材料现代分析测试方法总结-辽宁科技大学金材10-1

第一篇：材料现代分析测试方法总结-辽宁科技大学金材10-1

⑴相干散射：

当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。⑵非相干散射：

当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。⑶荧光辐射

一个具有足够能量的χ射线光子从原子内部打出一个K电子，当外层电子来填充K空位时，将向外辐射K系χ射线，这种由χ射线光子激发原子所发生的辐射过程，称荧光辐射。或二次荧光。⑷吸收限：

指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量，如入射光子的能量必须等于或大于将K电子从无穷远移至K层时所作的功W，称此时的光子波长λ称为K系的吸收限。

⑸俄歇效应：

当原子中K层的一个电子被打出后，它就处于K激发状态，其能量为Ek。如果一个L层电子来填充这个空位，K电离就变成了L电离，其能由Ek变成El，此时将释Ek-El的能量，可能产生荧光χ射线，也可能给予L层的电子，使其脱离原子产生二次电离。即K层的一个空位被L层的两个空位所替代，这种现象称俄歇效应。

5.特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同？某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长？ 答：特征X射线与荧光X射线都是由激发态原子中的高能级电子向低能级跃迁时，多余能量以X射线的形式放出而形成的。不同的是：高能电子轰击使原子处于激发态，高能级电子回迁释放的是特征X射线；以 X射线轰击，使原子处于激发态，高能级电子回迁释放的是荧光X射线。某物质的K系特征X射线与其K系荧光X射线具有相同波长。6.Ⅹ射线具有波粒二象性，其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中？

答：波动性主要表现为以一定的频率和波长在空间传播，反映了物质运动的连续性；微粒性主要表现为以光子形式辐射和吸收时具有一定的质量，能量和动量，反映了物质运动的分立性。

第二篇：材料现代分析测试方法

一、名词解释（共有20分，每小题2分。）

1.辐射的发射：指物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。

2.俄歇电子：X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离，此时原子(实际是离子)处于激发

态，将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程，此过程发射的电子。

3.背散射电子：入射电子与固体作用后又离开固体的电子。

4.溅射：入射离子轰击固体时，当表面原子获得足够的动量和能量背离表面运动时，就引起表面粒

子（原子、离子、原子团等）的发射，这种现象称为溅射。

5.物相鉴定：指确定材料（样品）由哪些相组成。

6.电子透镜：能使电子束聚焦的装置。

7.质厚衬度：样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别，均可引起相应区域透射电子强度的改

变，从而在图像上形成亮暗不同的 区域，这一现象称为质厚衬度。

最大）向短波方8.蓝移：当有机化合物的结构发生变化时，其吸收带的最大吸收峰波长或位置（向移动，这种现象称为蓝移（或紫移，或“向蓝”）。

9.伸缩振动：键长变化而键角不变的振动，可分为对称伸缩振动和反对称伸缩振动。

10.差热分析：指在程序控制温度条件下，测量样品与参比物的温度差随温度或时间变化的函数关系的技术。

二、填空题（共20分，每小题2分。）

1.电磁波谱可分为三个部分，即长波部分、中间部分和短波部分，其中中间部分包括（红外线）、（可见光）和（紫外线），统称为光学光谱。

2.光谱分析方法是基于电磁辐射与材料相互作用产生的特征光谱波长与强度进行材料分析的方法。

光谱按强度对波长的分布（曲线）特点（或按胶片记录的光谱表观形态）可分为（连续）光谱、（带状）光谱和（线状）光谱3类。

3.分子散射是入射线与线度即尺寸大小远小于其波长的分子或分子聚集体相互作用而产生的散射。

分子散射包括（瑞利散射）与（拉曼散射）两种。

4.X射线照射固体物质(样品)，可能发生的相互作用主要有二次电子、背散射电子、特征X射线、俄

歇电子、吸收电子、透射电子

5.多晶体（粉晶）X射线衍射分析的基本方法为（照相法）和（X射线衍射仪法）。

6.依据入射电子的能量大小，电子衍射可分为（高能）电子衍射和（低能）电子衍射。依据

电子束是否穿透样品，电子衍射可分为（投射式）电子衍射与（反射式）电子衍射。

2≠0）。F7.衍射产生的充分必要条件是（(衍射矢量方程或其它等效形式)加

8.透射电镜的样品可分为（直接）样品和（间接）样品。

9.单晶电子衍射花样标定的主要方法有（尝试核算法）和（标准花样对照法）。

10.扫描隧道显微镜、透射电镜、X射线光电子能谱、差热分析的英文字母缩写分别是（stm）、（tem）、（xps）、（DTA）。

11.X 射线衍射方法有、、和。

12.扫描仪的工作方式有 和 两种。

13.在 X 射线衍射物相分析中，粉末衍射卡组是由 委员会编制，称为 JCPDS 卡片，又称为 PDF 卡片。

14.电磁透镜的像差有、、和。

15.透射电子显微镜的结构分为。

16.影响差热曲线的因素有、、和。

三、判断题，表述对的在括号里打“√”，错的打“×”（共10分，每小题1分）

1.干涉指数是对晶面空间方位与晶面间距的标识。晶面间距为d110/2的晶面其干涉指数为（220）。

（√）

2.倒易矢量r*HKL的基本性质为：r*HKL垂直于正点阵中相应的（HKL）晶面，其长度r*HKL等于(HKL)之

晶面间距dHKL的2倍。（×）倒数

3.分子的转动光谱是带状光谱。（×）线状光谱

4.二次电子像的分辨率比背散射电子像的分辨率低。（×）高

5.一束X射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上才有可能产生衍射。（×）

6.俄歇电子能谱不能分析固体表面的H和He。（√）

7.低能电子衍射（LEED）不适合分析绝缘固体样品的表面结构。（√）

8.d-d跃迁受配位体场强度大小的影响很大，而f-f跃迁受配位体场强度大小的影响很小。（√）

9.红外辐射与物质相互作用产生红外吸收光谱必须有分子极化率的变化。（×）

10.样品粒度和气氛对差热曲线没有影响。（×）

四、单项选择题（共10分，每小题1分。）

1.原子吸收光谱是（A）。

A、线状光谱 B、带状光谱 C、连续光谱

2.下列方法中，（A）可用于测定方解石的点阵常数。

A、X射线衍射线分析 B、红外光谱 C、原子吸收光谱 D 紫外光谱子能谱

m)的物相鉴定，可以选择（D）。3.合金钢薄膜中极小弥散颗粒(直径远小于

1A、X射线衍射线分析 B、紫外可见吸收光谱 C、差热分析 D、多功能透射电镜

4.几种高聚物组成之混合物的定性分析与定量分析，可以选择（A）。

A、红外光谱 B、俄歇电子能谱 C、扫描电镜 D、扫描隧道显微镜

5.下列（B）晶面不属于[100]晶带。

A、（001）B、（100）C、（010）D、（001）

6.某半导体的表面能带结构测定，可以选择（D）。

A、红外光谱 B、透射电镜 C、X射线光电子能谱 D 紫外光电子能谱

7.要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量，一般应选用（A）电子探针仪，A、波谱仪型 B、能谱仪型

8.要测定聚合物的熔点，可以选择（C）。

A、红外光谱 B、紫外可见光谱 C、差热分析 D、X射线衍射

9.下列分析方法中，（A）不能分析水泥原料的化学组成。

A、红外光谱 B、X射线荧光光谱 C、等离子体发射光谱 D、原子吸收光谱

10.要分析陶瓷原料的矿物组成，优先选择（C）。

A、原子吸收光谱 B、原子荧光光谱 C、X射线衍射 D、透射电镜

11．成分和价键分析手段包括【 b 】

（a）WDS、能谱仪（EDS）和 XRD（b）WDS、EDS 和 XPS

（c）TEM、WDS 和 XPS（d）XRD、FTIR 和 Raman

12．分子结构分析手段包括【 a 】

（a）拉曼光谱（Raman）、核磁共振（NMR）和傅立叶变换红外光谱（FTIR）（b）NMR、FTIR 和 WDS

（c）SEM、TEM 和 STEM（扫描透射电镜）（d）XRD、FTIR 和 Raman

13．表面形貌分析的手段包括【 d 】

（a）X 射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）(b)SEM 和透射电镜（TEM）(c)波谱仪（WDS）和 X 射线光电子谱仪（XPS）(d)扫描隧道显微镜（STM）和

SEM

14．透射电镜的两种主要功能：【 b 】

（a）表面形貌和晶体结构（b）内部组织和晶体结构

（c）表面形貌和成分价键（d）内部组织和成分价键

五、简答题（共40分，每小题8分）

答题要点：

1.简述分子能级跃迁的类型，比较紫外可见光谱与红外光谱的特点。

答：分子能级跃迁的类型主要有分子电子能级的跃迁、振动能级的跃迁和转动能级的跃迁。紫外可见光谱是基于分子外层电子能级的跃迁而产生的吸收光谱，由于电子能级间隔比较大，在产生电子能级跃迁的同时，伴随着振动和转动能级的跃迁，因此它是带状光谱，吸收谱带（峰）宽缓。而红外光谱是基于分子振动和转动能级跃迁产生的吸收光谱。一般的中红外光谱是振-转光谱，是带状光谱，而纯的转动光谱处于远红外区，是线状光谱。

2.简述布拉格方程及其意义。）的相互关系，是X射线衍射产生的必要条件，是晶体结构分析的基本方程。）和波长（）与反射晶面面间距（d）及入射线方位（。其意义在于布拉格方程表达了反射线空间方位（=为X射线的波长。干涉指数表示的布拉格方程为2dHKLsin为掠射角或布拉格角，，式中d为（hkl）晶面间距，n为任意整数，称反射级数，=n答：晶面指数表示的布拉格方程为2dhklsin

3.为什么说扫描电镜的分辨率和信号的种类有关？试将各种信号的分辨率高低作一比较。

二次电子像（几nm，与扫描电子束斑直径相当）答：扫描电镜的分辨率和信号的种类有关，这是因为不同信号的性质和来源不同，作用的深度和范围不同。主要信号图像分辨率的高低顺为：扫描透射电子像（与扫描电子束斑直径相当）>背散射电子像（50-200nm）> 特征X射图像（100nm-1000nm）。吸收电流像

4.要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，选择什么仪器？简述具体的分析方

法。

答：要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，应选用配置有波谱仪或能谱仪的扫描电镜。具体的操作分析方法是：先扫描不同放大倍数的二次电子像，观察断口的微观形貌特征，选择并圈定断口上的粒状夹杂物，然后用波谱仪或能谱仪定点分析其化学成分（确定元素的种类和含量）。

5.简述影响红外吸收谱带的主要因素。

答：红外吸收光谱峰位影响因素是多方面的。一个特定的基团或化学键只有在和周围环境完全没有力学或电学偶合的情况下，它的键力常数k值才固定不变。一切能引起k值改变的因素都会影响峰位变化。归纳起来有：诱导效应、共轭效应、键应力的影响、氢键的影响、偶合效应、物态变化的影响等。

6．透射电镜主要由几大系统构成? 各系统之间关系如何?

答：四大系统:电子光学系统,真空系统,供电控制系统,附加仪器系统。

其中电子光学系统是其核心。其他系统为辅助系统。

7．透射电镜中有哪些主要光阑? 分别安装在什么位置? 其作用如何?

答：主要有三种光阑：

①聚光镜光阑。在双聚光镜系统中,该光阑装在第二聚光镜下方。作用:限制照明孔径角。

②物镜光阑。安装在物镜后焦面。作用: 提高像衬度；减小孔径角，从而减小像差；进行暗场成像。

③选区光阑:放在物镜的像平面位置。作用: 对样品进行微区衍射分析。

8．什么是消光距离? 影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是什么?

答：消光距离:由于透射波和衍射波强烈的动力学相互作用结果，使I0和Ig在晶体深度方向上发生周期性的振荡，此振荡的深度周期叫消光距离。

影响因素:晶胞体积,结构因子,Bragg角,电子波长。

第三篇：2016《材料现代分析测试方法》复习题

《近代材料测试方法》复习题

1． 材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次？分别可以用什么方法分析？

答：化学成分分析、晶体结构分析和显微结构分析

化学成分分析——常规方法（平均成分）：湿化学法、光谱分析法

——先进方法（种类、浓度、价态、分布）：X射线荧光光谱、电子探针、光电子能谱、俄歇电子能谱 晶体结构分析：X射线衍射、电子衍射

显微结构分析：光学显微镜、透射电子显微镜、扫面电子显微镜、扫面隧道显微镜、原

子力显微镜、场离子显微镜

2． X射线与物质相互作用有哪些现象和规律？利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用？

答： 除贯穿部分的光束外，射线能量损失在与物质作用过程之中，基本上可以归为两大类：一部分可能变成次级或更高次的X射线，即所谓荧光X射线，同时，激发出光电子或俄歇电子。另一部分消耗在X射线的散射之中，包括相干散射和非相干散射。此外，它还能变成热量逸出。

（1）现象/现象：散射X射线（想干、非相干）、荧光X射线、透射X射线、俄歇效

应、光电子、热能

（2）①光电效应：当入射X射线光子能量等于某一阈值，可击出原子内层电子，产 生光电效应。

应用：光电效应产生光电子，是X射线光电子能谱分析的技术基础。光电效应

使原子产生空位后的退激发过程产生俄歇电子或X射线荧光辐射是 X射线激发俄歇能谱分析和X射线荧光分析方法的技术基础。

②二次特征辐射（X射线荧光辐射）：当高能X射线光子击出被照射物质原子的 内层电子后，较外层电子填其空位而产生了次生特征X射线（称二次特征辐射）。

应用：X射线被物质散射时，产生两种现象：相干散射和非相干散射。相干散射

是X射线衍射分析方法的基础。

3． 电子与物质相互作用有哪些现象和规律？利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用？

答：当电子束入射到固体样品时，入射电子和样品物质将发生强烈的相互作用，发生弹性散射和非弹性散射。伴随着散射过程，相互作用的区域中将产生多种与样品性质有关的物理信息。

（1）现象/规律：二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、特征X射

线

（2）获得不同的显微图像或有关试样化学成分和电子结构的谱学信息 4． 光电效应、荧光辐射、特征辐射、俄歇效应，荧光产率与俄歇电子产率。特征X射线产生机理。

光电效应：当入射X射线光子能量等于某一阈值，可击出原子内层电子，产生光电效应。荧光辐射：被打掉了内层电子的受激原子，将发生外层电子向内层跃迁的过程，同时辐射出

波长严格一定的特征X射线。这种利用X射线激发而产生的特征辐射为二次特

征辐射，也称为荧光辐射。特征辐射：

俄歇效应：原子K层电子被击出，L层电子向K层跃迁，其能量差被邻近电子或较外层电

子所吸收，使之受激发而成为自由电子。这种过程就是俄歇效应，这个自由电子

就称为俄歇电子。

荧光产率：激发态分子中通过发射荧光而回到基态的分子占全部激发态分子的分数。

俄歇电子产率：

5． 拉曼光谱分析的基本原理及应用。什么斯托克斯线和反斯托克斯线？什么是拉曼位移？（振动能级）

原理：光照射到物质上发生弹性散射和非弹性散射.弹性散射的散射光是与激发光波长相同的成分,非弹性散射的散射光有比激发光波长长的和短的成分, 统称为拉曼效应。

应用：拉曼光谱对研究物质的骨架特征特别有效。红外和拉曼分析法结合，可更完整地研究分子的振动和转动能级，从而更可靠地鉴定分子结构。可以进行半导体、陶瓷等无机材料的分析。是合成高分子、生物大分子分析的重要手段。在燃烧物和大气污染物分析等方面有重要应用。有两种情况：

（1）分子处于基态振动能级，与光子碰撞后，从光子中获取能量达到较高的能级。若与此相应的跃迁能级有关的频率是ν1，那么分子从低能级跃到高能级从入射光中得到的能量为hν1，而散射光子的能量要降低到hν0-hν1，频率降低为ν0-ν1。

（2）分子处于振动的激发态上，并且在与光子相碰时可以把hν1的能量传给光子，形成一条能量为hν0+hν1和频率为ν0+ν1的谱线。

通常把低于入射光频的散射线ν0-ν1称为斯托克斯线。高于入射光频的散射线ν0+ν1称为反斯托克斯线。

6． X射线荧光光谱定性、定量分析的基本原理及应用（适用），什么是基本体吸收效应？如何消除？ 定性分析： 在谱仪上配上计算机，可以直接给出试样内所有元素的名称。

1、确定某元素的存在，除要找到易识别的某一强线外，最好找出另一条强度高的线条，以免误认。

2、区分哪些射线是从试样内激发的，那哪射线是靶给出的，靶还可能有杂质，也会发出X射线。

3、当X射线照射到轻元素上时，由于康普顿效应，还会出现非相干散射。可通过相应的实验将它们识别。

定量分析：如果没有影响射线强度的因素，试样内元素发出的荧光射线的强度与该元素在试样内的原子分数成正比。但是实际上存在影响荧光X射线强度的因素，这些因素叫做基体吸收效应和增强效应。

元素A的荧光X射线强度不但与元素A的含量有关，还与试样内其他元素的种类和含量有关。当A元素的特征x射线能量高于B元素的吸收限(或相反)时，则A元素的特征X射线也可以激发B元素，于是产生两种影响，其中A元素的特征x荧光照射量率削弱的为吸收效应。吸收包括两部分：一次X射线进入试样时所受的吸收和荧光X射线从试样射出时所受的吸收。

实验校正法：外标法、内标法、散射线标准法，增量法 数学校正法：经验系数法、基本参数法

7． 波谱仪与能谱仪的展谱原理及特点。（特征X射线检测）

波谱仪：利用X射线的波长不同来展谱。1）能量分辨率高——突出的优点，分辨率为5eV 2）峰背比高：这使WDS所能检测的元素的最低浓度是EDS的1/10，大约可检测100 ppm。3）采集效率低，分析速度慢。

4）由于经晶体衍射后，X射线强度损失很大，其检测效率低。

5）波谱仪难以在低束流和低激发强度下使用，因此其空间分辨率低且难与高分辨率的电镜（冷场场发射电镜等）配合使用。能谱仪：利用X射线的能量不同来展谱。优点：

1）分析速度快：同时接收和检测所有信号，在几分钟内分析所有元素。

2）灵敏度高：收集立体角大，不用聚焦，探头可靠近试样，不经衍射，强度没有损失。可在低束流（10-11 A）条件下工作，有利于提高空间分辨率。

3）谱线重复性好：没有运动部件，稳定性好，没有聚焦要求，所以谱线峰值位置的重复性好且不存在失焦问题，适合于比较粗糙表面的分析。缺点：

1）能量分辨率低：在130 eV左右，比WDS的5eV低得多，谱线的重叠现象严重。2）峰背比低：探头直接对着样品，在强度提高的同时，背底也相应提高。EDS所能检测的元素的最低浓度是WDS的十倍，最低大约是1000 ppm。

3）工作条件要求严格：探头必须保持在液氦冷却的低温状态，即使是在不工作时也不能中断，否则导致探头功能下降甚至失效。

8． XPS的分析原理是什么？（什么效应）

光电效应：在外界光的作用下，物体（主要指固体）中的原子吸收光子的能量，使其某一层的电子摆脱其所受的束缚，在物体中运动，直到这些电子到达表面。如果能量足够、方向合适，便可离开物体的表面而逸出，成为光电子。光电子动能为：Ec =hv-EB-(-w)

9． XPS的应用及特点，XPS中的化学位移有什么用？

分析表面化学元素的组成、化学态及其分布，特别是原子的价态、表面原子的电子密度、能级结构。

最大特点是可以获得丰富的化学信息，它对样品的损伤是最轻微的，定量也是最好的。它的缺点是由于X射线不易聚焦，因而照射面积大，不适于微区分析。

(1)可以分析除H和He以外的所有元素，可以直接得到电子能级结构的信息。(2)它提供有关化学键方面的信息，即直接测量价层电子及内层电子轨道能级，而相邻元素的同种能级的谱线相隔较远，互相干扰少，元素定性的标志性强。

(3)是一种无损分析。

(4)是一种高灵敏超微量表面分析技术。分析所需试样约10-8g即可，绝对灵敏度高达10-18g，样品分析深度约2 nm。

由于原子处于不同的化学环境里而引起的结合能位移称为化学位移。化学位移的量值与价电子所处氧化态的程度和数目有关。氧化态愈高，则化学位移愈大。

10． 紫外光电子能谱原理及应用。（激发什么电子？）

紫外光电子能谱仪与X射线光电子能谱仪非常相似，只需把激发源变换一下即可。真空紫外光源只能激发样品中原子、分子的外层价电子或固体的价带电子。测量固体表面价电子和价带分布、气体分子与固体表面的吸附、以及化合物的化学键、研究振动结构。

11． 俄歇电子能谱分析的原理、应用及特点。（俄歇电子与什么有关？）

原理：俄歇效应。俄歇电子的能量与参与俄歇过程的三个能级能量有关。能量是特定的，与入射X射线波长无关，仅与产生俄歇效应的物质的元素种类有关。应用：可以做物体表面的化学分析、表面吸附分析、断面的成分分析。1）材料表面偏析、表面杂质分布、晶界元素分析； 2）金属、半导体、复合材料等界面研究； 3）薄膜、多层膜生长机理的研究；

4）表面化学过程（如腐蚀、钝化、催化、晶间腐蚀、氢脆、氧化等）研究； 5）集成电路掺杂的三维微区分析； 6）固体表面吸附、清洁度、沾染物鉴定等。特点：

1）作为固体表面分析法，其信息深度取决于俄歇电子逸出深度（电子平均自由程）。对于能量为50eV-2keV范围内的俄歇电子，逸出深度为0.4-2nm，深度分辨率约为l nm,，横向分辨率取决于入射束斑大小。

2）可分析除H、He以外的各种元素。

3）对于轻元素C、O、N、S、P等有较高的分析灵敏度。4）可进行成分的深度剖析或薄膜及界面分析。

12． 扫描隧道显微镜基本原理及特点、工作模式。（量子隧道效应，如何扫描？恒高、恒电流工作模式，隧道谱应用）

基本原理：尖锐金属探针在样品表面扫描，利用针尖-样品间纳米间隙的量子隧道效应引起隧道电流与间隙大小呈指数关系，获得原子级样品表面形貌特征图象。

量子隧道效应：当微观粒子的总能量小于势垒高度时，该粒子仍能穿越这一势垒。金属探针安置在三个相互垂直的压电陶瓷（Px、Py、Pz）架上，当在压电陶瓷器件上施加一定电压时，由于压电陶瓷器件产生变形，便可驱动针尖在样品表面实现三维扫描；

隧道谱应用：可对样品表面显微图像作逐点分析，以获得表面原子的电子结构（电子态）等信息。在样品表面选一定点，并固定针尖与样品间的距离，连续改变偏压值从负几V~正几V，同时测量隧道电流，便可获得隧道电流随偏压的变化曲线，即扫描隧道谱。特点：

1）STM结构简单。

2）其实验可在多种环境中进行：如大气、超高真空或液体（包括在绝缘液体和电解液中）。3）工作温度范围较宽，可在mK到1100K范围内变化。这是目前任何一种显微技术都不能同时做到的。

4）分辨率高，扫描隧道显微镜在水平和垂直分辨率可以分别达到0.1nm和0.01nm。因此可直接观察到材料表面的单个原子和原子在材料表面上的三维结构图像。

5）在观测材料表面结构的同时，可得到材料表面的扫描隧道谱（STS），从而可以研究材料表面化学结构和电子状态。

6）不能探测深层信息，无法直接观察绝缘体。工作模式：

恒电流模式：扫描时，在偏压不变的情况下，始终保持隧道电流恒定。适于观察表面起伏较大的样品。

恒高模式：始终控制针尖在样品表面某一水平高度上扫描，随样品表面高低起伏，隧道电流不断变化。适于观察表面起伏不大的样品。

13． 原子力显微镜工作原理、成像模式及应用。（微小力测量如何实现？纳米量级力学性能测量）

原理：利用微小探针与待测物之间交互作用力，来呈现待测物表面的物理特性。成像模式：

应用：已成为表面科学研究的重要手段。（1）几十到几百纳米尺度的结构特征研究（2）原子分辨率下的结构特征研究（3）在液体环境下成像对材料进行研究

（4）测量、分析表面纳米级力学性能（吸附力、弹性、塑性、硬度、粘着力、摩擦力等)：通过测量微悬臂自由端在针尖接近和离开样品过程中的变形（偏转），对应一系列针尖不同位置和微悬臂形变量作图而得到力曲线。当针尖被压入表面时，那点曲线斜率可以决定材料的弹性模量，从力曲线上也能很好的反映出所测样品的弹性、塑性等性质。（5）实现对样品表面纳米加工与改性

14． 什么是离子探针？离子探针的特点及应用。

离子探针微区分析仪，简称离子探针。

离子探针的原理是利用细小的高能（能量为1~20keV）离子束照射在样品表面，激发出正、负离子（二次离子）；利用质谱仪对这些离子进行分析，测量离子的质荷比（m/e）和强度，确定固体表面所含元素的种类及其含量。特点：

1）可作同位素分析。

2）可对几个原子层深度的极薄表层进行成分分析。利用离子束溅射逐层剥离，得到三维的成分信息。

3）一次离子束斑直径缩小至微米量级时，可拍摄特定二次离子的扫描图像。并可探测极微量元素（50ppm）。

4）可高灵敏度地分析包括氢、锂在内的轻元素，特别是可分析氢。

15． 场离子显微镜的成像原理（台阶边缘的原子）。

1）隧道效应：若气体原子的外层电子能态符合样品中原子的空能级能态，该电子将有较高的几率通过“隧道效应”而穿过表面位垒进入样品，从而使成像气体原子变为正离子——场致电离。

2）导体表面电场与其曲率成正比：E≈U/5r，相同的电压加上相同的导体，曲率越大，也就是越尖，导体上的电荷越密集，产生的电场越强。

3）场离化原理：当成像气体进入容器后，受到自身动能的驱使会有一部分达到阳极附近，在极高的电位梯度作用下气体原子发生极化，使中性原子的正、负电荷中心分离而成为一个电偶极子。

16． DTA的基本原理，DTA在材料研究中有什么用处？（定量？比热？）

基本原理：当试样发生任何物理或化学变化时，所释放或吸收的热量使样品温度高于或低于参比物的温度，从而相应地在差热曲线上得到放热或吸热峰； 应用：

1）如果试样在升温过程中热容有变化，则基线ΔTa就要移动，因此从DTA曲线便可知比热发生急剧变化的温度，这个方法被用于测定玻璃化转变温度； 2）合金状态变化的临界点及固态相变点都可用差热分析法测定； 3）可以定量分析玻璃和陶瓷相态结构的变化； 4）被广泛地用于包括非晶在内的固体相变动力学研究； 5）可以用于研究凝胶材料烧结进程；

17． DSC的基本原理及应用。（纵坐标是什么？）

差示扫描量热法（DSC）基本原理：根据测量方法的不同，有两种DSC法，即功率补偿式差示量热法和热流式差示量热法。功率补偿式差示量热法：

1）试样和参比物具有独立的加热器和传感器，仪器由两条控制电路进行监控，一条控制温度，使样品和参比物在预定的速率下升温或降温；另一条用于补偿样品和参比物之间所产生的温差，通过功率补偿电路使样品与参比物的温度保持相同；

2）功率补偿放大器自动调节补偿加热丝的电流，使试样与参比物的温度始终维持相同； 3）只要记录试样放热速度随T（或t）的变化，就可获得DSC曲线。纵坐标代表试样放热或吸热的速度，横坐标是温度T（或时间t）。

应用：1）样品焓变的测定；2）样品比热的测定；3）研究合金的有序-无序转变

18． 影响DTA和DSC曲线形态的因素主要有哪些？（加热速度，样品比热，气氛）

影响DTA（差热分析）曲线形态的因素：实验条件、仪器因素、试样因素等； 实验条件：

① 升温速率：程序升温速率主要影响DTA曲线的峰位和峰形，升温速率越大，峰位越向高温方向迁移以及峰形越陡；

②不同性质的气氛如氧化性、还原性和惰性气氛对DTA曲线的影响很大，有些场合可能会得到截然不同的结果；

③ 参比物：参比物与样品在用量、装填、密度、粒度、比热及热传导等方面应尽可能相近，否则可能出现基线偏移、弯曲，甚至造成缓慢变化的假峰。

影响DSC（量热分析）曲线形态的因素：实验条件、仪器因素、试样因素等； 实验条件：

① 升温速率：一般升温速率越大，峰温越高、峰形越大和越尖锐，而基线漂移大，因而一般采用10℃/min；

② 气氛对DSC定量分析中峰温和热焓值的影响是很大的。

③ 参比物：参比物的影响与DTA相同。

19． 热重分析应用？

1）主要研究在空气中或惰性气体中材料的热稳定性、热分解作用和氧化降解等化学变化； 2）还广泛用于研究涉及质量变化的所有物理过程，如测定水分、挥发物和残渣，吸附、吸收和解吸，气化速度和气化热，升华速度和升华热；

3）可以研究固相反应，缩聚聚合物的固化程度，有填料的聚合物或共混物的组成； 4）以及利用特征热谱图作鉴定等。

20． 什么是穆斯堡尔效应？穆斯堡尔谱的应用。（横坐标？低温？）

无反冲核γ射线发射和共振吸收现象称为穆斯堡尔效应：若要产生穆斯堡尔效应，反冲能量ER最好趋向于零；大多数核只有在低温下才能有明显的穆斯堡尔效应； 应用：

1）可用于测定矿石、合金和废物中的总含铁量和总含锡量； 2）可用于研究碳钢淬火组织、淬火钢的回火、固溶体分解；

3）可以用于判断各种磁性化合物结构的有效手段（可用于测定反铁磁性的奈尔点、居里点和其它各种类型的磁转变临界点；也可用于测定易磁化轴，研究磁性材料中的非磁性相）；4）可用于研究包括红血蛋白、肌红蛋白、氧化酶、过氧化酶、铁氧还原蛋白和细胞色素等范围极广的含铁蛋白质的结构和反应机理研究。

21． 产生衍射的必要条件（布拉格方程）及充分条件。（衍射角由什么决定？几何关系）

必要条件： 1）满足布拉格方程 2dsinn

2）能够被晶体衍射的X射线的波长必须小于或等于参加反射的衍射面中最大面间距的二倍；

2d

充分条件：

1）衍射角：由晶胞形状和大小确定

22． 影响衍射强度的因素。

1）晶胞中原子的种类、数量和位置； 2）晶体结构、晶粒大小、晶粒数目； 3）试样对X射线的吸收； 4)衍射晶面的数目； 5）衍射线的位置； 6）温度因子；

23． 物相定性分析、定量分析的原理。（强度与什么有关？正比含量吗？如何校正基体吸收系数变化对强度的影响?）

物相定性分析：每种结晶物质都有其特定的结构参数，包括点阵类型、单胞大小、单胞中原子（离子或分子）的数目及其位置等等，而这些参数在X射线衍射花样中均有所反映；某种物质的多晶体衍射线条的数目、位置以及强度，是该种物质的特征，因而可以成为鉴别物相的标志。

物相定量分析原理：各相衍射线的强度，随该相含量的增加而提高；由于试样对X射线的吸收，使得“强度”并不正比于“含量”，而须加以修正。

1）采用单线条法（外标法）：混合样中j相某线与纯j相同一根线强度之比，等于j相的重量百分数；

2）采用内标法：将一种标准物掺入待测样中作为内标，并事先绘制定标曲线。3）采用K值法及参比强度法：它与传统的内标法相比，不用绘制定标曲线；

4）采用直接对比法：不向样品中加入任何物质而直接利用样品中各相的强度比值实现物相定量的方法。

24． 晶粒大小与X射线衍射线条宽度的关系。

K

Bcos德拜-谢乐公式： DD为晶粒垂直于晶面方向的平均厚度、B为实测样品衍射峰半高宽度、θ为衍射角、γ为X射线波长

晶粒的细化能够引起X射线衍射线条的宽化； 25． 内应力的分类及在衍射图谱上的反映。

第一类：在物体较大范围（宏观体积）内存在并平衡的内应力，此类应力的释放，会使物体的宏观体积或形状发生变化。第一类内应力又称“宏观应力”或“残余应力”。宏观应力使衍射线条位移。

第二类：在数个晶粒范围内存在并平衡的内应力，一般能使衍射线条变宽，但有时亦会引起线条位移。

第三类：在若干个原子范围内存在并平衡的内应力，如各种晶体缺陷（空位、间隙原子、位错等）周围的应力场、点阵畸变等，此类应力的存在使衍射强度降低。

26． 扫描电镜二次电子像与背散射电子像。（应用及特点）

1.二次电子像（SEI）：

1）特点：图像分辨率比较高；二次电子信号强度与原子序数没有明确的关系，仅对微区刻面相对于入射电子束的角度十分敏感；二次电子能量较低，其运动轨迹极易受电场和磁场的作用从而发生改变，不易形成阴影；二次电子信号特别适用于显示形貌衬度，用于断口检测和各种材料表面形貌特征观察；SE本身对原子序数不敏感，但其产额随（BSE产额）增大而略有上升；SE能反映出表面薄层中的成分变化；通常的SE像就是形貌衬度像

应用：SE研究样品表面形貌最有用的工具；SE也可以对磁性材料和半导体材料进行相关的研究

2.背散射电子像（BSEI）：

1）特点：样品表面平均原子序数大的微区，背散射电子强度较高，而吸收电子强度较低，形成成分衬度；样品表面不同的倾斜角会引起BSE数量的不同，样品表面的形貌对其也有一定的影响；倾角一定，高度突变，背散射电子发射的数量也会改变；背散射电子能量高，离开样品后沿直线轨迹运动；样品表面各个微区相对于探测器的方位不同，使收集到的背散射电子数目不同；检测到的信号强度远低于二次电子，粗糙表面的原子序数衬度往往被形貌衬度所掩盖。

应用：背散射电子像衬度应用最广泛的是成分衬度像，与SE形貌像（或BSE形貌相）相配合，可以方便地获得元素和成分不同的组成相分布状态。

27． 扫描电镜图像衬度（形貌衬度、原子序数衬度）。（产额）

1）表面形貌衬度；电子束在试样上扫描时任何两点的形貌差别表现为信号强度的差别，从而在图像中显示形貌衬度。SE形貌衬度像的一大特点是极富立体感。原理：利用对试样表面形貌变化敏感的物理信号作为显像管的调制信号，可以得到形貌衬度图像。

应用：二次电子和背散射电子信号强度是试样表面倾角的函数，均可用形成样品表面形貌衬度。

SE的产额随样品各部位倾斜角θ（电子束入射角）的不同而变化

2）原子序数衬度：原子序数衬度是试样表面物质原子序数（化学成分）差别而形成的衬度。原理：利用对试样表面原子序数（或化学成分）变化敏感的物理信号作为显像管的调制信号，可以得到原子序数衬度图像。

应用：背散射电子像、吸收电子像的衬度都含有原子序数衬度，而特征X射线像的衬度就是原子序数衬度。

28． 什么是电子探针？电子探针的原理、特点及工作方式。(检测的信号)

电子探针X射线显微分析仪是一种微区成分分析的仪器。检测的信号是特征X射线。利用电子束照射在样品表面，激发出正、负离子（二次离子），用X射线分析器进行分析。特征X射线的波长（能量）——确定待测元素；特征X射线强度——确定元素的含量。

第四篇：App测试方法总结

一、安全测试 1.软件权限

1）扣费风险：包括短信、拨打电话、连接网络等。

2）隐私泄露风险：包括访问手机信息、访问联系人信息等。

3）对App的输入有效性校验、认证、授权、数据加密等方面进行检测 4）限制/允许使用手机功能接入互联网 5）限制/允许使用手机发送接收信息功能 6）限制或使用本地连接

7）限制/允许使用手机拍照或录音 8）限制/允许使用手机读取用户数据 9）限制/允许使用手机写入用户数据

10）限制/允许应用程序来注册自动启动应用程序 2.安装与卸载安全性

1）应用程序应能正确安装到设备驱动程序上

2）能够在安装设备驱动程序上找到应用程序的相应图标 3）安装路径应能指定

4）没有用户的允许，应用程序不能预先设定自动启动 5）卸载是否安全，其安装进去的文件是否全部卸载 6）卸载用户使用过程中产生的文件是否有提示 7）其修改的配置信息是否复原 8）卸载是否影响其他软件的功能 9）卸载应该移除所有的文件 3.数据安全性

1）当将密码或其它的敏感数据输入到应用程序时，其不会被存储在设备中，同时密码也不会被解码。2）输入的密码将不以明文形式进行显示。

3）密码、信用卡明细或其他的敏感数据将不被存储在它们预输入的位置上。4）不同的应用程序的个人身份证或密码长度必须至少在4-8个数字长度之间。

5）当应用程序处理信用卡明细或其它的敏感数据时，不以明文形式将数据写到其他单独的文件或者临时文件中。以防止应用程序异常终止而又没有删除它的临时文件，文件可能遭受入侵者的袭击，然后读取这些数据信息。

6）党建敏感数据输入到应用程序时，其不会被存储在设备中。7）应用程序应考虑或者虚拟机器产生的用户提示信息或安全警告

8）应用程序不能忽略系统或者虚拟机器产生的用户提示信息或安全警告，更不能在安全警告显示前，利用显示误导信息欺骗用户，应用程序不应该模拟进行安全警告误导用户。

9）在数据删除之前，应用程序应当通知用户或者应用程序提供一个“取消”命令的操作。10）应用程序应当能够处理当不允许应用软件连接到个人信息管理的情况。

11）当进行读或写用户信息操作时，应用程序将会向用户发送一个操作错误的提示信息。12）在没有用户明确许可的前提下不损坏删除个人信息管理应用程序中的任何内容。13）如果数据库中重要的数据正要被重写，应及时告知用户。14）能合理的处理出现的错误。15）意外情况下应提示用户。4.通讯安全性

1）在运行软件过程中，如果有来电、SMS、蓝牙等通讯或充电时，是否能暂停程序，优先处理通信，并在处理完毕后能正常恢复软件，继续其原来的功能。2）当创立连接时，应用程序能够处理因为网络连接中断，进而告诉用户连接中断的情况。3）应能处理通讯延时或中断。

4）应用程序将保持工作到通讯超时，进而给用户一个错误信息指示有链接错误。5）应能处理网络异常和及时将异常情况通报用户。6）应用程序关闭网络连接不再使用时应及时关闭，断开。5.人机接口安全测试

1）返回菜单应总保持可用。2）命令有优先权顺序。

3）声音的设置不影响使用程序的功能。4）声音的设置不影响应用程序的功能

5）应用程序必须能够处理不可预知的用户操作，例如错误的操作和同时按下多个键。

二、安装、卸载测试

验证App是否能正确安装、运行、卸载、以及操作过程和操作前后对系统资源的使用情况 1.安装

1）软件安装后是否能够正常运行，安装后的文件夹以及文件是否写到了指定的目录里。2）软件安装各个选项的组合是否符合概要设计说明。3）软件安装向导的UI测试

4）安装后没有生成多余的目录结构和文件。2.卸载

1）测试系统直接卸载程序是否有提示信息。

2）测试卸载后文件是否全部删除所有的安装文件夹。3）卸载是否支持取消功能，单击取消后软件卸载的情况。4）系统直接卸载UI测试，是否有卸载状态进度条提示。

三、UI测试

1）测试用户界面（如菜单、对话框、窗口和其他控件）布局、风格是否满足要求、文字是否正确、页面是否美观、文字、图片组合是否完美、操作是否友好等。

2）UI测试的目标是确保用户界面会通过测试对象的功能来为用户提供相应的访问或浏览功能。确保用户界面符合公司或行业的标准。包括用户友好性、人性化、易操作性测试。1.导航测试

1）按钮、对话框、列表和窗口等；或在不同的连接页面之间需要导航。2）是否易于导航，导航是否直观。3）是否需要搜索引擎。4）导航帮助是否准确直观。

5）导航与页面结构、菜单、连接页面的风格是否一致。2.图形测试

1）横向比较，各控件操作方式统一。

2）自适应界面设计，内容根据窗口大小自适应。3）页面标签风格是否统一。4）页面是否美观。

5）页面的图片应有其实际意义而要求整体有序美观。3.内容测试

1）输入框说明文字的内容与系统功能是否一致。2）文字长度是否加以限制。3）文字内容是否表意不明。4）是否有错别字。5）信息是否为中文显示。

四、功能测试

根据软件说明或用户需求验证App的各个功能实现，采用如下方法实现并评估功能测试过程： 1）采用时间、地点、对象、行为和背景五元素或业务分析等方法分析、提炼App的用户使用场景，对比说明或需求，整理出内在、外在及非功能直接相关的需求，构建测试点，并明确测试标准。2）根据被测功能点的特性列出相应类型的测试用例对其进行覆盖，如：设计输入的地方需要考虑等价、边界、负面、异常、非法、场景回滚、关联测试等测试类型对其进行覆盖。

3）在测试实现的各个阶段跟踪测试实现与需求输入的覆盖情况，及时修正业务或需求理解错误。1.运行

1）App安装完成后的试运行，可正常打开软件。2）App打开测试，是否有加载状态进度提示。3）App页面间的切换是否流畅，逻辑是否正确。4）注册

     同表单编辑页面 用户名密码长度 注册后的提示页面

前台注册页面和后台的管理页面数据是否一致 注册后，在后台管理中页面提示

5）登录

  使用合法的用户登录系统

系统是否允许多次非法的登录，是否有次数限制        使用已经登录的账号登录系统是否正确处理 用户名、口令（密码）错误或漏填时能否登陆 删除或修改后的用户，原用户名登陆

不输入用户口令和重复点“确定/取消”按钮，是否允许登录 登陆后，页面中登录信息 页面中有注销按钮 登录超时的处理

2.应用的前后台切换

1）App切换到后台，再回到App，检查是否停留在上一次操作界面。2）App切换到后台，再回到App，检查功能及应用状态是否正常。

3）App切换到后台，再回到前台时，注意程序是否崩溃，功能状态是否正常，尤其是对于从后台切换回前台数据有自动更新的时候。

4）手机锁屏解锁后进入App注意是否会崩溃，功能状态是否正常，尤其是对于从后台切换回前台数据有自动更新的时候。

5）当App使用过程中有电话进来中断后再切换到App，功能状态是否正常。6）当杀掉App进城后，再开启App，App能否正常启动。

7）出现必须处理的提示框后，切换到后台，再切换回来，检查提示框是否还存在，有时候会出现应用自动跳过提示框的缺陷。

8）对于有数据交换的页面，每个页面都必须要进行前后台切换、锁屏的测试，这种页面最容易出现崩溃。3.免登陆

很多应用提供免登陆功能，当应用开启时自动以上一次登录的用户身份来使用App。1）考虑无网络情况时能否正常进入免登录状态。

2）切换用户登陆后，要校验用户登录信息以及数据内容是否相应更新，确保原用户退出。

3）根据Mtop的现有规则，一个账户只允许登陆一台机器。所以，需要检查一个账户登录多台手机的情况。原手机里的用户需要被退出，给出友好提示。4）App切换到后台，在切换回前台的校验。5）切换到后台，再切换回到前台的测试。

6）密码更换后，检查有数据交换时是否进行了有效身份的校验。

7）支持自动登录的应用在进行数据校验时，检查系统是否能自动登录成功并且数据操作无误。8）检查用户主动退出登录后，下次启动App，应停留在登录界面。4.离线浏览

很多应用会支持离线浏览，即在本地客户端会缓存一部分数据供用户查看。1）在无线网络情况可以浏览本地数据。2）退出App再开启App时能正常浏览。3）切换到后台再回到前台可以正常浏览。4）锁屏后再解锁回到应用前台可以正常浏览。

5）在对服务器段的数据有更新时回给予离线的相应提示。5.App更新

1）当客户端有新版本时，有更新提示。

2）当版本为非强制升级版时，用户可以取消更新，老版本能正常使用。用户在下次启动App时，仍出现更新提示。

3）当版本为强制升级版时，但给出强制更新后用户没有做更新时，退出客户端。下次启动App时，仍出现强制升级提示。4）当客户端有新版本时，在本地不删除客户端的情况下，直接更新检查是否能正常更新。

5）当客户端有新版本时，在本地不删除客户端的情况下，检查更新后的客户端功能是否是新版本。6）当客户端有新版本时，在本地不删除客户端的情况下，检查资源同名文件如图片是否能正常更新成最新版本。如果以上无法更新成功的，也都属于缺陷。6.定位、照相机服务

1）App有用到相机，定位服务时，需要注意系统版本差异。

2）有用到照相机服务的地方，需要进行前后台的切换测试，检查应用是否正常。3）测试照相机服务时，需要采用真机进行测试。7.PUSH测试

1）检查Push消息是否按照指定的业务规则发送。

2）检查不接收推送消息时，用户不会在接收到Push消息。

3）如果用户设置了免打扰的时间段，检查在免打扰时间段内，用户接收不到Push。在非免打扰时间段内，用户能正常收到Push。

4）当Push消息是针对登录用户的时候，需要检查收到的Push与用户身份是否相符，没有错误的将其他人的消息推送过来。一般情况下，只对手机上最后一个登录用户进行消息推送。5）测试Push时，需要采用真机进行测试。

五、性能测试

1）响应能力测试：测试App中的各类操作是否满足用户响应时间要求。

  App安装、卸载的响应时间 App各类功能性操作的响应时间

2）压力测试，反复/长期操作下，系统资源是否占用异常。

 App反复进行安装卸载，检查系统资源是否正常  其他功能反复进行操作，检查系统资源是否正常

六、交叉事件测试

针对智能终端应用的服务等级划分方式及实时特性所提出的测试方法。交叉测试又叫事件或冲突测试，是指一个功能正在执行过程中，同时另外一个事件或操作对该过程进行干扰的测试。如：App在前/后台运行状态时与来电、文件下载、音乐收听等关键运用的交互情况测试等。交叉事件测试非常重要，能发现很多应用中潜在的性能问题。1）多个App同时运行是否影响正常功能。2）App运行时前/后台切换是否影响正常功能。3）App运行时拨打/接听电话。4）App运行时发送/接收信息。5）App运行时发送/收取邮件。6）App运行时浏览网络。

7）App运行时使用蓝牙传送/接收数据。

8）App运行时使用相机、计算器等手机自带设备。

七、兼容测试

主要测试内部和外部兼容性 1）与本地及主流App是否兼容

2）与各种设备是否兼容，若有跨系统支持则需要检验是否在个系统下，各种行为是否一致。

  不同手机屏幕分标率的兼容性 不同手机品牌的兼容性

八、回归测试

1）Bug修复后且在新版本发布后需要进行回归测试。2）Bug修复后的回归测试在交付前、要进行大量用例的回归测试。

九、用户体验测试

以主观的普通消费者的角度去感知产品或服务的舒适、有用、易用、友好亲切程度。通过不同个体、独立空间和非经验的统计复用方式去有效评价产品的体验特性，提出修改意见提升产品的潜在客户满意度。

1）是否有空数据界面设计，引导用户去执行操作。2）是否滥用用户引导。

3）是否有不可点击的效果，如：你的按钮此时处于不可用状态，那么一定要灰掉，或者拿掉按钮，否则会给用户误导。4）菜单层次是否太深。5）交互流程分支是否太多。6）相关的选项是否离的很远。7）一次是否载入太多的数据。8）界面中按钮可点击范围是否适中。

9）标签页是否跟内容没有从属关系，当切换标签的时候，内容跟着切换。10）操作应该有主次从属关系。

11）是否定义Back的逻辑。涉及软硬件交互时，Back键应具体定义。12）是否有横屏模式的设计，应用一般需要支持横屏模式，即自适应设计。

十、手势操作测试

1）手机开锁屏对运行中的App的影响。2）运行中的App前后台切换的影响。3）多个运行中的App的切换。4）App运行时关机。5）App运行时重启系统。6）App运行时充电

7）App运行时Kill掉进程再打开

十一、客户端数据库测试 1）一般的增、删、改、查测试。

2）当表不存在时是否能自动创建，当数据库表被删除后能否再自建，数据是否还能自动从服务器中获取回来并保存。

3）在业务需要从服务器端取回数据保存到客户端的时候，客户端能否将数据保存到本地。

4）当业务需要从客户端取数据时，检查客户端数据存在时，App数据是否能自动从客户端数据中取出，还是仍然会从服务器端获取？检查客户端数据不存在时，App数据能否自动从服务器端获取到并保存到服务器端。

5）当业务对数据进行了修改、删除后，客户端和服务器端是否会有相应的更新。

第五篇：SIT测试方法总结

SIT测试方法总结

测试人员介入时机

对于SIT测试，测试人员最佳介入时间为需求分析阶段，在需求分析阶段就介入测试可以使测试人员更高效充分的了解需求，从而提高后面测试用例编写及测试用例执行的效率。

制定测试方案

测试人员进入项目后首要任务是制定测试方案。制定测试方案的目的： 1.明确测试目的。2.制定本次测试范围。3.阐述本次测试的策略。

4.罗列测试过程中可能遇到的风险及应对措施。5.安排测试人员的任务。

6.确定测试实施过程中需要准备的数据。

7.确定测试阶段的轮次及各项测试工作的时间节点。8.制定缺陷分级的级别描述以及缺陷修复的时效。以上8点作为测试方案的重要内容。测试方案编写后，与项目组其他人员以及客户方一起参与测试方案的评审工作；对测试方案评审完成后测试方案正式定稿。

案例对需求的覆盖

测试案例对需求的覆盖率直接关系到测试质量，如果覆盖率不够则系统中隐藏的缺陷无法被发现，存在严重的质量风险。提高案例的覆盖率有效的方法：

1.提高测试人员对需求的理解，对需求进行逐字逐句的分析将显性与隐性的功能点充分挖掘出来。

2.测试人员在编写测试用例之前先编写测试大纲，罗列出功能点并与需求人员一同对测试大纲进行评审，找出遗漏的测试点。

3.测试大纲评审完成后根据测试大纲所罗列的测试点进行测试案例编写，编写完成后与开发人员、需求人员一同对案例进行评审，找出潜在的遗漏部分。

案例编写策略（易读易执行优先级等）

1.测试用例编写遵循以下大体分类：界面及字段显示，字段取值规则，模块功能，上下游模块功能关联。2.用例应包括以下内容：功能，子功能，优先级，用例类型，测试点，操作步骤，预期结果。

编写是功能子功能描述清晰，一条用例对应一个测试点和唯一的预期结果。操作步骤编写是简单易懂具有很好的可操作性，测试点、预期结果需言简意赅可读性强。

3.案例优先级的确定规则一般为：模块功能＝上下游模块功能关联＞字段取值规则＞界面及字段显示。

制定测试计划及测试资源分配（工作量轮次）

1.测试用例编写完成后对测试实施制定测试计划，计划按照单个测试人员每日预估执行案例数，测试人员数量，测试用例总量计算出需要的测试实施时间，如测算出的时间超过测试方案中计划时间时需要与项目负责人沟通延长测试时间或者增加测试资源。（每个人每天的工作量是有限的所以不可以通过总量/时间/人数来倒退每人每日需执行的数量）。

2.测试实施过程需经过三个阶段：准入测试阶段，第一轮测试阶段，第二轮测试阶段。

第二轮测试阶段在第一轮测试的案例中选取，选择策略：在一轮测试中该模块测试情况不良好，缺陷较多则在二轮中着重测试；系统的重要功能需在二轮中着重测试；一轮中缺陷优先级高的再二轮中着重测试。

3.测试用例在执行时有难易之分，为了保证测试人员可以完成计划中的工作量，在分配时要综合考虑有所区分。

实施过程中的策略

1.测试用例的难易程度存在两个维度：用例所属模块，用例优先级；当用例的所属模块功能操作较易时则可不考虑用例的优先级；当用例的所属模块功能操作以及需要准备的数据比较复杂时则需要优先执行用例优先级较高的用例。

2.测试人员被分配需执行的用例后首先要做的是纵览一遍需要执行的用例，对用例需要的数据进行整合，使用最少的数据来覆盖所需执行的用例。

3.在测试中遇到阻碍性问题导致后续功能测试进度延迟，此时需组织复杂该模块开发的骨干人员联合测试人员在该模块进入测试阶段之前进行调通，以便于测试人员按照测试计划开始该模块测试时不会发生严重的阻碍性缺陷，可以有效的提高测试效率。

缺陷的处理

1.使用测试工具提交缺陷时需填写完整功能模块，问题描述简单易懂并附上截图，标明使用的数据编号，使用的用户。

2.提交缺陷时缺陷级别严格按照测试方案中所制定的缺陷等级标准。

3.开发人员将缺陷状态指为已解决后测试人员在关闭时需复测，同时将复测通过的截图记录在测试工具中。

4.对于缺陷修复的时效需要实时关注，特别对于优先级高且影响测试进度的缺陷需要重点跟踪直到被解决。附件：

1.测试方案与计划：测试方案与计划.xlsx

2.测试案例模板：测试案例.xlsx