光时间为20分钟，则经过150天后，在相同的摄影条件下要达到同样的黑度，曝光时间需要120分钟（）265.假定管电压和曝光时间一定，在焦距500毫米和管电流5毫安的情况下可得到曝光适宜的底片，若把焦距增加到1000毫米，则应采用10毫安的管电流才能得到相同的曝光量（）
266.已知铱192源的放射性强度为10居里，在焦距400毫米时可得到正确的曝光量，若其他条件不变，把焦距增加到800毫米，则要求更换放射性强度为60居里的新源（）
267.对于管电压和管电流都不变的某一曝光量，当焦距从1200毫米减少到800毫米时，其曝光时间将从原来的10分钟缩短到4.4分钟()268.已知铱192源在距离1米时的曝光时间为60分钟，如果把曝光时间缩短为15分钟，则需要将距离缩短到0.25米（）
269.在胶片特性曲线上连接给定两点密度的直线的斜率称为曝光范围（）270.根据胶片特性曲线上的斜率可以判别胶片的密度（）271.通过增大焦距，可以起到降低底片衬度的作用（）272.利用仪表测量法可以测定X射线管的焦点（）
273.用铅箔做增感屏时，若X射线管电压太高，会产生磷光现象（）274.若仅从高清晰度的需要出发，焦距应尽可能长()275.在X射线管窗口处加装滤光板可以使X射线强度均匀化（）
276.铅的密度是11.4，钢的密度是7.8，铅的密度约是钢的1.5倍，用220KV的X射线进行照相时，2.5mm厚的铅吸收相当于30mm厚钢的吸收，因此铅的吸收是钢的24倍（）277.使用铅或铅化锑高原子序数增感屏的目的是为了降低摄片的条件和降低对底片的要求（）
278.关于底片清晰度，它与焦点大小和物体至胶片的距离成反比（）279.粒度大的X射线胶片其照相的清晰度比粒度小的胶片差()280.强度一定的两种同位素源，若其放射性比活度值不同，则对放射性比活度值较高的源来说，其半衰期比放射性比活度值低的源长（）
281.提高荧光屏观察法（即时射线成像）灵敏度的主要困难是成本高和速度慢（）282.表达式：（毫安x时间）/距离平方，称之为照相的对比度（）283.表达式：（毫安x时间）/距离平方，称之为互易定律（）
284.在X射线管和胶片距离一半处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板，这是用来测量软化X射线的能量（）
285.在试样周围放置铅板的目的是产生较短波长的X射线辐射（）286.X射线照相时使用的电压值高或低，其衬度不变（）
287.胶片的增感因子在40-400KV之间的变化情况是随着电压增大，增感因子增大（）288.胶片的增感因子在40-400KV之间的变化情况是随着电压增大，增感因子变小（）289.如果荧光增感屏的种类一定，则感光速度主要取决于荧光物质的颗粒度，颗粒越大，感光速度越慢（）
290.根据黑度D的定义，其数学表达式为：D=lg(L/L0)式中：L0-透过底片前的光强度；L-透过底片后的光强度（）
291.在胶片背面放一个“B”铅字，曝光后冲洗出来的底片上出现该铅字的影像，说明对背散射的防护适当（）
292.工件内部如有一面积型缺陷，当该缺陷面与射线投照方向成90°夹角时，在底片上的影像最清晰（）
293.220KV的X射线对钢和铜进行射线照相，两者的厚度当量系数为1:1.4，若以12mm的铜板进行射线照相时的曝光条件对钢进行射线照相，则该钢板的厚度应为25mm（）294.当用观片灯观察底片时，为了获得更直观的效果，在曝光时采用不同方向摄取两张底片的特殊照相方法，称之为立体射线照相法()295.在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为深度定位视差法()296.在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为立体射线照相法（）
297.在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为空间投影法（）
298.定影液使用一段时间后，由于定影液中可溶解的银盐浓度增加，导致定影效果下降()299.定影液使用一段时间后，由于定影液成分被挥发，导致定影效果下降（）300.荧光增感屏经常受到强光照射或紫外线照射后，会导致颜色改变和丧失一些光泽()301.荧光增感屏因为经常受到强光照射或紫外线照射导致颜色改变和丧失一些光泽时，可以用弱射线照射使其恢复原有的状态（）302.在制作胶片特性曲线时，如果增加显影时间，会使胶片特性曲线变得更陡，并且向左移动()303.在制作胶片特性曲线时，如果增加显影时间，会使胶片特性曲线变得更陡，并且向右移动（）
304.采用高KV值X射线照相法的特点是能获得较高的对比度（）
305.采用高KV值X射线照相法的特点是适用于厚试样或吸收系数大的试样的照相()306.当采用高KV值X射线照相法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏()307.当采用荧光屏观察法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏（）308.一般用于荧光屏观察法的观察窗口是用硼硅酸玻璃制成的（）309.一般用于荧光屏观察法的观察窗口是用光学玻璃制成的（）
310.当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但是其强度的变化只是大致与管电流的变化成比例，而不能完全按比例变化，这是因为波长的变化不完全成比例（）
311.当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但是其强度的变化只是大致与管电流的变化成比例，而不能完全按比例变化，这是因为管电压和X射线设备的电压波形会随着负载发生变化()312.当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但是其强度的变化只是大致与管电流的变化成比例，而不能完全按比例变化，这是因为电流在线性比率上才能改变（）
313.当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但是其强度的变化只是大致与管电流的变化成比例，而不能完全按比例变化，这是因为散射线不能按比率变化()314.观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为底片高度曝光的原因造成的()315.观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为X射线强度太高的原因造成的()316.观察底片时，要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为背散射的原因造成的()317.由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应，因此散射的特殊表现形式是底片的衬度差()318.由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应，因此散射的特殊表现形式是底片上出现斑点()319.拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用荧光增感屏法()320.拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒内同时装两张相同的胶片重叠曝光()321.拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒内同时装两张具有不同感光速度的胶片重叠曝光()322.如果放射源的尺寸较大，为了获得质量较高的底片，可以考虑增大射源至胶片的距离()323.如果放射源的尺寸较大，为了获得质量较高的底片，可以考虑采用感光速度快的胶片()324.射线照相时，底片边缘未经直接曝光而出现黑度较高的区域，这是由于试件几何形状不规则引起的()325.射线照相时，底片边缘未经直接曝光而出现黑度较高的区域，这是由于铅屏蔽引起的()326.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是胶片本身质量有问题()327.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是受到宇宙射线曝光()328.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是暗盒边缘处漏光()329.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是受到散射线照射()330.底片上产生树枝状影像的原因是显影液搅拌不均匀()331.底片上产生树枝状影像的原因是装拆胶片时摩擦产生静电火花放电()332.使用透度计的目的是要知道X射线和γ射线的穿透特性的好坏()333.使用透度计的目的是要知道所透照的底片质量好坏()334.线状透度计和孔型透度计相比较，线状透度计难以看得清()335.线状透度计和孔型透度计相比较，孔型透度计容易看得清()336.工业射线检测使用的胶片与一般胶片之间最大的差别是双面涂乳剂()337.工业射线检测使用的胶片与一般胶片之间最大的差别是单面涂乳剂()338.胶片经曝光后产生的潜影能够被肉眼观察到()339.胶片经曝光后产生的潜影在红灯下能够被肉眼观察到()340.确定胶片密度和胶片速度的方法是利用特性曲线进行比较()341.确定胶片密度和胶片速度的方法是通过与一张已知速度的胶片进行比较()342.未经射线曝光的胶片经暗室处理后，发现底片上存在模糊的淡黑色，这称之为胶片的本底化学灰雾度()343.钢板厚度15毫米，双面焊冠之和为5毫米的焊接件，在底片上能发现最小直径为0.4毫米的钢丝透度计，此时所达到的灵敏度即是约为2.7%()344.在进行焊缝射线照相时，线型透度计一般是放置在钢板上面()345.在进行焊缝射线照相时，线型透度计一般是放置在焊缝上面()346.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以提高管电压并使用荧光增感屏()347.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以降低管电压并使用铅箔增感屏()348.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以提高管电压并使用铅箔增感屏()349.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以降低管电压并使用荧光增感屏()350.对显影液添加补充液时，一般在添加的补充液量达到原来显影液量的4倍时，该显影液应该报废，而不应无限制地添加补充液()351.对显影液添加补充液时，一般在添加的补充液量达到原来显影液量的7倍时，该显影液应该报废，而不应无限制地添加补充液()352.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是裂纹()353.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是未焊透（熔入不足）()354.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是夹杂()355.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是疏松()高级无损检测技术资格人员-射线检测考题汇编 问答题
1.射线可分为哪几类，对于工业探伤的射线有哪几种？ 答：射线可分为以下几类：
(1)Χ射线和γ射线。它们都是波长很短的电磁波，按波粒二相性观点，也可以看作是能量很高的光子流。Χ射线是高速运动的电子撞击金属产生的；γ射线是放射性同位素在γ衰变过程中从原子核内发出的。
(2)电子射线和β射线。它们都是高速电子流。电子射线是通过加速器加速电子得到的；β射线是放射性同位素在β衰变过程中从原子核内发出的。
(3)质子射线、氘核射线和α射线。它们都是带正电的粒子流，质子是普通氢原子核1H1；氘核是氢同位素氘2H1的原子核，由1个质子与1个中子构成；α粒子是氢原子核4He2，由2个质子与2个中子构成。质子射线与氘核射线可利用回旋加速器或静电加速器得到，α射线是放射性同位素在α衰变过程中从原子核内发出的。(4)中子射线。它是高速中子流，可从原子反应堆中获得，也可通过加速器获得，或从放射性同位素-252中获得。
目前用于探伤的主要是Χ射线、γ射线和中子射线。其中Χ射线和γ射线广泛用于工业探伤，中子射线用于特种检验。
2.什么叫连续Χ射线的有效能量？为什么连续Χ射线穿透物质后有效能量会增大？答：如果某一单能射线的吸收系数与连续Χ射线在特定厚度范围内平均吸收系数相等，便可用此单能射线的能量来表示连续Χ射线的平均能量，称作有效能量。连续Χ射线包含有能量不同的光子，在穿透物质过程中，能量较低的光子较容易被物质吸收，因此，在射线透过物质后，不同能量射线所占的强度比率发生变化，低能量射线所占比率减少，从而使透过射线的平均能量或有效能量增大。3.放射性同位素衰变过程中的辐射有哪几种形式？答：放射性同位素的衰变幅射主要有以下几种形式：(1)仅幅射α粒子,(2)仅幅射β粒子,(3)既幅射α粒子又幅射γ射线,(4)既幅射β粒子又幅射γ射线
4.射线防护有哪几种基本方法？每种防护方法的基本原理是什么？
[提示]：射线防护方法有三种，即距离防护、时间防护、屏蔽防护，距离防护--射线剂量率与离射线源的距离平方成反比，因此尽量在距离射线源远的地方从事射线探伤工作；时间防护--人体接收射线剂量与时间成正比，尽量缩短接收时间以减少对人体的危害；屏蔽防护--射线穿过屏蔽材料时，其能量会衰减，尽量在有安全屏蔽的条件下进行工作
5.影响照相质量的散射线是如何产生的？答：射线穿过物质时，与物质发生各种相互作用，其结果是除了一部分直接前进的透射线外，还有向各个方向射出的散乱射线以及光电子，反跳电子等。光电子和反跳电子穿透力极弱，大多数被物体自身吸收，即使射到物体外，也很容易被空气吸收，对探伤质量不产生影响。散乱射线中的一部分是由光电效应引发的荧光X射线，这部分射线能量远小于透射线。例如铁的Kβ1荧光X射线能量约7keV，很容易被物体和增感屏吸收，对探伤质量也不产生什么影响。因此影响探伤质量的散射线主要是由康普顿效应和汤姆逊效应产生的，在射线能量很低（小于50keV）范围内，散射线主要由于汤姆逊效应产生，在射线能量较高范围内，散射线主要由康普顿效应产生。
6.简述Χ射线管的结构和各部分作用 答：Χ射线管 阴极 灯丝：发射电子 阴极头：灯丝支座，聚焦电子
阳极 靶：遏制电子，发出X射线 阳极体：支承靶，传递靶热量
阳极罩：吸收二次电子，减少管壁电荷，提高工作稳定性 管壳 连接两极，保持真空度
7.绘出能工作的X射线机的最基本电路图,并标明各部分名称 答:如右图所示。
8.用于X射线检测用的X射线管有哪些类型和种类？答：就焦点大小区分，可分为大焦点、小焦点和微焦点；就结构形式区分有玻璃壳管、金属陶瓷管和波纹陶瓷管；就辐射形式区分有定向曝光和周向曝光（有平靶和锥靶两种），软X射线管，棒阳极等 9.试比较射线检测与超音波检测两种方法的适用范围和局限性
[提示]：应从两种方法的灵敏度高低、检测厚度范围、易发现的缺陷形状以及安全防护和经济性等方面进行比较
10.何谓互易定律失效？它对射线照相有何影响？答：互易定律是光化学反应的一条定律，该定律指出，决定光化学反应产物质量的条件，只与总曝光量相关，即取决于照度和时间的乘积，而与这两个因素的单独作用无关，由于它指出了时间和照度的互易关系，所以称为互易定律，如果与这一定律结论有偏离，则称为互易定律失效。如果不考虑光解银对感光乳剂显影的引发作用的差异，互易定律可引伸为显影黑度只与总曝光量有关，而与照度和时间分别无关。在射线照相中，当采用铅箔增感和无增感时，遵守互易定律。设产生一定显影黑度的曝光量E=I·t，当射线强度I和时间t相应变化时，只要两者乘积E值不变，底片黑度不变。当采用荧光增感时，互易定律将会失效。I与t发生变化时，尽管I与t的乘积不变，底片黑度仍会改变。用公式描述保证底片黑度不变的前提下，曝光量E与射线强度I，时间t的关系，其形式为E=I·tp（p≠1）。互易定律是利用曝光因子公式和平方反比定律修正透照参数的基础，如果互易定律失效，则不能利用曝光因子和平方反比定律修正透照参数，这将使透照参数的选择复杂化。
11.何谓几何不清晰度？其主要影响因素有哪些？答：由于射线源都具有一定尺寸，所以照相时工件轮廓或缺陷边缘都会在底片上产生半影。这个半影宽度便是几何不清晰度Ug,缺陷的几何不清晰度Ug值计算公式为：Ug=db/(F-b),式中：d--射源尺寸；F--焦距；b--缺陷至胶片距离。技术标准中规定的几何不清晰度，通常是指透照中心部位的最大几何不清晰度，计算公式为：Ugmax=dL2/L1 ,式中：L1--射线至工件表面距离；L2--工件表面至胶片距离；d--射源公称有效焦点尺寸。由以上公式可知，Ug值与射源尺寸和工件厚度或工件表面至胶片距离成正比，与射源至工件表面距离或焦距成反比。
12.△D=(-0.434μγσ△x)/(1+n)是计算什么的公式？从这个公式中可以说明什么问题？答：这是计算缺陷（或金属丝透度计的金属丝直径）对比度的完整公式。从这个公式中可以看出影响射线检验灵敏度的主要因素，如：吸收系数μ越大，△D就越大，为此应选用尽量低的管电压；胶片衬度γ越大，△D也越大，为此应选用衬度（对比度）高的胶片和相应的暗室处理条件；几何修正系数σ越大，△D也越大，为此应选用焦点小的射线机和合适的焦距，并尽量使胶片与零件紧贴；△x越大（即缺陷沿射线方向尺寸越大），△D也越大；散射比n越大，则△D就越小，因此应设法降低散射线的影响，以将n降低到最低限度。13.射线辐射防护检测的目的和种类有哪些？ 答：辐射检测的目的是为了控制和判定电离辐射对人体的照射剂量，从而估计照射对人体的影响，以便采取更完善的辐射防护措施，防患于未然，确保放射性工作人员及周围群众的健康和安全，它包括场所辐射监测和个人剂量监测。
14.无损检测中常用的能量范围内的伽玛射线衰减是通过哪种方式产生的？答：光电效应和康普顿散射
15.产生X射线的必备条件是什么？
答：要有一定数量的电子；这些电子沿一定方向作高速运动；在电子前进的路径上，有阻止电子运动的障碍物
16.X、γ射线具有哪些主要特征？答：直线传播的电磁波，速度为光速；不受电磁场的影响；能使胶片感光；能使物质电离；能透过可见光不能透过的物质；具有反射、折射、衍射、干涉等波的性质；有生物效应
17.叙述射线穿过物质发生的三个效应与入射线能量之间的关系。答：低能射线以光电效应为主；中等能量射线以康普顿效应为优势，以光电效应结束；能量大于1.022MeV者，以电子对生成效应为主 18.何谓中子射线？
答：中子射线即中子流，中子是原子核的基本粒子之一，在放射性物质裂变时，有时会放射出中子而形成中子射线
19.对于实用的X射线，为了要用半值层公式，应以什么波长为计算半值层厚度的基准？
答：在管电压一定时，X射线强度最大所对应的波长为计算基准 20.写出窄束射线穿过物质的衰减定律公式，并注明各符号的含义。
答：I=I0e-μd 式中：I0--没有穿透物质某点的射线强度（又称为初始射线强度）；I--穿过厚度为d的试件某点后的射线强度；d--射线穿透试件的厚度；μ--线性减弱系数或称衰减系数
21.何谓放射性同位素？答：在元素周期表上占据相同位置，具有不稳定性的元素，它能自发蜕变成另一种原子核
22.X射线的能量取决于什么？答：X射线的能量大小取决于管电压 23.γ射线的能量取决于什么？答：γ射线的能量大小取决于射线源放射性同位素的种类
24.X光管阳极靶材料由钨换成钼会产生什么结果？答：提高发射X射线的效率；耐热性好
25.绘图说明胶片特性曲线由哪五部分组成？底片黑度应控制在胶片特性曲线的哪个区域？为什么要控制在这个区域？答：AB-迟钝区；BC-感光不足区；CD-正常（适量）感光区；DE-过感区；EF-负感区。底片黑度应限制在正常感光区内，因为在这个区域内底片的对比度大（曝光量有小的差异就能产生较大的黑度差），灵敏度高。26.试述高能X射线的特殊性质。答：穿透力极强，可达500mm；射线焦点小；能量转换高；散射线少，清晰度高；透照幅度宽。27.X射线管中为什么选用钨靶？
答：高速运动的电子撞击阳极靶时，约有1-2%的动能转换为X射线，绝大部分均转化为热能，使靶面温度升高，同时X射线的强度与阳极靶的原子序数有关，所以一般工业用X射线管的阳极靶选用原子序数大、耐高温的钨来制造
28.散乱射线是怎样产生的？它对底片有何影响？透照时如何遮挡？答：散乱射线是由射线与物质作用而产生的，如果来自工件内部，处于胶片前方，称为前方散射线，射线透过工件和胶片后打到地板、墙壁上等，均会产生散乱射线，由于它来自胶片背面，故称背面散乱射线（包括侧壁散乱射线）；散乱射线使底片产生附加黑度，严重时全部变黑，影响底片的对比度和清晰度，降低底片的灵敏度；遮挡的方法有：采用限光器（准直器）或采用铅板在射线源侧遮挡胶片附近不需透照的部位，从而减少散乱射线对底片的影响；采用金属增感屏，前屏吸收一部分前方散乱射线，后屏减少背面散乱射线的影响；透照较厚工件时，暗盒后面用薄铅板（铅垫板）遮挡背面散乱射线；被透照工件周围尽可能保障有一定的空间，避免存放与透照无关的杂物以避免侧壁散乱射线影响。
29.高能X射线设备的主要原理是什么？答：利用超高压、强磁场、微波等技术对射线管的电子进行加速，从而获得能量强大的电子束，轰击靶面而获得高能X射线 30.X射线管焦点的尺寸大小与什么有关？
答：主要取决于X射线管阴极灯丝的形状和大小，使用的管电压和管电流对焦点大小也有一定影响。
31.周向辐射X射线管有哪两种阳极靶？答：平面阳极和锥体阳极两种形式 32.用于狭窄部位摄片的X射线管阳极是什么样的？答：棒状阳极
33.X射线荧光屏法的优缺点是什么？答：优点是：检验速度快，检验结果可即时性观察；操作简单，检测成本低；无胶片处理过程；可改变照射角度来全面观察工件内部质量。缺点是：检验结果较难做全面的永久性记录；工作人员容易疲劳；检验灵敏度较低；受穿透力限制，一般只适用于较薄的工件。
34.辐射场限制区是如何测量的？答：X射线机的辐射场尺寸是指从X射线管焦点上发出的X射线在规定距离d处，垂直于输出窗轴线的平面上，X射线辐射场的大小可用曝光拍片法测量，胶片取得足够大，可将辐射场的限制区拍摄下来，以底片最大黑度降低20%构成的边界为辐射场的尺寸
35.伽玛射线探伤装置主要由哪四部分构成？答：射源、保护罐（用铅或贫化铀制成）、操作机构和支撑装置
36.中子探伤设备包括哪几部分？答：中子源、慢化剂、准直器和像探测器
37.射线防护的基本原则是什么？答：采取一些措施，把射线工作人员以及周围其他工作人员所受的射线剂量降低到最高允许剂量（也叫安全剂量）以下，确保人身安全。38.工业电视应配什么样的X射线机？包括哪些主要部件？答：应配备小焦点、恒电位的X射线机，包括的部件有图像增强器、摄像管及电视显示器，最新的工业电视则采用了CCD(电荷耦合器件)或CMOS来接受X射线并转换成电信号送入电脑进行信号处理及重构图像，在电脑屏幕上显示射线透视的结果
39.什么是软射线技术？答：使用软X射线管，产生的X射线束直接从铍窗口射出，避免了普通X射线管的固有滤波，能基本保持原有波长且能量较低的X射线，称为软X射线，利用其进行透照的技术，即是软射线技术，多用于人体软组织、轻金属和非金属的射线检测
40.选购X光机时，应考虑哪些条件？答：应考虑以下条件：①首先要选择穿透能力能满足工作厚度的要求；②能量相同时，尽量选小焦点的；③要考虑工作量的大小，连续生产还是断续生产；④要考虑工件的材质和形状，即是有色金属还是重金属，轴类、板材还是筒类等去选择相应的X射线探伤机种。
41.X射线机的常见故障有哪些？答：常见故障有：①X 射线管松动；②保险丝溶断；③电流表没指示或指示数很小；④电缆断线；⑤自耦变压器老化、高压指数达不到额定值；⑥发生器保护罩漏油，高压跳火；⑦X射线管失效；⑧阳极过热，毫安表针摆动较严重；⑨马达不转，发生器局部发热；⑩X射线管灯丝预热时间不够，而使灯丝老化损坏。42.绝缘油绝缘强度低劣时有何现象？
答：绝缘油绝缘强度低时，送高压后，电流值不规则的波动，一般不至达到跳闸程度。43.什么是绝缘油的绝缘强度？答：油样在油杯内2.5mm间隙时的击穿电压的多次平均值，就是该油的绝缘强度。
44.X射线机要求什么样的绝缘油，有哪些具体要求？
答：X射线机多用45#变压器油、绝缘强度要在50kv以上，还要求有燃点高、凝固点低、挥发性低、粘度适中等。
45.经常熔断电源保险丝的故障原因可能有哪些?答:X射线管真空度不良,绝缘油里有气泡或绝缘强度降低,高压电路元件损坏,造成对地放电或短路,调压器等低压电路元件绝缘降低,造成对地短路,电源接错等
46.高压可接通,但无管电流的故障原因可能有哪些?答:X射线管或高压整流管灯丝断或接触不良,高压变压器断线或接触不良,高压电缆与插座接触不良,毫安表损坏无指示,毫安调节器断路等
47.试述底片影象颗粒度及影响因素答：底片影像是由许多形状大小不一的颗粒组成的，人们观察影像时在感觉上产生的不均一或不均匀的印象称为颗粒性，用仪器测定由于影像不均匀引起的透射光强变化，其测定结果称为颗粒度。由于颗粒大小的分布是随机的，所以颗粒度一般是采用均方根离差σ来度量。目前较通用的方法是用直径24μm的扫描孔测定颗粒度。肉眼所观察到的颗粒团实际上是许多颗粒交互重迭生成的影像。影像颗粒与胶片卤化银颗粒是不同的概念，影像颗粒大小取决于以下因素：①胶片卤化银粒度；②曝光光子能量；③显影条件。48.试推导射线照相主因对比度（物件对比度）的表达式
答：已知宽束射线透过厚度为T的试件,其透过射线强度Ip=(1+n)Ioe-μT--(1),当试件中某一局部区域厚度有变化,射线穿过的厚度差为△T,该区域透过射线的强度也会发生变化,其强度增量为△I,则有：
△I=Ioe-μ(T-△T)-Ioe-μT = Ioe-μT(eμ△T-1)--(2),(2)÷(1)得： △I/Ip= [Ioe-μT(eμ△T-1)]/[(1+n)Ioe-μT]=(eμ△T-1)/(1+n)--(3),而eμ△T可展为级数
eμ△T=1+μ△T+(μ△T)2/2！„„+(μ△T)n/n！„„--(4),近似取级数前两项代入(3),得：
△I/Ip=[(1+μ△T)-1]/(1+n)=μ△T/(1+n)--(5)49.写出透照厚度差为△T的平板底片对比度公式和象质计金属丝底片对比度公式，说明公式中各符号的含义，并指出两个公式的差异 答：厚度差为△T的平板底片对比度公式：△D=-0.434μpγ△T/(1+n)--(1)象质计金属丝底片对比度公式：△D=-0.434μpγσ·d/(1+n)--(2),式中：μp--考虑胶片速度系数的射线吸收系数；γ--胶片反差系数；σ--几何修正系数；△T--平板透照厚度差；d--象质计金属丝直径；n--散射比。
两个公式的差别在于几何修正系数σ，由于透度计金属丝直径d远小于焦点尺寸，在一定透照几何条件下，焦点尺寸会影响金属丝影像对比度，所以公式(2)引入σ对底片对比度进行修正。当缺陷尺寸大于焦点尺寸时，焦点尺寸对底片对比度的影响可忽略不计，所以公式(1)中，没有几何修正系数σ
50.什么是几何修正系数，写出其计算式并说明其实用意义
答：几何修正系数σ是考虑射源焦点尺寸在一定的透照几何条件下,会对小缺陷影像对比度产生影响而提出的,其公式是按透度计金属丝的情况推导的。对金属丝透度计按左图中表示的情况进行透照,到达胶片上P点的射线将通过金属丝截面的abcd部分,近似认为射线通过的是a1b1c1d1部分,并认为在焦点尺寸f范围内射线强度无变化。
设金属丝直径为d,金属丝截面圆为O,在距圆心x的一点上,射线穿过金属丝b2d2两点，设其穿透厚度为d“,则有 d”=(d2-4x2)1/2 连接胶片上P点与焦点两端,设两直线与以O为原点的直线的横轴分别交于x1和x2,则x1和x2之间的距离d'可用下式表示：d'=f·l/L,式中：l--金属丝中心至胶片距离；L--焦点至胶片距离。
底片上P点所产生的黑度差△D是由于焦点上各点发出的射线穿过a1b1c1d1金属丝截面,强度减小而产生的,而焦点上各点发出的射线穿过金属丝的厚度不一样,所以穿透厚度d“是一个变量,设dm为d”的平均值,则有：
当d'＜d时,积分上下限为X1=-d'/2，X2= d'/2代入,得：d“m＝{[1-(d'/d)2]1/2 +(d'/d)-1sin-1(d'/d)}·(d/2)
当d'≥d时,积分上下限为X1=-d/2，X2= d/2代入,得：d”m=(πd/4)(d'/d)-1,修正系数σ= d"m/d，所以有：
d'＜d：σ=(1/2){[1-(d'/d)2]1/2 +(d'/d)-1sin-1(d'/d)} d'≥d：σ=(π/4)(d'/d)-1 σ值随d'/d变化情况见图b,由图可见：当d'/d接近1时,σ值会急剧下降,也意味着小缺陷的对比度会随之减小,在实际透照中,为保证小缺陷的对比度,应考虑采用d'/d≤0.5,σ≈1的几何布置,此时焦距L的计算公式推导如下：
已知：d'/d≤0.5,则d'≤0.5d,又d'=f·l/L,∴f·l/L≤0.5d,则L≥2fl/d,式中：L-焦距；f-焦点尺寸；l-透度计至胶片距离；d-要求能够识别的金属丝直径
51.固有不清晰度大小与哪些因素有关？答：固有不清晰度Ui值受以下因素影响：(1)射线的质。透照射线的光子能量越高，激发的电子在乳剂层中的行程就越长，固有不清晰度也就越大。
(2)增感屏。据文献报道：在中低能量射线照相中，使用铅增感屏的底片的固有不清晰度大于不使用铅增感屏的底片；增感屏厚度增加也会引起固有不清晰度增大；在γ射线和高能量Χ射线照相中，使用铜屏、钽屏、钨屏、钢屏的固有不清晰度均小于铅屏。
(3)屏与胶片贴紧程度。透照时，如暗盒内增感屏和胶片贴合不紧，会使固有不清晰度增大。为改善屏与胶片贴合情况，提出使用一种真空暗盒。固有不清晰度与胶片的类型和粒度无关，与暗室处理条件无关。52.实际照相中，底片上各点的Ug值是否变化？有何规律？
答：实际照相中，底片上不同部位影像的Ug值是不同的，但为了简化计算，便于应用，有关技术标准仅以透照中心部位的最大Ug值作为控制指标。对不同部位Ug值的变化忽略不计。底片上不同部位的Ug值变化规律如下：
(1)焦点尺寸变化引起Ug值变化，由于Χ射线管的结构原因，沿射线管轴向不同位置焦点投影尺寸是变化的。阳极侧焦点小，阴极侧焦点大。因此底片上偏向阳极一侧的部位Ug值小，偏向阴极一侧的部位Ug值大。
(2)L2/L1变化引起Ug值变化，透照纵缝时，被检区域各点的L2/L1值是定值，Ug值不发生变化。但在透照环缝时，各点的L2/L1值是变化的，因此Ug值也发生变化。例如，环缝外透法和F≠R的环缝内透法，端部的L2/L1值都比中心部位要大，因此端部的Ug值也会增大。53.试述Ug与Ui的关系以及对照相质量的影响 答：可简要归纳为以下几点：(1)射线照相中，通常主要考虑的是几何不清晰度Ug和固有不清晰度Ui，两者共同作用形成总的不清晰度U，比较广泛应用的，表达U，Ug，Ui的关系式是：U2=Ug2+Ui2(2)由于U是Ug和Ui的综合结果，所以在Ug值已小于Ui值的情况下，再进一步减小Ug值，以期望减小U，其效果是不显着的，从而是没有意义的。(3)在Χ射线照相中，Ui值很小，影响照相清晰度的决定因素是Ug。
(4)在60Co，137Cs及192Irγ射线照相中，Ui值较大，对照相清晰度有显着影响，为提高清晰度，宜尽量减小Ug，使之不超过Ui值。54.透照有焊冠的焊缝应注意哪些事项？
答：（1）由于焊缝焊冠的存在，底片上焊缝部位黑度D1总是小于母材部位黑度D2，照相时应注意保证D1、D2均在标准允许的黑度范围内。（2）由于底片对比度△D随黑度D的增加而增大，而识别界限对比度△Dmin也随黑度D的增加而增大，因此透照有焊冠焊缝时，通过控制适当的焊缝部位黑度D1和母材部位黑度D2，可使母材部位和焊缝部位能识别的透度计线径相等，此黑度称为有焊冠焊缝透照的最佳黑度。（3）底片对比度随射线有效能量的降低而增大，但另一方面，射线有效能量的降低会使焊缝部位的透射线I1与母材部位的透射线I2的比值大大减小，从而使母材部位的散射线对焊缝部位的影响更严重，其结果是降低了对比度，因此，透照有焊冠焊缝时，焊缝部位的对比度不是单纯地随射线能量的降低而增大，而是在某一线质时，焊缝部位的底片对比度达到最大值。此线质称为有焊冠焊缝透照的最佳线质。
55.指出小口径管对接焊缝射线照相缺陷检出的不利因素，并提出改进措施。答：小口径管焊缝射线照相采用双壁双影法透照，对缺陷检出的不利因素和改进措施有以下几点：(1)双壁双影法透照时，由于射源侧焊缝比胶片侧焊缝离开胶片的距离相差一个管子直径，故射线源尺寸的几何影响较大，使几何模糊度增加，小缺陷对比度降低，为减小射源尺寸对几何模糊度和对比度的影响，可选择焦点尺寸小的射线源，适当增大焦距。(2)透照小口径管时射线的穿透厚度自中心向两端变化很大，易导致底片上中心部位黑度过大，边缘部位黑度过小，为减少被检区域不同部位的黑度差，宜适当提高射线能量，采用“高电压，短时间”的透照工艺。(3)由于管子直径较小，散射线引起“边蚀”效应比较严重。相应的措施是在射线机窗口处加滤板，或采用铅罩屏蔽焊缝以外部分，以减少“边蚀”。(4)双壁双影透照时，焊缝被倾斜投影到胶片上，缺陷影像会发生畸变。为减少畸变，应控制透照角度和椭圆开口间距，间距一般为3～10mm，最大不超过15mm。
56.试述编写射线检测程序书所应包含的内容？答：(1)工艺适用范围(试件种类、焊接方法和类型、厚度等)。(2)工艺编制依据(有关规程、规范、标准、设计规定等)。(3)对探伤人员要求(资格、工作经历、学历、视力等)。(4)设备器材选择(射线机、胶片、增感屏、透度计、暗盒、铅字等)。(5)对工件要求(工序、探伤时机、工件表面状况)。(6)探伤技术要求（质量等级、比例、部位、合格级别)。(7)透照方法(源-胶片相对位置、焦距、划线长度、编号方法、透度计、铅字摆放、散射线屏蔽等)。(8)曝光参数(管电压、管电流、曝光时间等)。(9)暗室处理(配方、程序、条件、要求等)。(10)底片评定(像质鉴定、级别评定、返修规定等)。(11)记录报告(种类、内容、签证、存档及发送规定等)。(12)安全管理规定。
57.散乱射线是怎样产生的？它对底片有何影响？透照时如何遮挡？
答：散乱射线是由射线与物质作用而产生的，如果来自工件内部，处于胶片前方，称为前方散射线，射线透过工件和胶片后打到地板、墙壁上等，均会产生散乱射线，由于它来自胶片背面，故称背面散乱射线（包括侧壁散乱射线）；散乱射线使底片产生附加黑度，严重时全部变黑，影响底片的对比度和清晰度，降低底片的灵敏度；遮挡的方法有：采用限光器（准直器）或采用铅板在射线源侧遮挡胶片附近不需透照的部位，从而减少散乱射线对底片的影响；采用金属增感屏，前屏吸收一部分前方散乱射线，后屏减少背面散乱射线的影响；透照较厚工件时，暗盒后面用薄铅板（铅垫板）遮挡背面散乱射线；被透照工件周围尽可能保障有一定的空间，避免存放与透照无关的杂物以避免侧壁散乱射线影响。
58.射线源和胶片处于工件两面，透照时的像质计应如何放置？为什么？
答：应放置在射线源侧工件的表面上，置于有效受检部分的一端，钢丝横跨且垂直于焊缝，细丝向片子的端部；这样放置时的几何模糊度最大、灵敏度最低，若此灵敏度符合规范标准的要求，则其它部位也能符合要求。
59.在一些压力容器安全监察规程中规定对于厚度较大的焊缝在进行射线照相后还要求进行超声波检测复验，这是为什么？
答：各种非破坏检测方法都有其局限性，射线照像随着板厚的增加，发现小缺陷的能力就越来越差，特别是对于线状缺陷，例如轻微的未焊透（熔入不足）及小裂纹等难以发现，而超音波检测对于线状缺陷是敏感的，为提高检测可靠性，保证产品质量，特别是质量要求高的产品，超音波检测可以弥补射线照像检测的不足。
60.简述判片的一般程序步骤。[提示]应按相应的规范标准要求进行，通常主要包括：检查底片上的各标记符号是否齐全及摆放位置是否合乎要求；测定判片区域的黑度与灵敏度要符合标准要求；评定缺陷的位置、性质、大小、分布状况，按评级标准评出底片级别并作记录；发出报告。
61.曝光条件主要包括哪些内容？答：对一定机器产生的X射线而言，曝光条件包括管电压、管电流、曝光时间和焦距；对射源一定的伽玛射线而言，曝光条件包括曝光时间和焦距。
62.对于水循环冷却油绝缘的X射线机，当高压切断后（已经没有X射线产生），是否能马上关闭机器的油泵？为什么？
答：不能马上关闭油泵，因为X射线产生的过程中有大量电子轰击阳极钨靶而产生很高的热量，所以必须将冷却油泵继续运转10-15分钟，使X射线管的阳极充分冷却后才能关闭总电源、关闭水源。
63.右图所示线路属于何种高压回路？多用于哪些射线机上？ 答：这是半波自整流线路，多用于便携式X射线机上
64.目前工业射线检测中已经应用的伽马射源有哪些？它们各自的半衰期及可检钢厚度范围是多少？答：60Co(5.3年，60-150 mm)；192Ir(74.4天，20-90 mm)；75Se(118天，5-40mm)；169Yb(31天，2-12mm)；170Tm(129天，≤5mm)；153Gd(242天，≤5mm)
65.射线检测的“三个基本要素”是什么？答：射线源、受检物和记录或显示介质。66.选择透照方式时必须确定的事项、几何参数和必须考虑的相关因素是什么？答：选择透照方式时必须确定的事项是：射线源和胶片的位置、射线束照射的方向、透度计和标记的放置、散射线的屏蔽和监测等；必须确定的几何参数是：焦距、一次透照长度、环焊缝100%透照时最少曝光数；必须考虑的相关因素是：几何模糊度、透照厚度比、横裂检出角、纵裂检出角、有效评定长度以及100%透照时相邻两片的搭接长度。
67.射线探伤的组织管理工作主要包括哪几个方面？[提示]①配备足够完成本单位探伤任务的人员，这些人员需经考试合格并取得资格证书；②配备足够完成本单位探伤任务的设备及器材，加强设备维护，保证设备完好；③制定必要的各项规章制度，如：检测程序书、设备维护、人员培训、检测报告、审核及存档制度等；④储备足够数量的探伤用消耗器材（胶片、增感屏、药品等），并认真验收保管好；⑤监督本单位全体人员各负其责，把好质量关。
68.最新的第二代75Seγ射线源有些什么特点？答：是在反应堆中激活的具有热稳定性的金属硒化物，焦点呈准球形，和其他射源相比，在相同活度下其焦点尺寸更小，更适用于小焦距曝光、管道爬行器和接触式射线照相，影像几何不清晰度小，是γ射线透照中等厚度（5-40mm钢），获取较高影像质量的一种新型同位素射源，较铱192和钇169源的半衰期长(118天)，与铱192相比，其发射能谱较软，γ射线照射率常数较小，设定辐射防护禁区较小，对操作者安全等
69.评片时对底片的质量一般有哪些要求？答：底片上应无伪像、划伤、迹痕和其他可能引起评片结论出现差错的影像；底片上应有识别工件的编号、拍片部位编号、定位记号等标志并与工件相对应；底片上应有透度计的影像，透度计规格适当，底片灵敏度符合标准要求；底片黑度应在规定范围内，反差适当。70.画出曝光曲线的示意图，说明制作条件并简述其用途。
答：曝光曲线是给定X射线机在选定工艺条件下（包括胶片类型、增感方式、显影条件、焦距、底片黑度等）制作的，只有在给定的X射线机和相同的工艺条件下才能使用该曝光曲线。有了实际射线探伤工艺条件下的曝光曲线，在射线探伤时，对于不同厚度的工件就可以根据曝光曲线上的穿透厚度直接求得相应的管电压、管电流和曝光时间，这是非常经济、省时和方便的。
71.在评片前首先要检查底片是否合格，其合格要求有哪几项？
答：底片黑度合格、像质指数或像质计灵敏度合格、影像识别要求合格，即定位及识别标记齐全；没有妨碍底片评定的伪像，包括底片的损伤、污迹等。72.以玻壳X射线管为例说明其结构各部分名称及主要作用。
答：玻壳X射线管的内部构造主要包括七个部分，即：铅玻璃罩-保持X射线管内的真空度，吸收软射线；阳极罩-吸收二次电子和软射线；阳极体-支撑阳极靶和散热；阴极头-聚焦电子；灯丝-产生热电子；阳极靶-发射X射线；铍窗-吸收软射线 73.X射线管的种类中，有一种旋转式阳极，它是怎样的？
答：它的阳极是装在一个小的感应电动机轴上，在X射线照射时旋转，这样阳极时刻以“新的靶面”接受电子束的轰击，因此电子束的能量不至于像固定式阳极那样集中于一点，它可把热量散布在阳极的相当大的面积上。由于阳极转动的非常平稳，焦点可以保持形状和位置的稳定。用旋转阳极制成的X射线管不但可以得到很小的焦点，而且可以制成较大的功率，其阳极为一直径约76毫米具有斜边缘的钨盘构成，旋转速度可达到每分钟数千转。
74.什么是X射线管的有效焦点？其焦点形状和尺寸于哪些因素有关？
答：在X射线管中，电子束轰击阳极靶上的实际面积为X射线管的实际焦点，实际焦点在所激发的射线束中心方向（即垂直于X射线管轴线方向）的投影面积称为X射线管的有效焦点，有效焦点的平面可认为在X射线管的轴线上，它是直接影响X射线检验质量的因素，因此X射线机说明书或检测规程上所说的焦点（或称作射源尺寸）都是指有效焦点。X射线管焦点的形状和尺寸，决定于灯丝的形状、尺寸、安装位置以及阳极靶面的倾斜角度。
75.什么是X射线管的容量？答：X射线管允许的最大负荷量就称为X射线管的容量，它等于X射线管在使用时额定最高管电压和额定管电流的乘积（计算管电压时取有效值：U有效=0.707U峰值），即容量P=U有效(千伏)I(毫安)/1000(千瓦)，该容量是指在使用中按规定的冷却方式工作，并且连续工作时间不能超过规定的连续工作时间的情况下。
76.影响X射线管容量的因素有哪些？答：X射线管的负荷容量直接决定于X射线管实际焦点处的工作温度，影响焦点处温度的因素有：实际焦点大小；使用管电压的高低；管电流的大小；X射线管的连续使用时间；在实际焦点上电子束截面的电子密度分布情况；阳极的构造及冷却方式。
77.X射线管为什么要经过训练（老练硬化）处理？答：X射线管的质量优劣及使用寿命都与管内的真空度密切相关，尽管制造时已经达到要求的真空度（一般可达10-7mmHg）,但是管内的结构材料在第一次使用或者长期搁置，或者受到电子轰击或受热时，都有可能从这些物体中逸出气体（“放气”）而降低真空度，导致X射线管不能稳定工作甚至损坏。X射线管的训练实质上是通过从低端开始逐步升高管电压和管电流，使管内的气体分子电离并因被电离出来的质量较大的正离子高速冲向阴极，使得阴极金属发生溅散，这些溅散的金属此时会吸收管内的气体，即“排气”，从而提高管内真空度，保障X射线管稳定工作。因此对于新的或停止工作较长时间的X射线管在正式使用前都必须进行训练处理。
78.为什么在射线检测规范标准中对底片黑度的要求有越来越高的趋势，而且采用的观片灯的亮度液越来越大？ 答：随着底片黑度的提高，其对比度也相应增加，这一关系直到黑度值为3-3.5左右，底片对比度提高后。透照灵敏度也增加了，因此有倾向于要求较高的底片黑度，而为了能够观察高黑度的底片，要求观片灯的亮度也要随之相应加大了。79.X射线硬度对灵敏度有什么影响？
答：X射线的硬度决定于波长，波长越短，硬度越高。X射线检验的灵敏度主要取决于底片的对比度和清晰度，对比度越高，越容易发现缺陷，然而当其他条件固定时，缺陷在底片上的对比度完全取决于主因对比度：IA/IC=eμx（式中IA-透过缺陷处的射线强度；IC-透过缺陷附近材料的射线强度；e-自然对数的底，常数；μ-吸收系数；x-缺陷深度）当缺陷深度一定时，提高主因对比度的唯一途径是增大物质的吸收系数μ，由于μm=CZmλn（式中μm-质量吸收系数；C-常数；Z-物质的原子序数；λ-X射线波长，m和n一般取3），即质量吸收系数与被透物质原子序数的立方和入射X射线波长的立方成正比。当被透物质固定时，吸收系数仅决定于X射线波长。采用较低的管电压时可以得到波长较长的X射线，从而提高了主因对比度，亦即提高了灵敏度，因此在可能的条件下尽量采用较低的管电压，也就是较软的X射线，对提高灵敏度是有益的。
80.焦距对射线检验的灵敏度有何影响？答：主要表现在四个方面：①焦距的大小会引起缺陷投影的畸变，焦距越小，缺陷投影畸变越大，因此从减小缺陷畸变考虑，选用较大焦距为好；②焦距的大小会引起零件沿射线方向厚度的变化，这是由于射线束成圆锥形扩散，引起零件边缘沿射线方向厚度增加，导致零件在底片上的黑度不均匀，用K表示边缘部位与中间部位沿射线方向的厚度比，即K值越大，零件中间部位与边缘部位沿射线方向的厚度差值越大，使底片黑度越不均匀，对射线检验灵敏度影响越大，选用较大的焦距可有效地减小K值（一般要求K值越小越好，最好不超过1.1），对灵敏度有利；③焦距大小队几何模糊度的影响，几何模糊度Ug的存在使缺陷边缘轮廓模糊，降低了底片的清晰度和缺陷对比度，因此焦距越大则Ug越小，检验灵敏度越高；④焦距大小对散射线的影响，焦距增大必然导致曝光量要增加，在管电流一定的情况下只能增加曝光时间，除了降低工作效率外，也会使得散射线作用时间增长而影响底片清晰度，降低了检验灵敏度。因此，从前三项而言，增大焦距对提高检验灵敏度有利，但从散射线影响的因素来说，提高焦距对灵敏度是不利的，故在确定焦距参数时应予以全面综合考虑，选择适宜的焦距。81.什么是增感和增感系数？
答：增感即是增加胶片的感光量，从而可以相对地缩短对胶片的曝光时间。增感系数用于说明增感屏的作用程度，也称增感因素，它是在所有条件不变的情况下，使底片得到相同黑度时，不使用增感屏所需曝光时间t1与使用增感屏所需曝光时间t2之比：K=t1/t2,但是此增感系数K并不是一个固定不变的值，它随使用的X射线波长和所取底片黑度的不同而变化的。
82.影响射线检测透照灵敏度的诸因素有哪些？
答：使用的X射线机性能；使用的X射线胶片性能质量与暗室处理条件；增感屏的选用；散射线的防护措施；零件的材料、尺寸和形状，缺陷的性质、尺寸、形状和方向；管电压、管电流、曝光时间与焦距的选用。83.常见的曝光曲线有哪些形式？
答：常见的曝光曲线形式有：曝光量和管电压随材料厚度变化的曲线；管电压对材料厚度变化的曝光曲线。
84.工业X射线电视的优缺点如何？
答：优点：可以直观地观察物体动态或静态情况下的内部结构与缺陷；使用经济、简便、效率高；可用于流水作业，便于实现X射线检验自动化。缺点：其检测灵敏度一般较X射线照相法低；对形状复杂的零件检查有困难；初始投入较高。85.工业CT的全称是什么？答：工业用计算机控制层析X射线照相装置
86.用黑度计测定的底片黑度是一个综合的表观值，它包含了什么因素在内？答：包含了工件对比度和胶片对比度
87.某钢板厚度30mm的对接焊缝射线照相，在射线底片上发现如右图显示的圆形瑕疵分布，按（）标准，该焊缝应判定为几级？（按出题人确定的标准作答）
88.某钢板厚度30mm的对接焊缝射线照相，在射线底片上发现如右图显示的圆形瑕疵和线形瑕疵，按（）标准，该焊缝应判定为几级？（按出题人确定的标准作答）
89.右图为某合金钢板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：气体保护焊-钨极氩弧焊，判断影像中缺陷的性质。答：横裂纹
90.右图为某钛合金板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：钨极氩弧焊，判断影像中缺陷的性质。答：夹钨
91.右图为某钢板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：手工电弧焊，判断影像中缺陷的性质。
答：密集气孔
92.右图为某钢板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：手工电弧焊，判断影像中缺陷的性质。
答：局部夹渣
93.右图为某钢板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：手工电弧焊，判断影像中缺陷的性质。
答：未焊透（熔入不足）94.右图为某钢板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：手工电弧焊，判断影像中缺陷的性质。
答：线状夹渣
95.右图为某厚度14mm低合金钢板对接焊缝，X型坡口，焊接方式：自动焊，判断影像中缺陷的性质。答：纵向裂缝
96.右图为某钢板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：手工电弧焊，判断影像中缺陷的性质。
答：树枝状伪缺陷
97.右图为某钢板对接焊缝，V型坡口，焊接方式：手工电弧焊，判断影像中缺陷的性质。
答：蜘蛛状伪缺陷
98.什么是伪缺陷？简述底片上伪缺陷的来源。
[提示]：由于胶片本身质量、胶片保管、剪切、装取、暗室操作处理不当，以及操作者其他操作不慎等原因，在底片上留下可辨别的影像，但并非是被检验工件缺陷在底片上留下的影像，称之为伪缺陷。伪缺陷的来源包括机械损伤或表面附着物形成（如指纹、折痕、划伤、水印等），或者是由化学作用形成（如漏光、感光、药物玷污等），大致上可以分为来源于胶片本身的制造质量与储运、保管，来源于增感屏制造质量及损伤导致的增感不均匀或受过可见光线照射过的荧光增感屏的受激荧光影响等，来源于胶片裁切、包装、照相及冲洗过程中的漏光、手印、静电、划伤或局部折伤等；来源于暗室处理中的玷污、处理不均匀、水迹、指纹、气泡、药水老化失效、操作程序不当等等
99.什么是“照相灰雾（Photo graphic fog）”和“曝光灰雾（exposure fog）”？ [提示]：照相灰雾是由于乳剂和冲洗条件造成的灰雾，即是胶片固有灰雾与显影时的化学灰雾的总和；曝光灰雾则是由于胶片受到不需要的电离辐射或可见光波的曝光而造成的灰雾
100.什么是影响射线照相影象质量的三要素？答：影响射线照相影像质量的三个要素是：对比度、清晰度、颗粒度。射线照相对比度定义为底片影像中相邻区域的黑度差。射线照相清晰度定义为底片影像中不同黑度区域间分界线的宽度。用来定量描述清晰度的量是“不清晰度”。射线照相颗粒度定义为对视觉产生影响的底片影像黑度的不均匀程度。
101.什么叫主因对比度？什么叫胶片对比度？它们与射线照相对比度的关系如何？ 答：由于不同区域射线强度存在差异所产生的对比度称为主因对比度，其数学表达式为：△I/Ip=(μ△T)/(1+n),式中：Ip--透过试件到达胶片的射线强度；△I--局部区域射线强度增量；μ--射线的吸收系数；△T--局部区域的透射厚度差；n--散射比。由上式可以看出，主因对比度取决于透照厚度差、射线的质以及散射比。胶片对比度就是胶片梯度，用胶片平均反差系数定量表示，数学式为：γ'=△D/△lgE,式中γ'--胶片平均反差系数；△D--底片对比度；△lgE--曝光量对数值的增量。影响胶片对比度的因素有：胶片类型，底片黑度，显影条件和增感方式。射线照相底片对比度是主因对比度和胶片对比度的综合结果，主因对比度是构成底片对比度的根本因素，胶片对比度可以看作是主因对比度的放大系数。
102.就象质计金属丝底片对比度公式讨论提高对比度的主要途径，并说明通过这些途径提高底片对比度可能会带来什么缺点？答：象质计金属丝底片对比度公式△D=-0.434μpγσ·d/(1+n),提高对比度主要途径及由此带来的缺点：(1)增大μp值。在保证穿透力的前提下，尽量采用能量较低的射线，得这样会使曝光时间增加。(2)增大γ值。可选用γ值更高的微粒胶片；由于非增感型片胶片γ值和黑度成正比，也可通过提高底片黑度增大γ值。但高γ值的微粒胶片感光速度往往较慢，需要增大曝光时间，提高黑度也需要增加曝光时间，此外，黑度的提高会增大最小可见对比度△Dmin，对灵敏度产生不利影响。(3)提高σ值，可选择焦点尺寸小的射源，或增大焦距，这样做也会使曝光时间延长。(4)减少n值。要减小散射线，就要使用铅窗口和铅屏蔽，这些也将降低工作效率，使曝光时间延长。
103.以钢铁材料为例简述吸收系数μ的三个主分量τ、σ、χ在不同射线能量（从0-100MeV）时的分布规律，并用图示说明（答案从略）
104.简述射线照相时，最小可见对比度△Dmin的含义以及它与底片黑度的关系，对于金属线图像来说，在什么黑度范围内是可以识别的，并用图示加以说明（答案从略）105.简述射线检验中除照相法外的任意三种其他方法的原理及适用范围（答案从略）106.简述焊缝射线照相时，影响底片图像对比度的各种因素，为提高照相对比度，可采用哪些工艺措施？（答案从略）107.简述暗室处理时，影响底片质量的主要因素以及因暗室处理不当造成底片质量问题的各种主要表现形式（答案从略）
108.试用射线的衰减规律解释射线照相法的基本原理，并简要分析提高射线照相质量的各种因素（答案从略）
109.简述X射线工业电视检测法的原理及优缺点（答案从略）
110.何谓射线照相中的“宽容度”？在什么情况下需要提高照相的宽容度？这样会给它的照相质量参数带来什么影响？（答案从略）
111.试述焊缝射线照相时，降低散射、直射线强度比n的几种方法（答案从略）112.请对GB3323-82和JB1152-81这两个标准任选一个谈谈对其优缺点及改进意见的看法（答案从略）
113.按GB3323-82标准规定，射线照相探伤底片上标志的主要要求有哪些？（答案从略）
114.对应于平的对接焊缝，在透照时应怎样选择胶片类型、KV值和底片黑度？（答案从略）
115.散射线是怎样产生的？它对射线照相有何影响？透照时应采取什么措施加以防止？（答案从略）
116.对焊缝而言，采用射线照相法与超声波检验法各有什么优缺点？（答案从略）117.底片黑度是影响射线照相质量的参数之一，试述黑度D与对比度△D和最小可见对比度△Dmin之间的关系，根据这一关系，应如何选定底片的黑度范围？并作图加以说明（答案从略）
118.γ射线探伤中最常用的几种放射源的名称、半衰期、γ射线能量、比活度范围、化学状态以及对钢铁工件的适用厚度范围是什么？（答案从略）
119.为什么散射线会降低射线照相的灵敏度？在焊缝射线照相中，加强高（余高）和母材区的散射比n的数值分布规律大致是怎样的？并以简图加以说明。在焊缝射线照相中可以用什么方法来减少散射比以提高图像质量？（答案从略）
120.射线探伤用的胶片一般是根据什么来进行分类的？各类胶片主要参数之间（如颗粒度、对比度、感光速度、清晰度）的相互关系是什么？（答案从略）
121.为什么适当提高观片灯亮度就可以扩大金属丝影像在底片上的可见黑度范围？并请作图加以说明（答案从略）122.简述X射线照相法之外的任意四种射线检测缺陷方法的名称和应用范围（答案从略）
第二篇：高级无损检测技术资格人员RT题库
高级无损检测技术资格人员-射线检测考题汇编（填空题及答案1-50）
1.普朗克常数h=(6.626×10-34J•s),长度单位1 =(10-10m),电子质量me=(9.108×10-30kg),电子电量e=(-1.602×10-19C)2.当单色射线能量约（9MeV）时，对钢的穿透力最大，此时相应的Χ射线输出约为（20MeV）3.直接电离辐射通常是指阴极射线,(β)射线,(α)射线和(质子)射线,间接电离辐射是指(Χ)射线,(γ)射线和(中子)射线
4.60Co放出的γ射线平均能为(1.25MeV),相当于(2000～3000KVp)X射线穿透力,192Ir放出的γ射线平均能为(0.35MeV),相当于(150～800kVp)X射线穿透力
5.60Co和192Ir的射线输出分别为(1.3)R/m•h•ci和(0.5)R/m•h•ci；60Co和192Irγ射线的能谱线分别为(2)根和至少(24)根
6.可用于2～10mm薄壁管透照的一种γ射线新源是（169Yb），其半衰期为（31）天，射线输出为（125）mR/h•ci
7.检查轻合金的薄试件也可利用β放射同位素所产生的韧致辐射，常用的源如：（90Sr）和（169Yb）等
8.中子射线有以下特点：在重元素中衰减(小),在轻元素中衰减(大),在空气中电离能力(弱),不能直接使胶片感光
9.常用的中子源有以下三种：①（同位素中子源）；②（加速器中子源）；③（原子反应堆）10.不同剂量的照射对人体的损伤：D≤（0.25Gy）的一次照射时，无明显病理变化；D≈（0.5Gy）时，出现一时性血象变化；D≥（1Gy）时，会引起急性放射病
11.电离辐射引起的生物效应分为两类：①发生率取决于剂量的（随机）效应，如遗传效应和躯体致癌效应；②严重程度随剂量而变化的（非随机）效应，如对眼、皮肤和血液引起的效应。射线防护的目的在于防止有害的（非随机）效应，并限制（随机）效应的发生率，使之达到可以接受的水平
12.发生光电效应几率的实验近似公式为：τ=kρz4λ3，其中K为常数；ρ为（物质密度）；Z为（物质的原子序数）；λ为（射线的波长）
13.波长为0.1 的光子,其能量E=(124000),eV=(2×10-7)尔格,管电压250kV时,产生射线的最短波长为(0.0496)14.射线穿透物质时产生的吸收程度，取决于材料的（原子系数）、（密度）、（厚度）以及射线本身的（波长）
15.射线的线质越硬，其光子能量越（大），波长越（短），穿透力越（强），衰减系数越（小）,半价层厚度越（大）
16.X射线穿透钢材料时,两种主要效应的发生几率与光子能量的关系：J=σc时,E≈(100)keV；σc=max时,E=(1000)keV 17.连续Χ射线总强度可用下式表示：I=（ηoiZV2），连续Χ射线的转换效率公式为η=（ηoZV）
18.单色窄束射线的半价层厚度约为1/10价层厚度的（0.3）倍；若已知线衰减系数μ，则1/10价层厚度为（2.3/μ）
19.γ射线放射性活度与照射量的关系式为X=A•t/KrR2。式中X-（照射量[伦]）；A-（放射性活度[Ci]）；Kr-（照射率常数[mR/h•ci]）；R-（到点源距离[m]）；t-（受照时间[h]）20.常用的γ源Kr常数,对于60Co为Kr=（1.32）；对于192Ir为Kr=（0.472）21.照射量的国际单位是(库仑/千克,C/Kg),专用单位是(伦琴,R),两者的换算关系是(1库仑/千克≈3.877*103伦琴,1伦琴=2.58*10-4库仑/千克)22.吸收剂量的国际单位是(戈瑞,Gy),专用单位是(拉德,rad),两者的换算关系是(1戈瑞=1焦耳/千克=100拉德,1拉德=10-2戈瑞)23.剂量当量的国际单位是(希沃特,Sv),专用单位是(雷姆,rem),两者的换算关系是(1希沃特=1焦耳/千克=100雷姆, 1雷姆=10-2希沃特)24.剂量当量H是吸收剂量D与(品质因数Q)与(其他修正因数N)的乘积,数学表达式为H=(DQN),对Χ射线和γ射线防护而言,由于(有关修正因数为1),可以认为吸收剂量与剂量当量(等值)25.放射性同位素60Co中的60叫做(质量数),其原子核中含有(27)个质子和(33)个中子,60Co裂变时发生(β)射线和(γ)射线,60Co因(半衰期)较长而适用于无损检测.26.当单色窄束X射线通过厚度为d的物质后，表示射线强度衰减规律的公式为：（I=I0e-μd）27.射线与物质作用时，最主要的效应是(光电)效应、(散射)效应、(电子对生成)效应 28.10居里钴60射源衰减到1.25居里时大约需要(15.9)年
29.X射线的能量取决于（X射线管电压），而γ射线的能量取决于（γ源的种类）30.高能射线是能量在（1）兆电子伏特以上的X射线，采用直线加速器产生的高能X射线与一般X射线相比，它具有（穿透能力强）、（焦点小）、（转换效率高）等特点 31.X射线是利用（高速运动的电子撞击金属靶）的方法产生的，它具有（连续X）线谱和（特征X）线谱，γ射线是利用（放射性同位素物质衰变）的方法产生的，它只具有X射线中的后一种线谱
32.钴60γ射线源发出的两种γ射线能量分别为1.17和1.33MeV，因此它们的波长分别为(0.0106)和(0.00932)33.活度为1居里的铱192，距离它1米处在无遮挡、无吸收的条件下，其一次射线的照射量率为（0.55）伦琴/小时
34.衰变常数为0.021/年的γ射线源，其半衰期为（33年），此射线源为（铯）源 35.X射线的能量取决于X光机的（管电压），γ射线的强度取决于（源的种类）36.原子核内的（质子）数相同，而（中子）数不同的元素叫做同位素
37.单色、窄束、强度为I0的X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I=I0e-µd），而对于强度为I0的单色、宽束X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I=(1+n)I0e-µd）38.X射线、γ射线与物质作用时，可产生（光电）效应、（康普顿(或散射)）效应和（电子对生成）效应，其中（电子对生成）效应只有在光子能量大于（1.02MeV）才会出现 39.射线的衰减系数与（射线能量）及照射物质的（原子序数）和（密度）有关
40.吸收剂量当量的单位是（雷姆(Rem)），对于X射线、γ射线，因为修正系数等于（1），故吸收剂量当量值与吸收剂量值是（相同）的
41.直线加速器的优点是（体积小）和（输出射线强度大），回旋加速器的优点是（焦点尺寸小）
42.经Χ射线曝光过的胶片包含两种不同类型的粒度：（胶片）粒度和（量子噪声）引起的粒度
43.产生给定胶片密度所需要的伦琴数随射线能量的增加而（增加）；射线能量高到一定数值，上述伦琴数（基本不变），这就是所谓射线胶片的光谱灵敏度
44.用盐屏摄得的底片不清晰与两个因素有关，一是（结构）斑点；二是（量子）斑点 45.底片颗粒度的表示为：G=σd/α,式中符号意义：σd（密度均方差）；α（扫描点面积）46.Χ射线能量低于150kV时，由于（吸收系数）变化很快，管电压的选择比较严格；能量在200～400kV时，电压变化约为（30～40）kV才使灵敏度有明显变化；当为2～31MeVΧ射线时，探伤灵敏度（几乎相同）
47.(电离室)型监测仪可用来测量直射线、操作区内的散射线等相当高的照射率；（闪烁计数器）可用来探测曝光室之外的泄漏射线；（胶片剂量计）是最典型的个人照射剂量计，可记录在相当长时间内累积的剂量
48.对电子加速器产生的Χ射线束，不宜用（铅）或重过滤材料，因在（2～3）MeV时，其质量衰减系数有一最低值
49.目前常用的中子源有以下三种：①(同位素中子源)；②(加速器中子源)；③(反应堆中子源)50.192Ir中有（77）个质子，（115）个中子，其半衰期为75天，则其衰变常数为（0.00924/d），51.放射性同位素的制取有在核反应堆中通过中子照射激活的，如（192Ir）和（60Co）,也有是核裂变的产物，如（137Cs）
52.X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(管电压),(管电流),(曝光时间),(焦距)等 53.用棒阳极射线管透照有剩磁的钢管环焊缝时，（聚焦电子）漂移会造成曝光量不稳定 54.胶片特性曲线上，某一区域的黑度差没D与（相对曝光量对数的差值）的比值称为该区域的反差系数r 55.我国天津感光胶片厂生产的工业用II、III、V型胶片，其感光度大致相当于国外（Agfa）牌号的（D10）、（D7）、（D4）型胶片，或国外（富士）牌号的（400）、（200）、（100或80）型胶片
56.亚硫酸钠在显影液中起（保护）作用；在定影液中起（保护）作用
57.工业用X光机高压的调节通常是通过（自耦变压器）的调节，改变高压发生器中的（初级电压）来实现的，而管电流的调节是通过（电阻）的调节，改变（灯丝变压器）的（初级电压）来实现的
58.为使像质计灵敏度达到最佳值，透照余高磨平的焊缝宜选择黑度约为（2.5）的摄片条件；透照有余高的焊缝时，宜选择母材黑度约（3.0～3.5），焊缝黑度约（1.5～2.0）的摄片条件
59.按照信息论，空间频率f即每毫米黑白线对是指（不清晰度），而影像噪声是指（颗粒度）
60.若底片上阶梯孔型像质计灵敏度为2%，则实际圆形气孔的检出灵敏度约为（3）%；为检出1mm气孔，像质计上应显示的阶梯孔径为（2/3）mm 61.金属增感屏的增感系数随着材料原子序数的增大而（增大），在试验范围内（金）最大，在管电压较低时（锡）最大
62.金属增感屏的增感系数随着Χ射线管电压的降低而（减小），大约在（120）kV以下时，增感系数(小)于1 63.在某一密度D时的胶片衬度用下式表示：G0=（dD/dlgE）；在两特定密度之间，胶片的平均衬度可表示为G=（△D/△lgE）
64.射线照相灵敏度是射线照相（清晰度）和（对比度）两大因素的综合结果
65.X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(管电压),(管电流),(曝光时间),(焦距)等 66.射线辐射防护的三种基本方式是(距离防护),(屏蔽防护),(时间防护)67.按JIS Z3104,3105标准规定，用内胶片法，对管子环缝进行照像时，为保证横向裂纹的检出率，当焦距最远时，按普通级要求，最少应照（13）张片子
68.为了提高射线照像的对比度，可以采取射线胶片与工件保持适当距离的特殊照像方法，此时（1/[1+n]）值随该距离的增大而增大，（σ）值该距离的增大而减小，因此必须取（σ/[1+n]）值的最大时的最佳距离
69.对于厚度差比较大的工件进行一次曝光透照时，可以采用（双胶片）、（分散曝光）、（补偿）等方法，使底片黑度都处于有效黑度范围内
70.为了保证焊缝中裂纹的检出率，日本JIS Z3104标准规定：射线穿透方向与缺陷方向之间的相对角度，对于普通级应小于（14）度，对于特殊级应小于（9）度
71.用100居里的铱192γ射线源透照某工件，焦距1米，曝光时间5分钟，能得到合适的底片黑度。225天后，用该源透照相同工件，焦距变为2米，为得到相同黑度，曝光时间应为（160）分钟 72.底片对比度与（工件）对比度和（胶片反差）系数有关
73.射线照相的灵敏度由两个指标来确定，即射线底片的（对比）度和（清晰）度 74.鉴定底片的水洗效果，可采用1%的（AgNO3）加醋酸（28%）做试验液，如果底片上出现（棕黄色）现象，即可说明底片水洗不佳
75.铱192的半衰期为75天，用该新源透照工件最佳的曝光时间为10分钟，225天后重照同样的工件（设其他条件不变），则需曝光（80）分钟
76.为了提高射线照像的对比度没D，可以在照相布置时把胶片与工件的距离调整到使（σ/[1+n]）的比值达到最大值
77.底片黑度取决于辐射强度和曝光时间的乘积，若曝光量一定时，辐射强度与曝光时间成反比，但采用（荧光增感）方法时，则该反比定律失效
78.射线照相对比度的公式是（△D=-0.434γµσ△d/(1+n)），其中（µ△d/(1+n)）称为主因对比度
79.一铸件厚度为1.25英寸，射线底片上显示出ASTM 20#像质计的2T孔，则该底片的当量灵敏度为（1.6%）
80.铸件射线底片上出现清晰的黑线或长度与宽度不等，轮廓光滑分明的带状显示，则大多数是（冷隔）缺陷
81.铅箔增感屏前屏起（增感）、（吸收软射线）作用，后屏主要起（吸收散射线）作用 82.在半波自整流电路里加装逆电压降低器的目的是(降低X射线管的逆电压)，在倍压整流电路里起倍压作用的元件是(电容器)83.由于Χ射线照射场内阳极侧和阴极侧（焦点尺寸）和（射线强度分布）不同，因此不能利用整个照射场来透照工件
84.射线底片表观对比度与底片对比度的关系式为：△Da=（△D/(1+n')）
85.体积状缺陷的可检出性主要取决于射线照相（对比度）细小缺陷的可检出性还取决于胶片的（清晰度）
86.裂纹类面状缺陷的可检出性不仅取决于射线照相影像质量的三参数，还取决于缺陷本身的三参数即（深度L）、（宽度W）和（与射线束的角度θ）
87.给定γ射线源可透检厚度范围的上限取决于其（能量和强度）下限取决于（灵敏度下降值）
88.在Χ射线管窗口加滤板有两大作用（增大厚度宽容度）、（消除边蚀散射）
89.温度对显影的影响表现为：温度越高时，显影速度越（快），反差越（高），灰雾越（大），颗粒越（大）,温度越低，反差越（低），一般将显影温度控制在（20℃）左右 90.不同透照电压的厚度宽容度不同,这直接反映在其曝光曲线的(斜率)不同 91.细颗粒胶片感光速度(慢),清晰度(高),大颗粒胶片感光速度(快),清晰度(差)92.按增感性能胶片可分为(增感型)和(非增感型)两类胶片
93.在酸性坚膜定影液中会有相互分解的成分，大苏打要靠（亚硫酸钠），钾明钒要靠（醋酸）和（硼酸）才能共存
94.透照厚工件时要选用较高（管电压）的原因是它的波长（短），穿透能力（强）95.试件厚度越大，散射比越（大）
96.射线能量越高，μ值越（小）；试件厚度越大，μ值越（小）97.在X光机窗口加一层薄的过滤器，其目的主要是（提高平均能量）98.散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的（清晰度）和（对比度）
99.评价一个同位素源时，要看（穿透力）、（半衰期）、（活性）和（源的尺寸）四个方面
100.底片对比度与（工件对比度）和（胶片对比度）有关 ,
第三篇：初、中级无损检测技术资格人员-超声检测考题
初、中级无损检测技术资格人员-超声检测考题汇编
选择题（将认为正确的序号字母填入题后面的括号内，只能选择一个答案）1.下列材料中声速最低的是（a）：a.空气 b.水 c.铝 d.不锈钢
2.一般来说，在频率一定的情况下，在给定的材料中，横波探测缺陷要比纵波灵敏，这是因为（a）a.横波比纵波的波长短 b.在材料中横波不易扩散 c.横波质点振动的方向比缺陷更为灵敏 d.横波比纵波的波长长
3.超声波探伤用的横波，具有的特性是（a）
a.质点振动方向垂直于传播方向，传播速度约为纵波速度的1/2 b.在水中传播因波长较长、衰减小、故有很高的灵敏度
c.因为横波对表面变化不敏感，故从耦合液体传递到被检物体时有高的耦合率 d.上述三种都不适用于横波 4.超过人耳听觉范围的声波称为超声波，它的频率高于（b）：a.20赫 b.20千赫 c.2千赫 d.2兆赫 5.超过人耳听觉范围的声波称为超声波，它属于（c）：a.电磁波 b.光波 c.机械波 d.微波 6.波长λ、声速C、频率f之间的关系是（a）：a.λ=c/f b.λ=f/c c.c=f/λ 7.应用2P20x20 60°的探头探测钢时，钢材中超声波的波长是（b）：a.1.43mm b.1.6mm c.2.95mm d.2.34mm 8.可在固体中传播的超声波波型是（e）：a.纵波 b.横波 c.表面波 d.板波 e.以上都可以 9.可在液体中传播的超声波波型是（a）：a.纵波 b.横波 c.表面波 d.板波 e.以上都可以
10.超声波的波阵面是指某一瞬间（b）的各质点构成的空间曲面：a.不同相位振动 b.同相位振动 c.振动 11.介质中质点振动方向和传播方向垂直时，此波称为（b）：a.纵波 b.横波 c.表面波 d.板波 e.爬波 12.介质中质点振动方向和波的传播方向平行时，此波称为（a）：a.纵波 b.横波 c.表面波 d.板波 e.爬波
13.横波的声速比纵波的声速（b）：a.快 b.慢 c.相同 14.纵波的声速比瑞利波的声速（a）：a.快 b.慢 c.相同
15.超声波在介质中的传播速度就是（a）：a.声能的传播速度 b.脉冲的重复频率 c.脉冲恢复速度 d.物质迁移速度
16.对同种固体材料，在给定频率的情况下，产生最短波长的波是（d）：a.纵波 b.压缩波 c.横波 e.表面波
17.频率为2.5MHZ的纵波在探测钢时的波长是(a)：a.2.34mm b.1.3mm c.2.6mm d.1.26mm 18.频率为2.5MHZ的横波,在探测钢时的波长是(b)：a.2.34mm b.1.3mm c.2.6mm d.1.26mm 19.频率为2.5MHZ的纵波在探测铝时的波长(c)：a.2.34mm b.1.3mm c.2.6mm d.1.26mm 20.频率为2.5MHZ的横波,在探测铝时的波长是(d)：a.2.34mm b.1.3mm c.2.6mm d.1.26mm 21.钢中声速最大的波型是（a）：a.纵波 b.横波 c.表面波 d.在给定材料中声速与所有波型无关 22.横波探伤最常用于（a）：a.焊缝、管材 b.测定金属材料的弹性特性 c.探测厚板的分层缺陷 d.薄板测厚
23.在固体表面能沿园滑过渡的边角传播的超声波称为（b）：a.横波 b.表面波 c.纵波
24.传播速度略小于横波，不向材料内部传播的超声波是（a）：a.表面波 b.板波 c.莱姆波 d.纵波 25.波束扩散角是晶片尺寸和所通过的介质中声波波长的函数，并且（a）：
a.频率或晶片直径减少时增大 b.频率或晶片直径减少时减少 c.频率增加而晶片直径减少时减少 26.如果超声波频率增加，则一定直径晶片的声束扩散角将（a）：a.减少 b.保持不变 c.增大 d.随波长均匀变化
27.确定波束扩散角的公式是（d）：
a.sinθ=直径平方/4倍波长 b.sinθx直径=频率x波长 c.sinθ=频率x波长 d.sin（θ/2）=1.22波长/直径 28.超声波投射到界面上，在同一介质中改变其传播方向的现象叫做（d）：a.发散 b.扩散 c.角度调整 d.反射 29.超声波从一种介质进入另一种不同介质而改变传播方向的现象叫做（a）：a.折射 b.扩散 c.角度调整 d.反射
30.超声波从一种介质进入另一介质后，其声束轴线与界面法线所成的夹角称为（b）a.入射角 b.折射角 c.扩散角 d.反射角
31.超声波从一种介质进入另一介质，入射声束轴线与界面法线所成的夹角称为（a）a.入射角 b.折射角 c.扩散角 d.反射角
32.超声波到达两个不同材料的界面上，可能发生（d）：a.反射 b.折射 c.波型转换 d.以上都是 33.同一介质中，同一波型的超声波反射角（a）
a.等于入射角 b.等于折射角 c.与使用的耦合剂有关 d.与使用频率有关
34.同一介质中，超声波反射角（d）入射角：a.等于 b.大于 c.小于 d.同一波型的情况下相等
35.公式sinθ1/C1= sinθ2/C2叫做（d）：a.声阻抗比例公式 b.相位变化公式 c.近场公式 d.折射定律。36.使一种波产生90°折射的入射角叫做（b）：a.垂直入射角 b.临界角 c.最小反射角
37.超声波垂直入射至异质界面时，反射波和透射波的（a）：a.波型不变 b.波型变换 c.传播方向改变 38.有一个5P20x10 45°的探头，有机玻璃楔块内声速为2730m/s，被检材料（碳钢）中的声速为3230m/s，求入射角α的公式为（b）
a.sinα=(3230/2730)•sin45° b.α=sin-1(3230/2730)•sin 45° c.tgα=(3230/2730)•Sin45° 39.为使经折射透入第二介质的超声波只有横波，纵波在第一介质的入射角应（c）
a.大于第二临界角 b.小于第一临界角 c.在第一和第二临界角之间 d.在第二和第三临界角之间 40.为减小超声波通过介质时的衰减和避免林状回波，宜采用（d）进行探伤 a.高频率、横波 b.较低频率、横波 c.高频率、纵波 d.较低频率、纵波
41.一般地说，如果频率相同，则在粗晶材料中，穿透力强的波型是（a）：a.纵波 b.切变波 c.横波 d.瑞利波
42.晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚，则（a）：a.频率越低 b.频率越高 c.无明显影响 43.缺陷反射能量的大小取决于（d）：a.缺陷尺寸 b.缺陷方位 c.缺陷类型 d.缺陷的尺寸、方位、类型 44.因工件表面粗糙使超声波束产生的漫射叫做（b）：a.角度调整 b.散射 c.折射 d.扩散
45.3—63．由发射探头发射的超声波，通过试件后再由另一接收探头接收，这种检验方法称 为（c）a.表面波法 b.斜射法 c.穿透法 d.垂直法
46.晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为（a）：a.垂直法 b.斜射法 c.表面波法
47.莱姆波可用于检查（d）：a.锻件 b.棒坯 c.铸锭 d.薄板
48.靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有（c）：a.声束扩散 b.材质衰减 c.仪器阻塞效应 d.折射 49.超声波探伤中常用的换能器是利用（b）：a.磁致伸缩原理 b.压电原理 c.小型转换原理
50.把某些材料所具有的，能使电能与机械能相互转换的特性称为（b）：a.波型变换 b.压电效应 c.折射 d.阻抗匹配
51.一般地说，在远场区，同一深度的平底孔，直径增大一倍，其回波高度提高（c）a.1倍 b.9dB c.12dB d.24dB 52.声程大于3N且声程相同时，若孔径差1倍，平底孔回波高度差（a）dB：a.12 b.3 c.6 d.12 e.9 f.12 53.声程大于3N且声程相同时，若孔径差1倍，横通孔 的回波高度差（b）dB：a.12 b.3 c.6 d.12 e.9 f.12 54.声程大于3N且声程相同时，若孔径差1倍，球孔回波高度差（c）dB：a.12 b.3 c.6 d.12 e.9 f.12 55.声程大于3N且声程相同时，若孔径相同，声程差一倍，平底孔回波高度差（d）dB a.12 b.3 c.6 d.12 e.9 f.12 56.声程大于3N且声程相同时，若孔径相同，声程差一倍，横通孔的回波高度差（e）dB a.12 b.3 c.6 d.12 e.9 f.12 57.声程大于3N且声程相同时，若孔径相同，声程差一倍，球孔回波高度差（f）dB a.12 b.3 c.6 d.12 e.9 f.12 58.当某些晶体受到拉力或压力时，产生形变，从而晶体的表面上出现电荷，这种现象称为（a）效应，这一效应是可逆的：a.压电 b.振动 c.逆压电 d.应变
59.把电能转变成超声声能的器件叫做（d）：a.发射器 b.辐射器 c.分离器 d.换能器 60.共振式超声波仪器主要采用（b）：a.高频脉冲波 b.连续波 c.低频脉冲波 d.以上都不是 61.纵波又称为（d）：a.压缩波 b.疏密波 c.L波 d.以上都是 62.横波又称为（d）：a.切变波 b.剪切波 c.S波 d.以上都是 63.兰姆波又称为（）：a.莱姆波 b.板波 c.Lamb Wave d.以上都是
64.波动的形式（波形）可以分为（e）：a.球面波 b.平面波 c.柱面波 d.活塞波 e.以上都是 65.根据介质质点振动方向与波动传播方向的关系划分，波的类型有（e）a.L波 b.S波 c.R波 d.Lamb波 e.以上都是
66.按照斯涅尔（Snell）折射定律规定，入射角和折射角的正弦之比等于两种介质的（d）a.密度之比 b.弹性模量之比 c.声阻抗之比 d.声速之比
67.超声波在介质中的传播速度主要取决于（d）：a.脉冲宽度 b.频率 c.探头直径 d.超声波通过的材质和波型
68.探伤面上涂敷耦合剂的主要目的是（b）
a.防止探头磨损 b.消除探头与探测面之间的空气 c.有利于探头滑动 d.防止工件生锈
69.超声波通过一定厚度的薄层介质时，若介质两侧的物质声阻抗相等，则薄层厚度为（a）时，将有最大的声压透过率
a.1/2波长的整数倍 b.1/4波长的奇数倍 c.1/4波长的整数倍 d.1/8波长的整数倍
70.超声波通过一定厚度的薄层介质时，若介质两侧的物质声阻抗相等，则薄层厚度为（b）时，将有最大的声压反射率
a.1/2波长的整数倍 b.1/4波长的奇数倍 c.1/4波长的整数倍 d.1/8波长的整数倍
71.有一个5MHz20x10 45°的斜探头，有机玻璃楔块内的声速为2700米/秒，被检材料（钢）中的声速为3230米/秒，则求入射角α的公式应为（d）a.sinα=(3230/2700)sin45° b.tgα=(2700/3230)sin45° c.α=sin-1[(2700/3230)tg45°] d.α=sin-1[(2700/3230)sin45°] 72.超声波由A介质透入B介质时，如果面对入射方向的界面为一个凹面，并且声速CA＞CB,则该曲面将对透过波（b）
a.起聚焦作用 b.起发散作用 c.不起作用 d.有时聚焦，有时发散
73.超声波由A介质透入B介质时，如果面对入射方向的界面为一个凹面，并且声速CA＜CB,则该曲面将对透过波（a）
a.起聚焦作用 b.起发散作用 c.不起作用 d.有时聚焦，有时发散
74.超声波由A介质透入B介质时，如果面对入射方向的界面为一个凸面，并且声速CA＞CB,则该曲面将对透过波（a）
a.起聚焦作用 b.起发散作用 c.不起作用 d.有时聚焦，有时发散
75.超声波由A介质透入B介质时，如果面对入射方向的界面为一个凸面，并且声速CA＜CB,则该曲面将对透过波（b）
a.起聚焦作用 b.起发散作用 c.不起作用 d.有时聚焦，有时发散
76.在X≥3N的距离上，声程增加一倍时，大平底的反射声压为原来的（f）a.1/2.8倍 b.4倍 c.1.42倍 d.1/4倍 e.1/8倍 f.1/2倍 g.2倍
77.在X≥3N的距离上，声程增加一倍时，横通孔的反射声压为原来的（a）a.1/2.8倍 b.4倍 c.1.42倍 d.1/4倍 e.1/8倍 f.1/2倍 g.2倍 78.在X≥3N的距离上，声程增加一倍时，球孔的反射声压为原来的（d）a.1/2.8倍 b.4倍 c.1.42倍 d.1/4倍 e.1/8倍 f.1/2倍 g.2倍
79.在X≥3N的距离上，当距离不变，而孔径增加一倍时，平底孔的反射声压变为原来的（b）a.1/2.8倍 b.4倍 c.1.42倍 d.1/4倍 e.1/8倍 f.1/2倍 g.2倍
80.在X≥3N的距离上，当距离不变，而孔径增加一倍时，横通孔的反射声压变为原来的（c）a.1/2.8倍 b.4倍 c.1.42倍 d.1/4倍 e.1/8倍 f.1/2倍 g.2倍
81.在X≥3N的距离上，当距离不变，而孔径增加一倍时，球孔的反射声压变为原来的（g）a.1/2.8倍 b.4倍 c.1.42倍 d.1/4倍 e.1/8倍 f.1/2倍 g.2倍
82.一般地说，在超声波的远场区，同一深度的平底孔直径增大一倍，其回波高度提高（c）a.1倍 b.9dB c.12dB d.24dB 83.用入射角度为52°的斜探头探测方钢，下图中哪一个声束路径是正确的？（斜楔为有机玻璃）（d）
84.直探头探测具有倾斜底面的钢锻件，右图中哪个声束路径是正确的？（b）
85.超声波试验系统分辨前表面回波与靠近前表面的小缺陷回波的能力（a）a.主要取决于换能器发射的始脉冲的形状 b.与被探工件的表面粗糙度无关 c.主要取决于被检零件的厚度 d.用直径较大的探头可以得到改善
86.纵波以20°入射角自水中入射至钢中，右图中哪个声束路径是正确的？（d）
87.超声波从水中通过曲表面进入金属工件时，声束在工件中将（d）a.具有对称型相速度 b.具有入射纵波的相速度 c.不受零件几何形状影响
d.收敛（如果工件表面为凹面）或发散（如果工件表面为凸面）
88.超声波试验系统的灵敏度（a）
a.取决于探头、脉冲发生器和放大器 b.随频率提高而提高 c.与换能器的机械阻尼无关 d.随分辨率提高而提高
89.造成不同材料中超声波速度差别的主要因素是（c）
a.频率和波长 b.厚度和传播时间 c.弹性和密度 d.化学性质与磁导率
90.直径1.25cm，频率2.25MHz的换能器在水中的半扩散角为（c）（水中声速取1.5x105cm/s）a.2.5° b.40.5° c.3.75° d.37.5°
91.决定超声波在界面上的相对透过率和反射率的是（c）：a.声衰减 b.声速 c.声阻抗比 d.声频率 92.当材料中缺陷厚度至少为多大时才能得到最大反射？（a）：a.λ/4 b.λ/2 c.λ d.λ/2的偶数倍 93.声束在何处发生扩散？（b）：a.近场 b.远场 c.从晶片位置开始 d.三倍近场 94.在两种不同材料的界面上，声阻抗差异会引起（c）
a.入射能量在界面上全部反射 b.声波被吸收 c.声能分为透射波与反射波两部分 d.折射
95.液浸探伤时，需要调整探头和被检零件表面之间的距离（水距），使声波在水中的传播时间（b）a.等于声波在工件中的传播时间 b.大于声波在工件中的传播时间 c.小于声波在工件中的传播时间 d.以上都不对
96.声压反射率为负号，表示反射波相位与入射波相位有何种关系？（b）：a.相同 b.相反 c.无关 d.以上都不对
97.横波探伤最常用于（a）：a.焊缝、管材探伤 b.薄板探伤 c.探测厚板的分层缺陷 d.薄板测厚 98.在钢中传播速度略小于横波且不向材料内部传播的超声波是（c）：a.纵波 b.板波 c.表面波 d.切变波 99.超声波检测中对探伤仪的定标(校准时基线)操作是为了(c)a.评定缺陷大小 b.判断缺陷性质 c.确定缺陷位置 d.测量缺陷长度 100.A型超声波探伤仪上的“抑制”旋钮打开对下述哪个性能有影响?(a)a.垂直线性 b.水平线性 c.脉冲重复频率 d.延迟
101.用对比试块对缺陷作定量评定,已知工件中缺陷埋藏深度为22mm,验收标准为Φ1.2mm平底孔当量,则应选用同材料对比试块中的(c)进行比较: a.Φ3-20mm b.Φ2-25mm c.Φ1.2-25mm d.Φ1.2-20mm 102.锻件探伤中,如果材料的晶粒粗大,通常会引起(d)a.底波降低或消失 b.有较高的“噪声”显示 c.使声波穿透力降低 d.以上全部
103.粗晶材料的探伤可选用（b）频率的探头：a.2.5MHz b.1.25MHz c.5MHz d.10MHz 104.由于工件表面粗糙，而造成声波传播的损耗，其表面补偿应为（c）
a.2dB b.4dB c.用实验方法测定的补偿dB值 d.对第一种材料任意规定的补偿dB值 105.在小工件中，声波到达底面之前，由于声束扩散，在试件侧面可能产生（c）a.多次底面反射 b.多次界面反射 c.波型转换 d.入射声能的损失
106.如果仪器采用锯齿扫描发生器，其扫描锯齿波形的好坏程度，决定了扫描（c）的好坏。a.动态范围 b.垂直线性 c.水平线性
107.调节“抑制”旋钮，会影响仪器的（d）：a.水平线性 b.垂直线性 c.动态范围 d.b和c 108.仪器的盲区，除了与探头特性有关外，主要还决定于接收放大器在强信号冲击下的（a）时间。a.阻塞 b.上升 c.同步
109.探伤仪发射电路部分的功用是（c）：a.发射超声脉冲 b.把发射脉冲放大 c.发射电脉冲 d.产生方形波
110.能将两个相邻缺陷在示波屏上区分开的能力叫（a）：a.分辨力 b.重复频率 c.水平线性 111.被放大的信号幅度与缺陷的反射面积成正比关系，放大器这一非饱合的放大区域称为（b）a.灵敏度范围 b.线性范围 c.选择性范围 d.分辨范围
112.超声波检测仪中，产生高压电脉冲以激发探头工作的电路单元称为（c）a.放大器 b.接收器 c.脉冲发生器 d.同步器
113.在A型扫描显示中，电子束在阴极射线管的荧光屏上均匀重复移动，所形成的水平线叫做（b）a.方波图形 b.扫描线 c.标志图形 d.上述三种都不对
114.一个垂直线性好的仪器，在荧光屏上波幅从80%处降至5%时，应衰减（d）：a.6dB b.18dB c.32dB d.24dB 115.超声波检验中，脉冲的持续时间称为（a）：a.脉冲宽度 b.脉冲振幅 c.脉冲形状 d.上述三种都不对。116.利用阴极发射的电子束在荧光屏上显示图象的电子管叫做（c）：a.放大管 b.脉冲管 c.阴极射线管 d.扫描管
117.超声波检测仪中，以荧光屏纵轴显示超声波信号强度，以横轴显示超声波传播时间或反射体深度的脉冲显示法叫做（b）：a.连续波显示 b.A扫描显示 c.B扫描显示 d.C扫描显示
118.在锻件探伤中，出现草状回波的原因主要是由于（c）a.工件内有大缺陷 b.灵敏度过高 c.晶粒粗大和树枝状结晶
119.锻件探伤时，调节灵敏度的方式是（b）：a.没有特定方式 b.大平底方式和试块方式 c.槽形反射孔方式
120.在用水浸法探伤钢板时，发现第二次水层界面波与钢板第二次底波重合，则钢板的厚度是水层厚度的（c）
a.1/2倍 b.1倍 c.2倍 d.4倍
121.在用直探头进行水浸法探伤时，探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次（c）
a.缺陷回波 b.迟到回波 c.底面回波 d.侧面回波
122.在下述测试项目中指出与评价超声波检测仪主要性能有关的测试项目（a）a.分辨力和灵敏度 b.指向性和近场长度 c.折射角和入射角 d.指示长度
123.直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件，若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB，两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm，当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时，后者的底面回波应为示波屏满幅的（c）a.5% b.10% c.20% d.40% 124.下列哪种方法可增大超声波在粗晶材料中的穿透能力？（b）a.用直径较小的探头进行检验 b.用频率较低的纵波进行检验 c.将接触法检验改为液浸法检验 d.将纵波检验改为横波检验 125.在金属材料的超声波检测中使用最多的频率范围是（a）：a.1-5MHz b.2.5-5MHz c.1-15MHz d.2-8MHz 126.用水浸法纵波垂直入射探测钢材，为防止在第一次底面回波前面出现第二次界面回波，当水层厚度为50毫米时，能探测钢材的最大厚度为（b）：a.100mm b.200mm c.300mm d.400mm 127.兰姆波在板中的传播速度(d): a.与板厚有关 b.与材料的纵波和横波速度有关 c.与频率有关 d.以上都是
128.在液体中唯一能传播的声波波型是(c): a.剪切波 b.瑞利波 c.压缩波 d.兰姆波 129.钢中表面波的能量大约在距表面多远的距离会降低到原来的1/25?(b)a.五个波长 b.一个波长 c.1/10波长 d.0.5波长
130.在同种固体材料中,纵波声速CL,横波声速CS,表面波声速CR之间的关系是(c)a.CR＞CS＞CL b.CS＞CL＞CR c.CL＞CS＞CR d.以上都不对
131.超声波入射到异质界面时,可能发生(d): a.反射 b.折射 c.波型转换 d.以上都可能 132.超声波传播过程中,遇到尺寸与波长相当的障碍物时,将发生(b)a.只绕射,无反射 b.既反射,又绕射 c.只反射,无绕射 d.以上都可能 133.超声波垂直入射到异质界面时,反射波与透过波声能的分配比例取决于(c)a.界面两侧介质的声速 b.界面两侧介质的衰减系数 c.界面两侧介质的声阻抗 d.以上全部 134.超声波倾斜入射至异质界面时,其传播方向的改变主要取决于(b)a.界面两侧介质的声阻抗 b.界面两侧介质的声速 c.界面两侧介质的衰减系数 d.以上全部
135.检验钢材用的60°斜探头,探测铝材时,其折射角(a): a.大于60° b.等于60° c.小于60° d.以上都可能 136.当超声横波入射至端角时,下面的叙述哪点是错误的?(d)a.反射横波与入射波平行但方向相反 b.入射角为30°时的反射率最高 c.入射角为45°时的反射率最高 d.入射角为60°时的反射率最低 137.用水浸聚焦探头局部水浸法检验钢板时,声束进入工件后将(b)a.因折射而发散 b.进一步集聚 c.保持原聚焦状况 d.以上都可能
138.超声场的未扩散区长度(c):a.约等于近场长度 b.约等于近场长度的0.6倍 c.约为近场长度的1.6倍 d.以上都可能
139.超声波的反射特性取决于(c): a.入射声压 b.反射声强 c.界面两侧的声阻抗差异 d.界面两侧的声速差异
140.有机玻璃斜楔的CL=2650m/s,钢工件的CS=3100m/s和CR=2850m/s,用瑞利波检测时的最佳入射角是(b)a.68.4° b.58.7° c.25.5° d.66.8°
141.超声波在介质中传播时,质点振动方向与波的传播方向垂直的波型是(b): a).纵波 b.横波 c.板波 d.表面波
142.能在液体中传播的超声波波型是(a): a.纵波 b.横波 c.板波 d.表面波 e.a和b 143.声阻抗在数值上等于(b): a.ρ=cz b.z=ρc c.c=ρz 144.两个不同声压间的分贝差表示式为(a)a.△dB=20lg(P1/P2)b.△dB=10lg(P1/P2)c.△dB=20lg(P2/P1)d.△dB=10lg(P2/P1)145.两个不同声强间的分贝差表示式为(a)a.△dB=20lg(I1/I2)b.△dB=10lg(I1/I2)c.△dB=20lg(I2/I1)d.△dB=10lg(I2/I1)146.当晶片直径一定时,如果超声波频率增大,则声束扩散角将(b): a.增大 b.减小 c.不变 d.呈指数函数变化
147.在下列不同类型超声波中,哪种波的传播速度随频率不同而改变?(b): a.表面波 b.板波 c.疏密波 d.剪切波
148.超声探伤装置的灵敏度(a)a.取决于脉冲发生器,探头和接收器的组合性能 b.随频率的提高而提高 c.随分辨率的提高而提高 d.与换能器的机械阻尼无关
149.超声波的波长,声速与频率的关系为(a): a.c=f•λ b.λ=c•f c.f=c•λ d.λ=f/c
150.超声波在介质中的传播速度与(d)有关: a.介质的弹性 b.介质的密度 c.超声波波型 d.以上全部 151.在同一固体材料中,纵,横波声速之比与材料的(d)有关: a.密度 b.弹性模量 c.泊松比 d.以上全部 152.超声波在水/钢界面上的反射角(b): a.等于入射角的1/4 b.等于入射角 c.纵波反射角＞横波反射角 d.b和c 153.探头中压电晶片的基频取决于(c)a.激励电脉冲的宽度 b.发射电路阻尼电阻的大小 c.晶片材料和厚度 d.晶片的机电耦合系数 154.下列压电晶体中哪一种用作高温探头较为合适?(c)a.钛酸钡(Tc=115°)b.PZT-5(Tc=365°)c.铌酸锂(Tc=1200°)d.硫酸锂(Tc=75°)155.表征压电晶体发射性能的参数是(c): a.压电电压常数g33 b.机电耦合系数K c.压电应变常数d33 d.以上全部
156.在同一固体介质中,当分别传播纵,横波时,它的声阻抗将(c)a.一样 b.传播横波时大 c.传播纵波时大 d.以上a和b 157.超声波的扩散衰减主要取决于(a): a.波阵面的几何形状 b.材料的晶粒度 c.材料的粘滞性 d.以上全部
158.纵波直探头的近场长度不取决于下述何种因素(d)a.换能器的直径 b.换能器的频率 c.声波在试件中的传播速度 d.耦合剂的声阻抗 159.声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时,缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是(c)a.反射波高随粗糙度的增大而增加 b.无影响 c.反射波高随粗糙度的增大而下降 d.以上a和b都可能 160.频率为(c)的机械振动波属于超声波范畴: a.低于16Hz b.高于16Hz,低于20KHz c.高于20000Hz d.以上都不是
161.在异质界面上斜入射纵波,如果入射角达到第二临界角,将会发生(c)a.表面波全反射 b.横波45°折射 c.表面波 d.以上都不对
162.检验厚度大于400mm的钢锻件时,如降低纵波的频率,其声速将(c): a.提高 b.降低 c.不变 d.不定 163.若园晶片直径为D，探测距离为X，声压公式为Px=P0πD2/4λx，则（e）
a.X＜N（近场区长度）此公式正确 b.X＞1.6N时此公式基本上可用 c.X＞3N时此公式基本正确 d.X＞6N时此公式正确 e.b、c和d 164.有一个5P20x10 45°的探头，有机玻璃楔块内声速为2730m/s，被检材料（碳钢）中的声速为3230m/s，求入射角α的公式为（b）a.sinα=(3230/2730)•sin45° b.α=sin-1(3230/2730)•sin 45° c.tgα=(3230/2730)•Sin45°
165.为使经折射透入第二介质的超声波只有横波，纵波在第一介质的入射角应（c）
a.大于第二临界角 b.小于第一临界角 c.在第一和第二临界角之间 d.在第二和第三临界角之间 166.超声波从水中以5°角入射到钢内，此时的横波折射角（a）a.小于纵波折射角 b.等于纵波折射角 c.大于纵波折射角 d.为零 167.在水/钢界面上，水中入射角为7°，在钢中主要存在的振动波型是（c）a.纵波 b.横波 c.纵波、横波同时存在 d.纵波、横波都不存在
168.用入射角为30°的有机玻璃斜探头探测钢时，折射横波的折射角是（a）a.36° b.19.17° c.30° d.45° 169.要使钢中折射横波的折射角是45°，纵波在水中的入射角应是（b）：a.36° b.19.17° c.30° d.45° 170.超声波在介质中传播时，任一点的声压和该点振动速度之比称为（a）：a.声阻抗 b.介质密度 c.声速 d.声压
171.超声波通过一定厚度的薄层介质时，若介质两侧面的物质声阻抗相等，则薄层厚度为（a）时，将有最大的声压透过率：a.1/2波长的整倍数 b.1/4波长的整倍数 c.1/4波长的奇倍数 172.超声波纵波从水中倾斜入射到金属材料中时，折射角主要取决于（b）
a.水与金属的阻抗比 b.水与金属的相对声速及声波入射角 c.超声波的频率 d.水与金属的密度比 173.探头前保护膜的声阻抗公式，（Z=声阻抗）应是（c）
a.Z保护膜=(Z晶片+Z工件)1/2 b.Z保护膜=(Z晶片-Z工件)1/2 c.Z保护膜=(Z晶片xZ工件)1/2 d.Z保护膜=(Z晶片/Z工件)1/2
174.超声波通过两种材料的界面时，如果第一介质的声阻抗比较大，但声速与第二介质相同，则折射角（c）a.大于入射角 b.小于入射角 c.与入射角相同 d.在临界角之外
175.超声波从材料1进入材料2，随声阻抗比Z1/Z2的增大，而透过声压（a）a.减小 b.增大 c.不变 d.既可增大又可减小
176.表征材料声学特性的材质衰减，主要是由（a）所引起的：a.散射和吸收 b.波束扩散 c.介质密度过大 177.声程大于3N时，声程增加一倍，大平底的反射声压为原来的（a）a.1/2倍 b.1/4倍 c.1/2.8倍 d.1/4倍 e.4倍 f.1.42倍 g.2倍 178.声程大于3N时，声程增加一倍，平底孔的反射声压为原来的（b）a.1/2倍 b.1/4倍 c.1/2.8倍 d.1/4倍 e.4倍 f.1.42倍 g.2倍 179.声程大于3N时，声程增加一倍，横通孔的反射声压为原来的（c）a.1/2倍 b.1/4倍 c.1/2.8倍 d.1/4倍 e.4倍 f.1.42倍 g.2倍 180.声程大于3N时，声程增加一倍，球孔的反射声压为原来的（d）a.1/2倍 b.1/4倍 c.1/2.8倍 d.1/4倍 e.4倍 f.1.42倍 g.2倍
181.声程大于3N时，若声程相同，则孔径增加一倍时，平底孔反射声压为原来的（e）a.1/2倍 b.1/4倍 c.1/2.8倍 d.1/4倍 e.4倍 f.1.42倍 g.2倍
182.声程大于3N时，若声程相同，则孔径增加一倍时，横通孔的反射声压为原来的（f）a.1/2倍 b.1/4倍 c.1/2.8倍 d.1/4倍 e.4倍 f.1.42倍 g.2倍
183.声程大于3N时，若声程相同，则孔径增加一倍时，球孔的反射声压为原来的（g）a.1/2倍 b.1/4倍 c.1/2.8倍 d.1/4倍 e.4倍 f.1.42倍 g.2倍
184.在远场区，同直径的平底孔，声程从100mm增大到300mm，若不计材质衰减，则声压减小（d）a.3倍 b.12dB c.24dB d.以上三个答案都不对
185.在远场，同直径横孔，声程增大1倍，不计材质衰减，则声压减小（b）：a.6dB b.9dB c.3dB d.12dB 186.在远场，同声程的横孔，直径从2mm增大到8mm时，其回波声压提高（b）：a.4倍 b.6dB c.12dB d.9dB 187.一般情况下，对于薄层反射体，若其厚度为（b）可得到最大反射信号 a.一个λ的奇数倍 b.λ/4的奇数倍 c.λ/4的偶数倍 d.λ/2的整数倍 188.一般情况下，对于薄层反射体，若其厚度为（d）可得到最大反射信号 a.一个λ的奇数倍 b.一个λ的偶数倍 c.λ/4的偶数倍 d.λ/4的奇数倍 189.一般情况下，对于薄层反射体，若其厚度为（b）可得到最大反射信号，a.λ/2的奇数倍 b.λ/4的奇数倍 c.λ/4的偶数倍 d.λ/2的整数倍
190.一个2.25MHz，在水中近场长度等于58.6mm的直探头，其半扩散角度大约是（c）a.1.5° b.2.05° c.3.75° d.7.5°
191.把钢中横波折射角为50°的斜探头移至横波声速为2.17x103m/s的材料上，则折射角约为（c）a.53° b.35° c.31° d.47°
192.共振式超声波仪器主要采用（b）：a.高频脉冲纵波 b.连续纵波 c.低频脉冲纵波 d.连续横波 193.当一平行声束通过液体在轴的圆柱面垂直透入后，该声束将（d）a.具有不同的相速度 b.仍然保持平行声束状态 c.声束被聚焦 d.声束被发散 194.为了在工件中得到纯横波，对于斜探头的选择除了入射角以外还应考虑（a）
a.斜楔材料的纵波声速小于工件中的横波声速 b.斜楔材料的纵波声速大于工件中的横波声速 c.斜楔材料的纵波声速大于工件中的纵波声速 d.以上都可以 195.为了在工件中得到纯横波，对于斜探头的选择应考虑（d）
a.合适的入射角 b.合适的斜楔材料的纵波声速 c.合适的斜楔材料的横波声速 d.a和c 196.用一台时基线已正确校正的仪器去探测R1=50mm，R2=25mm的牛角试块（V2试块），使斜探头对正R1圆弧，若R1圆弧的第一次回波位于水平刻度1.5格处，则R2圆弧的第一次回波将出现在（d）：a.5格 b.9格 c.6格 d.不能出现
197.压电晶片-耦合剂-钢的声阻抗分别为Z晶、Z耦、Z钢，当耦合剂薄层厚度为1/4波长时，从声阻抗考虑，超音波易于通过的条件为（c）：a.Z耦=(Z晶+Z钢)1/2 b.Z耦=(Z钢-Z晶)1/2 c.Z耦=(Z晶Z钢)1/2 d.Z耦=(Z晶/Z钢)1/2
198.在X≥3N的距离上，当声程相同时，若孔径相差一倍，则平底孔回波高度差（a）dB：a.12 b.3 c.6 d.9 199.在X≥3N的距离上，当声程相同时，若孔径相差一倍，则横通孔回波高度差（b）dB：a.12 b.3 c.6 d.9 200.在X≥3N的距离上，当声程相同时，若孔径相差一倍，则球孔回波高度差（c）dB：a.12 b.3 c.6 d.9 201.在X≥3N的距离上，当孔径相同时，若声程相差一倍，则平底孔回波高度差（a）dB：a.12 b.3 c.6 d.9 202.在X≥3N的距离上，当孔径相同时，若声程相差一倍，则横通孔回波高度差（d）dB：a.12 b.3 c.6 d.9 203.在X≥3N的距离上，当孔径相同时，若声程相差一倍，则球孔回波高度差（a）dB：a.12 b.3 c.6 d.9 204.材料的晶粒尺寸约大于多少波长时，超声波的散射会影响试验结果？（b）：a.1 b.1/10 c.1/2 d.1/100 205.声强为I，声压为P，其换算关系式为（d）：a.I=P2/2 b.I=P/2Z c.P=I/2Z d.I=P2/2Z 206.声压反射率r与声强反射率R之间的关系为（d）：a.r=R b.R=(r)1/2 c.r=(R)1/2 d.D=r2 207.声压透射率t与声强透射率T之间的关系为（c）：a.T=t2 b.T=(t)1/2 c.T=(Z1/Z2)t2 d.T=(Z2/Z1)t2 208.声压反射率r与声压透射率t之间的关系为（c）：a.t+r=1 b.t2+r2=1 c.t-r=1 d.(t2+r2)1/2=2 209.超声波从材料1进入材料2,随声阻抗比Z1/Z2的增大，透过声压则（b）：a.增大 b.减小 c.不变 d.以上都不对
210.超声波探伤仪上的“进波报警”是指缺陷回波在下述那种情况下报警?(d)a)低于报警电平b)高于报警电平c)达到报警电平d)b和c 211.脉冲反射式超声波探伤仪中,产生触发脉冲的电路单元叫做(c):a.发射电路 b.扫描电路 c.同步电路 d.标距电路
212.脉冲反射式超声波探伤仪中,产生时基线的电路单元叫做(b): a.触发电路 b.扫描电路 c.同步电路 d.发射电路
213.发射电路输出的电脉冲,其电压通常可达(a): a.几百伏到上千伏 b.几十伏 c.几伏 d.1伏
214.接收电路中,放大器输入端接收的回波电压约有(d): a.几百伏 b.100伏左右 c.十伏左右 d.0.001～1伏
215.调节探伤仪面板上的“抑制”旋钮会影响探伤仪的(d): a.垂直线性 b.动态范围 c.灵敏度 d.以上全部 216.窄脉冲探头和普通探头相比(d): a.Q值较小 b.灵敏度较低 c.频带较宽 d.以上全部
217.探头软保护膜和硬保护膜相比,突出的优点是(c)：a.透声性能好 b.材质声衰减小 c.有利消除耦合差异 d.以上全部
218.脉冲超声波探伤仪的脉冲重复频率和下述哪个电路有关?(c):a.报警电路 b.接收电路 c.同步电路 d.时基电路
219.用纵波直探头探伤,找到缺陷最大回波後,缺陷的中心位置(d)a.在任何情况下都位于探头中心正下方 b.位于探头中心左下方 c.位于探头中心右下方 d.未必位于探头中心正下方
220.超声波检验中,当探伤面比较粗糙时,宜选用(d): a.较低频探头 b.较粘的耦合剂 c.软保护膜探头 d.以上都对
221.探伤时采用较高的探测频率,可有利于(d):a.发现较小的缺陷 b.区分开相邻的缺陷 c.改善声束指向性 d.以上全部
222.缺陷反射声能的大小取决于(d): a.缺陷的尺寸 b.缺陷的类型 c.缺陷的形状和取向 d.以上全部 223.超声波检测条件的主要考虑因素是(f)a.工作频率 b.探头和仪器参数 c.耦合条件与状态 d.探测面 e.材质衰减 f.以上都是
224.半波高度(6dB)法测长适用于(b): a.平底孔 b.粗细均匀的长条形缺陷 c.粗细不均匀的长条形缺陷 225.在评定缺陷大小时通常采用当量法,现发现一个缺陷大小为Φ2mm平底孔当量,该缺陷的实际大小(a)a.大于Φ2mm平底孔 b.小于Φ2mm平底孔 c.等于Φ2mm平底孔 226.在何种情况下,锻钢件超声波检测需要使用对比试块调节探测灵敏度?(c)a.厚度大于等于三倍近场长度,工件表面光洁度大于等于3.2μm,探测面与底面平行 b.厚度大于等于三倍近场长度,工件表面粗糙,探测面与底面平行 c.厚度小于等于三倍近场长度,工件表面粗糙,探测面与底面不平行
227.某锻件采用对比试块法探伤,验收标准为Φ1.2mm平底孔当量,现发现埋藏深度33mm处有一缺陷,应采用下述哪种试块进行评定?(c): a.Φ1.2-25mm b.Φ1.2-30mm c.Φ1.2-40mm d.Φ1.2-50mm 228.对某厚度为50mm的上下面平行的钢锻件采用纵波垂直入射探伤时,发现某局部位置处的底波前沿不在50mm刻度处,而是在46mm刻度处,这可能是(c): a.下表面局部有凹坑造成厚度有变化 b.有缺陷存在 c.以上两种情况都有可能
229.锻件探伤中,荧光屏上出现“林状(丛状)波”时,是由于(d)a.工件中有小而密集缺陷 b.工件材料中有局部晶粒粗大区域 c.工件中有疏松缺陷 d.以上都有可能 230.长轴类锻件从端面做轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是(d):a.三角反射波 b.61°反射波 c.轮廓回波 d.迟到波
231.锻件接触法探伤时,如果探伤仪的“重复频率”调得过高,可能发生(d)a.荧光屏“噪声”信号过高 b.时基线倾斜 c.始脉冲消失 d.容易出现“幻象波” 232.锻件探伤时,那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波?(d):a.边缘效应 b.工件形状及外形轮廓 c.迟到波 d.以上全部
233.某钢锻件毛坯厚度30mm,后续机械加工的表面加工余量为4mm,超声波探伤时应考虑选用下述哪种探头为宜?(e)a.2.5MHz,Φ20mm b.5MHz,Φ14mm c.5MHz,Φ14mm,窄脉冲探头 d.组合双晶直探头 e.c或d 234.钢板超声波检测中,一般用来测量缺陷边界位置的方法是(a): a.6dB法 b.12dB法 c.20dB法 235.在钢板的水浸探伤中,如果入射角为33°(sin33°=0.545),在板中将会产生(b)a.纵波 b.横波 c.纵波与横波两种都有 d.没有纵波,也没有横波 236.管材自动探伤设备中,探头与管材相对运动的形式是(d)a.探头旋转,管材直线前进 b.探头静止,管材螺旋前进 c.管材旋转,探头直线移动 d.以上均可 237.下面有关钢管水浸探伤的叙述中哪点是错误的?(c)a.使用水浸式纵波探头 b.探头偏离管材中心线
c.无缺陷时,荧光屏上只显示始波和1～2次底波 d.水层距离应大于钢中一次波声程的1/2 238.钢管水浸聚焦法探伤中,下面有关点聚焦方式的叙述中哪条是错误的?(b)a.对短缺陷有较高探测灵敏度 b.聚焦方法一般采用圆柱面声透镜 c.缺陷长度达到一定尺寸后,回波幅度不随长度而变化 d.探伤速度较慢 239.钢管水浸聚焦法探伤时,下面有关线聚焦方式的叙述中哪条是正确的?(d)a.探伤速度较快 b.在焦线长度内回波幅度随缺陷长度增大而提高 c.聚焦方法一般采用圆柱面透镜或瓦片形晶片 d.以上全部 240.为探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷,应采取的方法是(b)a.提高探测频率 b.用多种角度探头探测 c.修磨探伤面 d.以上都可以
241.板厚100mm以上窄间隙焊缝的超声检验中,为探测边缘未熔合缺陷,最有效的扫查方式是(b)a.斜平行扫查 b.串列扫查 c.双晶斜探头前后扫查 d.交叉扫查
242.采用双晶直探头检验锅炉大口径管座角焊缝时,调节探伤灵敏度应采用(b)a.底波计算法 b.试块法 c.通用AVG曲线法 d.以上都可以 243.对有加强层的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时,应(d)a.保持灵敏度不变 b.适当提高灵敏度 c.增加大折射角探头探测 d.以上b和c 244.铸钢件超声波探伤的主要困难是(d): a.材料晶粒粗大 b.声速不均匀 c.声阻抗变化大 d.以上全部 245.超声波检测作业中校正时基扫描线(俗称“定标”)是为了(c)a.评定缺陷大小 b.判断缺陷性质 c.确定缺陷位置 d.测量缺陷长度 246.某超声波探伤仪出厂指标中给出“钢中纵波始波占宽15mm”,则(d)a.在铝中应大于15mm b.在水中应小于15mm c.在任何情况下都是15mm d.这是一个参考指标,具体数值与灵敏度和检测对象及条件有关
247.一种超声波探伤仪可直观显示出被检工件在入射截面上的缺陷分布和缺陷深度,这种仪器显示是(b)a.A型显示 b.B型显示 c.C型显示 d.以上都不是 248.下面哪一组性能是超声波探伤仪最重要的性能?(c)a.放大线性,分辨力,示波管屏幕尺寸 b.放大线性,分辨力,盲区 c.放大线性,时间轴线性,分辨力 d.发射功率,耗电功率,重量
249.横波探伤中最常用于调整起始灵敏度的方法是(c): a.底波方式法 b.AVG曲线图法 c.对比试块法 250.水浸法纵波探伤时,水距的选择应当是(a)a.第二次界面回波落在第一次底波之后 b.第二次界面回波落在第一次底波之前 c.第二次界面可处于任何位置
251.有的半圆试块在中心侧壁开有5mm深的切槽,其目的是(c)a.标记试块中心 b.消除边界效应 c.获得R曲面等距离反射波 d.以上全部 252.被检材料表面过分粗糙会导致(d)a.来自内部缺陷的反射幅度下降 b.使声束指向性变差 c.使前表面回波的宽度增大 d.以上都是 253.用2.5MHz,Φ25mm直探头测定厚度100mm钢板的材质衰减,设钢板表面往返损失1dB,现在测得(B1-B2)=5dB,则双声程衰减系数为(a): a.0.04dB/mm b.0.020dB/mm c.0.0625dB/mm d.0.03125dB/mm 254.锻件超声波纵波检测的起始灵敏度调整通常是(c)a.只采用对比试块法 b.只采用底波方式法 c.可以采用对比试块法或底波方式法
255.用超声纵波探测钢锻件(CL=5850m/s),要求能发现Φ0.8mm平底孔当量的缺陷,应选用何种工作频率为宜?(c)a.1.25MHz b.2.5MHz c.5MHz d.10MHz 256.锻件探伤中,下面有关“幻象波”的叙述哪点是不正确的?(d)a.有时幻象波在整个扫描线上连续移动 b.有时幻象波在扫描线上是稳定的且位于底波之前 c.用耦合剂拍打工件底面时,此波会跳动或波幅降低 d.用耦合剂拍打工件底面时,此波无变化
257.欲使用5MHz14mm直探头纵波检测厚度40mm的钢锻件,其灵敏度调试和定量评定的方法最好采用(c)a.底波方式法 b.AVG曲线图法 c.对比试块法 258.下列哪种频率的超声波对铸钢件的穿透力较大?(d): a.5MHz b.10MHz c.2.5MHz d.1MHz 259.下面有关铸钢件探测条件选择的叙述中哪点是正确的?(b)a.探测频率应等于大于5MHz b.透声性好粘度大的耦合剂 c.晶片尺寸小的探头 d.以上全部
260.厚度相同,材料相同,下列那种工件对超声波的衰减大?(b)a.钢锻件 b.铸钢件 c.钢板 d.上述工件的衰减相同
261.锻件探伤时,如果用试块比较法对缺陷定量,对于表面粗糙的缺陷,缺陷实际尺寸会(c)a.大于当量尺寸 b.等于当量尺寸 c.小于当量尺寸 d.以上都可能
262.方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是(c): a.平行且靠近探测面 b.与声束方向平行 c.与探测面成较大角度 d.平行且靠近底面
263.焊缝超声波检测最常采用的是(c): a.纵波法 b.兰姆波法 c.横波法 d.爬波法 e.瑞利波法
264.已知厚度22mm钢板对接焊缝宽度18mm,焊缝加强高1.5mm,V型坡口,使用2.5MHz10x12mm斜探头,其前沿长度(入射点至探头前端面距离)11.5mm,应选用最佳探头标称折射角度为(a): a.45° b.60° c.70° 265.厚板焊缝斜角探伤时,时常会漏掉(a)a.与表面垂直的裂纹 b.方向无规律的夹渣 c.根部未焊透 d.与表面平行的未熔合 266.焊缝斜角探伤时,荧光屏上显示的反射波来自(d): a.焊道 b.缺陷 c.结构 d.以上全部 267.对于Φ83x14mm规格的钢管对接环焊缝探伤时,采用的对比试块最好是(c)a.IIW2试块 b.IIW1试块 c.实际工件试块 d.任何平底孔试块都可以 268.用单斜探头检查厚壁焊缝时最容易漏检的缺陷是(d)a.条状夹渣 b.横向裂纹 c.密集气孔 d.与探测面垂直的大而平的缺陷
269.焊缝斜角探伤时,焊缝中与表面成一定角度的缺陷,其表面状态对回波高度的影响是(a)a.粗糙表面回波幅度高 b.无影响 c.光滑表面回波幅度高 d.以上都可能
270.对圆筒形工件纵向焊缝作横波探伤时,跨距将(a): a.增大 b.减小 c.不变 d.按外或内圆周面探测而增大或减小
271.采用不带中心刻槽的半圆试块调节焊缝探伤的扫描比例时,如果圆弧第一次反射波对准时基刻度2,则以后各次反射波对应的刻度应为(c): a.4,6,8,10 b.3,5,7,9 c.6,10 d.以上都不对 272.某高压无缝钢管的规格为Φ83x20mm,其超声波检测应考虑采用(f)a.纵波法 b.兰姆波法 c.横波法 d.爬波法 e.瑞利波法 f.变型波（纵-横波）法 273.管材周向斜角探伤与板材斜角探伤显著不同的地方是(c)a.内表面入射角等于折射角 b.内表面入射角小于折射角 c.内表面入射角大于折射角 d.以上都可能 274.管材横波接触法探伤时,入射角的允许范围与(c)有关
a.探头楔块中的纵波声速 b.管材中的纵,横波声速 c.管子的规格 d.以上全部
275.某钢棒直径Φ180mm(CL=5900m/s),欲用底波方式法调整起始灵敏度探伤,要求能发现Φ2mm平底孔当量及以上的缺陷,可考虑采用下述哪种探头较适宜?(b)a.5MHz10x2,焦距30mm双晶直探头 b.2.5MHzΦ14mm直探头 c.2.5MHzΦ20mm直探头 d.2.5MHz8x10mm,60°斜探头
276.与表面光滑的工件相比，检验表面粗糙的工件时，一般应采用（a）a.较低频率的探头和较粘的耦合剂 b.较高频率的探头和较粘的耦合剂 c.较高频率的探头和粘度较小的耦合剂 d.较低频率的探头和粘度较小的耦合剂 277.用水浸法检查工件时，通常用于产生横波的方法是（d）
a.用纵波垂直于界面发射到工件中去 b.用两个不同振动频率的晶片 c.沿Y轴切割石晶英晶体 d.适当地倾斜探头
278.用纵波水浸法探测钢材时，为防止在第一次底面回波前面出现二次界面回波，水层厚度为25mm时，能探测钢材的最大厚度为（b）：a.50mm b.100mm c.150mm d.200mm 279.检验近表面缺陷，最有效的方法是（d）：a.可变角探头 b.直探头 c.斜探头 d.收发联合双晶探头。280.探测分散的气孔反射波较低，这是因为（b）
a.气孔内充满了空气 b.气孔通常是园球形，其反射波是发散的 c.气孔表面通常是很光滑的。
281.在检验工件时若无缺陷显示，则操作者应注意底面回波，若底面回波的高度剧烈下降，引起这种情况的原因可能是（d）：a.大而平的缺陷与入射声束取向不良 b.疏松 c.晶粒粗大 d.以上都是
282.用单斜探头检验厚焊缝容易漏掉（b）：a.线状夹渣 b.与探测面垂直的大而平的缺陷 c.密集气孔 d.未焊透
283.在检验大锻件时，通常采用（c）：a.轴向检验 b.径向检验 c.轴向、径向检验 284.厚钢板内部与探测面呈45°倾斜的平滑片状缺陷，最有效的探伤方法是（b）a.单探头纵波法 b.单探头横波法 c.双斜探头前后串列法
285.直探头探测厚250mm及500mm的两个饼形锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差5dB，材质衰减均为0.004dB/mm，前者的底面回波调至示波屏满幅度的80%，则后者的底面回波应为满幅度的（c）a.5% b.10% c.20% d.40% 286.管子的槽形参考标准，应把槽加工在管子的（a）
a.内外表面 b.只在内表面 c.只在外表面 d.从内表面到壁厚的1/2深度 287.超声波探伤试块的作用是（e）
a.检验仪器和探头的组合性能 b.确定灵敏度 c.缺陷定位 d.缺陷定量 e.以上都是
288.已选定某一聚焦探头对管材作水浸聚焦探伤，如果聚焦点不能调整到被检管件的中心轴线上，而偏离中心轴线一定距离，在管壁内将出现（b）：a.盲区增大 b.无底波反射 c.多种波型传播
289.锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（c）
a.反射波峰尖锐 b.反射波稳定但较波幅低 c.反射波幅低，回波包络宽度较大 290.斜探头测焊缝时，正确地调整仪器的水平或深度比例主要是为了（e）。
a.识别焊道回波和缺陷波 b.判定缺陷的大小 c.判定缺陷的长度 d.判断缺陷的位置 e.达到a和d的目的 如右图所示：
291.探头C正在进行（d）
a.距离测定 b.分辨力测定 c.灵敏度校验 d.折射角测定
292.探头B正在进行（d）
a.灵敏度调节 b.距离测定 c.声速测定 d.横波分辨力测定 293.探头A正在进行（d）
a.验证楔块角度 b.灵敏度调节 c.分辨力测定 d.斜探头入射点测定 294.探头D正在进行（b）
a.验证楔块角度 b.直探头分辨力测定 c.灵敏度测定 d.距离校验
295.在利用实心轴上圆柱面底波按AVG方法校正探伤灵敏度时，为了保证轴的直径不小于3.7N，通常可通过（a）使之实现
a.减小探头尺寸 b.加大探头尺寸 c.降低检测频率 d.以上都不对
296.当用双晶直探头在平面上扫查时，应尽可能使探头隔声片的放置方向与探头扫查方向（c）a.平行 b.成45°角 c.垂直 d.成60°角
297.当探头横向移动时，比探头尺寸小的缺陷所产生的信号幅度会发生起伏变化，这个区域称为（b）a.远场区 b.近场区 c.过渡区 d.阴影区
298.液浸探伤时，采用（b）方法可消除探头近场的影响
a.提高频率 b.合适的水层距离 c.大直径探头探测 d.聚焦探头探测
299.钢件或铝件水浸探伤时，始脉冲和工件表面反射波之间显示的水层反射间隔很宽，这是由于（a）所致 a.水中声速比工件声速低 b.水中声速比工件声速高 c.水中温度高 d.以上都是 300.参考反射体中，（c）与声束角度无关：a.平底孔 b.V形缺口 c.横通孔 d.大平底 301.参考反射体中，（c）与声束角度无关：a.平底孔 b.U形缺口 c.横通孔 d.柱孔 302.金属零件中的粗大晶粒通常会引起（d）
a.底波降低或消失 b.较高的杂波 c.超声波的穿透力降低 d.以上都是
303.同种波型的声波，反射角（a）：a.等于入射角 b.取决于使用的耦合剂 c.取决于使用的频率 d.等于折射角
304.在频率相同的条件下，在粗晶材料中的穿透力最大的波型是（a）：a.纵波 b.横波 c.表面波 d.以上都不是
305.公式(sinθ1)/C1=(sinθ2)/C2是用来计算（a）：a.角度关系 b.相速度 c.声能反射量 d.声阻抗 306.在水/钢界面上，超声波在水中的入射角为7°，钢中的主要波型为（c）a.纵波 b.横波 c.纵波与横波 d.表面波
307.与表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件探伤时通常需要使用（a）a.频率较低的探头和粘度较高的耦合剂 b.频率较高的探头和粘度较低的耦合剂 c.频率较高的探头和粘度较高的耦合剂 d.频率较低的探头和粘度较低的耦合剂 308.增大超声波在粗晶材料中的穿透力，可以（b）
a.用直径较小的探头进行检验 b.在细化晶粒热处理后进行检验 c.将接触法检验改为液浸法检验 d.将纵波检验改为横波检验
309.锻件中，非金属夹杂物的最可能取向是（c）
a.与主轴线平行 b.与副轴线平行 c.与锻件流线一致 d.与锻件流线约成45°角 310.检验形状复杂的锻件的最好方法是（b）
a.用带有经校准的衰减器和C扫描记录仪的探伤仪对精加工锻件进行液浸自动探伤 b.锻造前对锻坯进行检验，精加工后对形状许可的部位再进行检验 c.对成品件进行手工接触法检验 d.锻造前对锻坯进行自动液浸检验 311.确定探伤灵敏度的最常用的方法是（b）
a.根据频率和压电晶片的厚度进行计算 b.用人工缺陷的反射信号幅度确定 c.与同种探头进行比较 d.确定探头的振荡时间
312.用横槽作为参考反射体，探测（b）最适宜
a.滚轧板材中的疏松 b.焊缝根部的未焊透 c.焊缝中的气孔 d.内部夹杂物 313.在A型超声波探伤仪中，射频脉冲发生器的输出电压一般在（c）范围内 a.1-10伏 b.10-100伏 c.100-1000伏 d.1000-3000伏
314.粗糙表面会使工件内的缺陷回波振幅（b）：a.增大 b.减小 c.无变化 d.改变频率 315.制作声发射器最好的材料是（c）：a.石英 b.硫酸锂 c.锆钛酸铅 d.以上都不对 316.制作声接收器最好的材料是（b）：a.石英 b.硫酸锂 c.钛酸钡 d.偏铌酸铅 317.根据近场长度公式，可以通过（d）方法减小近场长度 a.减小水距 b.增大探头直径 c.减小反射体 d.降低试验频率
318.一般说来，缺陷越薄，对声波的反射越差，当能得到最大反射时，缺陷厚度最小的尺寸等于（a）a.四分之一波长 b.二分之一波长 c.一个波长 d.二分之一波长的奇数倍
319.管子的槽形参考反射体应加工在（a）：a.管子内外表面 b.内表面 c.外表面 d.从内表面到壁厚的二分之一深度
320.管子水浸探伤时常采用聚焦探头，其优点为（d）
a.能改善指向性 b.使声束入射角保持不变 c.能提高信噪比 d.以上都是 321.有晶片所发射的超声波声束的扩散主要取决于（c）
a.探伤类型 b.晶片背衬的致密性 c.频率和晶片尺寸 d.脉冲宽度 322.（d）探头具有较长的近场长度 a.1兆赫，Φ14毫米 b.2.5兆赫，Φ14毫米 c.1兆赫，Φ20毫米 d.2.5兆赫，Φ30毫米 323.（d）频率的探头可获得最佳分辨力：a.1兆赫 b.5兆赫 c.10兆赫 d.25兆赫 324.（d）频率的探头具有最薄的石英晶片：a.1兆赫 b.5兆赫 c.10兆赫 d.25兆赫 325.探头中使用压电陶瓷晶片的优点是（a）
a.能最有效地发射超声波能量 b.能最有效地接收超声波能量 c.具有很低的机械阻抗 d.能在700℃高温下工作
326.仪器抑制旋钮的功能是（b）
a.只抑制杂波而对缺陷波无影响 b.限制检波后的信号输出幅度，同时抑制杂波和缺陷波 c.可以改善仪器的垂直线性 d.可以提高仪器的动态范围
327.一台经校准好的超声波探伤仪，其垂直线性误差应为（b）：a.＞8% b.≤8% c.20分贝 d.6分贝 328.一台新出厂的的超声波探伤仪，其水平线性误差应为（d）：a.＞6分贝 b.＞2% c.＜6分贝 d.≤2% 329.水浸探伤法的优点是（d）：a.能提高探测速度 b.易于控制声束入射方向 c.易实现自动探伤 d.以上都是
330.利用三个平底孔绘制实测“距离-波幅”曲线时，有时所得到距探测面最近的孔的反射回波幅度较其他两孔的低，这是由于（d）所致：a.三平底孔试块的探测面表面状态不一致 b.近场的影响 c.孔的几何形状不正确 d.以上都是
331.使用2.5兆赫、Φ20毫米直探头探测如右图所示的筒体锻件，探测时以筒体内表面作参考反射体，起始灵敏度为Φ2毫米平底孔，波高40%，此时的校验分贝和探测分贝各为（a）：a.32.8分贝和0分贝 b.35分贝和0分贝 c.39分贝和0分贝 d.38分贝和0分贝
332.被探钢板厚度为19毫米，探测时，当波形出现叠加效应，则对缺陷的评价应以（b）为据：a.F1回波的大小 b.F2回波的大小 c.B1回波的大小 d.以上都不对 333.用25兆赫硫酸锂晶片制的探头最适宜采用（b）探伤 a.纵波接触法 b.水浸探伤法 c.横波接触法 d.表面波接触法 334.频率大于5兆赫的探头最适宜于（d）a.铝锭的纵波接触法探伤 b.钢管的横波接触法探伤 c.金属板材的接触法探伤 d.水浸法探测小口径薄壁管
335.钢管水浸探伤时，水中加入适量润湿剂的目的是（c）
a.调节水的粘度 b.消除水中气泡 c.提高水的浸润能力 d.防止水的混浊 336.水浸探伤时，钢管用横波检测的条件是（b）
a.T/D≤40%或T/d≤20% b.T/D≤20%或T/d≤40% c.T/D≤25%或T/d≤50% d.T/D≤50%或T/d≤25% 式中：T-壁厚；D-管子外径；d-管子内径
337.锻件探伤时，若材料中存在白点，其特征为（d）
a.回波清晰、尖锐 b.缺陷的区域较大且集中于工件中心部位 c.会造成底波衰减 d.以上都是
338.锻件超声波探伤时，探测灵敏度的校验可以使用（d）：a.AVG曲线 b.参考试块 c.工件的大平底 d.以上都是
339.斜探头在磨平的焊缝上进行扫查，主要用于检测（b）：a.纵向缺陷 b.横向缺陷 c.表面缺陷 d.以上都是
340.焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（c）
a.平行于探测面的缺陷 b.与探测面倾斜的缺陷 c.垂直于探测面的缺陷 d.不能用斜探头检测的缺陷 341.由于工件表面与试块的表面粗糙度不一致，因此在超声波探伤时应考虑（b）
a.通过机械加工使工件表面与试块表面的光洁度一致 b.补偿因表面耦合损耗而引起的分贝差值 c.采用黄油作耦合剂 d.以上都不是
初、中级无损检测技术资格人员-超声检测考题汇编 填空题 1.指出右图中各表示什么显示方式? 从左到右：（A）（B）（C）
2.所谓声强，就是在（单位时间）内（垂直）通过（单位面积）的超声能量，它具有（功）的概念 3.在异质界面上，当超声波（纵）波的（折射）角等于90℃时的（纵）波（入射）角称为第一临界角 4.超声波只有在（斜射）时才能在异质界面发生波型转换，并且至少一侧为（固）体
5.超声波检测中，采用横轴表示实际声程，纵轴表示规则反射体相对波高的坐标曲线是描述（距离）、（波幅）、（当量大小）之间关系的曲线，又称实用AVG曲线，在调节（探伤灵敏度）和对缺陷（定量）中得到了广泛应用
6.超声波的波长由声速与频率求得，而声速则由（材质）和（波的种类）决定的 7.超声波检测中，2.25MHz探头的分辨率比5MHz探头的分辨率（差）
8.当超声波声程大于3N时，如声程相同，若平底孔面积相差一倍，则波高相差（6）dB，若长横孔直径相差一倍时，则波高相差（3）dB 9.在超声波检测中，相同的探测灵敏度下，缺陷波幅决定于缺陷的（大小）、（取向）与（类型）10.超过人耳听觉范围的声波称为超声波，它的频率高于（20千赫），属于（机械波）
11.波长λ、声速C、频率f之间的关系是（λ=c/f）。应用2P20x20 60°的探头探测钢时，钢材中超声波的波长是（1.6mm）
12.（纵波）、（横波）和（表面波）可在固体中传播，只有（纵波）可在液体中传播 13.兰姆波只能在（固体）中传播
14.超声波传播的条件是（有发射声波的声源）、（有传播声波的弹性介质）15.超声波在传播过程中仅有（能量的传播），没有（物质的迁移）16.超声波的波阵面是指某一瞬间（同相位振动）的各质点构成的空间曲面
17.介质中质点振动方向和传播方向垂直时，此波称为（横波）。介质中质点振动方向和波的传播方向平行时，此波称为（纵波）。横波的声速比纵波的声速（慢）。焊缝探伤主要用（横波）
18.超声波在传播过程中产生干涉现象是由于（两束以上的波）相互作用，引起强度（重新分布）的结果。19.超声波在介质中的传播速度就是（声能）的传播速度
20.一般来说，在频率一定的情况下，在给定的材料中，横波探测缺陷要比纵波灵敏，这是因为（横波比纵波的波长短）
21.超声波探伤用的横波，具有的特性是（质点振动方向垂直于传播方向），（传播速度约为纵波速度的1/2）
22.频率都是2.5MHZ的纵波和横波在探测钢时的波长分别是(2.34mm)和(1.3mm),在探测铝时的波长分别是(2.6mm)和(1.26mm)23.钢中声速最大的波型是（纵波）
24.在固体表面能沿园滑过渡的边角传播的超声波称为（表面波）25.传播速度略小于横波，不向材料内部传播的超声波是（表面波）
26.在传播超声波的介质内，由于交变振动产生了压强，这种交变的附加压强就叫做（声压），单位时间内通过超声波传播方向垂直截面单位面积上的声能称为（声强），后者与前者的振幅平方正比。27.近场区是指（邻近探头），声压（无规律）变化，有极大值和极小值的区域 28.远场区是指远离探头，随着（距探头的距离）增加，声压（单调下降）的区域
29.邻近压电晶片，声压分布不均匀的超声场为（近场）此区长度在频率给定时，随晶片直径变小而（缩短）。用公式L0=（D2-λ2）/4λ表示
30.设晶片表面的平均入射声压为P0则理想园平面小缺陷的反射声压PF=P0As•S/λ2X2，反射波的声压与缺陷面积S成（正）比，同时与缺陷距离X的（平方）成反比而（减少）。面积为As的晶片近场距离为N，当距离在1.6N以外时,这个算式可以认为基本上是成立的。
31.设超声波的入射声压为P0，则大平底面而产生的反射波声压PF=P0As/2λX，反射波的声压与晶片面积成（正）比而增大，与距离成（反）比而减少。这个算式对晶片面积为As，距离在1.6N以外的声场基本上适用。
32.超声波投射到界面上，在同一介质中改变其传播方向的现象叫做（反射）33.超声波从一种介质进入另一种不同介质而改变传播方向的现象叫做（折射）
34.超声波从一种介质进入另一介质后，其声束轴线与界面法线所成的夹角称为（折射角）35.同一介质中，同一波型的超声波反射角（等于）入射角
36.超声波到达两个不同材料的界面上，可能发生（反射、折射、波型转换）
37.超声波从一种介质进入另一介质，入射声束轴线与界面法线所成的夹角称为（入射角）
38.在离晶片的一定距离外，超声波按一定角度扩散。在超音波检测中，这个角度是以（声压）在理论上是零点的位置作为基准的，即说指向角θ0=70λ/D 39.公式sinθ1/C1= sinθ2/C2叫做（折射定律）40.使一种波产生90°折射的入射角叫做（临界角）
41.超声波垂直入射至异质界面时，反射波和透射波的波型（不变）
42.为使经折射透入第二介质的超声波只有横波，纵波在第一介质的入射角应（在第一和第二临界角之间）43.有一个5P20x10 45°的探头，有机玻璃楔块内声速为2730m/s，被检材料（碳钢）中的声速为3230m/s，求入射角α的公式为（α=Sin-1(3230/2730)•Sin45°）
44.超声波从水中以5°角入射到钢内，此时的横波折射角（小于）纵波折射角
45.在水/钢界面上，水中入射角为7°，在钢中主要存在的振动波型是（纵波、横波同时存在）
46.用入射角为30°的有机玻璃斜探头探测钢时，折射横波的折射角是（36°）。要使钢中折射横波的折射角是45°，纵波在水中的入射角应是（19.17°）。
47.超声波以一定角度入射在不同介质的界面上，第二介质中声波折射角的大小是由（两个介质中声速）决定的
48.超声波在介质中传播时，任一点的声压和该点振动速度之比称为（声阻抗），它常用（介质密度）和（声速）的乘积来表示
49.超声波纵波从水中倾斜入射到金属材料中时，折射角主要取决于（水与金属的相对声速及声波入射角）50.超声波通过一定厚度的薄层介质时，若介质两侧面的物质声阻抗相等，则薄层厚度为（1/2波长的整倍数）时，将有最大的声压透过率
51.探头前保护膜的声阻抗公式，（Z=声阻抗）应是（Z保护膜=(Z晶片xZ工件)1/2）
52.超声波通过两种材料的界面时，如果第一介质的声阻抗比较大，但声速与第二介质相同，则折射角与入射角（相同）
53.超声波从材料1进入材料2，随声阻抗比Z1/Z2的增大，而透过声压（减小）54.表征材料声学特性的材质衰减，主要是由（散射和吸收）所引起的
55.当超声波的波长与金属晶粒相比，数值相近，或小于晶粒时，（衰减）显著、穿透能力减弱，同时由于晶粒反射，出现（杂乱）回波，不易检出缺陷。
56.为减小超声波通过介质时的衰减和避免林状回波，宜采用（较低）频率和（纵）波进行探伤。57.因工件表面粗糙使超声波束产生的漫射叫做（散射）
58.缺陷反射能量的大小取决于缺陷的（尺寸）、（方位）、（类型）59.晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚则频率（越低）
60.一般地说，如果频率相同，则在粗晶材料中，穿透力强的波型是（纵波）
61.在小工件中，声波到达底面之前，由于声束扩散，在试件侧面可能会有（波型转换）产生 62.由发射探头发射的超声波，通过试件后再由另一接收探头接收，这种检验方法称 为（穿透法）63.莱姆波可用于检查（薄板）
64.晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为（垂直法）65.靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为超声波检测仪器存在有仪器（阻塞）效应 66.超声波探伤中常用的换能器是利用（压电）原理
67.把某些材料所具有的，能使电能与机械能相互转换的特性称为（压电）效应
68.声程大于3N时，声程增加一倍，大平底的反射声压为原来的（1/2倍），平底孔的反射声压为原来的（1/4倍），横通孔的反射声压为原来的（1/2.8倍），球孔的反射声压为原来的（1/4倍）。
69.声程大于3N时，若声程相同，则孔径增加一倍时，平底孔反射声压为原来的（4倍），横通孔的反射声压为原来的（1.42倍），球孔的反射声压为原来的（2倍）
70.一般地说，在远场区，同一深度的平底孔，直径增大一倍，其回波高度提高（12dB）71.大平底的反射声压公式（PF=P0As/2λX（Ａs-晶片面积））72.平底孔的反射声压公式为（PF=P0As•S/λ2•X2（S-平底孔面积））73.球孔的反射声 压公式为（PF=P0As•d/4λX2（d-球孔直径））
74.长横通孔的反射公式为（PF=[P0As/2(2)1/2•λ]•(d/X3)1/2（d-横通孔直径））
75.在远场区，同直径的平底孔，声程从100mm增大到300mm，若不计材质衰减，则声压减小（19dB）76.在远场，同声程的长横通孔，直径从2mm增大到8mm时，其回波声压提高（6dB）77.在远场，同直径长横通孔，声程增大1倍，不计材质衰减，则声压减小（9dB）78.在下述回波高度比和分贝关系中，填入正确的分贝值 回波高度比 0.1 0.5 1 2 10 0.01 0.158 0.354 0.56 1.41 dB值-20-6 0 6 20-40-16-9-5 3 79.晶片发射的超声波声压，在1.6N以外，与晶片面积S成（正）比，与波长成（反）比，因此频 率越高，（声压）也越大
80.声程大于3N且声程相同时，若孔径差1倍，平底孔回波高度差（12）dB，横通孔的回波高度差（3）dB，球孔回波高度差（6）dB。
81.声程大于3N且声程相同时，若孔径相同，声程差一倍，平底孔回波高度差（12）dB，横通孔的回波高度差（9）dB，球孔回波高度差（12）dB。
82.当某些晶体受到拉力或压力时产生形变，从而晶体的表面上出现电荷，这种现象称为（压电）效应，这一效应是可逆的
83.压电晶片是具有压电效应的晶体材料，用于超声波探伤的压电晶体材料，如石英、硫酸锂、碘酸锂等是（单晶）体，而钛酸钡、锆钛酸铅是（多晶）体，也称（压电陶瓷）84.把电能转变成超声声能的器件叫做（换能器）
85.超声波检测常用的探头种类有（直探头）、（斜探头）、（组合双晶探头）、（水浸探头）。（任写四种）
86.液浸聚焦探头设计中，声透镜的声速为C1，液体中的声速为C2，若C1＞C2，声透镜应加工成（平凹）形。若C1＜C2，声透镜应加工成（平凸）形。若C1=C2，声透镜（不产生）聚焦
87.水浸法比直接接触法优越，主要是由于不受（工件表面光洁度）影响，还可以实现声束（聚焦）的缘故 88.为实现钢管的横波探伤，要求入射角在（第一临界角）和（第二临界角）之间
89.当横波入射到平面缺陷时，在一定条件下，就会产生（波型转换），这种现象与横波（入射角）有关 90.超声波声速与介质弹性系数、密度之间的关系式是（CL=[(E/ρ)(1-σ)/(1+σ)(1-2σ)]1/2）91.共振式超声波仪器主要采用（连续纵波）
92.为了在工件中得到纯横波，不但要选择合适的（入射角），而且要给斜探头选择合适的斜楔材料，应满足斜楔材料的纵波声速（小）于工件中的横波声速
93.为了在工件中得到纯横波，不但要选择合适的（入射角），而且要给斜探头选择合适的（斜楔材料）94.为了给tgβ=2.5的斜探头设计一个适合1:1水平定位法，并使得第一次回波前沿出现在第三格，第二次回波前沿出现在第九格的半圆试块，该试块的半径应是（32.3）mm 95.在测试某台超声波检测仪的垂直线性时，首先要做出如下一组衰减量与理论回波高度的对应数值，再根据实测回波高度对应值，然后计算该仪器的垂直线性误差，请填出下述表格中0、6、12、18、24dB时的理论回波高度对应数值
衰减量（dB）0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 波高值（%）100
50.1
25.1
12.6
6.3
96.对下图中示出的工件选定适合的超声波入射方向和探测面:
97.粗晶材料的探伤可选用（较低）频率的探头
98.由于工件表面粗糙，而造成声波传播的损耗，其表面补偿dB值应用（实验）方法测定
99.用纵波水浸法探测钢材时，为防止在第一次底面回波前面出现二次界面回波，水层厚度为25mm时，能探测钢材的最大厚度为（100mm）
100.直探头探测厚250mm及500mm的两个饼形锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差5dB，材质衰减均为0.004dB/mm，前者的底面回波调至示波屏满幅度的80%，则后者的底面回波应为满幅度的（20%）101.超声波探伤报告的主要内容是（被检产品的基本状况）、（探伤方法）、（探伤条件）、（验收标准）、（探伤结论）、（操作者）、（审核人）、（探伤日期）102.管子的槽形参考标准，应把槽加工在管子的（内外表面）
103.超声波探伤试块的作用是（检验仪器和探头的组合性能）、（确定灵敏度）、（缺陷定位）、（缺陷定量）
104.组成直探头的元件有（压电晶片）、（吸收块）、（高频接线和地线）、（保护膜）、（外壳）等，其中（压电晶片）是主要元件，其功能是将（电能）转变成（声能），并且可逆
105.超声波探头中的吸收块所起的作用是（抑制不需要的振动）和（吸收杂波），常用（环氧树脂粉加钨粉）制成
106.超声波探头中的匹配吸收块（即阻尼块），其作用是阻尼晶片的振动使脉冲便窄，限制从晶片背面发射的声波，以防止出现杂波。探头若不加阻尼块，始脉冲应会变（宽），盲区变（大），分辩力（降低）107.斜探头的楔块应采用（纵波声速比被检工件横波声速小）的材料制成，它的功能是将（纵波）按给定的（入射角）斜射到工件表面，在界面发生折射，形成（横波）或（瑞利波）或（兰姆波）在工件中传播 108.联合双直探头有（两）块压电晶片，在电路上和声路上（彼此分离），晶片前装有（延迟块），此种探头有盲区（小），有助于（近表面缺陷）的检出
109.频率（高）的探头容易产生（宽度窄）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（高）频率的探头。
110.超声波探伤仪最重要的性能指标有（分辨力）、（动态范围）、（水平线性）、（垂直线性）、（灵敏度）、（信噪比）。
111.波束中心入射到试件探测面的一点叫（入射点），此点到探头楔块前端的一段距离叫探头的（前沿距离），入射点变化时，此段距离（也变化）。
112.如果仪器采用锯齿扫描发生器，其扫描锯齿波形的好坏程度，决定了扫描（水平线性）的好坏。113.使用AVG曲线法定量时，仪器调节中，不应该使用（“深度补偿”）和（“抑制”）114.调节“抑制”旋钮，会影响仪器的（垂直线性）和（动态范围）
115.超声波检测仪中，以荧光屏纵轴显示超声波信号强度，以横轴显示超声波传播时间或反射体深度的脉冲显示法叫做（A扫描显示）
116.利用阴极发射的电子束在荧光屏上显示图象的电子管叫做（阴极射线管）117.超声波检验中，脉冲的持续时间称为（脉冲宽度）
118.一个垂直线性好的仪器，在荧光屏上波幅从80%处降至5%时，应衰减（24）dB 119.在A型扫描显示中，电子束在阴极射线管的荧光屏上均匀重复移动，所形成的水平线叫做（扫描线）120.超声波检测仪中，产生高压电脉冲以激发探头工作的电路单元称为（脉冲发生器）
121.被放大的信号幅度与缺陷的反射面积成正比关系，放大器这一非饱合的放大区域称为（线性范围）122.能将两个相邻缺陷在示波屏上区分开的能力叫（分辨力）123.探伤仪发射电路部分的功用是（发射电脉冲）
124.仪器的盲区，除了与探头特性有关外，主要还决定于接收放大器在强信号冲击下的（阻塞）时间。125.国际焊接学会的IIW试块可用来测定超声波检测仪和探头的组合性能指标，其中包括：（水平线性）、（垂直线性）、（灵敏度）、（分辨力）、（盲区）、（声程）、（入射点）、（折射角）
126.国际焊接学会的IIW试块其厚度为（25）mm，宽度为（100）mm，长度为（300）mm，凹槽上的（85）mm及槽两侧的91mm和（100）mm可用于测定探头的（分辨力）
127.钢板探伤中，当同时存在底波和伤波时，说明钢板中存在（小于）声场直径的缺陷。
128.当第一次和第二次底波之间出现伤波时，钢板中可能存在尺寸很大的缺陷，也可能存在尺寸很小的缺陷，可以用（6dB法）测量缺陷的边界位置
129.当板材厚度为δB，水层厚度为δS时，要求采用四次重合法探伤。其条件分别为一次重合法时（δS1=δB/4），二次重合法时（δS2=δB/2）、三次重合法时（δS3=3δB/4）、四次重合法时（δS4=δB）130.管件探伤的入射角公式为（(CL1/CL2)≤sinα≤(r/R)•(CL1/CS2)，式中： R—管子外径，r—管子内径）131.管子超声波探伤中，超声波在耦合介质中聚焦点的内半角公式为（θ=tg-1(D/2F)式中：D-晶片直径；F-焦距）
132.已选定某一聚焦探头对管材作水浸聚焦探伤，如果聚焦点不能调整到被检管件的中心轴线上，而是偏离中心轴线一定距离，在管壁内将出现（无底波反射）
133.采用大平底反射波探测锻件，在计算缺陷当量大小时，要注意缺陷是否在（3倍近场长度）以外 134.采用大平底反射波探测锻件时，一定注意底面的（平直度）
135.在单探头扫查法中，分为①（锯齿型）扫查法、②（转角）扫查法、③（环绕）扫查法、④（斜平行）扫查法、⑤（沿焊缝两侧平行）扫查法
136.焊缝超声波检测中，由于焊缝加强高的存在，探头一般（不放在）焊缝上，而是将探头（放在钢板上），超声波倾斜射入焊缝进行探伤。
137.直接用缺陷波高来比较缺陷的大小，仪器的“抑制”和“深度补偿”旋钮应置于（关）的位置
138.厚板上进行焊缝探伤时，如焊缝不磨平，应从工件的（内）表面和（外）表面，在焊缝（两）侧，共
（四）个探测面探伤。
139.厚板上进行焊缝探伤时，如焊缝磨平，为发现焊缝的横向缺陷，应在焊缝上，沿焊缝的（纵）向探测 140.与表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件作超声波检测时，通常使用频率较（低）的探头和粘度较（高）的耦合剂
141.超声波检测用的探头中，置于压电晶片背面的阻尼块有三个基本作用，第一是用于固定（晶片位置），第二是用于吸收（晶片背面的超音波），第三是用于减少（晶片持续振动时间），从而使得脉冲宽度变（窄）142.钢板的直探头探伤中，显示于示波屏上的缺陷回波图形可以分为三种，它们是：（底波多次反射和缺陷的多次反射波同时出现）、（只有缺陷的多次反射波出现）、（只有一些紊乱的波）143.钢板探伤的扫查方式有：（全面扫查）、（格子线扫查）、（列线扫查）、（边缘扫查）144.选择焊缝探伤中的斜探头折射角时，为使整个焊缝截面不漏检，选用的折射角β必须满足（tgβ≥(D+L)/T，式中：D-焊缝宽度；L-探头前沿长度；T-钢板厚度）
145.超声波检测仪上的衰减器精度一般用（每12dB）或（每2dB）中的误差表示 146.对试样进行接触法斜角探伤时，如果入射角达到第二临界角，就会产生（表面波）147.换能器频率与晶片厚度有关，晶片越（薄），频率越（高），材料对声能的衰减越（大）148.在直径一定的条件下，晶片频率提高时，声束扩散角将（减小），声指向性将（改善）149.透镜的曲率半径增大时，透镜的焦距将（增大）150.透镜的曲率增大，透镜的焦距将（缩短）
151.垂直探伤时，工件探测面与底面不平行，底波将（降低）或（消失）152.在（远场）区，缺陷显示的振幅随传播距离的增加而按指数规律降低 153.纵波折射角90°时所对应的入射角称为（第一临界角）154.超声波传播过程中的能量总消耗称为（衰减）
155.当入射角选在第一临界角和第二临界角之间，在工件中传播的超声波为（横）波 156.横波折射角90°时所对应的入射角称为（第二临界角）
157.声波遇到异质界面时，在原介质中改变传播方向的现象叫做（反射）现象
158.超声波从一种介质进入声速不同的另一种介质后，其方向发生变化的现象叫做（折射）现象 159.超声波探伤中，晶片是由具有（压电效应）的（压电）晶体制作的
160.超声波在介质中传播时，介质的密度和声波传播速度的乘积称为（声阻抗）161.横波主要用来检查（管材）和（焊缝）
162.超声波探伤仪在单位时间内产生的脉冲数目叫做（脉冲重复频率）163.检验近表面缺陷最有效的方法是采用（收发联合双晶）探头
164.在远场区，同一深度的平底孔，直径增大一倍，其回波高度提高（12）分贝 165.在远场区，同声程的横孔直径从2毫米增大到8毫米时，其回波高度提高（6）分贝 166.在远场区，同直径横孔声程增大一倍时，不计材质衰减，其回波高度降低（9）分贝 初、中级无损检测技术资格人员-超声检测考题汇编
是非判断题（在每题后面括号内打“X”号表示“错误”，画“○”表示正确）1.最常用的超声波换能器是利用压电效应发射和接收超声波的()2.在超声波检测中最常用的超声波换能器是利用磁致伸缩效应发射和接收超声波的()3.质点完成五次全振动所需要的时间，可以使超声波在介质中传播五个波长的距离()4.一般的超声波检测仪在有抑制作用的情况下其水平线性必然变坏()5.脉冲宽度大的仪器其频带宽度窄()6.超声波检测时要求声束方向与缺陷取向垂直为宜()7.在同一固体介质中,纵波的传播速度为常数()8.在同一固体介质中,横波的传播速度为常数()9.在同一固体介质中,瑞利波的传播速度为常数()10.在同一固体介质中,兰姆波的传播速度为常数()11.超声波表面波不能在液体表面传播()12.在同一固体材料中,传播纵,横波时的声阻抗相同()13.声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数,温度变化对材料的声阻抗也会有影响()14.第二介质中折射的横波其折射角达到90°时的纵波入射角为第二临界角()15.第二介质中折射的横波其折射角达到90°时的纵波入射角为第一临界角()16.第二介质中折射的纵波其折射角达到90°时的纵波入射角为第二临界角()17.第二介质中折射的纵波其折射角达到90°时的纵波入射角为第一临界角()18.频率和晶片尺寸相同时,横波声束指向性不如纵波好()19.在水中不仅能传播纵波，也能传播横波()20.有机玻璃声透镜水浸聚焦探头,透镜曲率半径越小,焦距越大()21.有机玻璃声透镜水浸聚焦探头,透镜曲率越大,焦距越大()22.吸收衰减和散射衰减是材料对超声能量衰减的主要原因()23.钢中声速最大的波型是纵波()24.钢中声速最大的波型是横波()25.钢中声速最大的波型是兰姆波()26.超声波在异质界面上倾斜入射时,同一波型的声束反射角大于入射角()27.超声波在异质界面上倾斜入射时,同一波型的声束反射角小于入射角()28.商品化斜探头标志的角度是表示声轴线在任何材料中的折射角()29.为了在试件中得到纯横波,斜探头透声斜楔材料的纵波速度应大于被检试件中的纵波速度()30.超声波在介质中的传播速度与波长成正比()31.超声波在铝中传播时,频率越高,波长越短()32.超声波在钢中传播时,频率越低,波长越短()33.超声波在介质中的传播速度等于质点的振动速度()34.在同种固体材料中,纵,横波声速之比为常数()35.声源面积不变时,超声波频率越高,超声场的近场长度越长()36.采用高频探伤可以改善声束指向性,提高探伤灵敏度()37.不同压电晶体的频率常数不一样,因此用不同压电晶体作成频率相同的晶片时其厚度不同()38.兰姆波波速在一定介质中不为常数()39.超声波探头的近场长度近似与晶片直径成正比,与波长成反比()40.超声波探头的半扩散角近似与晶片直径成正比,与波长成反比()41.超声波探头发射超声波利用的是逆压电效应,而接收超声波则是利用的正压电效应()42.超声波束的指向角是在晶片直径一定的情况下,频率越低,指向角越小()43.超声波束的指向角是在晶片直径一定的情况下,频率越高,指向角越小()44.声透镜的曲率越大,焦距越短()45.声透镜的曲率半径越大,焦距越短()46.波长越短,近场长度越短,晶片直径越大,近场长度也越长()47.不同的材料具有不同的材料弹性和密度，因此同一波型的超声波在不同材料中的传播速度不同()48.同一波型的超声波在不同材料中的传播速度是相同的()49.超声波纵波在异质界面上发生反射时，反射波中必定会分离出反射纵波与反射横波()50.根据公式：C=λ•f 可知声速C与频率f成正比，因此同一波型的超声波在高频时传播速度比低频时大()51.压电晶片是利用“逆压电效应”的原理产生超声波的()52.压电晶片是利用“逆压电效应”的原理接收超声波的()53.用声透镜对超声波进行聚焦时，必须选用中间厚度小、边缘厚度大的凹形透镜()54.物体在振动过程中，当外力的频率等与振动系统的固有频率时，物体的振幅达到最大值，这种现象称为谐振()55.波在传播过程中遇到远小于波长的障碍物时，就会发生绕射现象()56.超声波探头所选用压电晶片的频率与晶片厚度有密切关系，频率越高，晶片越薄()57.在钢中测定为某个折射角的探头，移放到铝上测定，该折射角将会变小()58.在超声波检测中，窄脉冲的纵向分辨力高，这是因为它的脉冲宽度大()59.一台垂直线性理想的超声波检测仪，其回波高度与探头接收到的声压成正比例()60.一台垂直线性理想的超声波检测仪，其回波高度与探头接收到的声压成反比()61.当激励探头的脉冲幅度增大时，由探头发射的超声波强度也随之增大()62.超声波垂直入射至钢/空气界面时，反射波和入射波可在钢中形成驻波。()63.超声波以角入射到水/钢界面时，反射角等于入射角。()64.水的温度升高时，超声波在水中的传播速度则随着降低()65.所有的液体（水除外），其声速都随着温度的升高而增加()66.超声波垂直入射时，界面两侧介质声阻抗相差愈小，声压往复透过率愈高()67.当钢中的气隙（如裂纹）厚度一定时，超声波频率增加，反射波高将随之降低()68.第一介质为液体介质时，也会有第三临界角()69.超声场的近场长度愈短，声束指向性愈差()70.斜角探伤横波声场中假想声源的面积小于实际声源面积()71.圆晶片斜探头的折射波束上缘折射角大于下缘折射角()72.如斜探头入射点到晶片的距离不变，入射点到假想声源的距离随入射角的增加而增大()73.对空心圆柱体在内圆周面上探伤时，曲底面回波声压比同声程大平面高()74.A型显示探伤仪，利用D.G.S曲线板是不能直观显示缺陷的当量大小和缺陷深度的()75.B型显示探伤仪能够直观显示出缺陷深度()76.压电晶片的压电电压常数大，则说明该晶片发射性能好()77.压电晶片的压电应变常数大，则说明该晶片发射性能好()78.常用的有机玻璃楔探头，当温度升高时，其折射角将变小()79.超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而减小()80.一般情况下，对于薄层反射体，能得到最大反射信号的厚度为（λ/4的奇数倍）()81.一般情况下，对于薄层反射体，能得到最大反射信号的厚度为（λ/4的偶数倍）()82.一般情况下，对于薄层反射体，能得到最大反射信号的厚度为（λ/2的奇数倍）()83.一般情况下，对于薄层反射体，能得到最大反射信号的厚度为（λ/2的偶数倍）()84.为了在工件中得到纯横波，对于斜探头的选择除了合适的入射角以外还应考虑（合适的斜楔材料的横波声速）()85.为了在工件中得到纯横波，对于斜探头的选择除了合适的入射角以外还应考虑（合适的斜楔材料的纵波声速）()86.为了在工件中得到纯横波，对于斜探头的选择除了合适的入射角以外还应考虑（斜楔材料的纵波声速小于工件中的横波声速）()87.为了在工件中得到纯横波，对于斜探头的选择除了合适的入射角以外还应考虑（斜楔材料的纵波声速大于工件中的横波声速）()88.为了给tgβ=2.5的斜探头设计一个适合1:1水平定位法，并使得第一次回波前沿出现在第三格，第二次回波前沿出现在第九格的半圆试块，该试块的半径应是32.3mm()89.超声波检测常用的压电晶体石英、钛酸钡、铌酸锂、硫酸锂中接收效率最高的是铌酸锂()90.超声波检测常用的压电晶体石英、钛酸钡、铌酸锂、硫酸锂中居里点最高的是硫酸锂()91.在人工反射体平底孔、矩形槽、横孔、V形槽中，回波声压只与声程有关而与探头折射角度无关的是矩形槽()92.在人工反射体平底孔、矩形槽、横孔、U形槽中，回波声压只与声程有关而与探头折射角度无关的是平底孔()93.在人工反射体平底孔、矩形槽、横孔、U形槽中，回波声压只与声程有关而与探头折射角度无关的是U形槽()94.在超声波检测中最常用的超声波是有多种频率成分的正弦波叠加而成的机械波()95.在超声波检测中最常用的超声波是单纯的正弦波()96.在超声波检测中最常用的超声波是方波脉冲()97.在超声波检测中最常用的超声波是驻波()98.用sinθ=1.22λ/D公式计算的指向角是声束边缘声压P1与声束中心声压P0之比等于0%时的指向角()99.用sinθ=1.22λ/D公式计算的指向角是声束边缘声压P1与声束中心声压P0之比等于50%时的指向角()100.用sinθ=1.22λ/D公式计算的指向角是声束边缘声压P1与声束中心声压P0之比等于10%时的指向角()101.用sinθ=1.22λ/D公式计算的指向角是声束边缘声压P1与声束中心声压P0之比等于1%时的指向角()102.水平线性、垂直线性、动态范围属于超声波检测仪的性能指标()103.频带宽度、探测深度、重复频率属于超声波检测仪的性能指标()104.灵敏度余量、盲区、分辨力属于超声波检测仪的性能指标()105.入射点、近场长度、扩散角属于超声波检测仪的性能指标()106.在普通常用的超声波检测仪上，使用“抑制”旋钮的抑制作用，可以减少杂波显示，与此同时也会导致垂直线性变差，动态范围减小()107.在普通常用的超声波检测仪上，使用“抑制”旋钮的抑制作用，可以减少杂波显示，与此同时也会导致其他回波幅度一并下降()108.在普通常用的超声波检测仪上，使用“抑制”旋钮的抑制作用，可以减少杂波显示，与此同时也会导致回波宽度变小()109.超声波通过两种材料的界面时，如果第一种材料的声阻抗较大，但其声速与第二材料相同，则在第二种材料中的折射角大于入射角()110.超声波通过两种材料的界面时，如果第一种材料的声阻抗较大，但其声速与第二材料相同，则在第二种材料中的折射角小于入射角()111.超声波通过两种材料的界面时，如果第一种材料的声阻抗较大，但其声速与第二材料相同，则在第二种材料中的折射角等于入射角()112.超声波通过两种材料的界面时，如果第一种材料的声阻抗较大，但其声速与第二材料相同，则在第二种材料中的折射角等于临界角()113.超声波检测仪在单位时间内产生的脉冲数量叫做脉冲的重复频率()114.超声波检测仪在单位时间内产生的脉冲数量叫做超声波频率()115.如果超声波频率增加而晶片直径不变，则声束扩散角将减小()116.如果超声波频率增加而晶片直径不变，则声束扩散角将增大()117.单位时间内垂直通过单位面积上的声能叫做声强，它与声压的平方成正比()118.单位时间内垂直通过单位面积上的声能叫做声压，它与声强的平方成正比()119.在传播超声波的介质中，由于交变振动产生的附加压强叫做声压()120.在传播超声波的介质中，由于交变振动产生的附加压强叫做声强()121.超声波仪器的B、C型显示都属于二维显示（）122.超声波仪器的B、C型显示都属于三维立体显示（）
123.在超声波检测中，如果使用的探测频率过高，在探测粗晶材料时会出现林状回波（）124.复合钢板的超声波检测可以从基体金属表面或覆盖层表面进行
125.超声波检测使用的试块，其功能不仅仅是用于调整检测灵敏度和评估缺陷大小()126.管子超声波探伤必须采用水浸聚焦方法是因为管子曲率对超声波有散射作用()127.焊缝的超声波检测都是采用斜探头进行探伤()128.焊缝的超声波检测不应当采用直探头进行探伤()129.锻件的超声波检测都是采用直探头进行探伤()130.锻件的超声波检测不采用组合双晶探头进行探伤()131.锻件的超声波检测不采用斜探头进行探伤()132.用直探头在轴类锻件的圆周面上进行周向扫查时，如果有游动信号出现，就可以肯定存在径向缺陷()133.用斜探头对大口径钢管作接触法周向探伤时，其跨距比同厚度平板小()134.为提高分辩力，在满足探伤灵敏度要求情况下，仪器的发射强度应尽量调得高一些()135.采用当量法确定的缺陷尺寸一般大于缺陷的实际尺寸()136.只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才需要采用测长法确定缺陷长度()137.Φ50x10mm的钢管，如果采用常规斜探头作接触法周向横波探伤将无法扫查到内壁()138.焊缝斜角探伤中，裂纹等危害性缺陷的反射波幅一定会是很高的()139.钢板探伤中，当同时存在底波和伤波时，说明钢板中存在小于声场直径的缺陷()140.钢板探伤中，当同时存在底波和伤波时，说明钢板中存在大于声场直径的缺陷()141.直接用缺陷波高来比较缺陷的大小，仪器的“抑制”和“深度补偿”旋钮应置于（关）的位置()142.直接用缺陷波高来比较缺陷的大小，仪器的“抑制”和“深度补偿”旋钮应置于（开）的位置()143.焊缝超声探伤中，由于焊缝加强高的存在，探头一般不放在焊缝上，而是将探头放在钢板上，超声波倾斜射入焊缝进行探伤()144.网格扫查法是使用单斜探头横波检测焊缝的基本扫查方法之一()145.锯齿型扫查法是使用单斜探头横波检测焊缝的基本扫查方法之一()146.转角扫查法是使用单斜探头横波检测焊缝的基本扫查方法之一()147.环绕扫查法是使用单斜探头横波检测焊缝的基本扫查方法之一()148.斜平行扫查法是使用单斜探头横波检测焊缝的基本扫查方法之一()149.螺旋转圈扫查法是使用单斜探头横波检测焊缝的基本扫查方法之一()150.网格扫查法是使用单直探头纵波检测钢板的基本扫查方法之一()151.厚板上进行焊缝探伤时，如焊缝磨平，为发现焊缝的横向缺陷，应在焊缝上，沿焊缝的纵向探测()152.厚板上进行焊缝探伤时，如焊缝磨平，为发现焊缝的横向缺陷，应在焊缝上，沿焊缝的横向探测()153.在探测工件侧壁附近的缺陷时，探伤灵敏度往往会明显偏低，这是因为有侧壁干扰所致()154.在探测工件侧壁附近的缺陷时，探伤灵敏度往往会明显偏高，这是因为有侧壁干扰所致()155.在中薄板的直探头多次反射法探伤中，常会发现小缺陷的多次反射回波中第二次要比第一次高，这是由于多次回波之间的叠加作用所致()156.当用双晶直探头在平面上扫查时，应尽可能使探头隔声片的放置方向与探头扫查方向平行()157.当用双晶直探头在平面上扫查时，应尽可能使探头隔声片的放置方向与探头扫查方向垂直()158.超声波检测仪上的衰减器精度用每12dB中的误差表示()159.超声波检测仪上的衰减器精度用每2dB中的误差表示()160.超声波检测仪上的衰减器精度用每6dB中的误差表示()161.超声波检测仪上的衰减器精度用每10dB中的误差表示()162.超声波检测时要求声束方向与缺陷取向平行为宜()163.两束频率不同的声波在同一介质中传播时,如果相遇可产生干涉现象()164.两束频率相同但行进方向相反的声波的叠加可形成驻波()165.在同一固体介质中,纵波,横波,瑞利波,兰姆波的传播速度均为常数()166.表面波亦可在液体表面传播()167.波的叠加原理说明,几列波在, , , , 同一介质中传播并相遇时,都可以合成一个波继续传播()168.在同一固体材料中,传播纵,横波时的声阻抗不一样()169.声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数,温度变化对材料的声阻抗无任何影响()170.第二介质中折射的横波平行于界面时的纵波入射角为第二临界角()171.第二介质中折射的横波平行于界面时的纵波入射角为第一临界角()172.以有机玻璃做声透镜的水浸聚焦探头,其透镜形状为凹透镜()173.以有机玻璃做声透镜的水浸聚焦探头,其透镜形状为凸透镜()174.超声波探伤中所指的衰减仅为材料对声波的吸收作用()175.材料对声波的吸收作用仅是超声波检测中所说的超声波衰减原因之一()176.声源辐射的超声波的能量主要集中在主声束内()177.频率和晶片尺寸相同时,横波声束指向性比纵波好()178.由于水中只能传播纵波,所以水浸探头只能进行纵波探伤()179.有机玻璃声透镜水浸聚焦探头,透镜曲率半径越大,焦距越大()180.有机玻璃声透镜水浸聚焦探头,透镜曲率越小,焦距越大()181.材料对超声能量衰减的主要原因是吸收衰减和散射衰减()182.钢中声速最大的波型是表面波()183.超声波在异质界面上倾斜入射时,同一波型的声束反射角等于入射角()184.商品化斜探头标志的角度是表示声轴线在钢中的折射角()185.超声波探伤仪的脉冲重复频率越高,探伤频率也越高()186.完整地说，超声波的材质衰减包括了吸收衰减,扩散衰减和散射衰减()187.超声波检测法不能用于混凝土结构材料()188.由于在远场区超声束会扩散,所以探伤应尽可能在近场区进行()189.为了在试件中得到纯横波,斜探头透声斜楔材料的纵波速度应小于被检试件中的纵波速度()190.超声波的频率取决于晶片振动的频率()191.超声波在介质中的传播速度与频率成正比()192.超声波在铝中传播时,频率越低,波长越短()193.超声波在钢中传播时,频率越高,波长越短()194.超声波在介质中的传播速度即为质点的振动速度()195.在同种固体材料中,纵,横波的声速之比不是一个常数()196.超声波倾斜入射到异质界面时,同种波型的反射角等于折射角()197.超声波倾斜入射到异质界面时,同种波型的折射角总大于入射角()198.超声波以10°入射至水/钢界面时,反射角等于10°()199.介质的声阻抗越大,引起的超声波的衰减越严重()200.声源面积不变时,超声波频率越高,超声场的近场长度越短()201.面积相同,频率相同的圆晶片和方晶片,超声场的近场长度一样()202.面积相同,频率相同的圆晶片和方晶片,其声束指向角亦相同()203.低频探伤是为了改善声束指向性,提高探伤灵敏度()204.不同压电晶体的频率常数不一样,因此用不同压电晶体不能作成频率相同的晶片()205.通用AVG曲线采用的距离是以近场长度为单位的归一化距离,适用于不同规格的探头()206.在通用AVG曲线上，可直接查得缺陷的实际声程和当量尺寸。()207.兰姆波和纵波及横波一样,其波速在一定介质中为常数()208.在第二介质中横波折射角达到90°时,在第一介质中的纵波入射角度称为第二临界角()209.在第二介质中横波折射角达到90°时,在第一介质中的纵波入射角度称为第一临界角()210.超声波探头的近场长度近似与晶片直径成反比,与波长成正比()211.超声波探头的半扩散角近似与晶片直径成反比,与波长成正比()212.超声波探头发射超声波利用的是正压电效应,而接收超声波则是利用的逆压电效应()213.超声波束的指向角是在晶片直径一定的情况下,频率越低,指向角越大()214.超声波束的指向角是在晶片直径一定的情况下,频率越高,指向角越大()215.选用越高的频率探测,有利于发现越大的缺陷,而且声衰减越小()216.耦合剂的用途是消除探头与工件之间的空气以利于超声波的透射()217.超声波在介质中传播过程中由于声束的不断扩散,造成单位面积通过的声能减小,称为扩散衰减()218.声透镜的曲率越大,焦距越大()219.声透镜的曲率半径越大,焦距越大()220.在探伤中,处在近场区内的缺陷,距离近的有时反而比距离远的反射回波低()221.波长越短,近场长度越长,晶片直径越大,近场长度也越长()222.按照声学的经典理论,在超声波探伤中容易探测出来的缺陷其尺寸一般不应小于波长的一半()223.粗糙的入射表面会导致缺陷回波高度降低()224.超声波检测仪是利用电致伸缩效应发射超声波的()225.最常用的超声波换能器是利用电致伸缩效应发射和接收超声波的()226.同一探头在钢中的近场N要比在水中的近场短()227.质点振动一次所需要的时间，可以使超声波在介质中传播一个波长的距离()228.一般的超声波检测仪在有抑制作用的情况下不会影响其垂直线性()229.脉冲窄的仪器其频带宽度大()230.按照经典理论，超声波检测方法所能检测的最小缺陷尺寸大约是（λ/2）()231.波型相同的超声波传播于不同的材料中，由于材料弹性和密度的不同，致使传播速度发生差异()232.超声波在异质界面上发生反射时，反射波中必有变型波存在()233.从公式：C=λ•f 可以看出,声速C与频率f成正比，因此高频时的超声波传播速度比低频时大()234.单位时间内垂直通过单位面积的声能量称为声强()235.声压与质点振动速度之比称为声阻抗()236.瑞利波质点运动的轨迹为椭圆形()237.压电晶片是利用“正压电效应”的原理产生超声波的()238.压电晶片是利用“正压电效应”的原理接收超声波的()239.天然的石英晶体属于单晶体，而钛酸钡、锆钛酸铅等压电陶瓷属于多晶体()240.已知钛酸钡的频率常数Nt=2520Hz•m，则振动频率为2MHz的钛酸钡晶片厚度应为0.5mm()241.当激励探头的脉冲幅度增大时，探头发射的超声波必然强度变大、频带变窄()242.用硫酸锂制作的压电晶片，其接收效率比PZT5的锆钛酸铅压电晶片高()243.用硫酸锂制作的压电晶片，其接收效率比PZT5的锆钛酸铅压电晶片低()244.用声透镜对超声波进行聚焦时，必须选用中间厚度大、边缘厚度小的凸形透镜()245.超声波垂直入射到薄层介质时，薄层厚度为1/2波长时，其反射最强()246.物体在振动过程中，当外力的频率等与振动系统的固有频率时，物体的振幅达到最大值，这种现象称为共振()247.波在传播过程中遇到远大于波长的障碍物时，就会发生绕射现象()248.在物体振动过程中，仅受弹性恢复力作用的振动叫做无阻尼自由振动，它的振动频率叫做固有频率，它的振动周期叫做固有周期()249.表面波是一种只能在固体表面传播的波，在表面波所到范围内质点振动轨迹为椭圆形()250.超声波探头所选用压电晶片的频率与晶片厚度有密切关系，频率越高，晶片越厚()251.在钢中测定为某个折射角的探头，移放到铝上测定，该折射角将会变大()252.在超声波检测中，窄脉冲的纵向分辨力高，这是因为它的脉冲宽度小()253.一台垂直线性理想的超声波检测仪，其回波高度与探头接收到的声压成正比()254.当激励探头的脉冲幅度增大时，由探头发射的超声波强度也随之增大，而频带范围变小()255.复合钢板的超声波检测可以从基体金属表面或覆盖层表面进行，其先决条件是基体金属和覆盖材料之间的声速应当相同或相近()256.超声波在介质中传播时，声能的传播是由各质点的位移连续变化来传递的。()257.薄板中传播非对称型兰姆波时，上下表面质点振动相位相同。()258.水的温度升高时，超声波在水中的传播速度亦随着增加。()259.所有的液体（水除外），其声速都随着温度的升高而减小。()260.介质中形成驻波时，相邻两波节或波腹之间的距离是一个波长。()261.超声波垂直入射到平界面时，声强反射率与声强透过率之和等于1。()262.超声波垂直入射到平界面时，反射波与透过波声压之和等于入射波电压。()263.超声波垂直入射到异质界面时，界面一侧的总声压等于另一侧的总声压。()264.超声波垂直入射到的界面时，声压透过率大于1，说明界面有增强声能的作用。()265.超声波垂直入射到异质界面时，声压往复透过率与声强透过率在数值上相等。()266.超声波垂直入射时，界面两侧介质声阻抗相差愈小，声压往复透过率愈低。()267.当钢中的气隙（如裂纹）厚度一定时，超声波频率增加，反射波高也随着增加。()268.有机玻璃/铝界面的第一临界角大于有机玻璃/钢界面第一临界角，则前者的第二临界角也一定大于后者。()269.只有当第一介质为固体介质时，才会有第三临界角。()270.横波斜入射至钢/空气界面时，入射角在左右时，横波声压反射率最低。()271.超声波纵波斜入射到端角时，端角反射率总是很高的。()272.介质的声阻抗愈大，引起的超声波的衰减愈严重()273.聚焦探头辐射的声波，在材质中的衰减小()274.超声波平面波不存在材质衰减()275.超声波声场的近场长度愈短，声束指向性愈好()276.超声波声场中不同横截面上的声压分布规律是一致的()277.在超声波声场的未扩散区，可将声源辐射的超声波看成平面波，平均声压不变()278.斜角探伤横波声场中假想声源的面积大于实际声源面积()279.圆晶片斜探头的折射波束上缘折射角小于下缘折射角()280.如斜探头入射点到晶片的距离不变，入射点到假想声源的距离随入射角的增加而减小()281.理想的镜面大平面，对声波产生全反射，随传播距离的增加其回波声压不变()282.球孔的回波声压随距离的变化规律与平底孔相同()283.同声程理想大平面与平底孔回波声压的比值随频率的提高而减小()284.在轴类工件外圆周面上探伤时，曲底面回波声压与同声程理想大平面相同()285.对空心圆柱体在内圆周面上探伤时，曲底面回波声压比同声程大平面低()286.A型显示探伤仪，利用D.G.S曲线板可直观显示缺陷的当量大小和缺陷深度()287.B型显示探伤仪不能直观显示出缺陷深度()288.不同压电晶体材料中声速不一样，因此不同压电材料的频率常数也不相同()289.不同压电晶休材料中声速不一样，因此用不同压电晶体不能作成频率相同的晶片()290.压电晶片的压电应变常数大，则说明该晶片接收性能好()291.压电晶片的压电电压常数大，则说明该晶片接收性能好()292.当试件内存在较大的内应力时，将使超声波的传播速度及方向发生变化()293.常用的有机玻璃楔探头，当温度升高时，其折射角将增大()294.超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而增高()295.超声波声速与介质弹性系数、密度之间的关系式是：CL=[(E/ρ)(1-σ)/(1+σ)(1-2σ)]1/2()296.超声波声速与介质弹性系数、密度之间的关系式是：CL=(E/ρ)1/2()
297.一般情况下，对于薄层反射体，若其厚度为（λ/4的奇数倍）可得到最大反射信号()298.一般情况下，对于薄层反射体，若其厚度为（一个λ的奇数倍）可得到最大反射信号()299.一般情况下，对于薄层反射体，若其厚度为（λ/2的整数倍）可得到最大反射信号()300.一般情况下，对于薄层反射体，若其厚度为（λ/4的偶数倍）可得到最大反射信号()301.一般情况下，对于薄层反射体，若其厚度为（λ/2的奇数倍）可得到最大反射信号()302.一般情况下，对于薄层反射体，若其厚度为（λ/2的偶数倍）可得到最大反射信号()303.一个2.25MHz，在水中近场长度等于58.6mm的直探头，其半扩散角度大约是（3.75°）()304.把钢中横波折射角为50°的斜探头移至横波声速为2.17x103m/s的材料上，则折射角约为（31°）()305.一个2.25MHz，在水中近场长度等于58.6mm的直探头，其半扩散角度大约是（7.5°）()306.把钢中横波折射角为50°的斜探头移至横波声速为2.17x103m/s的材料上，则折射角约为（53°）()307.当一平行声束通过液体在轴的圆柱面垂直透入后，该声束将（被聚焦）()308.当一平行声束通过液体在轴的圆柱面垂直透入后，该声束将（被发散）()309.当一平行声束通过液体在轴的圆柱面垂直透入后，该声束将（仍然保持平行声束状态）()310.为了给tgβ=2.5的斜探头设计一个适合1:1水平定位法，并使得第一次回波前沿出现在第三格，第二次回波前沿出现在第九格的半圆试块，该试块的半径应是42.3mm()311.超声波检测常用的压电晶体石英、钛酸钡、铌酸锂、硫酸锂中接收效率最高的是硫酸锂()312.超声波检测常用的压电晶体石英、钛酸钡、铌酸锂、硫酸锂中居里点最高的是铌酸锂()313.在人工反射体平底孔、矩形槽、横孔、V形槽中，回波声压只与声程有关而与探头折射角度无关的是横孔()314.在人工反射体平底孔、矩形槽、横孔、V形槽中，回波声压只与声程有关而与探头折射角度无关的是V形槽()315.声压的绝对值P与介质密度ρ、声速C、质点振动速度V之间的关系是：P∝ρCV()316.声压的绝对值P与介质密度ρ、声速C、质点振动速度V之间的关系是：P∝ρ2CV()317.声压的绝对值P与介质密度ρ、声速C、质点振动速度V之间的关系是：P∝ρC2V()318.声压的绝对值P与介质密度ρ、声速C、质点振动速度V之间的关系是：P∝ρ2CV2()
319.超声波从声阻抗Za的介质透过声阻抗Zb的介质进入声阻抗Zc的介质，若Zb=(Za•Zc)1/2，则透声效果较佳()320.超声波从声阻抗Za的介质透过声阻抗Zb的介质进入声阻抗Zc的介质，若Za=Zc，则透声效果较佳()321.超声波从声阻抗Za的介质透过声阻抗Zb的介质进入声阻抗Zc的介质，若Zc=Za•Zb，则透声效果较佳()322.超声波从声阻抗Za的介质透过声阻抗Zb的介质进入声阻抗Zc的介质，若Za=Zb•Zc，则透声效果较佳()323.不锈钢比碳钢的声阻抗大1%，由这两种钢材组成的异质界面上，声压反射率为0.5%()324.不锈钢比碳钢的声阻抗大1%，由这两种钢材组成的异质界面上，声压反射率为10%()325.不锈钢比碳钢的声阻抗大1%，由这两种钢材组成的异质界面上，声压反射率为5%()326.不锈钢比碳钢的声阻抗大1%，由这两种钢材组成的异质界面上，声压反射率为1%()327.灵敏度余量、盲区、分辨力是用来表示超声波检测仪与探头组合性能的指标()328.水平线性、垂直线性、动态范围是用来表示超声波检测仪与探头组合性能的指标()329.频带宽度、探测深度、重复频率是用来表示超声波检测仪与探头组合性能的指标()330.入射点、近场长度、扩散角是用来表示超声波检测仪与探头组合性能的指标()331.频带宽度、探测深度、重复频率属于探头的性能指标()332.入射点、近场长度、扩散角、频率属于探头的性能指标()333.设波长为λ，横孔到声源的距离为S0，使回波声压与距离平方成反比的横孔长度应小于4(λ•S0)1/2()334.设波长为λ，横孔到声源的距离为S0，使回波声压与距离平方成反比的横孔长度应小于2(λ•S0)1/2()335.设波长为λ，横孔到声源的距离为S0，使回波声压与距离平方成反比的横孔长度应小于0.9(λ•S0)1/2()336.设波长为λ，横孔到声源的距离为S0，使回波声压与距离平方成反比的横孔长度应小于0.8(λ•S0)1/2()337.超声波在介质中传播时，当遇到尺寸与波长相近似的障碍物时，将产生绕射现象()338.两列频率相同、相位相同或相差一个固定值的超声波束在同一介质中传播时，就有可能产生波的干涉现象()339.在一般情况下，声速决定于介质的种类和波型，但兰姆波的波速还决定于频率与工件厚度的乘积()340.在活塞振子的声场中，就波阵面而言，近声源处可看作是平面波，离声源较远处可看作是球面波()341.超声波的衰减实质就是阻尼振动的一种物理现象()342.所谓振动，就是质点在其平衡位置上所作的往返运动()343.振动在介质中的传播称为波，它是传递能量的一种形式()344.超声波在介质中的衰减类型可以大致地分为扩散、吸收、散乱三种()345.谐振动是质点的振动位移随时间的变化，满足正弦函数关系的一种运动()346.球面波的声压与距离成反比()347.球面波的声压与距离的平方根成反比()348.柱面波的声压与距离成反比()349.柱面波的声压与距离的平方根成反比()350.已知CL钢=5900米/秒，CS钢=3230米/秒，CL有机玻璃=2700米/秒，CS有机玻璃=1460米/秒，若在有机玻璃/钢界面上出现一列速度近似为2907米/秒的波，则该波就是瑞利波()351.已知CL钢=5900米/秒，CS钢=3230米/秒，CL有机玻璃=2700米/秒，CS有机玻璃=1460米/秒，若在有机玻璃/钢界面上出现一列速度近似为2907米/秒的波，则该波就是兰姆波()352.超声波通过一定厚度的薄层介质时，若该薄层介质两侧的物质具有相同的声阻抗，则薄层厚度为四分之一波长的奇数倍时，声压反射率最大()353.超声波通过一定厚度的薄层介质时，若该薄层介质两侧的物质具有相同的声阻抗，则薄层厚度为二分之一波长的整数倍时，声压反射率最大()354.超声波通过一定厚度的薄层介质时，若该薄层介质两侧的物质具有相同的声阻抗，则薄层厚度为四分之一波长的奇数倍时，声压透过率最大()355.超声波通过一定厚度的薄层介质时，若该薄层介质两侧的物质具有相同的声阻抗，则薄层厚度为二分之一波长的整数倍时，声压透过率最大()356.简谐振动方程式y=Asin(ωt+Ψ)中,y为振动位移，A表示最大振幅，Ψ表示初位相()357.振动在介质中的传播过程形成波，在波的传播过程中，任意两个相邻的、相位相同的质点之间的距离称为一个波长()358.孔径相同的平底孔与长横孔在六倍近场长度以外时，其反射波最高的是长横孔()359.孔径相同的平底孔与长横孔在六倍近场长度以外时，其反射波最高的是平底孔()360.两个回波高度比为0.1，则它们的分贝差为（-20）dB()361.两个回波高度相差12dB，则对应的回波高度比为4:1()362.确定探头扫查速度时不必考虑仪器的脉冲重复频率()363.特别是在自动化检测中，确定探头扫查速度时必须考虑仪器的脉冲重复频率()364.任何探头电缆,只要是高频的,在任何情况下均可互换使用()365.调节探伤仪“深度细调”旋钮时,可连续改变扫描线扫描速度()366.调节探伤仪“抑制”旋钮时,抑制越大,仪器动态范围越大()367.调节探伤仪“抑制”旋钮时,抑制越大,仪器动态范围越小()368.调节探伤仪的“水平”旋钮,将会改变仪器的水平线性()369.测定仪器的“动态范围”时,应将仪器的“抑制”,“深度补偿”旋钮置于“关”的位置()370.超声波探伤仪开机通电后立即可以开始正常检测工作()371.超声波探伤仪开机通电后应经过一段时间预热后才可以开始正常检测工作()372.超声波检测时只需要用一次回波就能调节好时基线()373.垂直入射纵波法检测时,找到缺陷的最大回波,则缺陷正好位于直探头中心的正下方()374.绝对灵敏度法测长适用于形状不规则的长条形缺陷测长()375.半波高度(6dB)法主要适用于形状较规则的长条形缺陷测长()376.半波高度(6dB)法可以适用于任何类型的长条形缺陷测长()377.超声波检测作业中,完成时基扫描线校正(俗称“定标”)後,始波前沿应落在水平刻度零点的左边()378.超声波检测作业中,完成时基扫描线校正(俗称“定标”)後,始波前沿应落在水平刻度零点的右边()379.超声波检测作业中,完成时基扫描线校正(俗称“定标”)後,始波前沿应恰好落在水平刻度零点上()380.正确调整好时基线后,始波前沿应对准水平刻度的零位()381.超声波检测中评定缺陷为Φ2mm平底孔当量,即意味着该缺陷的实际面积就是Φ2mm的园面积大小()382.超声波检测中评定缺陷为Φ3mm平底孔当量,即意味着该缺陷的实际面积就是Φ3mm的园面积大小()383.超声波检测中评定缺陷为Φ2mm平底孔当量,即意味着该缺陷的反射回波与Φ2mm园面积的反射回波大小相当()384.超声波检测中评定缺陷为Φ6mm平底孔当量,即意味着该缺陷的反射回波与Φ6mm园面积的反射回波大小相当()385.超声波检测中评定缺陷为Φ2mm横通孔当量,即意味着该缺陷的反射回波与相同声束截面下的Φ2mm横通孔表面积的反射回波大小相当()386.超声波检测中评定缺陷为Φ2mm横通孔当量,即意味着该缺陷的实际大小就是等同于Φ2mm横通孔表面积大小()387.超声波检测中评定缺陷为Φ2mm横通孔当量,即意味着该缺陷的实际截面形状等同于Φ2mm横通孔的横截面形状()388.采用当量法确定的缺陷尺寸一般小于缺陷的实际尺寸()389.采用当量法确定的缺陷尺寸一般大于缺陷的实际尺寸()390.超声波检测中,幻像波的产生原因是在衰减小的材料中脉冲重复频率选用过高()391.超声波检测中,幻像波的产生原因是在衰减小的材料中脉冲重复频率选用过低()392.超声波检测中,幻像波的产生原因是在衰减小的材料中采用较高的探测频率()393.超声波检测中,幻像波的产生原因是在衰减小的材料中采用较低的探测频率()394.在钢锻件探伤中,脉冲重复频率选择太高是产生幻像波的重要原因之一()395.超声波检测使用的缺陷长度测定方法中，以绝对灵敏度法的灵敏度最高，因此测得的缺陷长度偏大()396.绝对灵敏度法测量缺陷指示长度时,测长灵敏度高,测得的缺陷长度大()397.在役部件超声波检测主要是探测疲劳裂纹和应力腐蚀裂纹()398.在对铸钢件进行超声波检测时,回波低的未必是小缺陷()399.检测板厚较大的焊缝,常采用较小折射角的探头,这是为了缩短声程,减少声路上的声能衰减,提高探测灵敏度()400.对复合板进行超声波检测时,如果复合界面有分层时其界面回波会降低()401.对复合板进行超声波检测时,如果复合界面有分层时其界面回波会增高()402.钢板探伤中若无底波出现则说明钢板中无缺陷()404.对厚度与波长相当的薄板主要采用横波法检测()404.对厚度与波长相当的薄板主要采用纵波法检测()405.对厚度与波长相当的薄板主要采用瑞利波法检测()406.对厚度与波长相当的薄板主要采用兰姆波法检测()407.厚板与中厚板超声波检测主要采用横波法()408.厚板与中厚板超声波检测主要采用纵波法()409.厚板与中厚板超声波检测主要采用兰姆波法()410.厚板与中厚板超声波检测主要采用表面波法()411.厚板与中厚板超声波检测主要采用爬波法()412.串列式双探头法探伤实质即为一发一收的穿透法()413.焊缝探伤所用斜探头,当楔块底面后部磨损较大时,其折射角将变小()414.焊缝探伤所用斜探头,当楔块底面前部磨损较大时,其折射角将变小()415.对焊缝中与声束成一定角度的缺陷,探测频率较高时,缺陷回波不易被探头接收()416.焊缝探伤中,依据缺陷的静态波形可准确地判断缺陷性质()417.在超声波检测中,依据缺陷回波的静态波形就已经可以准确判断缺陷的性质()418.在超声波检测中,仅仅依据缺陷回波的静态波形还不可以准确判断缺陷的性质()419.管材和棒材水浸横波检测时,通常利用调整偏心距的方法来调节入射角()420.管材水浸法周面弦向入射横波探伤时,入射角的选择通常是利用调整偏心距来实现的()421.管材水浸法周面弦向入射横波探伤时,入射角的选择通常是利用调整水距来实现的()422.小直径薄壁无缝钢管用水浸点聚焦探头作横波检测时,折射角的调整是通过调节水层距离实现的()423.管子壁厚t与外径D之比(t/D)＞0.2,在用纯横波检查纵向缺陷时,中心声束会达不到管子的内壁()424.管子壁厚t与外径D之比(t/D)＜0.2,在用纯横波检查纵向缺陷时,中心声束会达不到管子的内壁()425.管材纯横波探伤,要保证声束能探查到管内壁的条件是管壁厚与管外径之比大于0.2()426.管材纯横波探伤,要保证声束能探查到管内壁的条件是管壁厚与管外径之比小于0.2()427.小口径钢管采用水浸聚焦探头检验时,属于纵波垂直法探伤()428.小口径钢管采用水浸聚焦探头检验时,属于横波探伤()429.采用斜探头对钢管作周向接触法探伤时,钢管内外径之比越大,入射角允许范围越大()430.采用斜探头对钢管作周向接触法探伤时,钢管内外径之比越大,入射角允许范围越小()431.采用斜探头对钢管作周向接触法探伤时,钢管内外径之比越小,入射角允许范围越小()432.采用斜探头对钢管作周向接触法探伤时,钢管内外径之比越小,入射角允许范围越大()433.钢管作手工接触法周向探伤时,应从顺,逆时针两个方向各探伤一次()434.钢管作手工接触法周向探伤时,只需从一个方向探伤一次即可()435.钢管水浸探伤时,水中加入适量活性剂是为了调节水的声阻抗,改善透声性()436.钢管水浸探伤时,水中加入适量活性剂是为了改善水的润湿性,减少附着在探头和钢管表面的气泡()437.钢管水浸探伤时,如钢管中无缺陷,荧光屏上只有始波和界面波()438.管材超声波检测主要采用横波法()439.管材超声波检测主要采用纵波法()440.管材超声波检测主要采用兰姆波法()441.管材超声波检测主要采用瑞利波法()442.锻件水浸法纵波垂直入射探伤时,对水层距离的要求是使第二次界面回波落在第一次底波之后,并且尽可能利用距离-振幅曲线上的高声压区()443.在锻件的超声波探伤中,有关缺陷的定性定量问题已经解决()444.轴类锻件,一般来说以纵波直探头作径向探测效果最佳()445.轴类锻件,一般来说以斜探头作周面弦向探测效果最佳()446.轴类锻件,一般来说以斜探头作周面轴向探测效果最佳()447.使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时,探头应作正反两个方向扫查()448.使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时,只需作一个方向扫查即可()449.对饼形锻件采用直探头在端面平面上作轴向探测是最常用的探伤方法()450.对饼形锻件采用直探头在侧面圆周面上作径向探测是最常用的探伤方法()451.对饼形锻件采用斜探头在端面平面上作斜入射探测是最常用的探伤方法()452.锻件探伤中,如底波明显下降或消失而不是声接触不良引起时,说明锻件中可能存在较严重的缺陷()453.超声波检测时要求声束方向与缺陷取向平行为宜()454.超声波检测时要求声束方向与缺陷取向垂直为宜()455.所谓超声波的材质衰减包括了吸收衰减,扩散衰减和散射衰减()456.粗糙的入射表面会导致缺陷回波高度降低()457.用修磨斜探头底面的方法可以改变探头的入射角,若探头底面前部修磨量大,则探头的入射角增大()458.用修磨斜探头底面的方法可以改变探头的入射角,若探头底面后部修磨量大,则探头的入射角增大()459.斜探头检测焊缝时,按照一定比例调整探伤仪扫描线的目的是为了方便确定缺陷位置()460.斜探头检测焊缝时,按照一定比例调整探伤仪扫描线的目的是为了方便确定缺陷大小()461.盲区与始波宽度是同一概念()462.斜探头楔块前部和上部开有消声槽的目的是使声波反射回晶片处,减少声能损失()463.水浸法垂直入射纵波检测时,水距的选择在任何情况下只要保证第二次界面回波落在第一次底面回波之后就可以了()464.工件表面越粗糙,使用的超声检测频率应当越高,耦合剂粘度应当越稀()465.工件表面越粗糙,使用的超声检测频率应当越低,耦合剂粘度应当越稠()466.双晶直探头倾角越大,交点离探测面距离越远,覆盖区越大()467.双晶直探头倾角越小,交点离探测面距离越远,覆盖区越大()468.在通用AVG曲线上,可直接查得缺陷的实际声程和当量尺寸()469.工件表面比较粗糙时,为防止探头磨损和保护晶片,宜选用硬保护膜()470.中心切槽的半圆试块,其反射特点是多次回波总是等距离出现()471.用接触法在试件中产生横波的方法,唯有利用透声斜楔使纵波倾斜入射到界面上()472.曲面工件探伤时,探伤面曲率半径越大,耦合效果越好()473.曲面工件探伤时,探伤面曲率半径越小,耦合效果越好()474.曲面工件探伤时,探伤面曲率越大,耦合效果越好()475.曲面工件探伤时,探伤面曲率越小,耦合效果越好()476.只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才能采用测长法确定缺陷长度()477.当工件中缺陷在各个方向的尺寸均小于声束截面时,无法采用测长法确定缺陷长度()478.对于厚度大于3N(N=D2/4λ)的锻件,采用超声波检测法测定材质衰减系数时的基本公式是:X=[20lg(B1/B2)]/2S(注:式中N-近场长度,D-探头晶片直径,λ-超声波在材料中的波长,B1和B2分别为第一、二次底波高度,S-工件厚度)()479.对钢板用纵波直探头探伤时，若荧光屏上同时存在底波和伤波,说明钢板中存在小于声束直径的缺陷()480.对钢板用纵波直探头探伤时,通常只根据缺陷波情况判定缺陷()481.对钢板用纵波直探头探伤时,不但要根据缺陷波情况，还要视底波变化情况来判定缺陷()482.复合钢板探伤时,可从母材一侧探伤,也可从复合材料一侧探伤()483.焊缝中的裂纹回波信号基本特征是波幅不高,当探头作原位摆动或转动时,波幅无明显变化()484.对焊缝进行超声波检测时,对所发现的缺陷必须测量其指示长度是为了便于评价与返修()485.某钢管规格Φ83x14mm,可以采用纯横波法检测该管材内外壁缺陷()486.探伤灵敏度越高,检测盲区越小,分辨率越低()487.不能探测到缺陷的范围称为近场区()488.组合双晶探头的焦距大小取决于两个晶片的相对倾角,相对倾角越大,焦距越短()489.组合双晶探头的焦距大小取决于两个晶片的相对倾角,相对倾角越小,焦距越长()490.组合双晶探头的焦距大小取决于两个晶片的相对倾角,相对倾角越大,焦距越长()491.组合双晶探头的焦距大小取决于两个晶片的相对倾角,相对倾角越小,焦距越短()492.在超声波试块中,和入射波束角度无关的人工反射体是U型缺口槽()493.在超声波试块中,和入射波束角度无关的人工反射体是V型缺口槽()494.在超声波试块中,和入射波束角度无关的人工反射体是平底孔()495.在超声波试块中,和入射波束角度无关的人工反射体是柱孔()496.在超声波试块中,和入射波束角度无关的人工反射体是横孔()497.为满足较高的近表面分辨率要求,较适宜的方法是选用组合双晶探头()498.缺陷本身的开隙度,取向,表面粗糙度以及内涵物等都会对缺陷回波高度有影响()499.表面波探伤的实践经验之一是采用触摸法判断缺陷位置()500.对薄板进行兰姆波法检测时的实践经验之一是采用触摸法判断缺陷位置()501.超声波检测大锻件时使用的重复频率比管子自动探伤时低()502.超声波仪器的C型显示能展示工件中缺陷在探测方向上的面积投影，但不能展示其深度()503.超声波仪器的C型显示属于二维显示()504.超声波仪器的B型显示属于三维立体显示()505.轴类零件作超声波检测时，若遇到有游动讯号出现，则说明轴的内部存在危险性缺陷()506.当被检材料的晶粒尺寸大于1/10波长时，超声波的散射会影响试验结果()507.在超声波检测中，如果使用的重复频率过高，在探测粗晶材料时会出现林状回波()508.在超声波自动化检测中，必须考虑仪器重复频率对检验速度的影响()509.采用纵波法检查钢板时，探头扫查移动方向以垂直于钢板压延方向较好()510.用直探头探测同一缺陷，探头直径增大时，缺陷波增高，但底波高度不变()511.超声波检测仪的发射脉冲应尽可能宽度大、前沿陡峭()512.超声波检测使用的试块只能用于调整检测灵敏度和评估缺陷大小()513.由于管子曲率对超声波有散射作用，所以管子探伤必须采用水浸聚焦方法()514.根据焊缝的实际情况，有时采用斜探头进行探伤，有时则应当采用直探头进行探伤()515.根据锻件的实际情况，可采用直探头、组合双晶探头、斜探头进行探伤()516.用直探头在轴类锻件的圆周面上进行周向扫查时，只有径向缺陷才会产生游动信号()517.由于铸件中的缺陷主要产生在浇冒口部位，因此在铸件的超声波检测中，检测的重点应放在浇冒口部位，其它部位可以不检查或做一般性检查()518.对焊缝进行超声波检测的时机是焊缝冷却到室温后即可进行超声波检测()519.如果使用带有缺陷自动报警和缺陷自动记录装置的超声波检测仪，在检测过程中探头移动速度就可以不须限制()520.探伤仪中的发射电路亦称为触发电路()521.探伤仪中的发射电路可产生几百伏到上千伏的电脉冲去激励探头晶片振动()522.探伤仪的扫描电路即为控制探头在工件探伤面上扫查的电路()523.探伤仪发射电路中的阻尼电阻的阻值愈大，发射强度愈弱()524.调节探伤仪“延迟”旋钮时，扫描线上回波信号间的距离也将随之改变()525.探头中压电晶片背面加吸收块是为了提高机械品质因素，减少机械损耗()526.利用IIW1试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围()527.当斜探头对准IIW2试块上R50曲面时，荧光屏上的多次反射回波是等距离的()528.测定组合灵敏度时，可先调仪器的“抑制”旋钮，使电噪声电平10%，再进行测试()529.测定“始波宽度”时，应将仪器的灵敏度调至最大()530.为提高分辩力，在满足探伤灵敏度要求情况下，仪器的发射强度应尽量调得低一些()531.串列式双探头法探伤即为穿透法()532.实际探伤中，为提高扫查速度减少杂波的干扰，应将探伤灵敏度适当降低()533.采用当量法确定的缺陷尺寸一般小于缺陷的实际尺寸()534.只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才能采用测长法确定缺陷长度()535.钢板探伤时，通常只根据缺陷波情况判别定缺陷()536.厚钢板探伤中，若出现缺陷的多次反射波，说明缺陷的尺寸一定较大()537.Φ50x10mm的钢管，亦可采用常规斜探头作接触法周向探伤()538.用斜探头对大口径钢管作接触法周向探伤时，其跨距比同厚度平板大()539.焊缝斜角探伤中，裂纹等危害性缺陷的反射波幅总是很高的()540.焊缝斜角探伤时，如采用直射法，可不考虑结构反射、变型波等干扰回波的影响()541.钢板探伤中若出现缺陷的多次反射波，缺陷尺寸未必一定较大()542.钢板探伤中若荧光屏上只有正常波形，仅表示钢板中无当量超过调整起始灵敏度的基准平底孔的缺陷()543.钢板探伤中若无底波时，说明钢板中无缺陷()544.钢板中不允许存在的缺陷尺寸，主要是用当量法测定的()545.即便探头折射角较大，在焊缝一侧用全跨距探伤，可以扫查到整个焊缝截面，但仍然有必要从焊缝两侧探伤()546.与表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件作超声波检测时，通常使用频率较高的探头和粘度较高的耦合剂()547.与表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件作超声波检测时，通常使用频率较低的探头和粘度较低的耦合剂()548.实践证明，在探测工件侧壁附近的缺陷时，探伤灵敏度往往会明显偏低()549.实践证明，在探测工件侧壁附近的缺陷时，探伤灵敏度往往会明显偏高()550.在中薄板的直探头多次反射法探伤中，常会发现小缺陷的多次反射回波中第二次要比第一次高()551.在中薄板的直探头多次反射法探伤中，小缺陷的多次反射回波中肯定第二次要比第一次低()552.管子的超声波检测除了采用水浸聚焦探伤方法外，还可以采用斜探头接触法()初、中级无损检测技术资格人员-超声检测考题汇编 问答题
1.将超声波直探头置于IIW1试块侧面上探测100mm距离的底波,如下图所示在第一次底波与第二次底波之间前两个迟到波各是什么波型?（前面为L-L-L波,后面为L-S-L波）
2．何谓超声波？它有哪些重要特性？
答：频率高于20000Hz的机械波称为超声波。重要特性：①超声波可定向发射，在介质中沿直线传播且具有良好的指向性。
②超声波的能量高。③超声波在界面上能产生反射，折射和波型转换。④超声波穿透能力强。3．产生超声波的必要条件是什么？
答：①要有作超声振动的波源（如探头中的晶片）。②要有能传播超声振动的弹性介质（如受检工件或试块）。
4.在棒材圆周面上进行超声探伤时,第一次底波与第二次底波之间可见到有两个迟到波,如下图所示,请指出这两个迟到波各是什么波型?（前面为L-L-L波,后面为L-S-L波）
5．一个探头的标记为5I 20SJ 20DJ，试说明其中数字和字母的含义？
答：5：频率5MHZ；I：压电晶片材料碘酸锂单晶；20：圆晶片直径20mm；SJ：水浸探头；20DJ：点聚焦，水中焦距20mm
6.画出下图中不同情况下声波的收敛或发散的情况:（答案从略）
7.在下图中画出超声纵波从钛合金中以45°斜入射到钢中的反射与折射情况: C钛L=6150m/s C钛S=3150m/s C钢L=5850m/s C钢S=3200m/s（答案从略）
8．液体中为什么只能传播纵波，不能传播横波？
答：凡能承受拉伸或压缩应力的介质都能传播纵波，液体虽然不能承受拉伸应力，但能承受压应力而产生容积变化，故液体介质可传播纵波。介质传播横波时，介质质点受到交变的剪切应力作用，液体介质不能承受剪切应力，故横波不能在液体中传播。
9．简述影响超声波在介质中传播速度的因素有哪些？答：①超声波在介质中的传播速度与介质的弹性模量和介质的密度有关。对一定的介质，弹性模量和密度为常数。不同介质，声速不同。②超声波波型不同时，声速也不一样。同一介质，传播不同类型声波时，声速也不相同。③介质尺寸大小及介质温度对声速也有一定影响。
10．简述波的叠加原理？答：①当几列波在同一介质中传播并相遇时，相遇处质点的振动是各列波引起的分振动的合成，任一时刻该质点的位移是各列波引起的分位移的矢量和。②相遇后的各列波仍保持它们各自原有的特性（频率、波长、振幅、振动方向等）不变，并按照各自原来的传播方向继续前进。③波的叠加原理描述了波的独立性，及质点受到几个波同时作用时的振动的叠加性。
11．何谓超声波声场？超声波声场的特征量有哪些？答：充满超声波的空间或超声振动所波及的部分介质，称为超声波声场。描述超声波声场的物理量即特征量有声压、声强和声阻抗。
声压：超声波声场中某一点在某一瞬时所具有的压强P与没有超声波存在时同一点的静压强P之差，称为该点的声压。
声强：单位时间内通过与超声波传播方向垂直的单位面积的声能，称为声强。常用I表示。
声阻抗：介质中某一点的声压P与该质点振动速度V之比，称为声阻抗，常用Z表示，声阻抗在数值上等于介质的密度与介质中声速C的乘积。
12．什么是波型转换？波型转换的发生与哪些因素有关？
答：①超声波入射到异质界面时，除产生入射波同类型的反射和折射波外，还会产生与入射波不同类型的反射或折射波，这种现象称为波型转换。②波型转换只发生在倾斜入射的场合，且与界面两侧介质的状态（液、固、气态）有关。
13．什么是超声波的衰减？引起超声衰减的主要原因有哪些？
答：超声波在介质中传播时，随着传播距离的增加，超声波的能量逐渐减弱的现象称为超声波的衰减。衰减的主要原因：
①扩散衰减：由于声束的扩散，随着传播距离的增加，波束截面愈来愈大，从而使单位面积上的能量逐渐减少。这种衰减叫扩散衰减。扩散衰减主要取决于波阵面的几何形状，与传播介质的性质无关。②散射衰减：超声波在传播过程中，遇到由不同声阻抗介质组成的界面时，发生散射（反射、折射或波型转换），使声波原传播方向上的能量减少。这种衰减称为散射衰减。材料中晶粒粗大（和波长相比）是引起散射衰减的主要因素。③吸收衰减：超声波在介质中传播时，由于介质质点间的内磨擦（粘滞性）和热传导等因素，使声能转换成其他能量（热量）。这种衰减称为吸收衰减，又称粘滞衰减。散射衰减，吸收衰减与介质的性质有关，因此统称为材质衰减。
14．什么是压电晶体？举例说明压电晶体分为几类？答：①某些晶体受到拉力或压力产生变形时，在晶体界面上出现电荷的现象称为正压电效应。在电场的作用下，晶体产生弹性形变的现象，称为逆压电效应。正、逆压电效应统称为压电效应。能够产生压电效应的材料称为压电材料。由于它们多为非金属电介质晶体结构，故又称为压电晶体。②压电晶体分为：单晶体：如硫酸锂、碘酸锂、铌酸锂等。多晶体：如钛酸钡、钛酸铅、锆钛酸铝（PZT）等。
15．何谓压电材料的居里点？哪些情况要考虑它的影响？
答：①当压电材料的温度达到一定值后，压电效应会自行消失，称该温度值为材料的居里温度或居里点，用表示。同一压电晶体有不同的上居里温度和下居里温度。不同的压电晶体，居里温度也不一样。②对高温工件进行探伤时，应选用上居里点较高的压电晶片制作探头。在寒冷地区探伤时，应选用下居里点较低的压电晶片作探头。
16．探头保护膜的作用是什么？对它有哪些要求？答：①保护膜加于探头压电晶片的前面，作用是保护压电晶片和电极，防止其磨损和碰坏。②对保护膜的要求是：耐磨性好，强度高，材质衰减小，透声性好，厚度合适。
17．声束聚焦有什么优点？简述聚焦探头的聚焦方法和聚焦形式？
答：①聚焦的声束，声能更为集中，中心轴线上的声压增强，同时可改善声束指向性，对提高探伤灵敏度、分辩力和信噪比均为有利。②聚焦方法：凹曲面晶片直接聚焦 采用声透镜片聚焦。③聚焦形式：点聚焦和线聚焦。
18.超声场分为几个区域？各个区域的主要特征是什么？用示意图注明简述之
[提示]超声场是由声源发射超声振动的空间而形成特殊场，它可以根据超声在空间各部位声压大小不同，形象地用图示方法表示出来（如下图a）：超声场分为近场和远场两大部份，其中主声束以锥体形状（犹如鲜花主瓣），近场区内主声束以外的称为副瓣。主声束的扩散角按零阶贝塞尔函数计算出其主瓣的锥角范围，即J1(X)=J1(kasinθ)，J1(X)有很多根，其中最小的根为X0=3.83，则sinθ0=3.83/ka=(3.83/2π)(λ/a)=(3.83/π)(λ/2a)sinθ=1.22(λ/D)[D=2a--晶片直径，a为半径]，求出θ0值即为主瓣的扩散角（θ0），当用J2(X)、J3(X)……分别求出第一副瓣、第二副瓣……的扩散角θ
1、θ2……等（如下图b），同样由sinθ=1.22(λ/D)求出，当S=b=1.64(D2/4λ)=1.64N时，主声束由晶片中心扩散到晶片边缘的距离（也可用二项式展开证明）（注：也有资料以1.67N为主声束由晶片中心扩散到晶片边缘的距离）
19.画图说明超声波声场分为哪几个区域？ 答：超声波声场可分为：
① 主声束和副瓣--声源正前方，声能最集中的锥形区域即为主声束。主声束的范围最大，声源发射的声能主要集中在主声束中。探头的频率指的是主声束的频率。声束副瓣（即副声束）通常出现在邻近探头晶片的一个区域内，旁侧于主波束。其轴线倾斜于晶片表面，能量微弱，截面较小。晶片尺寸和波长之比不同，副声束的能量和辐射方向也不相同。
②近场--指主声束中心轴线上最后一个声压最大值处至晶片表面这一区域。近场区长度用N表示，它取决于晶片的直径D（或面积As）和波长λ，用公式N=D2/4λ=As/πλ表示。近场区邻近压电晶片，声压分布最不均匀，这是由于此区域内声波干涉现象最严重。近场区也称为干涉区，干涉现象对探伤有很大影响，探伤时要尽量避免。
③ 远场--近场以外的区域称为远场。远场中各子波传播的距离已经很长，相位几乎相等，各量可简单相加。声压值随距离增加单调下降。远场区的大小由晶片尺寸、波长、介质的声学特性及激励晶片的电压决定。④ 未扩散区--主声束截面与声源直径相同之点至近场与远场分界点的一段区域，称为未扩散区。未扩散区分界点至晶片表面的距离约为近场区长度的1.6倍，该区域内的平均声压可以看做常数，自此点开始主声束扩散，形成锥体。
20.什么叫压电效应？答：在某些物体上施加压力时，在其表面上产生电荷聚集的现象，称为正压电效应。反之，当把这种物体放在电场中，它自身产生形变，称为逆（或负）压电效应。压电效应是可逆的。21.超声波检测利用超声波的哪些特性？
答：①超声波有良好的指向性，在超声波检测中，声源的尺寸一般都大于波长数倍以上，声束能集中在特定方向上，因此可按几何光学的原理判定缺陷位置。②超声波在异质介面上将产生反射、折射、波型转换、利用这些特性，可以获得从缺陷等异质界面反射回来的反射波及不同波型，从而达到探伤的目的。③超声波检测中，由于频率较高，固体中质点的振动是难以察觉的。因为声强与频率的平方成正比，所以超声波的能量比声波的能量大得多。④超声波在固体中容易传播。在固体中超声波的散射程度取决于晶粒度与波长之比，当晶粒小于波长时，几乎没有散射。在固体中，超声波传输损失小，探测深度大。22.什么叫AVG曲线？
答：根据反射体的反射面积大小，离声源的距离，反射信号的幅度三者之间的关系绘制的曲线，叫做AVG曲线
23.如果要求检查对接焊缝中的未熔合和小气孔，应采用什么无损检测方法检查？答：超声波和射线二种方法。
24.试比较射线检测与超声波检测两种方法的适用范围和局限性
[提示]：应从两种方法的灵敏度高低、检测厚度范围、易发现的缺陷形状以及安全防护和经济性等方面进行比较
25.指出下列四种情况下因为探头斜楔磨损而导致折射声束轴线方向变化的情况(实线为原始斜楔面,虚线为磨损後的斜楔面)折射角：a.变大，b.变小，折射声轴线：c.偏左，d.偏右
26．简述超声波检测仪中，同步电路的主要作用？答：同步电路又称触发电路，它每秒钟产生数十至数千个触发脉冲，触发探伤仪的扫描电路，发射电路等，使之步调一致，有条不紊地工作，因此，同步电路是整个探伤仪的指挥“中枢”。
27．超声波检测仪发射电路中的阻尼电阻有什么作用？答：改变阻尼电阻的阻值可改变发射强度，阻值大发射强度高，发射的声能多，阻尼电阻阻值小，则发射强度低。但改变阻值也会改变探头电阻尼大小，影响分辨力。
28．超声波检测仪的接收电路主要由哪几部分组成？
答：接收电路由衰减器，射频放大器，检波器和视频放大器等几部分组成。
29．超声波检测仪的“抑制”旋钮有什么作用？答：调节“抑制旋钮”可使低于某一电平的信号在荧光屏上不予显示，从而减少荧光屏上杂波。但使用“抑制”时，仪器的垂直线性和动态范围均会下降。
30．超声波检测仪的主要性能指标有哪些？答：超声波检测仪性能是指仅与仪器有关的性能，主要有水平线性，垂直线性和动态范围等：①水平线性：也称时基线性或扫描线性，是指检测仪扫描线上显示的反向波距离与反射体距离成正比的程度。水平线性的好坏以水平线性误差表示。②垂直线性：也称放大线性或幅度线性，是指检测仪荧光屏上反射波高度与接收信号电压成正比的程度。垂直线性的好坏以垂直线性误差表示。③动态范围：是检测仪荧光屏上反射波高从满幅（垂直刻度100%）降至消失时（最小可辩认值）仪器衰减器的变化范围。以仪器的衰减器调节量（dB数）表示。31．简述超声波检测系统的主要性能指标有哪些？
答：系统性能是仪器，电缆、探头特性的综合反映，即检测仪和探头的组合性能，主要有信噪比，灵敏度余量，始波宽度，盲区和分辩力：①信噪比：是检测仪荧光屏上界面反向波幅与最大杂波幅度之比。以dB数表示。②灵敏度余量：也称综合灵敏度。是指探测一定深度和尺寸的反射体，当其反射波高调到荧光屏指定高度时，检测仪剩余的放大能力。以此时衰减器的读数（dB）表示。③始波宽度：也称始波占宽，它是指发射脉冲的持续时间，通常以一定灵敏度条件下，荧光屏水平“0”刻度至始波后沿与垂直刻度20%线交点间的距离所相当的声波在材料中传播距离来表示。④盲区：是探测面附近不能探出缺陷的区域。以探测面到能够探出缺陷的最小距离表示。⑤分辨力：是在检测仪荧光屏上能够把两个相邻缺陷作为两个反射信号区别出来的能力。分辩力可分为纵向分辩力和横向分辩力。通常所说的分辩力是指纵向分辩力。一般以相距6mm或9mm的两个反射面反射波幅相等时，波峰与波谷比值的dB数表示。
32．什么是底面多次回波法？该法主要用于哪些场合？答：依据底面回波次数，判断试件有无缺陷和缺陷严重程度的探伤法称为底面多次回波法。主要用于：①缺陷回波法不便实施，要求检出灵敏度较低的场合。②工件厚度不大，形状简单，探测面与底面平行的场合。③有时作为辅助手段，配合缺陷回波法或底面回波高度法判定缺陷情况。
33．什么叫探伤灵敏度？常用的调节探伤灵敏度的方法有几种？
答：探伤灵敏度是指在确定的探测范围的最大声程处发现规定大小缺陷的能力。有时也称为起始灵敏度或评定灵敏度。通常以标准反射体的当量尺寸表示。实际探伤中，常常将灵敏度适当提高，后者则称为扫查灵敏度或探测灵敏度。调节探伤灵敏度常用的方法有试块调节法和工件底波调节法。试块调节法包括以试块上人工标准反射体调节和水试块底波调节两种方式。工件底波调节法包括计算法，AVG曲线法，底面回波高度法等多种方式。
34．焊缝斜角探伤中，定位参数包括哪些主要内容？
答：缺陷位置的记录应包括下列各项：①缺陷位置的纵坐标：沿焊缝方向缺陷位置到焊缝探伤原点或检验分段标记点的距离。记录时应规定出正方向。②缺陷深度：缺陷到探测面的垂直距离。③缺陷水平距离：缺陷在探测面上的投影点到探头入射点的距离，也称作探头缺陷距离。有时以简化水平距离代之，即缺陷在探测面上投影点到探头前沿的距离，亦称缺陷前沿距离。④探头焊缝距离：探头入射点到焊缝中心线的距离。⑤缺陷位置的横坐标：缺陷在探测面上投影点到焊缝中心线的距离，记录时应规定的正方向。其数值可以从③、④两参数之差求得。实际探伤中，由于焊缝结构形式不同，缺陷定位时，可依据标准或检验规程的要求，记录以上全部或部分参数。
35．何谓缺陷定量？简述缺陷定量方法有几种？答：超声波探伤中，确定工件中缺陷的大小和数量，称为缺陷定量。缺陷的大小包括缺陷的面积和长度。缺陷的定量方法很多，常用的有当量法，底波高度法和测长法。
36．什么是当量尺寸？缺陷的当量定量法有几种？
答：将工件中自然缺陷的回波与同声程的某种标准反射体的回波进行比较，两者的回波等高时，标准反射体的尺寸就是该自然缺陷的当量尺寸。当量仅表示对声波的反射能力相当，并非尺寸相等。当量法包括：①试块比较法：将缺陷回波与试块上人工缺陷回波作比较对缺陷定量的方法。②计算法：利用规则反射体的理论回波声压公式进行计算来确定缺陷当量尺寸的宣方法。③AVG曲线法：利用通用AVG曲线或实用AVG曲线确定缺陷当量尺寸的方法。
37．什么是缺陷的指示长度？测定缺陷指示长度的方法分为哪两大类？
答：按规定的灵敏度基准。根据探头移动距离测定的缺陷长度称为缺陷的指示长度。测定缺陷指示长度的方法分为相对灵敏度法和绝对灵敏度法两大类。①相对灵敏度法：是以缺陷最高回波为相对基准。沿缺陷长度方向移动探头，以缺陷波辐降低一定的dB值的探头位置作为缺陷边界来测定缺陷长度的方法。②绝对灵敏度法：是沿缺陷长度方向移动探头，以缺陷波幅降到规定的测长灵敏度的探头位置作为缺陷边界来测定长度的方法。
38．什么是缺陷定量的底波高度法？常用的方法有几种？答：底波高度法是利用缺陷波与底波之比来衡量缺陷相对大小的方法，也称作底波百分比法。底波高度法常用两种方法表示缺陷相对大小：F/B法和F/BG法：①F/B法：是在一定灵敏度条件下，以缺陷波高F与缺陷处底波高B之比来衡量缺陷的相对大小的方法。②F/BG法：是在一定灵敏度条件下，以缺陷波高F与无缺陷处底波高BG之比来衡量缺陷相对大小的方法。底波高度法只能比较缺陷的相对大小，不能给出缺陷的当量尺寸。
39．何谓钢板探伤的多次重合法？答：钢板水浸（或局部水浸）探伤时，为避免水层界面多次回波与钢板多次底波相互干扰，调整水层厚度，使水层界面回波与某次钢板底波复合，这种方法就称为多次重合法。当界面回波与钢板第二或三、四次底波重合时，则分别称为二次或三、四次重合法。
40．为什么钢板探伤的多次重合法一般不推荐采用一次重合法？答：一次重合法时，界面各次回波分别与钢板底波一一重合。此时，由于钢板底波的位置经常有水层界面波存在，探伤过程中，难以观察到钢板底波的衰减或消失情况，因而无法根据底波衰减或消失情况来判定缺陷情况，所以一般不采用一次重合法探伤。
41．简要说明钢板探伤中，引起底波消失的几种可能情况？答：①表面氧化皮与钢板结合不好；②近表面有大面积的缺陷；③钢板中有吸收性缺陷（如疏松或密集小夹层）；④钢板中有倾斜的大缺陷。42．锻件探伤中，利用锻件底波调节探伤灵敏度有什么好处？对锻件有何要求？
答：优点：①可不考虑探伤面耦合差补偿。②可不考虑材质衰减差补偿。③可不使用试块。要求：①工件厚度应大于3N。②工件底面应与探伤面平行，如为曲面应进行修面。③工件底面应光滑平整，且不得与其他透声物质接触。
43．焊缝检验中，“一次波法”与“直射法”是否为同一概念？
答：是同一概念。“一次波法”是指在斜角探伤中，超声束不经工件底面反射而直接对准缺陷的探测方法，亦称为直射法。探头的移动范围一般为跨距，焊缝实际扫查中，往往从焊缝边缘起移动到超过跨距一定距离。
44．有人说，焊缝检验中的“一次波法”与“一次反射法”是一回事。这种说法对吗？答：不对。“一次反射法”又称“二次波法”，是指在斜角探伤中，超声波在工件底面只反射一次而对准缺陷的探测方法。探头移动范围一般为跨距。实际检验中厚板焊缝时，往往一、二次波法联合使用，故探头应从焊缝边缘起移动到超过1跨距一定距离。
45．“前沿距离”这一术语是否表示缺陷前沿距离？答：不是。“前沿距离”表示从斜探头入射点到探头底面前端的距离。是斜探头的参数之一。“缺陷前沿距离”表示从斜探头前端到缺陷在探伤面上投影点的距离。有时它可代替“水平距离”作为缺陷的一个位置参数，在国内也常称其为“简化水平距离”。46．“水平距离”与“探头焊缝距离”在数值上相等吗？
答：除非缺陷定位在焊缝中心线上，否则一般两者在数值上并不相同。“水平距离”亦称“探头缺陷距离”，表示从斜探头入射点到缺陷在探伤面投影点的距离。它是缺陷的位置参数之一。“探头焊缝距离”表示在探伤面上从斜探头入射点到焊缝中心线的距离。比较两者的数值，可以得出缺陷相对于焊缝中心线的位置，有助于对缺陷的识别。47．简述焊缝探伤中，选择探头折射角应依据哪些原则？答：探头折射角的选择应从以下三个方面考虑：①能使声束扫查到整个焊缝截面。②能使声束中心线尽量与焊缝中主要缺陷垂直。③保证有足够的探伤灵敏度。
48．焊缝探伤时，斜探头的基本扫查方式有哪些？各有什么主要作用？
答：锯齿形扫查：是前后、左右、转角扫查同时并用，探头作锯齿形移动的扫查方法，可检查焊缝中有无缺陷。左右扫查：探头沿焊缝方向平行移动的扫查方法，可推断焊缝纵向缺陷长度。前后扫查：推断缺陷深度和自身高度。转角扫查：判定缺陷方向性。前后、左右、转角扫查同时进行，可找到缺陷最大回波，进而判定缺陷位置。环绕扫查：推断缺陷形状。平行、斜平行扫查及交叉扫查：探测焊缝及热影响区横向缺陷。串列式扫查：探测垂直于探伤面的平面状缺陷。
49.超声波探伤报告的主要内容有哪些？被检产品的基本状况、探伤方法、探伤条件、验收标准、探伤结论、操作者、审核人、探伤日期
50.正确的选用耦合剂应注意哪些问题？答：正确地选用耦合剂，应注意以下几点：①耦合剂的声阻抗尽量与被检材料的声阻抗相近；②无气泡和固体微粒；③无腐蚀和无毒；④有一定粘度和流动性 51.超声波检测仪主要由哪几部分组成？
答：主要由：同步电路、发射电路、接收电路、水平扫描电路、显示器和电源等部分组成。52.简述A型超声波检测仪的工作过程
答：仪器的工作过程是：仪器的同步电路产生方波，同时触发发射电路、扫描电路和定位电路。发射电路被触发后，激发探头产生一个衰减很快的超声脉冲，这脉冲经耦合传送到工件内，遇到不同介质的界面时，产生回波。回波反射到探头后，被转换成电信号，仪器的接收电路对这些信号进行放大，并通过显示电路在荧光屏上显示出来。
53.发射电路的主要作用是什么？答：由同步电路输入的同步脉冲信号触发发射电路工作，产生高频电脉冲信号，激励晶片产生高频机械振动，并在介质内产生超声波。
54.发射电路中的闸流管（或可控硅）起什么作用？如果用普通电子管（或硅整流管）代替行不行？答：发射电路中的闸流管（或可控硅）起电子开关作用，它产生激励晶片的电脉冲信号。不能用普通电子管（或硅整流管）代替。
55.同步信号发生器主要起什么作用？它主要控制哪两部分电路工作？
答：同步电路产生脉冲信号，用以触发仪器各部分电路同时协调工作。它主要控制同步发射和同步扫描两部分电路。
56.超声波探头起什么作用？探头晶片是由哪些材料制成的？
答：探头在超声波探伤中起能量转换作用，是将电能、声能相互转换的器件。探头晶片材料用压电陶瓷[如钛酸钡（BaTiO3）、锆钛酸铅（PbTiO3）]和压电单晶[如石英（SiO2）、碘酸锂（LiIO3）、铌酸锂（LiNbO3）]制作。
57.使用横孔作为标准反射体有哪些优点？答：①加工方便；②适用于各种角度和类型的探头。
58.画出斜探头的结构示意图，并标出主要部件名称。（标准图略，主要部件应包括：压电晶片、压电晶片接地环或接地极、高频引线、外壳、接插口、吸收块、斜楔、斜楔上的消声槽等）
59.脉冲反射探伤法对探头晶片有什么要求？答：①转换效率要高，尽可能降低转换损失，以获得较高的灵敏度，宜选用Kt（机电耦合系数）大的晶片。②脉冲持续时间尽可能短，即在激励晶片后能迅速回复到静止状态，以获得较高的纵向分辩力和较小的盲区。③要有好的波形，以获得好的频谱包迹。④声阻抗适当，晶片与被检材料的声阻抗尽量接近，水浸法探伤时，晶片应尽量与水的声阻抗相近，以获得较高的灵敏度。⑤高温探伤时，居里点温度要高。⑥制造大尺寸（直径）探头时，应选择介电常数小的晶片。⑦探头实际中心频率与名义频率之间误差小，频谱包络无双峰。60.钢板探伤中，底波消失，可能是由于什么原因造成的？
答：①近表面大缺陷；②吸收性缺陷（或疏松和密集小夹层）；③倾斜大缺陷；④氧化皮与钢板结合不好 61.钢板的超声波检测为什么通常都要采用直探头？答：由于板材为轧制而成，板材中的缺陷大都是平行于板面，而且呈扁平状。因此，在板厚方向进行垂直探伤最有利于发现缺陷。
62.试述薄板焊缝表面声能损失差的测定方法。答：①做一个与工件材料相似、厚度相同，光洁度为▽7平板试块；②用同型号的两个斜探头沿探伤方向置于工件上作一发一收测试，使其最大反射波幅的高度为荧光屏上3格高；③用上述条件探测平板试块，得出的穿透波幅的高度与工件上反射波幅的高度差的dB值，就是薄板焊缝的表面声能损失差。
63.声透镜线聚焦的内半扩散角的选择，过大和过小对探伤有什么影响？
答：θ角不能选得过大，θ角越大，则α与α
1、α2相差越大，这是探伤中所不希望的。因为在探伤中，θ角过大，由于管子跳动，会使声束内外侧的入射点位置发生变化，入射角偏移出影响范围，使检测条件不稳定。同时入射角又不能过小，过小的θ角在相同的晶片宽度时，焦距增大，水层加厚，使探头发射的超声波能量产生不必要的损失。同时要求探头旋转腔的内径相应增大，旋转机构外径加大，稳定性变坏。64.饼形大锻件探伤，如果用底波调节探伤起始灵敏度，对工件底面有何要求？ 答：①底面必须平行于探伤面；② 底面必须平整，且有一定的光洁度 65.T型焊缝和角焊缝在超声波检测方法上与对接焊缝有什么不同？
答：对接焊缝主要用横波斜探头探伤，而T型焊缝和角焊缝除了用横波斜探头探伤外，还要用直探头纵波进行探伤。
66.锻件的超声波检测对仪器性能有哪些要求？
答：①仪器至少应具备1.25、2.5、5兆周三种频率和连续可调的50dB以上的衰减器。②在探测200mm厚的工件时，使用Φ2平底孔的灵敏度，仪器盲区应小于10mm。分辨力大于7mm。③水平线性误差应小于2%。④仪器衰减器的精度在任一12dB衰减时，误差不超过0.5dB。⑤仪器在探测深度为500mm的Φ2直径的平底孔时，衰减器上应有20dB的余量，反射波高应在满幅的75%以上。并且动态范围在10dB以上时，不允许有杂波出现。⑥探伤的指向性好，要求无双峰，无歪斜，发射颇率误差不超过标定值的10%。67.大锻件为什么通常采用直探头进行超声波检测？答：主要原因是：①锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行；②探测面通常选择在与锻造纤维方向平行的面；③锻件尺寸大，纵波探伤穿透力强。68.选择焊缝超声波检测用斜探头的折射角有哪几条原则？
答：①声束能扫查到整个焊缝截面；②声束尽量垂直于主要缺陷；③有足够的灵敏度 69.锅炉受热面管子的对接焊缝，超声波检测时，采用的探头参数是什么？
答：主要参数是①频率为5MHZ，②tgβ取2.5～3，③探头前沿b—般为7mm，最大不超过10mm。70.管子对接焊缝进行探伤，对试样和有探头何要求?答：①试样与工件的曲率半径相同，②探头接触面与工件相吻合。
71.什么是半波高度法？若发现一缺陷有多个波峰，该缺陷的长度应如何测定？答：半波高度法是指用缺陷最大反射波高度降低一半（-6dB）作为缺陷边缘的指示缺陷长度的方法。有多个波峰的缺陷，其长度用端点半波高度法测定。
72.什么是端点半波高度法？答：端点半波高度法是缺陷端部最大反射波高度降低一半（-6dB）测量缺陷指示长度的方法，适用于有多个波峰（即粗细不均匀）的长条形缺陷。
73.什么是缺陷指示长度？答：缺陷指示长度是指按规定测量方法确定的缺陷长度
74.右图为用于焊缝超声波检测时制作距离-波幅曲线、调整检测灵敏度使用的短横孔试块，为什么要在试块侧面铣一园弧槽，然后才在该圆弧中心钻制Φ1x6mm的短横孔？
答：为了消除试块的边界影响，此槽对克服试块的侧面和端面反射有一定益处。
75.焊缝探伤时，为缺陷定位，仪器时间扫描线的调整有哪几种方法？答：有水平定位，垂直定位（也叫深度定位），声程定位三种方法。
76.时间扫描线比例的调整，若是不正确，有什么害处？答：时间扫描线比例的调整正确与否，直接影响缺陷定位的精度，若是不正确，可能发生误判和漏检。
77.什么叫钢板的重合波探伤法？答：若超声波在板中的传播时间tB为在水中传播时间t的整数倍，界面波将与底面波重合，利用该种方法进行探伤就称为重合波探伤法。78.焊缝超声波检测中，干扰回波产生的原因是什么？我们怎样判别干扰回波？答：焊缝超声波检测中，由于焊缝几何形状复杂，由形状产生干扰回波，另一方面是由于超声波的扩散、波型转换和改变传播方向等引起干扰回波。判别干扰回波的主要方法是用计算和分析的方法寻找各种回波的发生源，从而得知哪些是由于形状和超声波本身的变化引起的假信号，通常用手指沾耦合剂敲打干扰回波发生源、作为验证焊缝形状引起假信号的辅助手段。
79.焊缝超声波检测中，有哪些主要的干扰回波？答：焊缝超声波检测中，主要有以下8种干扰回波：①加强层干扰回波。②焊缝内部未焊透反射引起的干扰回波。③单面焊衬板引起的干扰回波。④焊缝错边引起的干扰回波。⑤焊瘤引起的干扰回波。⑥焊偏引起的干扰回波。⑦焊缝表面沟槽引起的干扰回波。⑧油层引起的干扰回波。
80.超声波检测报告记录有哪几种形式？
答：超声波检测报告记录有以下三种形式：①直接写在工件上。②现场探伤记录。③正式的探伤报告。81.为什么要加强超声波检测的记录和报告工作？
答：任何工件经过超声波检测后，都必须出具检验报告，以作为该工件质量好坏的凭证，一份正确的探伤报告，除建立于可靠的探测方法和结果外，很大程度上取决于原始记录的好坏，所以加强现场的记录和最后的出具探伤报告是非常重要的，如果我们检查了工件，不作记录，也不出报告，那么探伤检查就毫无意义。
82.焊缝超声波检测中，把焊缝中的缺陷分几类？怎样进行分类？答：在焊缝超声波检测中，我们一般把焊缝中的缺陷分成三类：①点状缺陷。②线状缺陷。③面状缺陷。在分类中把长度小于10mm的缺陷叫点状缺陷，一般不测长，小于10mm的缺陷以5mm计。把大于等于10mm的缺陷叫线状缺陷。把长度大于等于10mm，高度大于3mm的缺陷叫面状缺陷。83．何谓耦合剂？简述影响耦合的因素有哪些？
答：在探头与工件表面之间施加的一层透声介质，称为耦合剂。影响声耦合的主要因素有： ①耦合层厚度：厚度为λ/4的奇数倍时，透声效果差。厚度为λ/2的整数倍或很薄时，透声效果好。②表面粗糙度：一般要求表面粗糙度不大于6.3μm。表面粗糙耦合效果差，表面光洁耦合效果好。③耦合剂声阻抗：耦合剂声阻抗大，耦合效果好。
④工件表面形状：平面耦合效果最好，凸曲面次之，凹曲面最差。不同曲率半径耦合效果也不相同，曲率半径大，耦合效果好。
84．简述钢板探伤中“叠加效应”形成的原因及回波变化特征？
答：“叠加效应”多出现在板厚较薄，缺陷较小且位于板中心附近时。缺陷回波变化特征是：钢板各次底波前的缺陷多次回波F1、F2、F3、F4、F5...起始几次回波的波高逐渐升高，到某次回波后，波高又逐渐降低。这种效应的出现是由于不同反射路径的声波互相叠加的结果，随着缺陷回波次数的增加，回波路径逐渐增多，如F2比F1多3条路径，F3比F1多5条路径...路径多，叠加能量多，故缺陷回波逐渐升高。但路径进一步增加时，反射损失及衰减也增加，增加到一定程度后，损失和衰减的声能将超过叠加效应。因此缺陷波升高到一定程度后又逐渐降低。
85．小口径钢管水浸探伤时，如何调节声束入射角度？
答：小口径钢管水浸探伤时，是依靠调节偏心距来调整声束入射角的。偏心距是指探头声束轴线与管子中心轴线间的距离，常用X表示。X与入射角α的关系是sinα=X/R，因此调节X值即能改变声束入射角，为满足纯横波探伤，同时声束又能探测到管子内壁，X的调节必须满足下列条件：(CL1/CL2)•R≤X≤(CL1/CS2)•r,式中：CL1-水中声速；CL2、CS2-钢中纵横波声速；r、R-管子的内外半径。86．小口径管水浸聚焦法探伤时，为什么一般要求声束在水中的焦点要落在管子的中心轴线上？ 答：当聚焦声束在水中的焦点落在与声束轴线相垂直的管子中心轴线上时，能使声束外边缘声线在钢管曲面上有相等的入射角，从而可减小声束复盖面上各点的入射角差别，获得最佳入射条件。为获得这个最佳入射条件，应根据探头焦距（F），管半径（R）和偏心距（X）的数值，调节最佳水声程来实现。最佳水声程等于：H=F-(R2-X2)1/2 87．锻件探伤时，什么情况下用当量法定量？当量法有几种？
答：锻件探伤中，对于尺寸小于声束截面的缺陷一般用当量法定量。当量法分为试块比较法，计算法和AVG曲线法。当缺陷位于X＜3N区域内，可用试块比较法或当量A.V.G曲线法定量。当缺陷位于X≥3N区域，可用当量计算法或当量A.V.G曲线法定量。88．何谓绕射？绕射现象的发生与哪些因素有关？
答：波在传播过程中遇到障碍物时，能绕过障碍物的边缘继续前进的现象，称为波的绕射（衍射）。绕射的产生与障碍物的尺寸Df和波长λ的相对大小有关，Df《λ时，几乎只绕射，无反射。Df》λ时，几乎只反射，无绕射。Df与λ相当时，既反射又绕射。
89．超声波垂直入射到两侧介质不同（Z1≠Z3）的异质薄层（Z2）时，（如探头保护膜），什么情况下声压往复透过率最高？答：①当薄层厚度等于λ2/4的奇数倍，薄层介质声阻抗为其两侧介质声阻抗几何平均值时，即Z2=(Z1Z3)1/2，声压往复透过率等于1，声波全透射。②当薄层厚度＜λ2/4时，薄层愈薄，声压往复透过率愈大。
90．什么是端角反射？它有什么特征？
答：①超声波在工件（或试样）的两个互相垂直的平面构成的直角内的反向，称为端角反射。②端角反射中，同类型的反射波和入射波总是互相平行方向相反。端角反射中，产生波型转换，不同类型的反射波和入射波互相不平行。纵波入射时，端角反射率在很大范围内很低。横波入射时，入射角在30°及60°附近，端角反射率最低。入射角在35°-55°时，端角反射率最高。91．何谓主声束？什么是声束的指向性？
答：①声源正前方声能集中的锥形区域称为主声束。②声源辐射的超声波定向，集中辐射的性质称为声束指向性。指向性的优劣常用指向角表示，指向角即为主声束的半扩散角，通常用第一零辐射角表示，即声压为零的主声束边缘线与声束轴线间的夹角。指向角θ0与波长和晶片直径的比值（λ/D）有关，D愈大，λ愈短θ0愈小，声束指向性愈好。
92.名词解释：垂直线性 答：超声波探伤仪的接收信号与荧光屏所显示的反射波幅度之间能按比例方式显示的能力
93.名词解释：分辨力 答：超声探伤系统能够区分横向或深度方向相距最近的两个相邻缺陷的能力 94.名词解释：抑制 答：在超声波探伤仪中，使某一高度以下的反射波或噪声不被显示的方法 95.名词解释：阻塞 答：接收器在接收到发射脉冲或强信号后的瞬间引起的灵敏度降低现象 96.名词解释：信噪比 答：超声信号幅度与最大背景噪声幅度之比
97.名词解释：盲区 答：在正常探伤灵敏度下，从探伤表面到最近可探缺陷的距离
98.名词解释：动态范围 答：在增益不变时，超声探伤仪荧光屏上能分辨的最大反射面积与最小反射面积波幅高度之比，通常以分贝表示
99.名词解释：灵敏度 答：超声探伤系统所具有的探测最小缺陷的能力 100.名词解释：吸收 答：由于部分超声能量转变为热能而引起的衰减
101.名词解释：远场 答：近场以远的声场，在远场中，声波以一定的指向角传播，而且声压随距离的增大而单调地衰减
102.名词解释：重复频率 答：单位时间（秒）内产生的发射脉冲的次数 103.名词解释：频率常数 答：晶片共振频率与其厚度的乘积
104.名词解释：声场的指向性 答：波源发出的超声波集中在一定区域内，并且以束状向前传播的现象 105.名词解释：半波高度法 答：把最大反射波高降低一半（-6dB）用以测量缺陷指示长度的方法 106.名词解释：临界角 答：超声束的某个入射角，超过此角时某种特定的折射波型就不再产生 107.名词解释：阻尼 答：用电的或机械的方法来减少探头的振动持续时间
108.名词解释：距离幅度校准（距离幅度补偿、深度补偿）答：用电子学方法改变放大量，使位于不同深度的相同反射体能够产生同样回波幅度的方法
109.名词解释：迟到回波 答：来自同一来源的回波，因所经的路径不同或在中途发生波型变换以致延迟到达的回波
110.名词解释：界面波 答：由声阻抗不同的两种介质的交界面产生的回波
111.什么叫超声场？反映超声场特征的主要参数是什么？答：充满超声波能量的空间叫做超声场，反映超声场特征的重要物理量有声强、声压、声阻抗、声束扩散角、近场和远场区
112.超声探伤仪最重要的性能指标是什么？答：超声探伤仪最重要的性能指标有：①分辨力；②动态范围；③水平线性；④垂直线性；⑤灵敏度；⑥信噪比
113.超声波探伤试块的作用是什么？答：试块的作用是：①检验仪器和探头的组合性能；②确定灵敏度；③标定探测距离；④确定缺陷位置，评价缺陷大小
114.用CSK-1A试块可测定仪器和探头的哪些组合性能指标？答：可测定的组合性能指标包括：①水平线性；②垂直线性；③灵敏度；④分辨力；⑤盲区；⑥声程；⑦入射点；⑧折射角
115.焊缝探伤时，用某K值探头的二次波发现一缺陷，当用水平距离1:1调节仪器的扫描时，怎样确定缺陷的埋藏深度？
答：采用下式确定缺陷的埋藏深度：h=2T-(水平距离/K)，式中：h-缺陷的埋藏深度；T-工件厚度；K-斜探头折射角的正切值
116.超声波探伤仪按显示方式可分几种？答：可分三种：①A型显示-示波屏横坐标代表超声波传播时间（或距离），纵坐标代表反射回波的高度；②B型显示-示波屏横坐标代表探头移动距离，纵坐标代表超声波传播时间（或距离），这类显示得到的是探头扫查深度方向的断面图；③C型显示-仪器示波屏代表被检工件的投影面，这种显示能绘出缺陷的水平投影位置，但不能给出缺陷的埋藏深度
117.开机后出现扫描基线，但无始波，基线能上下移动，这种情况该如何检修？答：故障出现在发射或接收系统，首先检查电源电压是否正常，然后确定发射部分是否正常；检查衰减器有无短路和断线，将仪器置“双”，将衰减器置“零”，用手指碰触接收端，如果荧光屏出现杂波，说明故障在发射部分。常见的原因有：可控硅管损坏，触发讯号太低，发射部分线路板接触不良。如故障出现在放大器，则分别测量各级波形是否正常
118.当缺陷长度大于声场直径时，其指示长度怎样测量？答：测长方法有两种：①采用相对灵敏度法，即6分贝测长法和端点6分贝法；②采用绝对灵敏度法 119.画出方框图说明直探头检测技术的典型原理图
答：直探头检测技术的典型原理如右图所示，同步信号发生器同时向发射电路和扫描电路发出工作指令，扫描电路输给水平偏转板一组对称的锯齿波电压，因而在荧光屏上形成扫描基线，发射电路发出的高频电脉冲经高频同轴电缆传给探头的压电晶片，激励晶片产生振动，将电信号转换为声信号传入被检工件，如果在超声波传播的路径上遇到缺陷或底面，超声波返回时被探头接收并转换为电信号，经放大后输送到示波管的垂直偏转板上，在荧光屏上显示出各种脉冲反射信号。120.影响缺陷反射波高度的因素有哪些？
答：影响缺陷反射波高度的因素有以下五个方面：①仪器和探头的因素，有仪器的发射功率、频率、放大系数和电缆长度以及探头的晶片尺寸、晶片材料、固有频率、阻抗等；②对被检工件来说，有探测面形状、厚度、粗糙度、晶粒结构、声速、衰减等；③从缺陷角度看，有缺陷的深度、形状、方向、大小、内部介质等；④耦合剂的衰减、声速、厚度等能影响反射波高度；⑤声束的方向、扩散角、能量等也影响反射波高度。
初、中级无损检测技术资格人员-超声检测考题汇编 计算题
1.在水浸法探伤中，求水/钢的往复透过率T 解：Z1=1.5×106Kg/m2s(水温20℃)Z2=45.4×106Kg/m2s(水温20℃)T=4Z1Z2/(Z1+Z2)2=(4x1.5x45.4x1012)/(1.5+45.4)2×1012=0.12=12% 答：水/钢的往复透过率T为12% 2.碳素钢和不锈钢的声阻抗差异约为1%，求二者复合界面上的声压反射率。解：设界面声压反射率为r（r取绝对值）r=(Z1-Z2)/(Z1+Z2)=(1-0.99)/(0.99+1)=0.005=0.5% 答：二者复合界面上的声压反射率为0.5%。3.边长为D=10mm的方形晶片，指向角用θ0=57λ/D表示。试计算探测钢材时，下列探头晶片的指向角： ①5MHz10x10、②4MHz12x12、③3MHz15x15、④2MHz20x20 解：λ①=(5900x103)/(5x106)=1.18mm；λ②=(5900x103)/(4x106)=1.48mm；λ③=(5900x103)/(3x106)=1.97mm；
λ④=(5900x103)/(2x106)=2.95mm，则：①的指向角：θ0=57x1.18/10=6.70；②的指向角：θ0=57x1.48/12=7.030；
③的指向角：θ0=57x1.97/15=7.480；④的指向角：θ0=57x2.95/20=8.410
4.当声压比为下列数值时，计算dB值。（不可用图表及计算尺）①
8、②400、③20、④0.8、⑤1000 解：如用分贝表示两数值之比P/Q，则数值A=20lg（P/Q）
① A=20lg8=60lg2=18dB；② A=20lg400=40lg20=52dB；③ A=20lg20=20(lg2+lg10)=26dB； ④ A=20lg0.8=20(lg8+lg10-1)=-2dB；⑤ A=20lg1000=60lg10=60dB 5.5P20x10 45°的探头有机玻璃楔块内声速为2730m/s，被检材料（低碳钢）中声速为3230m/s，求入射角α。
解：根据折射定律：sinα/sinβ=CL1/CS2 又：β=45° sinα=(CL1/CS2)•sinβ=(2730/3230)•sin45°=0.59 α=36.7° 答：入射角α为36.7°
6.试以钢材为例，计算2MHzΦ30直探头的近场区
解：声波在钢材中的纵波速度为5900m/s λ钢=Ｃ钢／f=5900x103/2x106=2.95mm N钢=D2/4λ=302/4x2.95=76mm
答：2MHzΦ30直探头近场区为76mm。
7.用折射角60°的斜探头探测坡口角为60°的钢板对接焊缝,如下图所示,计算在探头一侧坡口面发现坡口面未熔合缺陷处所有反射波型的反射角(CL=5900m/s,CS=3200m/s)（标准答案从略）
8.用直探头水浸法探钢板，当板厚δ=60mm时，使底波第二次反射波B2正好与水层第二次反射波S2重合，求其水层高度？解：题意要求钢板的第二次回波与水层的第二次回波重合，即超音波在水中的传播时间等于超音波在钢板中两次反射波的传播时间。h/CL水=2•δ/ CL钢 式中：h-水层高度，δ-钢板厚度 h=(CL水/CL钢)•2•δ=(5.9/1.48)x2x60=30.1mm 答：水层厚度h=30.1mm
9.用水浸聚焦探头探钢管，当要求水层高度为10mm，检查Φ40mm的钢管时，试计算透镜的曲率半径。解：根据公式r1=[1-(C2/C1)]f，式中：r1-透镜曲率半径；C1-有机玻璃声速；C2-水声速；f-焦距（探头至管子中心的垂直距离），r1=[1-(C2/C1)]f=[1-(1500/2700)](20+10)=(1-0.556)x30=13.3mm 答：检查Φ40mm的钢管时，透镜的曲率半径为13.3mm 10.用水浸聚焦法检查Φ42x4mm的小口径钢管，水层距离为30mm，求偏心距、入射角、折射角、焦距和透镜的曲率半径各为多少？
解：已知：钢管Φ42x4mm、水层厚度L2=30mm，r=(42/2)-4=17，y=(R2-X2)1/2，式中：R=Φ/2=21mm X=r•(CL2/CS3)=17x(1.5/3.2)=8mm，y=(212-82)1/2=(377)1/2=19.4mm，焦距f=L2+y=30+19.4=49.4mm 入射角：sinα=X/R=8/21=0.38，α=22.3°；折射角：sinβ=r/R=17/21=0.81，β=54.1°
声透镜曲率半径：r'=[(n-1)/n]•f，式中：n=CL1/CL2=2.7/1.5=1.8，r'=[(1.8-1)/1.8]•49.4≈22mm 偏心距：X=8mm 11.用单探头接触法横波探伤外径为300mm厚60mm的大口径钢管时，应选用折射角为多少的探头？ 解：为保证管内壁的缺陷能被发现，声束必须与内壁相切：sinβ=r/R=90/150=0.6，β=36.87° 答：探头的折射角应小于或等于36.87°
12.有一厚度为400mm的饼形锻件，要求探伤灵敏度为h=400mm、Φ4mm平底孔，当用底波调节灵敏度时，①底波应调至多少dB？②若在100mm处发现波高24dB的缺陷，该缺陷的当量直径为多大？（使用2.5MHz、Φ20mm的直探头）答：①底波应调至31.4dB。②该缺陷的当量直径为Φ4mm
13.用2.5MHzΦ20的直探头对厚度为215mm的钢锻件进行探伤，要求能发现Φ2当量的平底孔缺陷。①怎样调节探伤灵敏度？②在深度200mm处发现一缺陷，用衰减器调节至同一稳定高度时，衰减器读数nf=20dB，求缺陷大小。（利用AVG曲线计算）解：根据公式：L0=D2/4λ先计算近场区长度,λ=c/f=5.9/2.5=2.34mm，L0=202/(4x2.34)=43mm Φ2mm的缺陷归一化后得G=2/20=0.1，δ=215mm；探测距离归一化后得A=215/43=5，由基本AVG曲线查出A=
5、G=0.1时的增益值V=48dB。将探头放在工件上，将荧光屏显示的底波调节到某一高度（通常是满屏的80%），增益48dB，仪器的探伤灵敏度调节完毕。
当在129mm处发现一缺陷时，衰减器读数nf=20dB，此时缺陷的增益值为Vf=V-nf，∴Vf=V-nf=48-20=28dB 将缺陷距离化为归一化距离：Af=129/43=3，根据Af=
3、Vf=28dB 查基本AVG曲线图得Gf=0.2，缺陷当量大小为Φf=Gf•Df=0.2x20=4mm 答:该缺陷为Φ4当量.(注：基本AVG曲线图考试卷上给出。)14.用tgβ=2.5的探头，探测厚度16mm的对接焊缝，探头移动区宽度应为多少毫米？ 答：探头移动区宽度L=2T•tgβ+50=2x16x2.5+50=130mm
15.用某折射角β的斜探头的二次波发现一缺陷，当用水平距离1:1调节仪器的扫描时，怎样确定缺陷的埋藏深度？
答：缺陷的埋藏深度H=2T-水平距离/tgβ
16.对Φ60x6钢管的对接焊缝进行探伤，焊缝宽14mm，探头折射角应选多大？
答：按一次扫查到焊根计算，若探头前沿距离b=8mm，则：tgβ=[(焊缝宽度/2)+b]/T=(7+8)/6=2.5，β=68.2° 17.假设有一厚度δ为30mm的压力容器焊缝，外表面焊缝宽为60mm，内焊缝宽为30mm，探头前沿距离L=15mm，为保证声束扫查到整个焊缝，探头的折射角最小应取多大？ 解：根据题意，探头的水平跨距最小应是外焊道和内焊道的半数和，所以探头的：tgβ≥(L+b+a)/δ=(15+30+15)/30=2，式中：b-(1/2)外焊道宽；a-(1/2)内焊道宽，即β≥63.4°
18.当板厚δ=20mm时，利用2.5MHz，tgβ=2的斜探头进行超音波检测，试计算第一、二次声程的水平距离。
解：一次水平距离=δ•tgβ=2x20=40mm；二次水平距离=2δ•tgβ=2x40=80mm
19.用tgβ=2的斜探头探测厚度δ=20mm的焊缝，缺陷在荧光屏上出现的位置分别为32和52，求缺陷在钢中的深度。（按水平比例1:1定位）解：一次声程缺陷深度 δ1=X1/tgβ=32/2=16mm；二次声程缺陷深度 δ2=2δ-(X2/2)=40-(52/2)=14mm 答：
一、二次声程缺陷深度分别为16mm和14mm。20.试计算出厚度δ=46mm和120mm对接焊缝的探头移动区。（选用tgβ=1和tgβ=2探头）解：①厚度δ=46mm时应采用单面两侧探伤，故探测区P1≮2•δ•tgβ+50mm，对于tgβ=1探头：P1≮2x46x1+50=142mm；对于tgβ=2探头：P1≮2x46x2+50=234mm ②厚度 δ=120mm时应采用两面探测，故探测区P2≮T•tgβ+50mm，对于tgβ=1探头：P2≮120x1+50=170mm；对于tgβ=2探头：P2≮120x2+50=20mm 21.外半径为400mm，内半径为340mm的筒体纵焊缝，我们至少应选多大折射角的探头进行探伤？ 解：超音波声束中心线与筒体内表面相切时，β'=90°，sinβ/sinβ'=r/R，sinβ'=1，r/R=sinβ=340/400=0.85，β=58.2°或tgβ=1.6 答：我们至小应选tgβ小于或等于1.6探头来探伤。
22.如右图所示，探头为tgβ=2，用仪器与钢试块比较，测得探头中S=10mm，计算探头中a和b的长度。解：因为仪器中测得的S值是相当于钢中的S值，所以要将S钢换算成S有机玻璃,即: S有机玻璃/CL有机玻璃=S钢/CS钢，S有机玻璃=S钢•CL有机玻璃/CS钢=10x2.7/3.2=8.4 另外tgβ=2，β=63.4°，sinα=CL有机玻璃•sinβ/CS钢=2.7•sin63.4°/3.2=0.754，α=48.97°，因此：a=cosα•S有机玻璃=cos48.97°•8.4=5.5mm
b=sinα•S有机玻璃=sin48.97°•8.4=6.3mm 答：a=5.5mm，b=6.3mm
23.用深度比例定位，探头tgβ=1.5，探测厚度δ=100mm的焊缝，在荧光屏上80mm处出现一缺陷波，计算探头入射中心至缺陷的水平距离（注：深度比例1:1）解：L=tgβ•h=1.5x80=120mm 答：水平距离L=120mm
24.利用右图所示试块（CSK—ⅡA试块）测定探头K值（K=tgβ），选用试块中h=30mm和60mm的孔，调节好仪器的水平比例。测得h=30mm孔的水平距离为60mm，h=60mm孔的水平距离为120mm求探头的K值是多少？解：K=b/a 式中：b-探头入射点至探测孔的水平距离，a-探头入射点至探测孔的垂直距离。用h=30mm的孔调节水平比例时K=60/30=2（还可用h=60mm的孔检验以上求出的K值是否正确）答：探头的K值等于2。
25.超音波检测100mm板厚的纵焊缝，该园筒外半径为500mm，用tgβ=1的探头探伤，在平板试块上1:1深度定位调节扫描线，从筒体外园面探伤时，在荧光屏80mm深处发现一缺陷反射波，求缺陷在曲面上跨距弧长及离工件外表面的深度。
解：由公式L=0.0174•θ•R=0.0174•tg-1[tgβ•h/(R-h)]•R=0.0174•tg-1[1•80/(500-80)]•500=93.786mm h0=R-(tgβ•h/sinθ)=500-(1•80/sin10.78°)=72.2mm 答：该缺陷的曲面跨距是93.786mm,离工件表面深度72.2mm
26.求直径为20毫米，频率为2.5兆赫的探头在水中的半扩散角
解：水中波长（C水=1480m/s）λ=c/f=1.48x106/2.5x106=0.59mm，水中半扩散角sinθ=1.22(λ/D)或θ≈70°(λ/D)θ≈70°(0.59/20)=2°
27.比较2.5兆赫、Φ14探头与2.5兆赫、Φ20探头的指向性（钢中声速为5900米/秒）解：钢中波长λ=c/f=5.9x106/2.5x106=2.36mm，探头的半扩散角分别为：θ1≈70°(λ/D)≈70°(2.36/14)≈11.8°θ2≈70°(λ/D)≈70°(2.36/20)≈8.3°，同频率的探头，直径较大的指向性较好 28.试计算2.5兆赫、直径20毫米的直探头在钢中的近场区长度（钢中声速为5900米/秒）解：钢中波长λ=c/f=5.9x106/2.5x106=2.36mm，钢中的近场长度N=D2/4λ=202/(4x2.36)=42.4mm 29.当纵波从有机玻璃楔块通过耦合剂斜入射钢制工件时，得到横波折射角为45°，已知有机玻璃中的纵波速度CL=2730米/秒，钢中横波声速CT=3230米/秒，试计算楔块的角度θ是多少度？ 解：按折射定律sinθi/Ci=sinθt/Ct，sinθi=sinθt(Ci/Ct)=sin45°(2730/3230)=0.598 θi=36.7°
30.当采用液浸探头探测浸于水中的工件时，为使纵波能从水传入钢件中并且只有横波，求所需的入射角 解：按折射定律sinθi/Ci=sinθt/Ct=sin90°/CL，sinθi=(Ci/CL)sin90°=(1480/5900)x1，θi≥14.5° 31.用水浸法探测钢材，超声波以14°的入射角射入工件，求钢中横波折射角 解：按折射定律sinθi/Ci=sinθt/Ct，sinθt=(Ct/Ci)sinθi=(3200/1480)sin14°，θt=31°
32.两声压比值为下列各数值：①0.4；②9；③16；④400；⑤105，分别计算分贝值各为多少？ 解：①20lg0.4=20lg(4/10)=20(lg4-lg10)=-8dB；②20lg9=20lg32=40lg3=40x0.47=19dB；③20lg16=20lg24=80lg2=80x0.3=24dB；④20lg400=20lg(22x100)=20(2lg2+lg102)=20(2x0.3+2x1)=52dB；⑤20lg105=20x5lg10=100dB 33.探测300毫米厚的钢制工件，用2.5兆赫直探头，用底波调节仪器灵敏度，要求能发现Φ2的当量缺陷，问衰减器调节量多少？
解：底面反射与缺陷反射之比：PF/PB=πΦ2/2λX，式中X-声程，Φ-平底孔径，λ=c/f=5.9x106/2.5x106=2.36mm，取对数代入，Φ=2，X=300，dB=20lg(PF/PB)=20lg(πΦ2/2λX)=20(lgπΦ2-lg2λX)=20(1.10-3.15)=-41(dB)34.用2.5兆赫、Φ20直探头探测400毫米厚钢件，在200毫米处发现一缺陷波高比底波低12分贝，求其当量平底孔直径
解：由题意得PF/PB=1/4（-12dB），PF/PB=πΦ2X2/X12=3.14xΦ2x400/2x2.36x2002=0.0067Φ2，0.0067Φ2=1/4=0.25，Φ2=0.25/0.0067=37，Φ=6mm
35.用折射角60°的斜探头探测同孔径、不同声程、距离表面分别为30毫米和65毫米的两个横孔，求两者的波高相差多少分贝？（探头中的声程相当于钢中10毫米）
解：分别求两者声程：S1=30/cos60°+10=30/0.5+10=70mm，S2=65/cos60°+10=65/0.5+10=140mm，求两者波高差：dB=30lg(S2/S1)=30lg(140/70)=30lg2=30x0.3=9dB 36.用水浸法聚焦探头检验钢管，水层距离取15毫米，钢管直径36毫米，壁厚3毫米，求透镜的曲率半径（环氧树脂材料，CL=2700m/s）
解：求透镜焦距：R=36/2=18mm，f=R+15=18+15=33mm，透镜曲率半径r=f(1-C1/C2)=33(1-1480/2700)=33x(1-0.55)=14.9mm 37.外径250毫米、壁厚40毫米的钢管需要检验内外壁纵向缺陷，用单斜探头接触法探伤，求此探头K值多大为合适？
解：为保证发现内外壁纵向缺陷，声束应满足与内壁相切的条件，即折射角应满足βs=sin-1(r/R)，R=250/2=125，r=125-40=85，代入：βs=sin-1(85/125)=42.8°，K=tgβs=tg42.8°=0.92 38.用K2.5的探头探测厚度16毫米的对接焊缝，探头移动区宽度应为多少毫米？ 解：探头移动区宽度L=2TK+50=2x16x2.5+50=130mm 39.用深度比例定位，探头K=1.5，探测厚度δ=100毫米的焊缝，在荧光屏上80毫米处出现一缺陷波，计算探头中心至缺陷的水平距离（深度定位比例1:1）解：L=K•h=1.5x80=120mm 初、中级无损检测技术资格人员-超声检测考题汇编 工艺规范 问答与计算：
1.在进行某试件的无损检测前,一般都应编制检验规程,试列举在规程中所应包含的内容
2.用2.5P 20K1.5（2.5MHz,Φ20mm，tgβ=1.5）斜探头,检验T=100mm钢板对接焊缝，扫描按深度1:1调节，探伤灵敏度为φ3x40-14dB，探伤中发现一缺陷，深40mm，波高25dB，按GB11345-89标准B级，此缺陷如何评定？（楔中等效横波声程取为10mm）。
解：设x1，x2分别为孔深d1=100mm，d2=40mm时的声程： 已知K=1.5，L=10mm x1=d1(K2+1)1/2+L=100x1.8+10=190(mm)，x2=d2(K2+1)1/2+L=40x1.8+10=82(mm)两孔反射波高dB差△=30lg(x1/x2)=30lg(190/82)=11dB，∴ d2=40mm，φ3x40孔的波高为：[H2]=[H1]+△=14+11=25dB，判废线灵敏度为φ3-2dB，即23dB，缺陷波高25dB，表明缺陷波高已位于距离波幅曲线的III区，按GB11345-89标准的规定，应评定为IV级。
3.用2.5 P20K1.5（2.5MHz,Φ20mm，tgβ=1.5）斜探头，检验板厚T=100mm钢板对接焊缝，扫描按深度1:1调节，探伤灵敏度为φ3-16dB,探伤中发现一缺陷，深40mm，波高20dB，指示长度35mm，按GB11345-89标准B级，此缺陷如何评定？（楔中等效横波声程取为10mm）。
解：参见2题：d1=100mm，x1=190mm；d2=40mm，x2=82mm, 不同声程φ3横孔反射波高dB差为： △=30lg(x1/x2)=30lg(190/82)=11dB，∴ d2=40mm时，φ3横孔波高为：[H2]=[H1]+△=16+11=27dB 缺陷波高20dB，即为φ3-7dB，表明波高位于距离—波幅曲线II区，指示长度△L=35mm，30mm＜△L＜50mm，按GB11345标准应评定为II级
4.按JB3144—82标准检验锅炉大口径管座角焊缝，接管为φ540x80mm，焊缝宽为35mm，采用2.5P14Z（2.5MHz，Φ14mm）直探头在接管内壁作垂直探伤。如以接管外壁曲底面回波调节探伤灵敏度，底波应调节到多少dB？（钢CL=5900m/s）
解：按JB3144—82标准要求，选探伤灵敏度为φ3-6dB，已知：R=540/2=270mm，r=270-80=190mm，λ=5.9x106/2.5x106=2.36mm，设：x1=80mm，x2=80+35+5=120mm；底波与x2=120mm，φ=3mm孔波高dB差为：
△=20lg(2λ•x1/πΦ2)+40lg(x2/x1)+10lg(R/r)=20lg(2x2.36x80/π•32)+40lg(120/80)+10lg(270/190)=22.5+7+1.5=31dB，底面回波波高应为：[HB]=[Φｓ]+6=31+6=37dB 5.检验板厚T=40mm钢板对接焊缝，探伤灵敏度为φ3-16dB，在一段焊缝内依次发现间距小于8mm的缺陷5个，试依据GB11345—89标准A级，评定焊缝质量级别？ 缺陷编号 波幅 指示长度（mm）数量 1 φ3-2dB 18 1 2 φ3-4dB 12 1 3 φ3-8dB 8 1 4 φ3-12dB 14 1 5 φ3-7dB 15 1 解：BG11345—89标准A级检验定量灵敏度为φ3-10dB，故4#缺陷不计，因此5#缺陷与3#的间距已大于8mm，应单独评定。3#缺陷指示长度小于10mm，按5mm计。缺陷指示长度总和：△L=18+12+5＝35（mm）
3/4•T=3x40/4=30mm；T＝40mm，∴(3/4)T＜△L＜T，该焊缝按GB11345—89标准A级检验可评为Ⅲ级。6.用2.5P20Z（2.5MHz，Φ20mm）直探头检验厚度为350mm饼形钢锻件（CL=5900m/s），将底波调节为40dB进行探伤。求：①此探伤灵敏度是否符合JB3963—85标准的要求？②探伤中发现一缺陷，深200mm，波幅29dB，求此缺陷当量？
解：①JB3963-85标准要求，探伤灵敏度不低于Φ=2mm当量。底波与Φ2孔反射波高dB差应为：△=20lg(2λ•x/πΦ2)
已知：x=350mm，λ=2.36mm，△=20lg(2x2.36x350/π•22)=42.4dB＞40dB，故此所用探伤灵敏度低于Φ2当量，不符合JB3963—85要求
②缺陷与底波反射波高dB差：△=40-29=11dB，由△=20lg(2λ•xf2/πΦ2•xB)xf=200mm xB=350mm 得Φ2=(2λ•xf2/π•xB•1011/20)=2x2.36x2002/π•350•3.55=48.4，缺陷当量：Ф≈7（mm）
7.用2.5P20Z（2.5MHz，Φ20mm）直探头,按ZBJ74003-88标准检验T=150mm厚钢板（CL=5900m/s）,如何用钢板完好部位底波调整探伤灵敏度? 解：对150mm厚的钢板，ZBJ74003标准要求φ5平底孔距探测面的距离x1=90mm，∴底波与φ5平底孔反射波高dB差为：
△=20lg(2λ•x12/πΦ2x2)已知x1=90mm，x2=150mm，λ=5.9x106/2.5x106=2.36mm，△=20lg(2x2.36x902/π•52•150)=20lg(3.25)≈10dB，∴应将钢板完好部位的第一次底波，调到荧屏满刻度的50%，然后灵敏度再提高10dB作为探伤灵敏度。8.按ZB J 74003-88标准检验板厚12mm钢板，如何选择探头和调节探伤灵敏度？
答：①选用频率5MHz,晶片面积≥150mm2,双晶直探头；②将探头置于阶梯试块厚度为12mm的台阶面上，把该底面第一次底波高度调整到荧屏满刻度的50%，再提高灵敏度10dB作为探伤灵敏度。此外，还应计入试块与被探钢板之间的表面耦合声能损失
9.按ZB J 74003-88标准的规定，对B1＜50%，F1亦很小的缺陷，如何测定缺陷边界？
答：这类缺陷测定边界时，应向缺陷区外移动探头，当钢板底面第一次反射波高升到探伤灵敏度下荧光屏满刻度的50%时，探头中心点即为缺陷的边界点
10.ZB J 74003-88标准对缺陷的评定方法中依据哪些评定规则？
答：有三条：①缺陷指示长度：一个缺陷按其表现的最大长度作为该缺陷的指示长度；②单个缺陷指示面积：一个缺陷按其表现的面积作为该缺陷的单个指示面积。多个缺陷其相邻间距小于100mm，或间距小于相邻小缺陷的指示长度（取其较大值）。各块缺陷面积之和也作为单个缺陷指示面积；③缺陷面积占有率：在任1x1m探伤面积内，缺陷面积占探伤面积的百分比。11.采用手工接触法检验钢管时，JB 1150-73标准有什么要求？
答：①探头与工件表面应接触良好；②探伤灵敏度用人工标准试样调节，试样内外表面人工缺陷的反射波幅应调节到等于荧屏满刻度的50%；③每根钢管应从两个相反方向各探伤一次 12.按JB 3963-85标准的定义，什么是密集缺陷？
答：①当荧光屏扫描线上相当于50mm声程范围内，同时有5个或5个以上的缺陷反射信号，或者②在50x50mm的探测面上发现同一深度范围内有5个或5个以上的缺陷反射信号
13.按JB 3963-85标准检验钢锻件时，如何记录密集性缺陷？如何测定缺陷密集区面积？
答：①记录密集性缺陷中当量最大缺陷的位置和分布。饼形锻件：记录大于等于Φ4mm当量直径的缺陷密集区；其他锻件：记录大于等于Φ3mm当量直径的缺陷密集区。②缺陷密集区的边界用半波高度法测定，密集区的面积以50x50mm的方块为最小量度单位
14.按JB 3963-85标准的规定，检验探伤面是曲面的锻件时，什么情况下可不做曲面补偿？
答：①采用曲率与工件相同或相近（0.7-1.1倍）的参考试块校正灵敏度，或②采用N≤R/4（R为工件半径）的小直径晶片的探头进行探伤
15.按JB 3963-85标准的规定，锻件探伤结束重新校准灵敏度时，如发现灵敏度有变化，应如何处理？ 答：①如增益电平降低2dB以上，应在灵敏度校准后，对上一次校准以来所有检查的锻件进行重新探伤；②如增益电平升高2dB以上，对上一次校准以来所有记录的信号进行重新评定 16.什么是距离-波幅曲线？简述GB 11345-89标准“距离-波幅”曲线的组成及作用？
答：描述某一反射体回波高度随距离变化的关系曲线称为距离-波幅曲线。GB 11345-89标准采用的反射体为Φ3mm横孔，距离-波幅曲线由判废线（RL）、定量线（SL）和评定线（EL）组成，其主要作用是：①调整探伤灵敏度；②判定缺陷大小，为评定缺陷提供依据；③比较缺陷大小 17.GB 11345-89标准规定的缺陷指示长度的测定方法有几种？各用于什么情况？
答：①降低6dB法：缺陷反射波高位于II区，当缺陷反射波只有一个高点时，用降低6dB法测定缺陷指示长度；②端点峰值法：缺陷最高反射波位于II区，且波峰起伏变化有多个高点时，用端点峰值法测定缺陷指示长度；③绝对灵敏度法：采用串列扫查法探伤时，最大反射波幅位于II区的缺陷，用绝对灵敏度法测定缺陷指示长度。测长灵敏度为评定线灵敏度。
18.板厚66mm的钢制压力容器对接焊缝，按GB 11345-89标准作B级检验，试综述哪些缺陷按II级验收不合格？
答：现以B级灵敏度探伤为例解答：①缺陷反射波幅≥Φ3-4dB；②缺陷反射波幅≥Φ3-10dB，且缺陷指示长度＞44mm；③缺陷反射波幅≥Φ3-10dB，缺陷指示长度小于44mm的缺陷，如缺陷间距小于8mm，累积的指示长度大于44mm（指示长度小于10mm按5mm计）；④被探伤人员判定为裂纹等危害性的缺陷 19.按JB 3144-82标准检验锅炉大口径管座角焊缝，接管为Φ540x80mm，焊缝宽为35mm，采用2.5P14Z直探头在接管内壁作垂直探伤，如以接管外壁曲底面回波调节探伤灵敏度，底波应调节到多少dB？（钢CL=5900m/s）
解：按JB 3144-82标准要求，选探伤灵敏度为Φ3-6dB，已知R=540/2=270mm，r=270-80=190mm，λ=(5.9x106)/(2.5x106)=2.36mm，设：x1=80mm，x2=80+35+5=120mm，底波与x2=120mm，Φ=3mm孔波高dB差为：△=[20lg(2λx1)/(πΦ2)]+40lg(x2/x1)+10lg(R/r)=[20lg(2x2.36x80/πx32)+40lg(120/80)+10lg(270/190)=22.5+7+1.5=31dB，底面回波高应为：[HB]=[Φ3]+6=31+6=37dB
20.按JB 1151-73标准使用透镜式聚焦直探头时，透镜的中心厚度选择多少合适？答：（λ/2）的整数倍 21.为什么在ZBY230-84标准中只要求测量电噪声电平，不要求对电和声共同引起的噪声电平进行测量？ 答：因为在超声探伤中，声噪声要在超声波的传播过程中才能产生，若用试块代替传播介质，由于目前还没有建立测量试块中声噪声的理想方法，因此采用不同的试块，可能会得到不同的测量结果，失去测量意义
22.钢板标准中规定的判别缺陷的三种情况是什么？（用字母和数字表达）
答：在探伤过程中发现下列三种情况之一者即为缺陷：①缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于满刻度50%，即F1≥50%；②当底面第一次反射波（B1）波高未达到满刻度，此时缺陷第一次反射波（F1）波高与底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50%，即B1＜100%，而F1/B1≥50%；③当底面第一次反射波（B1）波高低于满刻度的50%，即B1＜50% 23.在探测1mx1m钢板时，发现钢板上有5个缺陷，其面积均为24cm2，指示长度均为55mm，问：在什么情况下此张钢板为I级、II级、III级及不合格？
答：当5个缺陷均在钢板中间且相邻间距大于100mm，此时这张钢板为I级；当5个缺陷有两个缺陷相邻间距小于100mm，且这5个缺陷均在钢板中间，此时这张钢板为II级；当5个缺陷有3个缺陷相邻间距
第四篇：中国民航无损检测人员技术资格鉴定委员会
中国民航无损检测人员资格鉴定与认证委员会
※※※※※※※※※※※※※※编号：NDT200503 ※※
※NDT资格鉴定文件※颁发日期：2005年4月6日 ※※
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标题:征文通知
国际、南方、东方集团航空公司机务工程部，北京、广州飞机维修工程有限公司，海南航空集团公司，民航飞行学院机务处，厦门、山东太古飞机工程有限公司，深圳、厦门、四川、上海、山东、飞龙航空公司，各有关单位：
随着民用航空器维修事业的快速发展，无损检测技术越来越广泛地应用到维修的各个方面。2005年正值民航无损检测技术应用30周年，为了提高无损检测人员技术水平，促进民航无损检测技术进步，提高航空器维修质量，保证飞行安全。拟在今年适当时间举办民航无损检测技术交流会，希望各单位从事航空器无损检测的技术人员、操作人员和管理人员踊跃投稿，具体要求如下：
1.稿件内容：无损检测技术在航空器维修中的应用研究，航空器及其零部件无损检测经验，国内外新标准、新技术、新设备在航空器检测中的应用，航空器无损检测中的疑难问题探讨，无损检测质量控制和管理等。
2.稿件用A4纸打印，宋体，小四号字体。
3.稿件文本和软盘于9月30日前寄到民航NDT委员会秘书处，或者发电子邮件。
秘书处地址：成都双流机场国航工程技术分公司成都维修基地无损检测中心
联系电话：（028）85721322、（028）85721328
传真：（028）85721321e-mail:caacndt@163.net
联系人：熊德琼
民航无损检测人员资格鉴定与认证委员会
注：请各集团航空公司将本通知转告所属各分公司。
报：总局飞标司抄送：各管理局适航处
第五篇：无损检测人员工作总结
工作总结
随着时间的推移，四年即将过去，回首过去四年的工作，总结自己工作成绩和收获，从而找出不足，以利于今后更好的工作，以下是我在这四年工作里总结的观点：
一、树立全局观念，做好本职工作
不管从事什么工作，树立全局意识是首要的问题，理化试验也不例外，我认为理化试验的全局就是“最大限度的保障公司产品质量，保护公司的利益”，是提高我们公司产品的核心竞争力的一个重要组成部分。做好理化试验工作，及时与工人沟通，最大限度满足工人的需求，以及对公司产品性能的情报收集，以便作出及时改进，使产品更好的满足现场的使用要求，同时也是对公司产品的保障。
二、善于沟通交流，强于协助协调
理化试验人员不仅要有较强的专业技术知识，还应该具备良好的沟通交流能力，环境对实验有很大的影响，复杂的环境可能影响实验的结果，最后导致错误的结论，这时候就需要多个试验人员共同合作，克服环境影响，尤其要和有丰富经验的工作人员多多交流，避免走进误区，规范操作。
三、精于专业技能，勤于现场观察
随着时代的不断发展，技术不断改进，如何做好理化试验工作，加强自身业务水平，已成为我们当前破在眉急的问题。作为一个理化试验人员，要在现场勤于观察、独立思考、多与同事交流, 努力不断提高自己的业务水平。
四、技术知识水平与实际操作熟练
在过去的工作中得到了一些体会，在工作中心态很重要，工作要有激情，保持阳光的微笑，可以拉近人与人之间的距离，便于与同事的沟通。尤其是对理化试验的工作，积极的思想和平和的心态才能促进工作进步和工作的顺利。
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